一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法
【专利摘要】本发明提供一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法，其结构是由微处理器MCU、电容数字传感器芯片MS3110、探针A、探针B、补偿电容Cref和被检测电容Ctest组成，其中微处理器MCU的AD脚接电容数字传感器芯片MS3110的Vout脚，电容数字传感器芯片MS3110的CSCOM脚和CS21N脚分别串接探针A和探针B接被检测电容Ctest的两脚，补偿电容的两脚与电容数字传感器芯片MS3110的CSCOM脚和CS1N脚并接。
【专利说明】一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及测量【技术领域】，具体地说是一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法。
【背景技术】
[0002]目前市场上常用的测试电容的数字万用表测量范围在!级别，而电容屏节点电容在2迚左右，普通万用表无法达到测量精度，测试迚级别的电容主要使用1X1？测试仪，IX尺测试仪成本要上万元。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是提供一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法。
[0004]本发明的目的是按以下方式实现的，其结构是由微处理器1⑶、电容数字传感器芯片133110、探针八、探针8、补偿电容06？和被检测电容以60组成，其中微处理器1⑶的八0脚接电容数字传感器芯片133110的70机脚，电容数字传感器芯片133110的脚和(:32謂脚分别串接探针八和探针8接被检测电容以60的两脚，补偿电容的两脚与电容数字传感器芯片133110的(:3(1)1脚和脚并接，具体测试步骤如下:
1)当以60空载时，通过调节补偿电容06？和133110芯片内部的步进电容使输出乂01^为0.这时输出电容为零，此步骤为电容校准；
2)用探针八接到电容屏1101的一根引脚上，用探针8接到电容屏1102的一根引脚上，此时通过输出电压计算得到的电容为电容屏两层110之间的节点电容。
[0005]本发明的有益效果是:提供了一种低成本、高精度微小电容测试仪及其测试方法，测量精度可达到作级别。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图1是测试仪电路原理图。
【具体实施方式】
[0007]参照说明书附图对本发明的测试仪及其测试方法作以下详细地说明。
[0008]一种电容屏节点电容测试方法，对本测试方法说明如下:
1.0^68^为待测试节点电容，01-6？为抵消探针、芯片管脚之间的分布电容而增加的补偿电容；
2.当以60空载时，通过调节06？和133110芯片内部的步进电容使输出^0此为0.这时输出电容为零，此步骤为电容校准；
3.用探针4接到1101的一根引脚上，用探针8接到1102的一根引脚上，此时通过输出电压计算得到的电容为两层110之间的节点电容。
[0009]在本发明方法实现的测试系统中，采用了 110^0-3册301^公司设计的133110电容数字传感器芯片。它的电容测量精度可以达到4aF/rtHZ，单通道电容测量范围可达1pF,可配置为单通道测量或者差分电容输入测量。
[0010]本测量方法使用差分电容输入测量，这是本方法实现的关键。
[0011]除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
【权利要求】
1.一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法，其特征在于，其结构是由微处理器MCU、电容数字传感器芯片MS3110、探针A、探针B、补偿电容Cref和被检测电容Ctest组成，其中微处理器MCU的AD脚接电容数字传感器芯片MS3110的Vout脚，电容数字传感器芯片MS3110的CSCOM脚和CS2IN脚分别串接探针A和探针B接被检测电容Ctest的两脚，补偿电容的两脚与电容数字传感器芯片MS3110的CSCOM脚和CSlN脚并接，具体测试步骤如下: 1)当Ctest空载时，通过调节补偿电容Cref和MS3110芯片内部的步进电容使输出Vout为0.5V，这时输出电容为零，此步骤为电容校准； 2)用探针A接到电容屏ITOl的一根引脚上，用探针B接到电容屏IT02的一根引脚上，此时通过输出电压计算得到的电容为电容屏两层ITO之间的节点电容。
【文档编号】G01R27/26GK104459336SQ201410733720
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年12月5日 优先权日:2014年12月5日
【发明者】姚舜, 李伟, 于治楼 申请人:浪潮集团有限公司