表面曲率突变光学轮廓测量方法与流程

技术总结
本发明公开了一种表面曲率突变光学轮廓测量方法，首先获取光带图像，再对光带图像进行均值滤波和二值化处理，然后对二值化处理后的光带图像进行平均灰度计算，采用平均灰度算法判断台阶曲率突变的特殊位置，在三维轮廓重建的过程中，能对曲率突变位置作出相应的识别处理，滤出该曲率突变位置轮廓线，准确的还原出该表面曲率突变物体的轮廓。 1

技术研发人员：余学才;赵晨晨;魏英杰;葛小武;周建华
受保护的技术使用者：电子科技大学
技术研发日：2016.05.12
技术公布日：2018.06.15