技术总结
本发明涉及一种太赫兹单频点下抑制目标厚度影响的二维孔径成像算法，应用于太赫兹近距离成像时目标两维方向维散射特性分布的重构。本发明利用多个平行于观测平面的距离切平面对所有目标强散射点进行相位补偿，集合所有距离切平面下的成像结果再进行加权平均处理,从而改善体目标强散射点彼此间距离维信息的差异对二维孔径成像造成的负面影响。在太赫兹单频点的两维方向维成像体系中，对目标距离方向上进行相位补偿的准确性直接影响成像效果,因此本发明所述的算法应用范围更加普遍，适用性更强。
技术研发人员：叶阳阳;丁丽;丁茜;朱亦鸣
受保护的技术使用者：上海理工大学
文档号码：201610727400
技术研发日：2016.08.25
技术公布日：2017.02.15