技术总结
本发明公开了基于实际运行环境下的LED寿命预测方法，属于LED产品测试的技术领域。本发明通过加速试验报告数据，建立具有相同加速因子的单个LED寿命模型和一批LED寿命模型，通过构建影响LED寿命的关键因素p‑n结内部结温反馈系统图得到LED工作时的实时结温，由LED工作时的实际结温以及批量LED寿命模型预测LED寿命，适用于各种LED工作电流和外界环境温度变化的场合，提供了一种在变化工作环境下真实预测各种置信度或置信区间下一定比例的LED失效所需时间的方法，有利于指导LED散热及系统设计，提高LED照明产品的寿命和可靠性，该方法可推广到LED驱动器以及整个LED照明系统的寿命预测。
技术研发人员：曲小慧;连静;法罗
受保护的技术使用者：东南大学
文档号码：201611080580
技术研发日：2016.11.30
技术公布日：2017.02.15