一种利用光干涉法测量光学平板玻璃剪切模量的方法与流程

技术特征：

1.一种利用光干涉法测量光学平板玻璃剪切模量的方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：

步骤1：通过螺丝(4)施加应力于光学平板玻璃(10)，并通过测量仪器(9)显示应力传感器(7)测量的应力，记录下应力的大小；

步骤2：保持步骤1中的应力不变，利用钠光源(1)发出钠光，钠光经反射镜(3)反射后垂直入射到平凸透镜(11)上，通过读数显微镜(2)读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；

步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃(10)的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；

步骤4：利用步骤3测得的数据，得到光学平板玻璃(10)的剪切模量G：

$G=\frac{3(1-\mathrm{\μ})R\mathrm{\σ}}{4{\mathrm{\πr}}^2{h}^3}\[\frac{3+\mathrm{\μ}}{1+\mathrm{\μ}}(a^2-r^2)+2r^{2}ln\frac{r}{a}\]$

其中，σ为光学平板玻璃的中心应力，G为光学平板玻璃的剪切模量，μ为光学平板玻璃的泊松比，a为光学平板玻璃的半径，r为牛顿环干涉条纹黑斑的半径，R为平凸透镜的标准曲率半径，h为光学平板玻璃的厚度。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，采用的测量装置的具体结构包括底座(6)，底座(6)的凹槽中放置有应力传感器(7)，应力传感器(7)的探头高于底座(6)的凹槽上表面，应力传感器(7)的探头上放置有平凸透镜(11)，平凸透镜(11)上放置有光学平板玻璃(10)，平凸透镜(11)的凸面与光学平板玻璃(10)接触，光学平板玻璃(10)的上表面边缘上放置有上盖(5)，上盖(5)通过固定螺丝(4)与底座(6)连接，上盖(5)与底座(6)之间有空隙；

应力传感器(7)的信号线穿过底座(6)上的通孔(8)与测量仪器(9)连接，测量仪器(9)用于显示应力传感器(7)采集到的应力。

3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述应力传感器(7)、所述光学平板玻璃(10)、所述平凸透镜(11)同轴。