本发明涉及电子技术领域，具体涉及一种可编程电路的模块测试系统。
背景技术：
可编程电路是集成电路中的一种类型，可编程电路的规模较大，内部包含有各种相对功能独立的可编程模块资源以及互联资源，其整体功能不固定，需要通过编程后调用内部可编程模块与互联资源来实现期望的功能。
现有技术中针对可编程电路的进行测试时，主要是利用可编程电路内部的通用资源可以灵活配置的特点，可以复用通用资源实现测试，将被测可编程电路视作一个独立的被测电路，将可编程电路外围配置为测试电路，可编程电路整体构成一个测试系统，来实现自测试；另外一种方案是采用非可编程电路的测试方法，在模块电路设计阶段将内部被测点从被测可编程电路专用的测试端口引出，直接测试。
由于可编程电路中的可编程模块功能日渐复杂、期望观测的信号数量越来越多，采用上述两种方法将存在占用资源大、覆盖率低的问题。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种可编程电路的模块测试系统，利用可编程特性，在尽可能少的增加硬件结构的情况下，降低模块测试设计的复杂度，提高测试覆盖率，并具有一定的通用性，适用于不同功能的数字可编程电路模块。
为了达到上述目的，本发明通过以下技术方案实现：一种可编程电路的模块测试系统，其特点是，该模块测试系统设置在被测模块与通用互联资源模块之间，该模块测试系统包含：
测试控制模块及分别与之连接的接口模块、指令分析模块及数据处理模块；
所述的接口模块分别与所述的通用互联资源模块及所述的指令分析模块连接；
所述的数据处理模块分别与所述的接口模块及所述的被测模块连接；其中
所述的测试控制模块通过所述的接口模块接收输入的测试使能信号和测试时钟信号，以使能或不使能被测模块的测试模式；
所述的指令分析模块通过所述的接口模块接收输入的指令信号，并对指令信号进行解析，以使被测模块执行相应的测试操作；
所述的数据处理模块根据对应的指令信号通过所述的接口模块接收输入的待更新的数据或通过所述的接口模块输出从被测模块采集的数据。
所述的接口模块包含一使能输入端口，所述的使能输入端口设置在所述的通用互联资源模块与测试控制模块之间，用于接收测试使能信号，使能或不使能被测模块的测试模式；一组数据输出端口，所述的数据输出端口设置在所述的通用互联资源模块与数据处理模块之间，用于将被测模块内部采集到的信号输出到被测模块之外；一组指令输入端口，所述的指令输入端口设置在所述的通用互联资源模块与指令分析模块之间，用于接收指令信号，以选择测试项目并进行相应的测试操作；一测试时钟输入端口，所述的测试时钟输入端口设置在所述的通用互联资源模块与测试控制模块之间，用于接收测试时钟信号以同步指令信号、测试使能信号、数据输出信号。
所述的数据处理模块包含依次连接第一数据存储单元与输出数据路径选择单元，其中，所述的第一数据存储单元分别与所述的一组数据输出端口及所述的测试控制模块连接；所述的输出数据路径选择单元分别与所述的指令分析模块及所述的被测模块连接。
所述的接口模块还包含一组数据输入端口，所述的数据输入端口设置在所述的通用互联资源模块与数据处理模块之间，用于接收待更新的数据，并根据预设的指令更新被测模块的内部数据。
所述的接口模块还包含一写使能输入端口，所述的写使能输入端口设置在所述的通用互联资源模块与数据处理模块之间，用于接收写使能信号，使能或不使能一组数据输入端口的写入操作。
所述的数据处理模块还包含依次连接第二数据存储单元与输入数据路径选择单元，其中，所述的第二数据存储单元分别与所述的一组数据输入端口、写使能输入端口及测试控制模块连接；所述的输入数据路径选择单元分别与所述的指令分析模块及所述的被测模块连接。
所述的模块测试系统还包含一自测试逻辑模块，所述的自测试逻辑模块与所述的通用互联资源模块连接，用于输出指令信号、测试使能信号、待更新的数据、测试时钟信号或者接收从被测模块采集的数据。
所述的模块测试系统还包含一通用端口模块，所述的通用端口模块与所述的通用互联资源模块连接，用于输出指令信号、测试使能信号、待更新的数据、测试时钟信号或者接收从被测模块采集的数据。
本发明一种可编程电路的模块测试系统与现有技术相比具有以下优点：本发明可以缩减复杂模块可测性设计本身所需的资源（如端口、互联线、控制电路等），覆盖率提高，并具有通用性，可以形成通用的测试接口，降低测试外围电路设计难度，适合数字模块和数字信号的测试；本发明与通用互联资源的接口，用于实现测试过程中的控制与数据交互；本发明可以通过指令方式更改被测可编程电路模块的当前测试内容；本发明利用可编程特性，在尽可能少的增加硬件结构的情况下，降低模块测试设计的复杂度，提高测试覆盖率，并具有一定的通用性，适用于不同功能的数字可编程电路模块。
附图说明
图1为本发明一种可编程电路的模块测试系统的整体结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图，通过详细说明一个较佳的具体实施例，对本发明做进一步阐述。
一种可编程电路的模块测试系统，如图1所示，该模块测试系统100设置在被测模块200与通用互联资源模块300之间，该模块测试系统100包含：测试控制模块101及分别与之连接的接口模块102、指令分析模块103及数据处理模块104；所述的接口模块102分别与所述的通用互联资源模块300及所述的指令分析模块103连接；所述的数据处理模块104分别与所述的接口模块102及所述的被测模块200连接；其中，所述的测试控制模块101通过所述的接口模块102接收输入的测试使能信号和测试时钟信号；所述的指令分析模块103通过所述的接口模块102接收输入的指令信号，并对指令信号进行解析，以执行相应的测试操作；所述的数据处理模块104通过所述的接口模块102接收输入的待更新的数据或通过所述的接口模块102输出从被测模块300采集的数据；测试控制模块101用于协同各模块工作以实现测试过程。
在本实施例中，较佳地，所述的接口模块102包含一使能输入端口EN，所述的使能输入端口EN设置在所述的通用互联资源模块300与测试控制模块101之间，用于接收测试使能信号，使能或不使能被测模块200的测试模式；一组数据输出端口DOUT，所述的数据输出端口DOUT设置在所述的通用互联资源模块300与数据处理模块104之间，用于将被测模块200内部采集到的信号输出到被测模块200之外；一组指令输入端口IIN，所述的指令输入端口IIN设置在所述的通用互联资源模块300与指令分析模块103之间，用于接收指令信号，以选择测试项目并进行相应的测试操作；一测试时钟输入端口CLK，所述的测试时钟输入端口CLK设置在所述的通用互联资源模块300与测试控制模块101之间，用于接收测试时钟信号以同步指令信号、测试使能信号、数据输出信号。
在本实施例中，较佳地，所述的数据处理模块104包含依次连接第一数据存储单元1041与输出数据路径选择单元1042，其中，所述的第一数据存储单元1041分别与所述的一组数据输出端口DOUT及所述的测试控制模块101连接；所述的输出数据路径选择单元1042分别与所述的指令分析模块103及所述的被测模块200连接。
在本实施例中，较佳地，所述的接口模块102还包含一组数据输入端口DIN，所述的数据输入端口DIN设置在所述的通用互联资源模块300与数据处理模块104之间，用于接收待更新的数据，并根据预设的指令更新被测模块200的内部数据。数据输入的作用是配合指令信号工作，测试某些项目时可能希望对被测模块200的配置存储单元或者内部寄存器中的数据进行更改，但不需要改变电路的其他部分。可以通过DIN端口输入需要更新的数据，并输入相应的指令来更新内部数据。如果指令信号对应的测试项不涉及内部数据的更改，DIN端口可以取任意值。
在本实施例中，较佳地，所述的接口模块102还包含一写使能输入端口WE，所述的写使能输入端口WE设置在所述的通用互联资源模块300与数据处理模块104之间，用于接收写使能信号，使能或不使能一组数据输入端口DIN的写入操作；优选地，写使能输入端口WE仅在测试FPGA时使能，一般应用下不使能，不使能状态下不影响FPGA用户对被测模块功能的使用。
由于写使能输入端口WE与一组数据输入端口DIN配合使用，因此，在某些实施例中，如果不涉及使用一组数据输入端口DIN的指令操作，可以不使用写使能输入端口WE。
在本实施例中，较佳地，所述的数据处理模块104还包含依次连接第二数据存储单元1043与输入数据路径选择单元1044，其中，所述的第二数据存储单元1043分别与所述的一组数据输入端口DIN、写使能输入端口WE及测试控制模块101连接；所述的输入数据路径选择单元1044分别与所述的指令分析模块103及所述的被测模块200连接。
在本实施例中，较佳地，IIN端口、DIN端口、EN端口、WE端口、CLK端口的来源由测试开发人员定义，例如可以配置为由可编程电路通用端口105（在FPGA用户模式下，用户数据、地址、写使能、读使能的输入模块）输入，或由自测试逻辑模块106（电路内部其他资源构成一定的测试逻辑，自FPGA内配置自测试逻辑模块的全局测试控制信号和时钟信号，转换成本地测试需要的测试地址、测试数据、测试控制信号（如写使能、读使能、读出数据对比控制等）和时钟信号）输出。DOUT端口最终去向由测试开发人员定义，例如可以输出到可编程电路的通用端口105、并在电路外部观测，或输出到自测试逻辑模块106进行分析，从而实现自测试。
在本实施例中，较佳地，指令分析模块103通过所述的接口模块102接收输入的指令信号，并对指令信号进行解析，以执行相应的测试操作，例如，通过译码电路，将组数据输出端口DOUT的数据来源指向对应的被测模块200内部测试点；将数据输入端口DIN接收到的数据指向对应需要修改的存储单元。
尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。因此，本发明的保护范围应由所附的权利要求来限定。