技术总结
本实用新型提供了一种光束取样系统，包括光学准直组件、光学分束组件、杂光接收组件、功率测量装置、光谱测量装置、滤光组件、衰减片组和光束参数测量仪，光学准直组件用于准直射入光束取样系统的激光光束形成准直光，光学分束组件用于接收准直光并将其分离成参数测量光、功率测量光、光谱测量光和杂光，杂光接收组件用于接收杂光，功率测量装置用于接收功率测量光，光谱测量装置用于接收光谱测量光，滤光组件用于接收参数测量光形成过滤光，衰减片组用于接收过滤光形成衰减光，光束参数测量仪用于接收衰减光。光学分束组件和衰减片组对光束能量进行衰减，从而能够实现对瓦级到十万瓦级的激光光束同时进行功率、光谱和光束参数的测量。
技术研发人员：李成钰
受保护的技术使用者：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
文档号码：201621025679
技术研发日：2016.08.31
技术公布日：2017.05.24