技术特征：
技术总结
本发明公开了一种通过收集X射线衍射图像以原子分辨率来解析晶体(4)的晶体结构的方法和系统(2)，包括：a)将包括单个或多个晶体(4)的流体的微滴(8)喷射到超声悬浮器(6)中；b)使包括所述晶体(4)的流体的所述微滴(8)悬浮在超声悬浮器(6)中；b)利用可视化装置监测微滴(8)的位置和旋转；c)对所述晶体(4)施加X射线(20)，所述X射线(20)源自X射线源(34)；以及d)由能够捕获二维衍射图案的X射线检测器(36)对来自被所述X射线源(34)辐射的所述晶体(4)的X射线衍射图像(24)进行检测。
技术研发人员：富崎孝司;辻野壮一郎
受保护的技术使用者：保罗·谢勒学院
技术研发日：2016.10.28
技术公布日：2018.08.24