本发明涉及测量方法技术领域，尤其是涉及一种简易评判光学系统优劣的方法。
背景技术：
实际的光学系统只有在近轴区域以很小的孔径角成像时才是完善的。如果一个光学系统的成像仅限于近轴区域并没有什么实际意义，因为能够进入的光能量太少，分辨率很低。因此，任何光学系统都具有一定的孔径和视场，而且成像光束多是复色光。在这些情况下用近轴光学理论来研究光学系统成像就不太合适，必须采用精确的三角光线追迹公式进行光线计算。用近轴光线追迹公式进行光线计算得出的像点(理想像点)与在不同孔径下用精确的三角追迹公式进行光线计算得出的像点之间往往并不重合，这个差别称为像差。像差分单色光像差和复色光像差两大类。单色光像差又有轴上点像差和轴外点像差之分。轴上点单色像差只有球差一种，轴外点单色像差有球差、慧差、像散、像面弯曲、畸变。复色光像差有轴向色差和垂轴色差两种。像差的大小反映了光学系统质量的优劣，而光学系统成象质量的好坏，是最后评定光学系统优劣的主要标准。因此，想要获得质量优良的光学系统，首先需要进行像差的测量。
技术实现要素：
本发明的目的是提供一种简易评判光学系统优劣的方法，它具有使用方便、简单的特点。
本发明所采用的技术方案是：简易评判光学系统优劣的方法，用于测量光学系统的相差或色差，包括以下步骤：
(1)在光学系统的左侧放置一点光源；
(2)在该光学系统的左侧放置一光阑，该光阑控制光阑大小的范围为30—60mm；
(3)在该光学系统的成像点放置一单色CCD以采集该光学系统的成像，然后根据CCD中的像通过像差公式计算出像差的大小。
所述点光源和该光阑之间增设有滤光片，该滤光片为单点增透滤光片。
本发明和现有技术相比所具有的优点是：使用方便、简单。本发明的简易评判光学系统优劣的方法测量原理简单，可测多种像差与色差。同时，所使用的测试设备简易，通用性好，可节约成本。如此，测量工作量小，能够极大提高效率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明：
图1是本发明的实施例中所用部件的位置示意图。
图中：
10、点光源；
20、滤光片；
30、光阑；
40、单色CCD；
100、光学系统。
具体实施方式
实施例，见图1所示：简易评判光学系统优劣的方法，用于测量光学系统100的相差或色差，包括以下步骤：
(1)在光学系统100的左侧放置一点光源10。该点光源10能够发出合适波段的光线。比如，所发出的光线频率为550nm。
(2)在该光学系统100的左侧放置一光阑30，该光阑30控制光阑大小的范围为30—60mm。比如，该光阑30控制光阑大小的范围为30、40或60mm。
(3)在该光学系统100的成像点放置一单色CCD40以采集该光学系统100的成像，然后根据单色CCD40中的像通过像差公式计算出像差的大小。在这种情况下，得到的是该光学系统100的色差。
本发明的工作原理是：通过调节该光阑30的水平方向的大小来获得不同大小的像，从而得出不同光阑下的像差大小，测得该光学系统100在水平方向的像差，继而判断该光学系统100的质量。接着，把该光阑30旋转90°就能改变竖直方向的光阑，从而测得竖直方向的像差。
另一种方式是：在该点光源10和该光阑30之间增设有滤光片20，该滤光片20为单点增透滤光片。比如，该点光源出射550nm波段的光，该滤光片20为550nm单点增透，经过该滤光片20后变为550nm的单色光，此时测得的是该光学系统100在550nm波段的单色像差。如果要测得不同波段的像差，可以加不同的滤光片进行测试。
以上实施例中，该光学系统100可以是光学镜头。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。