一种通用的三维欠采样轨迹设计方法与流程

文档序号:11197870阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明涉及磁共振成像,更具体地涉及一种通用的三维欠采样轨迹设计方法。提供了一种通用的三维欠采样轨迹设计方法,所述方法包括以下步骤:i)生成径向或螺旋轨迹线;ii)网格化轨迹空间;iii)从n=1开始,依次将轨迹线上的轨迹点映射到笛卡尔网格点上;以及iv)重复步骤iii)直到所有轨迹点映射到笛卡尔网格点上。所述方法可以灵活地根据重建算法、成像序列以及图像对比的要求,直接计算出K空间的填充顺序,并用于序列设计。同时,所述方法满足重建算法的要求,能通过CS和PI联合算法、半傅立叶重建算法等重建图像。本发明提出的方法可以提高成像质量,可用于医学成像等。

技术研发人员:朱燕杰;邹莉娴;梁栋;刘新;郑海荣
受保护的技术使用者:深圳先进技术研究院
技术研发日:2017.05.26
技术公布日:2017.09.29
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