基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器的制作方法

文档序号:14553200阅读:336来源:国知局
基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器的制作方法

本发明涉及光学元件装配辅助装置,具体涉及基于迈克尔逊干涉仪的x射线探测器。



背景技术:

在等离子体相关实验与实际应用场景中,x射线是重要的诊断工具和探测对象,而有的实验关键过程持续时间仅为几十到几百皮秒,因此对x射线进行高速探测有着重要意义。在实验过程中,传统诊断仪器和设备通常是使用电信号进行诊断,即射线辐射半导体,产生相应的电信号,通过电信号的变化得出x射线的变化进而获取相应的物态信息,诊断过程中容易受到电磁干扰,从而影响诊断结果的准确性。并且,由于以电信号为媒介,现有设备也难以实现对x射线的高速探测。



技术实现要素:

有鉴于此,本发明提供一种基于迈克尔逊干涉仪的x射线探测器,能够有效避免电磁干扰,并且可以对x射线进行高速探测。

其技术方案如下:

一种基于迈克尔逊干涉仪的x射线探测器,包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒,所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片,由锥形筒引入的x射线能够辐照到该半导体材料片上;所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔,用于连接探针光光源,在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器;所述探测器外壳内部设有分光器件,在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜,分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜反射,另一束由半导体材料片反射,两束光干涉并经第二平面镜反射后,能够被光电探测器接收。

上述结构利用半导体材料片3受到x射线辐照时的光学特性变化,进行x射线探测诊断,相比传统以电信号为媒介的探测器,能够有效避免电磁干扰,提高诊断结果的准确性,同时,由于使用光来进行诊断,能够满足x射线的高速探测需要。

为保证半导体材料片的反射性能,所述半导体材料片正对分光器件的一侧表面镀有铝。

所述锥形筒内置有可以遮挡可见光,同时透过x射线的遮光板,以避免可见光对探测结果造成影响。

所述半导体材料片经封装后可拆卸地安装在探测器外壳外壁上,这样能够方便半导体材料片的更换。

所述分光器件优选为分光棱镜或分光片,以确保其具有稳定可靠的分光性能。

半导体材料片的材质优选为砷化镓或硅。

有益效果:

采用以上技术方案的基于迈克尔逊干涉仪的x射线探测器,可以有效避免电磁干扰,并能够对x射线进行高速探测,具有抗干扰能力强,响应速度快,可靠性好等优点。

附图说明

图1为本发明的结构示意图;

图2为本发明的使用状态参考图。

具体实施方式

以下结合实施例和附图对本发明作进一步说明。

如图1所示的基于迈克尔逊干涉仪的x射线探测器,包括一大致呈中空长方体结构的探测器外壳1,探测器外壳1采用铝合金,在该探测器外壳1的背面安装有同样为铝合金材质的锥形筒2,该锥形筒2的近端直径大于远端直径,在锥形筒2与探测器外壳1连接位置安装有采用砷化镓或硅制成的半导体材料片3,半导体材料片3经固定封装以卡接或螺钉固定方式可拆卸地安装于探测器外壳1外壁上,其内侧表面镀铝,并显露在探测器外壳1的内部空间中。x射线10经锥形筒2后能够辐照到半导体材料片3上,使半导体材料片3内部原子离化,产生光学非线性效应,改变被其反射的光的相位。

在锥形筒2上开孔,以控制x射线入射量,并且在该锥形筒2内置入有遮光板(图中未示出),能够遮挡可见光,并透过x射线。

在探测器外壳1的正面,也就是远离锥形筒2的一侧外壁上设有用于连接探针光光源的探针光通光孔4,并在探针光通光孔4位置配置有光纤接头9。在该探针光通光孔4一侧安装有光电探测器5,光电探测器5固定在探测器外壳1的内壁上,并设有缆线接头10。

在探测器外壳1内腔底部靠近中间位置固定安装有分光器件6,在该分光器件6左右两侧各安装有一个平面镜,即第一平面镜7和第二平面镜8,其中第一平面镜7位于分光器件6右侧,并直接固定到探测器外壳1内壁上,第二平面镜8位于分光器件6左侧,面向第一平面镜7倾斜设置,其与第一平面镜7之间形成大致为45°的夹角。

由探针光通光孔4引入的探针光经分光器件6分束后,其中一束经第一平面镜7反射作为参考光,另一束经半导体材料片3反射,两束光干涉,再经第二平面镜8反射,最终被光电探测器5接收。为保证良好的分光性能,本实施例中,分光器件6优选采用分光棱镜或分光片。

请参照图2,本实施例中,以球形靶腔11为例,激光束12打在位于球形靶腔11中心的平面靶13上,在腔体球心产生x射线,将本实施例的x射线探测器固定在球形靶腔11边缘的支架上,背面锥形筒2对准平面靶13的方向,光纤接头9连接探针光光源14,探针光可以使用连续或脉冲激光,缆线接头10连接示波器15,接探针光光源14和示波器15均位于探测器外壳1的外侧。

预先调节好第一平面镜7的位置,使由该第一平面镜7和经半导体材料片3反射的两束光光程相等,两束光干涉,再经第二平面镜8反射,信号经光电探测器进入腔体外的示波器中进行分析。

最后需要说明的是,上述描述仅仅为本发明的优选实施例,本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不违背本发明宗旨及权利要求的前提下,可以做出多种类似的表示,这样的变换均落入本发明的保护范围之内。



技术特征:

技术总结
本发明公开了一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器,包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒,所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片;所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔,在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器;所述探测器外壳内部设有分光器件,在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜,分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜反射,另一束由半导体材料片反射,两束光干涉并经第二平面镜反射后,能够被光电探测器接收。本发明可以有效避免电磁干扰,并能够对X射线进行高速探测,具有抗干扰能力强,响应速度快,可靠性好等优点。

技术研发人员:朱九匡;易涛;江少恩
受保护的技术使用者:中国工程物理研究院激光聚变研究中心
技术研发日:2017.11.15
技术公布日:2018.05.29
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