一种可调节提离距离的电容成像探头的制作方法

本实用新型涉及检测探头领域，具体为一种可调节提离距离的电容成像探头。

背景技术：

目前常用的电容成像探头在检测被测物时，探头的提离距离主要是通过扫查台架带动探头夹具从而带动探头实现，控制较为复杂，没法通过自身结构实现迅速快捷的改变提离距离，存在很大的不便同时也降低了检测效率，且此类电容成像探头表面易碰撞被测物造成磨损，对探头造成很大的危害，增加了成本。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种可调节提离距离的电容成像探头，该探头通过探头壳体与套筒间的螺纹配合，可实现探头提离距离的改变，为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可调节提离距离的电容成像探头，包括探头盒形上壳体、激励BNC接头、检测BNC接头、探头柱形下壳体、套筒、刻度尺、滚珠、共面电容器、激励极板、检测极板、屏蔽极板和凹槽，所述探头盒形上壳体为中空结构，所述激励BNC接头和检测BNC接头位于探头盒形上壳体左侧，所述探头盒形上壳体下表面开有螺纹孔，所述探头柱形下壳体为中空结构，所述探头柱形下壳体上端外表面设有外螺纹，所述探头柱形下壳体下端开有凹槽，所述探头柱形下壳体通过上部螺纹连接安装在探头盒形上壳体下部，所述套筒上端内表面设有内螺纹，所述套筒底面开有螺纹孔，所述套筒表面母线方向设有刻度尺，所述套筒通过螺纹与探头柱形下壳体配合连接，所述滚珠通过螺纹固定安装在套筒底部，所述共面电容器安装在凹槽内，所述共面电容器下表面蚀刻激励极板，检测极板，屏蔽极板，所述激励极板与激励BNC接头的芯线插针通过导线从探头盒形上壳体和探头柱形下壳体的中空结构内部连接，所述检测极板与检测BNC接头的芯线插针通过导线从探头盒形上壳体和探头柱形下壳体的中空结构内部连接，所述屏蔽极板与激励BNC接头和检测BNC接头的屏蔽金属套筒通过导线从探头盒形上壳体和探头柱形下壳体的中空结构内部连接。

优选的，所述滚珠直径不大于2mm，且滚珠个数不少于八个。

优选的，所述激励极板与检测极板为半圆形结构。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过该电容成像探头在扫查时滚珠在被测物表面上的滚动减少对探头表面的磨损，提高探头使用寿命，通过该电容成像探头柱形下壳体与套筒间的螺纹配合与观察套筒上的刻度尺，可实现探头提离距离的改变，降低了控制的复杂性，实现了检测效率的提高。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型电容成像探头主体结构示意图；

图3为本实用新型电容成像探头套筒结构示意图；

图4为本实用新型电容成像探头极板示意图。

图中：探头盒形上壳体(1)、激励BNC接头(1.1)、检测BNC接头(1.2)、探头柱形下壳体(2)、套筒(3)、刻度尺(4)、滚珠(5)、共面电容器(6)、激励极板(6.1)、检测极板(6.2)、屏蔽极板(6.3)、凹槽(7)

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种可调节提离距离的电容成像探头，包括探头盒形上壳体(1)、激励BNC接头(1.1)、检测BNC接头(1.2)、探头柱形下壳体(2)、套筒(3)、刻度尺(4)、滚珠(5)、共面电容器(6)、激励极板(6.1)、检测极板(6.2)、屏蔽极板(6.3)和凹槽(7)，所述探头盒形上壳体(1)为中空结构，所述激励BNC接头(1.1)和检测BNC接头(1.2)位于探头盒形上壳体(1)左侧，所述探头盒形上壳体(1)下表面开有螺纹孔，所述探头柱形下壳体(2)为中空结构，所述探头柱形下壳体(2)上端外表面设有外螺纹，所述探头柱形下壳体(2)下端开有凹槽(7)，所述探头柱形下壳体(2)通过上部螺纹连接安装在探头盒形上壳体(1)下部，所述套筒(3)上端内表面设有内螺纹，所述套筒(3)底面开有螺纹孔，所述套筒(3)表面母线方向设有刻度尺(4)，所述套筒(3)通过螺纹与探头柱形下壳体(2)配合连接，所述滚珠(5)通过螺纹固定安装在套筒(3)底部，所述滚珠(5)直径不大于2mm，且滚珠(5)个数不少于八个，所述共面电容器(6)安装在凹槽(7)内，所述共面电容器(6)下表面蚀刻激励极板(6.1)，检测极板(6.2)，屏蔽极板(6.3)，所述激励极板(6.1)与检测极板(6.2)为半圆形结构，所述激励极板(6.1)与激励BNC接头(1.1)的芯线插针通过导线从探头盒形上壳体(1)和探头柱形下壳体(2)的中空结构内部连接，所述检测极板(6.2)与检测BNC接头(1.2)的芯线插针通过导线从探头盒形上壳体(1)和探头柱形下壳体(2)的中空结构内部连接，所述屏蔽极板(6.3)与激励BNC接头(1.1)和检测BNC接头(1.2)的屏蔽金属套筒通过导线从探头盒形上壳体(1)和探头柱形下壳体(2)的中空结构内部连接。

工作原理：利用该电容成像探头进行缺陷检测时，探头放在被测物上，滚珠(5)可以在被测物表面滚动不伤害探头表面，激励极板(6.1)与检测极板(6.2)距离被测物表面为提离距离，通过探头柱形下壳体(2)与套筒(3)之间的螺纹配合实现调节共面电容器(6)与被测物表面之间的距离，通过对比刻度尺(4)精确调节提离距离，该探头通过激励BNC接头(1.1)与信号激励设备连接，检测BNC接头(1.2)与信号处理和采集设备连接，激励BNC接头(1.1)将激励信号传输到激励极板(6.1)上，检测极板(6.2)会感应出电荷信号，检测BNC接头(1.2)将检测到的电荷信号传输到信号处理设备和采集设备，实现电容成像的检测。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。