一种用于电机试验的低压直流电阻仪测量保护装置的制作方法

文档序号:15651973发布日期:2018-10-12 23:17阅读:256来源:国知局

本实用新型涉及用于电机试验的低压直流电阻仪测量保护装置,对断电后的电机绕组迅速进行直流电阻测试,属于低压直流电阻测试装置技术领域。



背景技术:

电阻法是用来测量评估电机温升的重要而又精确的方法,该方法是通过测量电机的冷、热态直流电阻,通过一定的公式计算得出电机的温升。电机冷态电阻是在冷态时的电机绕组直流电阻,一般比较容易测量。热态电阻是电机在额定状态下(额定电压、电流、功率等)工作,温度稳定后立即断电并测量其热态电阻,这时需要在一定时间内间隔一定时间测量多组数据并结合测量时间对数据进行分析处理。

直流电阻仪为低压(≯10V)微电子设备,测量时不能存在残余电压或待测电机端绕组端电压过大,而电机的工作电压一般都比较高(>100V),若是在电机通电状态或者在电机旋转过程中用直流电阻仪对其绕组直流电阻进行测量都会将直流电阻仪损坏。然而根据测试标准,在测试试验过程中不可避免的需要频繁的通电、断电测电阻,再加上试验人员经常会出现操作上的误操作等,会经常性的出现带电测电机的直流电阻,结果是直接将直流电阻仪损坏,进而不得不返厂进行维修。这样不仅严重耽误试验,久而久之更会严重影响直流电阻仪厂家的声誉。



技术实现要素:

本实用新型的目的是:可有效降低试验人员误操作的风险。

为了达到上述目的,本实用新型的技术方案是提供了一种用于电机试验的低压直流电阻仪测量保护装置,包括MCU,MCU控制可程控恒流源,可程控恒流源通过测试回路与被测电阻形成闭合回路,电流采样单元串入测试回路,在被测电阻两端并联端电压采样单元,电流采样单元及端电压采样单元与增益可调节模拟量采集单元相连,增益可调节模拟量采集单元连接MCU,MCU与显示屏相连,其特征在于,在可程控恒流源与被测电阻之间、电流采样单元与被测电阻之间、端电压采样单元与被测电阻之间均设有输出控制继电器,输出控制继电器由MCU控制,MCU还连接数据存储芯片,并连接开关量输入输出单元。

优选地,所述开关量输入输出单元包括开关量输入单元、开关量输出单元及开关量输入检测电路,每一个开关量输入单元均通过一路开关量输入检测电路连接所述MCU,开关量输出单元直接连接所述MCU。

优选地,所述开关量输入检测电路包括RC滤波电路、稳压二极管及HC14门电路,稳压二极管并联在RC滤波电路上组成并联电路,该并联电路的一端连接所述开关量输入单元,另一端连接HC14门电路,HC14门电路的输出端与所述MCU相连。

本实用新型通过输出控制继电器对低压直流电阻仪进行有效保护,同时,本实用新型增加了数据存储芯片,数据先存储在数据存储芯片中,再进行后续的运算,在提高准确的同时,也降低了工作人员的失误。

附图说明

图1为本实用新型的总体电路框图;

图2为开关量输入检测电路的电路图。

具体实施方式

为使本实用新型更明显易懂,兹以优选实施例,并配合附图作详细说明如下。

如图1所示,为本实用新型提供的一种测试保护装置公开的低压直流电阻测试保护装置系统原理框图。图中采用可程控的恒流源装置。K1为输出控制继电器,可通过MCU中央处理器进行控制。在确认测试安全或者测试结束后通过MCU中央处理器进行控制断开。在测试过程中,首先通过MCU中央处理器控制K1闭合,然后控制可程控恒流源工作,在被测电阻Rx上形成了闭合回路。通过电流采样和Rx的端电压采样即可通过计算得出Rx的电阻值。通过MCU中央处理器控制模拟量采集单元的增益即可获得更为精确的低压电阻值。显示屏用来将测量值实时显示。MCU中央处理器通过判断不同工况将实时的测取值存入相应的数据存储芯片内对应的缓存区域供查阅或调取。开关量输入输出单元用来完成人机交互,MCU根据不同的开关量输入即可判定不同的测试需求,进而实施控制测量策略。

本实用新型在现有直流电阻仪上新增设Ruv按钮、Rvw按钮、Rwu按钮、试验热态电阻按钮、动态测量计时按钮、动态电阻测量按钮、查看+按钮、查看-按钮,显示屏新增动态计时功能和实时测量数据显示功能。这些按钮均作为开关量输入。

结合图2,每一个开关量输入单元均通过一路开关量输入检测电路连接MCU。开关量输入检测电路通过RC滤波和稳压二极管将按钮状态输入至HC14门电路,MCU中央处理器通过检测HC14的门电路状态即可检测出按钮按下或弹起状态,继而判断操作者的操作意图进行测量控制。

本实用新型的明显的效益是:本来需要两个试验人员配合完成的试验,只需要一个试验人员即可正确无误的完成被试品的电阻测试。

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