本实用新型涉及检测电路技术领域，具体涉及一种光电开关通断电平检测电路。
背景技术：
随着电子技术不断发展，电子高端产品的出现，电子产品逐渐趋于小型化、复杂化，电路板亦趋于多层、高功能和高密度，因此，对其检测工作提出了更高层次的要求。
测试夹具又称测试架，它是把焊好电子元器件的线路板放在装有数个测试针的支架上，让预定的某些焊点准确地与测试针相接触，因而被测线路板一装入夹具，电参数立即会通过表头、荧光屏或数码等显示出来。测试夹具测试是较为常见的一种线路板测试方法，使用专门的针床测试夹具与线路板上的元器件接触，在线路板的每个节点施加微小电压来测试线路通断、元器件是否正确安装。由于需要为电路板设计专用针床型夹具，这种测试方法适用于大批量生产电路板的在线测试。对于夹具控制系统的测试，主要测试夹具能否正确的按照流程控制电磁阀打开关闭，从而把待测产品固定及退出测试夹具；测试夹具控制系统能否正确的发送开始信号到测试系统，当测试结束后能够根据测试系统反馈回来的信号进行处理。测试夹具测试速度快，但是制作成本高、制作周期长；测试夹具检测电路的结构比较复杂、电路的性能不稳定、电路的控制精确不高。
技术实现要素：
(一)解决的技术问题
本实用新型的主要目的是为了克服上述现有技术的缺陷问题，本实用新型提供一种光电开关通断电平检测电路，该检测电路结构简单、检测电路的性能稳定、检测电路的控制足够精确、检测电路的功能具有可扩充性。
(二)技术方案
为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：
一种光电开关通断电平检测电路，包括输入信号Vi、输出信号Vo1、Vo2，运算放大器U1、U2、U3、U4，可调电阻R1、R2、R3、R4，电源Vcc，地，发光二极管D1、D2，所述输入信号Vi分别与运算放大器U1的反相输入端和运算放大器U2的同相输入端相连，运算放大器U1的同相输入端与可调电阻R1一端相连，可调电阻R1另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U2的反相输入端与可调电阻R2一端相连，可调电阻R2另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U1、U2的输出端与输出信号Vo1相连，输出信号Vo1通过发光二极管D1与地相连；输入信号Vi还分别与运算放大器U4的反相输入端和运算放大器U3的同相输入端相连，运算放大器U4的同相输入端与可调电阻R4一端相连，可调电阻R4另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U3的反相输入端与可调电阻R3一端相连，可调电阻R3另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U3、U4的输出端与输出信号Vo2相连，输出信号Vo2通过发光二极管D2与地相连。
进一步地，所述可调电阻R1、R2、R3、R4与运算放大器和地相连接的两端分别并连有电容C1、C2、C3、C4。
进一步地，所述电容C1、C2、C3、C4为0.1uF陶瓷电容。
进一步地，所述输入信号Vi通过电阻R1接地。
进一步地，所述电阻R1为47kΩ。
进一步地，所述电阻R1两端并连有稳压管D3。
进一步地，所述运算放大器U1、U2、U3、U4为运算放大器LM139。
进一步地，所述发光二极管D1的阳极与输出信号Vo1相连，发光二极管D1的阴极与地相连。
进一步地，所述发光二极管D2的阳极与输出信号Vo2相连，发光二极管D2的阴极与地相连。
进一步地，所述电源Vcc为正5V直流电。
(三)有益效果
本实用新型的有益效果：一种光电开关通断电平检测电路，该检测电路结构简单、检测性能稳定；通过调节可调电阻提高检测精确，适合多路光电开关测试夹具电控系统；检测电路的功能具有可扩充性，可以提高夹具设计效率，缩短生产周期，加快新产品的开发。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型检测电路原理图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
结合图1，一种光电开关通断电平检测电路，包括输入信号Vi、输出信号Vo1、Vo2，运算放大器U1、U2、U3、U4，可调电阻R1、R2、R3、R4，电源Vcc，地，发光二极管D1、D2，电阻R5、稳压管D3。电源Vcc为正5V直流电。
输入信号Vi分别与运算放大器U1的反相输入端和运算放大器U2的同相输入端相连，运算放大器U1的同相输入端与可调电阻R1一端相连，可调电阻R1另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U2的反相输入端与可调电阻R2一端相连，可调电阻R2另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U1、U2的输出端与输出信号Vo1相连，输出信号Vo1通过发光二极管D1与地相连。可调电阻R1、R2、与运算放大器U1、U2和地相连接的两端分别并连有电容C1、C2，电容C1、C2为0.1uF陶瓷电容，可调电阻R1、R2为100kΩ。运算放大器U1、U2为运算放大器LM139。发光二极管D1的阳极与输出信号Vo1相连，发光二极管D1的阴极与地相连。
输入信号Vi还分别与运算放大器U4的反相输入端和运算放大器U3的同相输入端相连，运算放大器U4的同相输入端与可调电阻R4一端相连，可调电阻R4另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U3的反相输入端与可调电阻R3一端相连，可调电阻R3另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U3、U4的输出端与输出信号Vo2相连，输出信号Vo2通过发光二极管D2与地相连。可调电阻R3、R4、与运算放大器U3、U4和地相连接的两端分别并连有电容C3、C4，电容C3、C4为0.1uF陶瓷电容，可调电阻R3、R4为100kΩ。运算放大器U3、U4为运算放大器LM139。发光二极管D2的阳极与输出信号Vo2相连，发光二极管D2的阴极与地相连。
输入信号Vi通过电阻R1接地，电阻R1为47kΩ。电阻R1两端并连有稳压管D3，稳压管D3的阳极与地相连。
运算放大器U1、U2和运算放大器U3、U4分别构成比较电路。输入信号Vi在0.1-0.15V时，输出信号Vo1输出高电平，发光二极管D1亮，发光二极管D1可以为红光二极管；输入信号Vi在2.8-3.3V时，输出信号Vo2输出高电平，发光二极管D2亮，发光二极管D2可以为绿光二极管。
综上所述，本实用新型光电开关通断电平检测电路，该检测电路结构简单、检测性能稳定；通过调节可调电阻提高检测精确，适合多路光电开关测试夹具电控系统；检测电路的功能具有可扩充性，可以提高夹具设计效率，缩短生产周期，加快新产品的开发。
以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。