上位机程序测试电路的制作方法

本实用新型涉及一种测试电路，特别是涉及一种上位机程序测试电路。

背景技术：

传统的驱动程序产品测试不在上位机程序测试，对于部分存在危险的试验无法保证人员安全，而且测试速度慢，电路不安全。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种上位机程序测试电路，其完成测试内容的连接，通过在一定安全区域内控制测试的进程，对于部分存在危险的试验，保证了人员的安全，使用上位机测试界面，加快了测试的进度，利用PC机处理大数据，可以快速得到想要的测试结果，利于测试数据的保存和后期数据分析，保护电路更稳定、更安全。

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：一种上位机程序测试电路，其特征在于，其包括单脉冲测试模块、双脉冲测试模块、参数测量模块，单脉冲测试模块与双脉冲测试模块并联且都与参数测量模块串联，其中：

单脉冲测试模块，其包括单脉冲测试芯片、第一脉冲、第一示波器、第一三极管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管、第一按钮、第二按钮，单脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻相连，第一电阻与第二电阻并联且都与第一电容串联，第一按钮与第一电容串联且接地，第三电阻与第四电阻并联，第三电阻与第一三极管的集电极相连，第四电阻与第一三极管的发射极相连，第二电容与第一三极管的基极相连，第二按钮与第二电容串联，第一按钮与第二按钮并联且都与第五电阻串联，单脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第三电容、第四电容、第五电容、第六电容相连，第三电容、第四电容、第五电容、第六电容分别与第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管串联，第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管之间并联且都与第一脉冲串联，第一脉冲、第六电阻、第一示波器之间依次串联；

双脉冲测试模块，其包括双脉冲测试芯片、第二脉冲、第三脉冲、第二三极管、第三三极管、第二示波器、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第七电容、第八电容、第九电容、第十电容、第十一电容、第十二电容、第十三电容、第十四电容、第三按钮、第四按钮、第五二极管、第六二极管、第七二极管，双脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第七电容、第八电容、第九电容、第十电容相连，第七电容、第八电容、第九电容、第十电容分别与第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻串联，第七电容、第七电阻、第三按钮依次串联并接地，第八电阻、第九电阻、第十电阻之间并联且都与第四按钮串联，第四按钮与第七二极管串联并接地，双脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第十一电阻、第十二电阻、第十一电容、第十二电容相连，第十一电阻、第十二电阻、第十一电容、第十二电容分别与第五二极管、第六二极管、第十三电容、第十四电容串联，第五二极管与第二三极管的发射极相连，第六二极管与第二三极管的集电极相连，第十三电容与第三三极管的发射极相连，第十四电容与第三三极管的集电极相连，第二三极管的基极与第二脉冲相连，第三三极管的基极与第三脉冲相连，第二脉冲与第三脉冲并联且都与第二示波器串联；

参数测量模块，其包括参数测量芯片、第三示波器、第四三极管、第一晶体、第二晶体、第三晶体、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十五电容、第十六电容、第八二极管、第九二极管、第十二极管、第五按钮、第六按钮，参数测量芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚分别与第十五电容、第十五电阻、第三晶体相连，第十五电容、第十五电阻、第三晶体分别与第一晶体、第二晶体、第十六电容串联，第一晶体、第二晶体、第十六电容之间并联且都与第五按钮串联，第十三电阻与第四三极管的发射极相连，第十四电阻与第四三极管的集电极相连，第四三极管的基极与第五按钮相连，参数测量芯片的第四引脚、第五引脚、第六引脚分别与第八二极管、第九二极管、第十二极管相连，第九二极管、第十二极管之间并联且都与第三示波器相连，第三示波器与第六按钮串联且接地。

优选地，所述第一示波器、第二示波器、第三示波器都是数字示波器。

优选地，所述单脉冲测试芯片、双脉冲测试芯片采用的都是SKY77761-11类型的芯片。

优选地，所述参数测量芯片采用的是SPRH5D18-3R3N类型的芯片。

优选地，所述第一晶体、第二晶体、第三晶体都是石英制的晶体。

本实用新型的积极进步效果在于：本实用新型完成测试内容的连接，通过在一定安全区域内控制测试的进程，对于部分存在危险的试验，保证了人员的安全，使用上位机测试界面，加快了测试的进度，利用PC机处理大数据，可以快速得到想要的测试结果，利于测试数据的保存和后期数据分析，保护电路更稳定、更安全。

附图说明

图1为本实用新型的总体结构图。

图2为本实用新型的单脉冲测试模块的电路图。

图3为本实用新型的双脉冲测试模块的电路图。

图4为本实用新型的参数测量模块的电路图。

具体实施方式

下面结合附图给出本实用新型较佳实施例，以详细说明本实用新型的技术方案。

如图1至图4所示，本实用新型上位机程序测试电路包括单脉冲测试模块1、双脉冲测试模块2、参数测量模块3，单脉冲测试模块1与双脉冲测试模块2并联且都与参数测量模块3串联，其中：

单脉冲测试模块1，其包括单脉冲测试芯片A1、第一脉冲M1、第一示波器B1、第一三极管Q1、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第六电容C6、第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3、第四二极管D4、第一按钮S1、第二按钮S2，单脉冲测试芯片A1的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4相连，第一电阻R1与第二电阻R2并联且都与第一电容C1串联，第一按钮S1与第一电容C1串联且接地，第三电阻R3与第四电阻R4并联，第三电阻R3与第一三极管Q1的集电极相连，第四电阻R4与第一三极管Q1的发射极相连，第二电容C2与第一三极管Q1的基极相连，第二按钮S2与第二电容C2串联，第一按钮S1与第二按钮S2并联且都与第五电阻R5串联，单脉冲测试芯片A1的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第六电容C6相连，第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第六电容C6分别与第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3、第四二极管D4串联，第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3、第四二极管D4之间并联且都与第一脉冲M1串联，第一脉冲M1、第六电阻R6、第一示波器B1之间依次串联；

双脉冲测试模块2，其包括双脉冲测试芯片A2、第二脉冲M2、第三脉冲M3、第二三极管Q2、第三三极管Q3、第二示波器B2、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11、第十二电阻R12、第七电容C7、第八电容C8、第九电容C9、第十电容C10、第十一电容C11、第十二电容C12、第十三电容C13、第十四电容C14、第三按钮S3、第四按钮S4、第五二极管D5、第六二极管D6、第七二极管D7，双脉冲测试芯片A2的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第七电容C7、第八电容C8、第九电容C9、第十电容C10相连，第七电容C7、第八电容C8、第九电容C9、第十电容C10分别与第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10串联，第七电容C7、第七电阻R7、第三按钮S3依次串联并接地，第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10之间并联且都与第四按钮S4串联，第四按钮S4与第七二极管D7串联并接地，双脉冲测试芯片A2的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第十一电阻R11、第十二电阻R12、第十一电容C11、第十二电容C12相连，第十一电阻R11、第十二电阻R12、第十一电容C11、第十二电容C12分别与第五二极管D5、第六二极管D6、第十三电容C13、第十四电容C14串联，第五二极管D5与第二三极管Q2的发射极相连，第六二极管D6与第二三极管Q2的集电极相连，第十三电容C13与第三三极管Q3的发射极相连，第十四电容C14与第三三极管Q3的集电极相连，第二三极管Q2的基极与第二脉冲M2相连，第三三极管Q3的基极与第三脉冲M3相连，第二脉冲M2与第三脉冲M3并联且都与第二示波器B2串联；

参数测量模块3，其包括参数测量芯片A3、第三示波器B3、第四三极管Q4、第一晶体X1、第二晶体X2、第三晶体X3、第十三电阻R13、第十四电阻R14、第十五电阻R15、第十五电容C15、第十六电容C16、第八二极管D8、第九二极管D9、第十二极管D10、第五按钮S5、第六按钮S6，参数测量芯片A3的第一引脚、第二引脚、地三引脚分别与第十五电容C15、第十五电阻R15、第三晶体X3相连，第十五电容C15、第十五电阻R15、第三晶体X3分别与第一晶体X1、第二晶体X2、第十六电容C16串联，第一晶体X1、第二晶体X2、第十六电容C16之间并联且都与第五按钮S5串联，第十三电阻R13与第四三极管Q4的发射极相连，第十四电阻R14与第四三极管Q4的集电极相连，第四三极管Q4的基极与第五按钮S5相连，参数测量芯片A3的第四引脚、第五引脚、第六引脚分别与第八二极管D8、第九二极管D9、第十二极管D10相连，第九二极管D9、第十二极管D10之间并联且都与第三示波器B3相连，第三示波器B3与第六按钮S6串联且接地。

第一示波器B1、第二示波器B2、第三示波器B3都是数字示波器，测试出来的数据效果更好。

单脉冲测试芯片A1、双脉冲测试芯片A2采用的都是SKY77761-11类型的芯片，这样实验的参数更精确。

参数测量芯片A3采用的是SPRH5D18-3R3N类型的芯片，这样数据处理效果更好。

第一晶体X1、第二晶体X2、第三晶体X3都是石英制的晶体，抗干扰能力更强。

本实用新型的工作原理如下：单脉冲测试模块与双脉冲测试模块并联且都与参数测量模块串联，这样完成测试内容的连接，通过在一定安全区域内控制测试的进程，对于部分存在危险的试验，保证了人员的安全，使用上位机测试界面，加快了测试的进度，利用PC机处理大数据，可以快速得到想要的测试结果，利于测试数据的保存和后期数据分析。单脉冲测试模块与双脉冲测试模块发出实验数据，参数测量用于处理数据并将数据保存。第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻具有阻流的作用，让通过的电流更加细小便于控制。第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第七电容、第八电容、第九电容、第十电容、第十一电容、第十二电容、第十三电容、第十四电容、第十五电容、第十六电容能够储存电流的同时让通过的电流更加稳定。第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管、第五二极管、第六二极管、第七二极管、、第八二极管、第九二极管、第十二极管有整流作用可以把方向交替变化的交流电变换成单一方向的脉冲直流电。第一三极管、第二三极管、第三三极管、第四三极管放大电流，让电流容易观察。第一晶体、第二晶体、第三晶体具有很强的抗干扰能力，保护电路更安全。第一脉冲、第二脉冲、第三脉冲发出脉冲信号。第一示波器、第二示波器、第三示波器将实验数据与信号显示出来，便于观察和处理。第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮、第五按钮、第六按钮具有这种功能，用于实验的测试、结束和保存数据。单脉冲测试芯片、双脉冲测试芯片发出实验数据，参数测量芯片处理实验数据。

以上所述的具体实施例，对本实用新型的解决的技术问题、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。