本实用新型属于测试工装领域，尤其是涉及高精度元件参数测试工装。
背景技术：
在对于高精度元件进行测试的过程中，需要对元件进行多种类型的测试，通过多种类型的测试设备和已装夹被测试元件的工装结合，进行高精度测试后获取元件参数后，对元件的性能进行进一步的改善，现有用于高精度元件的测试工装，更多的设备对元件的一次装夹只能进行一种测试并且拆卸和装夹困难，所以如何将元件的测试工装进行一次装夹可以进行多次测试，以及可以同时测试两种相关的类型的元件，成为了领域内技术性难题。
技术实现要素：
有鉴于此，本实用新型旨在提出高精度元件参数测试工装，以解决了将元件的测试工装进行一次装夹可以进行多次不同类型的测试，拆卸装夹困难以及可以同时测试两种相关的类型的元件等问题。
为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：
高精度元件参数测试工装，包括底主板、中心支柱及多个台架；
所述底主板中心为多边形凹槽，所述中心支柱设置在所述多边形凹槽中心位置，所述底主板上端面设有多个台阶支柱及多个支柱，所述台阶支柱对称设置在所述底主板上端面左右两侧，多个所述支柱对称设置在所述底主板上端面左右两侧，同侧所述台阶支柱及支柱处于不同竖直平面，每一所述台阶支柱相对侧均设有台阶，所述台架放置在同侧所述中心支柱及台阶支柱之间。
进一步的，所述中心支柱左右两侧均设有支柱台阶，所述台架包括主台架及支架，所述主台架放置在所述台阶上，所述支架放置在所述支柱台阶上。
进一步的，所述底主板上端面前后两侧均设有压块。
进一步的，所述底主板上端面左右两侧设有刻度。
进一步的，所述台阶支柱设有四个，四个所述台阶支柱对称设置在所述多边形凹槽左右两侧，所述台阶支柱设有所述台阶的一侧相对。
进一步的，所述支柱设有两个，所述支柱对称设置在所述多边形凹槽左右两侧，同侧所述支柱设置在所述台阶支柱之间。
进一步的，每一所述台阶支柱及支柱高度相同。
相对于现有技术，本实用新型所述的高精度元件参数测试工装具有以下优势：
本实用新型所述的高精度元件参数测试工装，通过台阶支柱及支柱可以对轮齿类元件或者轴套类元件进行固定，通过台架放置测量工具或者可以对轴套类元件内部进行测试，底主板上设置的两个压块可以用于为被测试元件提供支撑，底主板上设有的刻度可以测量元件的测试测试过程中发生的形变量，中心支柱可以对齿轮类元件内部进行固定。
附图说明
构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：
图1为本实用新型实施例所述的高精度元件参数测试工装示意图。
附图标记说明：
101-底主板；1011-刻度；1012-压块；1012-多边形凹槽；201-台阶支柱；2011-台阶；301-支柱；401-台架；501-中心支柱；5011-支柱台阶。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。
高精度元件参数测试工装，如图1所示，包括底主板101、中心支柱501及多个台架401；
底主板101中心为多边形凹槽1013，中心支柱501设置在多边形凹槽1013中心位置，可以对齿轮类元件内部进行固定，底主板101上端面设有多个台阶支柱201及多个支柱301，通过台阶支柱201及支柱301可以对轮齿类元件或者轴套类元件进行固定，台阶支柱201对称设置在底主板101上端面左右两侧，多个支柱301对称设置在底主板101上端面左右两侧，同侧台阶支柱201及支柱301处于不同竖直平面，每一台阶支柱201相对侧均设有台阶2011，台架401放置在同侧中心支柱501及台阶支柱201之间，通过台架401放置测量工具或者可以对轴套类元件内部进行测试。
中心支柱501左右两侧均设有支柱台阶5011，台架401包括主台架及支架，主台架放置在台阶2011上，支架放置在支柱台阶5011上。
底主板101上端面前后两侧均设有压块1012可以用于为被测试元件提供支撑。
底主板101上端面左右两侧设有刻度1011可以测量元件的测试测试过程中发生的形变量。
台阶支柱201设有四个，四个台阶支柱201对称设置在多边形凹槽1013左右两侧，台阶支柱201设有台阶2011的一侧相对。
支柱301设有两个，支柱301对称设置在多边形凹槽1013左右两侧，同侧支柱301设置在台阶支柱201之间。
本实例的工作方式
底主板101上设有的多边形凹槽1013为六边形凹槽，通过中心支柱501固定齿轮的中心位置，通过台阶支柱201及支柱301固定齿轮的外部的齿形，可以通过台架401放置其他的测量工具完成对齿轮或者轴套类元件的性能测试，测试过程中可以通过底主板101端面上设有的刻度测量测试过程中齿轮或者轴套类元件的形变量。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。