一种环形铁芯测试装置的制作方法

本发明涉及电气测试技术领域，特别涉及一种环形铁芯测试装置。

背景技术：

电容式电压互感器阻尼装置使用的环形铁芯进厂检验时，需要对铁芯做相关性能测试；有些测试项目需要在环形铁芯上绕制一个或多个试验用线圈，试验完成后，这些试验用线圈必须拆除；由于这些试验用线圈的要求不一样，因而线圈匝数也不会一样，少则几匝，多则几十匝，所以拆下来的线较短，无法再利用，只能当废品处理了；因此，如果对每一只进厂的环形铁芯做这样的测试，不仅费时费力，同时也造成线圈的大量浪费。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种环形铁芯测试装置，所要解决的技术问题是：测试项目需要在环形铁芯上绕制一个或多个试验用线圈，试验完成后，这些试验用线圈必须拆除，费时费力，同时也造成线圈的大量浪费。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种环形铁芯测试装置，包括插头、插座和电缆排线，所述电缆排线的一端与所述插头压接，另一端与所述插座压接；所述插头和插座可拆卸的对接；所述插头和插座对接后，所述插头、插座和电缆排线构成线圈。

本发明的有益效果是：插头和插座对接后，所述插头、插座和电缆排线构成线圈，结构简单，拆装方便，又能重复使用，特别是在环形铁芯批量测试时，能极大的提高效率，同时减少线圈的浪费。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。

进一步，所述电缆排线为多芯扁平带状电缆排线，所述电缆排线的芯数与所述插头的针脚数和插座的针脚数一致。

进一步，所述插头的多个针脚与所述电缆排线的多个芯线一一对应压接；且所述电缆排线的末尾芯线引出为第二出线端；

所述插座的第一针脚引出为第一出线端，其余针脚与所述电缆排线的多个芯线一一对应压接。

进一步，所述插头为IDE插头，所述插座为IDE插座。

采用上述进一步方案的有益效果是：多芯扁平带状电缆排线、IDE插头和IDE插座匹配接合，能对环形铁芯进行N次缠绕，适应不同的环形铁芯进行测试。

附图说明

图1为本发明一种环形铁芯测试装置的结构示意图；

图2为本发明插头的主视图；

图3为本发明插座的主视图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：

1、插头，2、插座，3、电缆排线，4、环形铁芯。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。

如图1至图3所示，一种环形铁芯测试装置，包括插头1、插座2和电缆排线3，所述电缆排线3的一端与所述插头1压接，另一端与所述插座2压接；所述插头1和插座2可拆卸的对接；所述插头1和插座2对接后，所述插头1、插座2和电缆排线3构成线圈。

所述插头1和插座2对接后，所述插头1、插座2和电缆排线3构成线圈，结构简单，拆装方便，又能重复使用，特别是在环形铁芯4批量测试时，能极大的提高效率，同时减少线圈的浪费。

上述实施例中，所述电缆排线3为多芯扁平带状电缆排线，所述电缆排线3的芯数与所述插头1的针脚数和插座2的针脚数一致；所述插头1的多个针脚与所述电缆排线3的多个芯线一一对应压接；且所述电缆排线3的末尾芯线引出为第二出线端；所述插座2的第出一针脚引为第一出线端，其余针脚与所述电缆排线3的多个芯线一一对应压接；所述插头1为IDE插头，所述插座2为IDE插座。第二出线端和第一出线端接入励磁电流。

电缆排线3内设置有N个芯线，IDE插头1设置有N个针脚，IDE插座2设置有N个针脚，电缆排线3内设置的N个芯线与IDE插头1的N个针脚一一对应连接，其中电缆排线3末尾的一个芯线引出为第二出线端；IDE插座2的第一个针脚引出为第一出线端，其余的N-1个针脚与电缆排线3中除了末尾芯线外的其余N-1个芯线一一对应连接。

将IDE插头1和IDE插座2对接后，电缆排线3中相邻的芯线通过IDE插头1和IDE插座2首尾相连，构成匝数固定的线圈，在对环形铁芯4进行测试时，将IDE插座2从环形铁芯4内径穿过，然后再将IDE插头1和IDE插座2对接，一个绕组就绕在环形铁芯4上；当电缆排线3长度满足要求的时候，IDE插座2在环形铁芯4中穿芯2次、3次至N次，其中N大于等于4，则可绕出原匝数多2倍、3倍至N倍的线圈。

多芯扁平带状电缆排线3、IDE插头1和IDE插座2匹配接合，能对环形铁芯4进行N次缠绕，适应不同的环形铁芯4进行测试；通过本技术方案能够方便地对环形铁芯4进行测试，本技术方案结构简单，拆装方便，又能重复使用，特别是在环形铁芯4批量测试时，能极大的提高效率，同时减少线圈的浪费。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。