技术特征：
技术总结
本发明涉及一种隔离型宽范围的开入开出检验电路，包括单片机控制电路和多路开入开出控制电路，其中单片机控制电路由PCB板、单片机及单片机周边电路、控制接口电路、通信接口电路组成，多路开入开出控制电路由多个开入开出电路单元组成。该检验电路解决了现实中出现的由于其开入、开出检验电路设计的局限性，导致对装置检验容错性差的问题。
技术研发人员：苏亮;齐志坤;王立金;王向辉;马凯宁;丁福利;暴立勇
受保护的技术使用者：北京四方继保自动化股份有限公司
技术研发日：2018.03.12
技术公布日：2018.07.27