VPX模块通用测试方法与流程

文档序号:16479294发布日期:2019-01-02 23:56阅读:687来源:国知局
VPX模块通用测试方法与流程

本发明属于雷达信号处理技术领域,尤其涉及一种vpx模块通用测试方法。



背景技术:

随着雷达向着数字化、软件化的方向发展,模块间通信采用并行总线加自定义串行的方式,已很难满足日益复杂的雷达信号处理需求,使得现代雷达中广泛采用了基于vpx总线的模块,vpx模块之间的互联可以采用serialrapidio、pciexpress、光纤通道、10gb以太网等高速串行总线,大大增加vpx总线的带宽,对vpx模块的功能测试、故障隔离和维护保障的需求也越来越迫切。

在目前的vpx测试系统中,对vpx模块的测试多利用雷达装机的信号处理模块搭建,系统的构成、信号通道、数据流、控制指令及控制方式等的设计均仿照雷达上的应用情况,系统所用的硬件模块品种较多,测试系统不通用,每套雷达的vpx模块测试均需设计各自的测试系统,模块利用效率不高,测试成本高。



技术实现要素:

本发明的目的是针对上述现有技术的不足,提供一种vpx模块通用测试方法,本发明可以快速简便地实现对多种vpx模块的测试和故障隔离,突破vpx模块维护保障通用化的技术瓶颈,并极大地降低测试系统的集成难度和复杂性。

为实现上述技术目的,本发明采取的技术方案为:vpx模块通用测试方法,包括如下步骤:

步骤s1:通过通用vpx背板给被测vpx模块、多功能测试模块及光纤测试模块分别提供电源供电;

所述通用vpx背板由12个插槽组成,插槽上部设有汇流条,用于给通用vpx背板供电;

第1插槽xs1为标准vme总线,用于连接vme主板,第2-12插槽xs2~xs12符合vita46规范,用于定义高速数字模块连接的拓扑结构;

将多动能测试模块插入插槽第3插槽xs3、第4插槽xs4、第6插槽xs6、第8插槽xs8、第9插槽xs9和/或第11插槽xs11;第12插槽xs12插接光纤测试模块;

步骤s2:多功能测试模块通过以太网交换机接收主控计算机的测试指令,生成和发送测试矢量,并接收测试响应向量,然后对测试响应向量进行分析处理,最后通过以太网交换机将测试结果传回主控计算机;所述多功能测试模块基于vpx总线开发设计,设有测试接口并提供高速串行信号;

步骤s3:光纤测试模块通过网口接收上位机测试指令、加载和发送测试矢量,然后接收测试响应向量,对接收测试响应向量做初级处理后传回主控计算机,通过由主控计算机进行进一步的数据分析,以完成光纤接口信号测试。

进一步的,所述测试接口包括网口、光口、232串口。

进一步的,所述高速串行信号包括rocketio、rapidio、serdes网络信号。

进一步的,所述光纤测试模块设置有10个光纤通道,分别为光纤通道1~10,所述光纤通道1和光纤通道2共用参考时钟1,光纤通道1和光纤通道2的光纤通道波特率可以不一致;光纤通道3~10共用参考时钟2,光纤通道3~10分为四组,光纤通道3和光纤通道4为一组,光纤通道5和光纤通道6为一组,光纤通道7和光纤通道8为一组,光纤通道9和光纤通道10为一组,每组光纤通道波特率可独立设置,组内光纤通道波特率必须相同。

进一步的,所述光纤通道波特率可设置为1.25gbps、1.6gbps、2gbps、2.5gbps、3.125gbps、3.2gbps。

进一步的,所述步骤s2还包括如下步骤:

多功能测试模块采用fpga动态加载测试程序,通过fpga的gtx接口设计多种高速串行信号,模拟雷达工作协议,匹配不同被测vpx模块的测试,并在fpga内部构建大容量ddr缓存区,并结合板载ddr芯片,进行大容量数据传输。

进一步的,所述步骤s2还包括如下步骤:

模拟仿真产生被测vpx模块的工作数据,产生与被测vpx模块时序、通讯协议相匹配的测试信号,使用chipscope软件中的ibertconsole模块观测高速信号接口输出端的高速信号误码率,并使用高性能示波器对引出的高速信号进行眼图的自动测试,实现vpx高速数字模块的信号完整性测试和分析。

进一步的,所述多功能测试模块采用fpga动态加载测试程序是采用pciexpress进行加载,所述pciexpress将fpga动态加载测试程序分成两个部分,第一部分只包含pciexpress接口以及相关逻辑,第二部分包含除pciexpress接口外的其他逻辑。

进一步的,所述多功能测试模块基于vpx总线规范,采用多核cpu加高性能fpga,通过fpga配置高速串行测试接口,接口形式可扩展;通过fpga的ip核模块化设计,实现多种速率动态自适应匹配。

本发明包括vpx总线测试背板、多功能测试模块、光纤测试模块三个部分。其中vpx总线测试背板有12个插槽组成,第一槽为标准vme总线,第2-12槽符合vita46规范的自定义总线背板,定义了高速数字模块连接的拓扑结构,背板给被测vpx模块和测试资源(多功能测试模块及光纤测试模块)分别提供电源供电。多功能测试模块基于vpx总线开发设计,提供多种测试接口和多种类型的高速串行信号,如rocketio、rapidio、serdes网络信号等。该模块通过网口接收上位机测试指令,生成和发送测试矢量,接收测试响应向量,能够对测试结果进行分析处理,最后可通过网口将测试结果传回主控计算机。光纤测试模块主要用于测试光纤接口信号,能够满足多个通道同时测试,通道波特率可独立设置,能够通过网口接收上位机测试指令,能够加载和发送测试矢量,接收测试响应向量,对接收数据可做初级处理后传回主控计算机,由主控计算机进行进一步的数据分析。设计通用多功能测试模块,提供多种测试信号,取代以往测试系统中采用的专用雷达装机模块。综合分析多个品种被测vpx模块的拓扑结构,研制通用vpx背板。采用fpga动态加载测试程序,满足多种vpx被测件的测试需求,通过fpga的gtx接口设计多种高速串行信号,模拟雷达工作协议,匹配不同被测件的测试,并在fpga内部构建大容量ddr缓存区,并结合板载ddr芯片,可进行大容量数据传输;模拟仿真产生被测模块的工作数据,产生与被测模块时序、通讯协议相匹配的测试信号,使用chipscope的ibertconsole观测高速信号接口输出端的高速信号误码率,并使用高性能示波器对引出的高速信号进行眼图的自动测试,实现了vpx高速数字模块的信号完整性测试和分析。多功能测试模块的pcie加载,为了满足100毫秒的加载时间窗口,通过xilinx的7系列芯片增加了tandem-prom功能方式,该功能的实现是将fpga的加载程序分成两个部分,第一部分只包含pcie接口以及相关逻辑,第二部包含除pcie接口外的其他逻辑。fpga上电后,从加载flash中加载第一部分逻辑,由于该部分只包含pcie接口程序,加载时间要远小于100毫秒。多功能测试模块基于vpx总线规范,采用多核cpu加高性能fpga,通过fpga配置高速串行测试接口,接口形式可扩展;通过fpga的ip核模块化设计,实现多种速率动态自适应匹配。

本发明的技术方案是vpx总线模块的全功能测试解决方案,主要包括vpx总线测试背板、多功能测试模块、光纤测试模块三个部分。vpx总线测试背板:背板用于连接多功能测试模块、被测vpx模块和光纤测试模块。该背板设计为12槽(xs1~xs12)、6u高、第1插槽标准vme总线,第2-12槽(xs2~xs12)符合vita46规范的自定义vpx总线背板。上部的汇流条用于给vpx背板供电,插槽1用于连接vme主控器、插槽3、插槽4、插槽6、插槽8、插槽9、插槽11针对不同的被测vpx模块的需要,插入多动能测试模块,插槽12用于光纤测试模块,其余插槽用于连接不同的被测vpx模块。图2所示只是插件槽位,不是所有槽位模块同时插满机箱,多功能测试模块只有一块,针对不同的被测vpx模块,切换不同槽位使用。用户自定义数据线的传输速率有3.125gbps的高速信号,背板的设计能保证3.125gbps数据的稳定、可靠、正确传输。多功能测试模块:基于vpx总线的多功能测试模块用于多个品种的高速数字电路模块测试,基于vpx总线开发设计,提供多种测试接口,如网口、光口、232串口等;提供多种类型的高速总线测试信号,如rocketio、rapidio、serdes网络信号等。该模块是测试系统的核心测试设备,通过网口接收上位机测试指令,生成和发送测试矢量,接收测试响应向量,能够对测试结果进行分析处理,最后可通过网口将测试结果传回主控计算机。光纤测试模块:光纤测试模块主要用于测试光纤接口信号,能够满足多个通道同时测试,通道波特率可独立设置,能够通过网口接收上位机测试指令,能够加载和发送测试矢量,接收测试响应向量,对接收数据可做初级处理后传回主控计算机,由主控计算机进行进一步的数据分析。光纤通道1和光纤通道2共参考时钟,可设置为的波特率为1.6gbps和2gbps,通道速率可以不一致。光纤通道3~10共参考时钟,可设置的波特率为1.25gbps、1.6gbps、2gbps、2.5gbps、3.125gbps、3.2gbps。

本发明使用示意流程如下:vpx总线测试背板固定于一vpx插箱内,背板供电由vpx插箱提供,电源品种为vpx规范电源(+12v、+5v);多功能测试模块安装在vpx总线测试背板的插槽4内;一被测vpx模块安装在vpx总线测试背板的插槽5内;光纤测试模块安装在vpx总线测试背板的插槽12内;启动主控计算机运行测试软件,完成被测vpx模块的测试和故障隔离;若测试另一vpx模块,根据软件提示更换多功能测试模块的插槽,并按提示将被测vpx模块插入对应的插槽,重复步骤5。

本发明所达到的有益效果:

1.实现了vpx模块的全功能、通用化测试解决方案。

2.针对不同品种的vpx模块,无需专用机箱实现vpx模块的测试。

3.通过fpga动态加载测试程序,实现了高速数字信号仿真及测试。

4.实现了vpx高速数字模块的信号完整性测试和分析。

5.降低了测试系统集成的复杂度和难度。

附图说明

图1是本发明vpx模块通用测试方法架构示意图。

图2为自定义vpx背板插件分布图、。

图3为多功能测试模块结构框图。

图4为光纤测试模块结构框图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。

参见图1、2、3和4,本vpx模块通用测试方法,包括如下步骤:

s1通过通用vpx背板给被测vpx模块、多功能测试模块及光纤测试模块分别提供电源供电;

所述通用vpx背板由12个插槽组成,第1插槽xs1为标准vme总线,用于连接vme主板,第2-12插槽xs2~xs12符合vita46规范,用于定义高速数字模块连接的拓扑结构,其中第3插槽xs3、第4插槽xs4、第6插槽xs6、第8插槽xs8、第9插槽xs9、第11插槽xs11针对不同的被测vpx模块的需要,将多动能测试模块插入相应插槽,第12插槽xs12用于插接光纤测试模块,其余插槽用于连接不同的被测vpx模块;插槽上部设有汇流条,用于给vpx背板供电;

s2采用多功能测试模块,通过网口接收上位机测试指令,生成和发送测试矢量,接收测试响应向量,并对测试结果进行分析处理,最后通过网口将测试结果传回主控计算机;所述多功能测试模块基于vpx总线开发设计,设有测试接口并提供高速串行信号,所述测试接口包括网口、光口、232串口,所述高速串行信号包括rocketio、rapidio、serdes网络信号;

所述多功能测试模块基于vpx总线规范,采用多核cpu加高性能fpga,通过fpga配置高速串行测试接口,接口形式可扩展;通过fpga的ip核模块化设计,实现多种速率动态自适应匹配;

多功能测试模块采用fpga动态加载测试程序,通过fpga的gtx接口设计多种高速串行信号,模拟雷达工作协议,匹配不同被测vpx模块的测试,并在fpga内部构建大容量ddr缓存区,并结合板载ddr芯片,进行大容量数据传输;fpga动态加载测试程序可采用pciexpress进行加载,所述pciexpress将fpga动态加载测试程序分成两个部分,第一部分只包含pciexpress接口以及相关逻辑,第二部分包含除pciexpress接口外的其他逻辑;

模拟仿真产生被测vpx模块的工作数据,产生与被测vpx模块时序、通讯协议相匹配的测试信号,使用chipscope软件中的ibertconsole模块观测高速信号接口输出端的高速信号误码率,并使用高性能示波器对引出的高速信号进行眼图的自动测试,实现vpx高速数字模块的信号完整性测试和分析。

s3采用光纤测试模块测试光纤接口信号,通过网口接收上位机测试指令、加载和发送测试矢量、接收测试响应向量,对接收数据做初级处理后传回主控计算机,由主控计算机进行进一步的数据分析。所述光纤测试模块设置有10个光纤通道,分别为光纤通道1~10,所述光纤通道1和光纤通道2共用参考时钟1,光纤通道1和光纤通道2的光纤通道波特率可以不一致;光纤通道3~10共用参考时钟2,光纤通道3~10分为四组,光纤通道3和光纤通道4为一组,光纤通道5和光纤通道6为一组,光纤通道7和光纤通道8为一组,光纤通道9和光纤通道10为一组,每组光纤通道波特率可独立设置,组内光纤通道波特率必须相同;所述光纤通道波特率可设置为1.25gbps、1.6gbps、2gbps、2.5gbps、3.125gbps、3.2gbps。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。

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