性能测试方法、装置、电子设备和存储介质与流程

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术：

随着计算机技术的发展，通过卫星系统对电子设备进行定位的需求越来越大，要求也越来越高。所以需要对卫星系统的定位性能进行测试。

然而，目前对卫星系统的定位性能进行测试的方法，需要复杂的操作和大量辅助设备，存在效率低下的问题。

技术实现要素：

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种性能测试方法，所述方法包括：

通过与电子设备连接的卫星系统对所述电子设备所处的位置进行定位；

获取所述电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，所述测试性能参数用于表示所述电子设备接收卫星信号的能力，所述卫星信号是由所述卫星系统在定位过程中发送的；

当所述测试性能参数在参考范围内时，对所述卫星系统的性能测试通过。

一种性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：

定位模块，用于通过与电子设备连接的卫星系统对所述电子设备所处的位置进行定位；

获取模块，用于获取所述电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，所述测试性能参数用于表示所述电子设备接收卫星信号的能力，所述卫星信号是由所述卫星系统在定位过程中发送的；

判断模块，用于当所述测试性能参数在参考范围内时，对所述卫星系统的性能测试通过。

一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述性能测试方法所述的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述性能测试方法所述的步骤。

上述性能测试方法、装置、电子设备和存储介质，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位，获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的，当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。方便快捷地对卫星系统的定位性能进行测试，节约了大量的设备资源，大幅提高了卫星系统性能测试的效率。

附图说明

图1为一个实施例中性能测试方法的应用环境图；

图2为一个实施例中性能测试方法的流程示意图；

图3为一个实施例中性能测试参考范围的结构框图；

图4为一个实施例中测试性能参数的结构框图；

图5为一个实施例中获取测试类型的流程示意图；

图6为一个实施例中性能测试装置的结构框图；

图7为另一个实施例中性能测试装置的结构框图；

图8为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请实施例提供的性能测试方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，卫星系统的卫星106、卫星108、卫星110、卫星112可以向终端102发送卫星信号，终端102通过网络与服务器104通过网络进行通信。其中，与终端102连接的卫星系统的卫星106、卫星108、卫星110、卫星112对终端102进行定位。然后获取终端102在定位过程中生成的测试性能参数，当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。其中，终端102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备，服务器104可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现，卫星106、卫星108、卫星110、卫星112可以但不限于是全球系统、区域系统、增强系统等卫星系统的卫星。

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种性能测试方法，以该方法应用于图1中的终端为例进行说明，包括以下步骤：

步骤202，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

具体地，电子设备可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。与电子设备连接的卫星系统可以是gps卫星系统(globalpositioningsystem，全球定位系统)、bds卫星系统(beidounavigationsatellitesystem，北斗卫星导航系统)、glonass卫星系统(globalnavigationsatellitesystem，全球卫星导航系统)以及galileo卫星系统(galileosatellitenavigationsystem，伽利略卫星导航系统)等四大全球系统，也可以是qzss卫星系统(quasi-zenithsatellitesystem，准天顶卫星系统)、irnss(indiaregionalnavigationsatellitesystem，印度区域导航卫星系统)等区域系统，还可以是wass卫星系统(wideareaaugmentationsystem，广域扩充系统)、msas(multi-functionalsatelliteaugmentationsystem，多功能卫星增强系统)、egnos(europeangeostationarynavigationoverlayservice，欧洲地球静止导航重叠服务)以及gagan(gps-assistedgeostationaryorbitenhancednavigationsystem，gps辅助型静地轨道增强导航系统)等增强系统，在此不做限定。上述的全球系统、区域系统和增强系统等卫星导航系统组成了gnss系统(globalnavigationsatellitesystem，全球导航卫星系统)。上述卫星系统通过与电子设备连接，对电子设备所处的位置进行定位。

进一步，与电子设备连接的卫星系统可以对电子设备进行独立定位或者综合定位。其中，独立定位指的是单独一个卫星系统对电子设备进行定位；综合定位指的是两个及两个以上的卫星系统对电子设备进行协同定位。

步骤204，获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的。

具体地，测试性能参数指的是用于表示电子设备接收卫星信号的能力的数据，其中，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的。测试性能参数可以是定位时长、定位精度、定位时经纬度、时钟、海拔高度、设备速度、搜星数、定位星数以及定位星数(超过30dbm)等。其中，定位时长指的是电子设备从开始定位到定位结束的时长，如定位时长可以是30s。定位精度指的是卫星系统对电子设备所处位置的定位坐标与电子设备所处位置的真实坐标之间的接近程度，如定位精度为10m指的是电子设备的定位坐标与真实坐标之间的误差为10m。定位时经纬度指的是定位时电子设备所处位置的经度和纬度数据，如北纬n66°33′6.38"，东经e23°27′35.30"。时钟指的是电子设备接收到卫星信号时的时刻，如14：:03。海拔高度指的是定位时电子设备所处位置与海平面的高度差，如海拔高度为151m。设备速度指的是定位时电子设备的运动的速度，如设备速度为10m/s。搜星数指的是定位时电子设备搜索到的卫星个数。定位星数指的是定位时与电子设备具有数据连接关系的卫星的个数，也即是在搜索的范围内，能够对电子设备提供定位功能的卫星个数。定位星数(超过30dbm)指的是定位时电子设备接收卫星信号功率超过30dbm的定位星数，其中，30dbm为一个统计值，通过测试人员多次测试所得，数值越高表示接收卫星信号越强，定位效果越好。

可选地，根据获取的测试性能参数可以生成excel表格，也可以生成word文档。

步骤206，当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。

具体地，参考范围指的是卫星系统对电子设备进行定位时的测试性能参数对应的一个数值区间。在本实施例中，参考范围可以是定位时长、定位精度、定位星数和定位星数(超过30dbm)等测试性能参数对应的参考范围。当测试性能参数在参考范围时，则对卫星系统的性能测试通过，为性能测试结果为“pass”；当测试性能参数不在参考范围时，则对卫星系统的性能测试不通过，为性能测试结果为“fail”。

其中，参考范围可以是通过测试人员根据行业的标准输入具体数值区间获得的，或者是测试人员经过多次测试得出的具体数值区间获得的。参考范围也可以是电子设备通过分析变更的测试环境而获取得到的。具体地，获取参考范围的方法可以包括：获取电子设备的运动参数，并根据运动参数获取对应的参考范围；和/或获取与电子设备所连接的卫星系统的第二系统数量，并根据第二系统数量获取对应的参考范围。

在本实施例中，在开始测试之后，并且在测试完成之前，在电子设备的交互界面上生成一个终止按钮。在一个实施例中，电子设备在测试过程中，可以通过获取终止测试指令，停止测试，并将已获取的测试性能参数生成excel表格。在另外一个实施例中，电子设备也可以通过测试人员设置测试的次数，当电子设备测试的次数与测试人员设置测试的次数相同时，则停止测试，并将已获取的测试性能参数生成excel。

如图3所示，可以由测试人员在图中的“输入条件”处输入定位时长、定位精度、定位星数、定位星数(30dbm)对应的参考范围。测试人员也可以设置输入条件为0时，不作为判断条件；超过180s没有定位，该定位测试直接失败进入下一轮测试。

如图4所示，测试性能参数为定位时长、定位时经纬度、搜星数及定位星数，并且生成了测试结果和备注。其中，当测试性能参数不在参考范围内时，则测试结果为“fail”，并且在备注中生成测试性能参数不在参考范围所对应的测试性能参数参考范围，如定位时长小于60s。

在本实施例中，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位；定位成功之后，电子设备获取定位过程中生成的测试性能参数，该测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，该卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的；在测试环境不变更的情况下，获取测试人员输入的具体数值区间作为参考范围，当测试性能参数在参考范围内时，则对卫星系统的性能测试通过。

上述性能测试方法中，首先通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位；然后获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的；最后当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。对卫星系统的测试无需大量的辅助设备和复杂的操作，节约了大量的设备资源，大幅提高了卫星系统性能测试的效率。

在一个实施例中，如图5所示，在通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位之前，还包括：

步骤502，获取对卫星系统进行性能测试的测试类型。

具体地，测试类型指的是测试卫星系统性能时电子设备启动状态的种类。在本实施例中，测试类型可以为第一类型、第二类型和第三类型。

步骤504，当测试类型为第一类型时，删除电子设备中的第一历史数据。

具体地，第一类型指的是冷启动，冷启动是指电子设备在内存中的历史数据全部丢失的情况下进行的启动，具体是指电子设备在没有第一历史数据的情况下进行启动。历史数据是指用于定位的应用程序在运行过程中产生的数据，第一历史数据具体可以包括电子设备中的星历、历书和时间数据。其中，历书包括全部卫星的大概位置，用于卫星预报；星历只是当前接收机观测到的卫星的精确位置，用于定位。

例如，冷启动可以包括以下几种情况：初次使用电子设备进行定位时的启动；电子设备电量耗尽导致星历、历书和时间数据等信息丢失进行定位时的启动；电子设备关机状态下移动200公里以上距离进行定位时的启动。在以上几种情况中，启动前的电子设备的内存中都不具有星历、历书和时间数据等信息。

进一步，冷启动还包括支持a-gnss(assistedglobalnavigationsatellitesystem，辅助全球导航卫星系统)的冷启动和不支持a-gnss的冷启动。其中，支持a-gnss的冷启动指的是电子设备通过运营商网络，获取与电子设备所处位置连接的服务器的星历、历书和时间数据等信息，从而对电子设备所处位置进行定位。不支持a-gnss的冷启动指的是电子设备只通过卫星系统获取星历、历书和时间数据等信息，从而对电子设备所处位置进行定位。

步骤506，当测试类型为第二类型时，删除电子设备中的第二历史数据。

具体地，第二类型指的是温启动，温启动是指电子设备在内存中的历史数据部分丢失的情况下进行的启动，具体是指电子设备在没有第二历史数据的情况下进行启动。第二历史数据具体可以包括电子设备中的星历数据信息。例如，温启动可以是电子设备在与上次定位的时间间隔超过两个小时进行定位时的启动。在这种情况下，启动前的电子设备在内存中不具有星历数据，但是具有历书、卫星的大致文职和时间数据等信息。

步骤508，当测试类型为第三类型时，执行通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位步骤。

具体地，第三类型指的是热启动，热启动是指电子设备在内存中的历史数据都存在的情况下进行的启动，具体是指电子设备的内存中有历书、星历和时间数据等信息的情况下进行启动。例如，热启动可以是电子设备在与上次定位的时间间隔不超过两个小时进行定位时的启动。在这种情况下，启动前的电子设备在内存中具有历书、星历和时间数据等信息。

在本实施例中，可选地，测试类型可以是冷启动、温启动或者热启动其中的一种测试类型。获取对卫星系统进行性能测试的测试类型后，根据测试类型对电子设备中对应的历史数据进行处理，即当测试类型为冷启动时，删除电子设备中的历书、星历和时间数据等信息；当测试类型为温启动时，删除电子设备中的星历数据信息；当测试类型为热启动时，无需删除电子设备中的数据信息，执行通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位步骤。

在一个实施例中，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位，包括以下步骤：获取电子设备的电量；当电子设备的电量大于电量阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

具体地，电量阈值指的是用于与电子设备的电量进行比较的具体数值。电量阈值可以是通过测试人员输入的具体数值获得；也可以是电子设备通过分析获得测试所需的最低电量获得。例如，将每次测试的电量耗费量加起来得到电量耗费量的总和，再除以测试的次数得到平均电量耗费量，即是测试所需的最低电量。

在本实施例中，在获取电子设备的电量后，当电子设备的电量大于电量阈值时，则通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。当电子设备的电量小于或者等于电量阈值时，则不执行通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位步骤。

进一步，当电子设备的电量小于或者等于电量阈值时，可以触发电子设备的低电量指令。例如，根据低电量指令可以生成一个低电量提醒的交互界面并弹出；也可以生成电子设置的震动或者一些提示音；还可以是通过运营商网络发送提示信息到测试人员随身携带的终端设备中，等等。

在一个实施例中，当电子设备的电量大于电量阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位，包括以下步骤：当电子设备的电量大于电量阈值时，根据电子设备的电量获取第一系统数量；根据第一系统数量选取卫星系统，并将电子设备与所选取的卫星系统建立连接；通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

具体地，第一系统数量指的是电子设备需要连接的卫星系统的数量。可选地，电子设备的电量对应的第一系统数量可以是测试人员输入的具体数值；也可以是电子设备通过分析计算得到。具体地，电子设备通过分析获得测试所需的最低电量后，根据测试所需的最低电量计算第一系统数量。

在本实施例中，第一系统数量可参照以下公式计算得到：第一系统数量＝1+(电子设备的电量-电量阈值)/k，其中，k为一个比例系数，是用户设置的。

例如，电子设备的通过分析获得电量阈值为30％，获取电子设备的电量为60％，k＝10％，则第一系统数量＝1+(60％-30％)/10％＝4，即电子设备的电量为60％时，获取第一系统数量为4，也就是测试的卫星系统为4颗。其中，第一系统数量为整数，可以采用四舍五入方法进行取整，也可以采用将小数点后的小数去掉，在此不做限定。进一步，当获取电子设备的电量大于80％时，则对第一系统数量不做限定。

在本实施例中，当电子设备的电量大于电量阈值时，根据电子设备的电量获取第一系统数量，即电子设备的电量对应的卫星系统的数量；然后根据第一系统数量选取卫星系统，并将电子设备与所选取的卫星系统建立连接，其中，选取的卫星系统可以是全球系统，也可以是区域系统，还可以是增强系统，在此不做限定；最后通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，通过与电子设备连接的卫星系统对所述电子设备所处的位置进行定位，包括：获取电子设备的cpu占用率；当电子设备的cpu占用率小于占用率阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

具体地，cpu占用率指的是电子设备中运行的程序占用的cpu资源，可以表示电子设备在某个时间点的运行程序的情况。cpu占用率越高，说明电子设备运行的应用程序越多。占用率阈值指的是能够使电子设备执行通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位步骤的临界值。

在其中一个实施例中，可以通过获取输入的指令，来获取电子设备的cpu占用率。在另外一个实施例中，也可以通过电子设备每隔一段时间自动触发指令，来获取电子设备的cpu占用率。当电子设备的cpu占用率小于占用率阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位；当电子设备的cpu占用率大于或等于目标占用率阈值时，则电子设备不执行通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位的步骤。

在一个实施例中，性能测试方法还包括：获取电子设备的运动参数，并根据运动参数获取对应的参考范围；和/或获取与电子设备所连接的卫星系统的第二系统数量，并根据第二系统数量获取对应的参考范围。

具体地，运动参数指的是在定位时电子设备的运动速度，比如，可以是在树荫、楼宇和广场等定点定位时的运动速度；也可以是步行、自行车移动、室内街道移动和高速公路移动等移动定位时的运动速度。

例如，当获取电子设备的运动参数为小于2时，则判断为定点定位时，电子设备获取对应的参考范围。当获取电子设备的运动参数大于或等于2时，也就是移动定位时，电子设备可以通过计算得到对应的参考范围。

在本实施例中，参考范围可以是定位时长、定位精度、定位星数和定位星数(超过30dbm)等测试性能参数的参考范围。具体地，当运动参数越大时，定位时长的参考范围越大；定位精度的参考范围越大；定位星数的参考范围越小；定位星数(超过30dbm)的参考范围越小。其中，定位星数和定位星数(超过30dbm)为整数，可以采用四舍五入方法进行取整，也可以采用将小数点后的小数去掉的方法，在此不做限定。

具体地，第二系统数量指的是用于获取对应的参考范围的卫星系统的数量。

在本实施例中，获取与电子设备所连接的卫星系统的数量，并根据卫星系统的数量获取对应的参考范围。其中，参考范围可通过计算获得。

在本实施例中，参考范围可以是定位时长、定位精度、定位星数和定位星数(超过30dbm)等测试性能参数的参考范围。具体地，当第二系统数量越大时，定位时长的参考范围越小；定位精度的参考范围越小；定位星数的参考范围越大；定位星数(超过30dbm)的参考范围越大。其中，定位星数和定位星数(超过30dbm)为整数，可以采用四舍五入方法进行取整，也可以采用将小数点后的小数去掉，在此不做限定。

在本实施例中，获取参考范围的方法可以为以上两种方法的至少其中一种。

在一个实施例中，性能测试方法还包括：获取日志等级；根据日志等级抓取对应的日志信息，日志信息用于表示电子设备在定位过程中记录的运行信息；根据抓取的日志信息生成测试日志。

具体地，日志指的是记录电子设备运行和运行结果的文本文件，如电子设备启动，并且成功运行电子设备中的一个应用程序，则在日志中记录电子设备启动的时间、运行的应用程序的时间、运行应用程序的结果等日志信息。日志等级指的是将日志分为几个等级，可以根据不同的日志等级抓取不同的信息。在本实施例中，日志等级越高，则电子设备抓取对应的日志信息越多。日志信息指的是电子设备在运行过程中记录的运行信息，如电子设备进行每个操作的时间、操作的结果及数据获取的接口等。

可选地，测试日志的存储路径可以为电子设备的系统内存中，也可以为与电子设备连接的tf卡(trans-flashcard)。

在本实施例中，首先获取日志等级后；然后电子设备根据日志等级抓取对应的日志信息，如定位的卫星系统信息、获取测试性能参数的接口信息、定位过程中获取数据的接口信息、电子设备进行每个操作的操作结果等等；最后电子设备根据抓取的日志信息生成测试日志。

进一步，当电子设备进行定位的过程中发生错误时，如应用程序在运行过程中卡顿了、电子设备的获取信息接口失效了等等，则电子设备可以在测试日志中记录定位过程中发生错误的位置、时间等信息，并且在测试日志中的记录发生错误信息处生成标识。

应该理解的是，虽然图2-3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-3中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种性能测试装置，包括：定位模块602、获取模块604和判断模块606，其中：

定位模块602，用于通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

获取模块604，用于获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的。

判断模块606，用于当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。

上述性能测试装置中，首先定位模块通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位；然后获取模块获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的；最后判断模块判断当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。对卫星系统的测试无需大量的辅助设备和复杂的操作，节约了大量的设备资源，大幅提高了卫星系统性能测试的效率。

在一个实施例中，如图7所示，提供了一种性能测试装置，包括：定位模块702、获取模块704、判断模块706、测试类型获取模块708、运动参数获取模块710、第二系统数量获取模块712和测试日志生成模块714，其中：

定位模块702，用于通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

获取模块704，用于获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的。

判断模块706，用于当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。

测试类型获取模块708，用于获取对卫星系统进行性能测试的测试类型；当测试类型为第一类型时，删除电子设备中的第一历史数据；当测试类型为第二类型时，删除电子设备中的第二历史数据；当测试类型为第三类型时，执行通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位步骤。

运动参数获取模块710，用于获取电子设备的运动参数，并根据运动参数获取对应的参考范围；和/或第二系统数量获取模块712，用于获取与电子设备所连接的卫星系统的第二系统数量，并根据第二系统数量获取对应的参考范围。

测试日志生成模块714，用于获取日志等级；根据日志等级抓取对应的日志信息，日志信息用于表示电子设备在定位过程中记录的运行信息；根据抓取的日志信息生成测试日志。

上述性能测试装置中，首先获取对卫星系统进行性能测试的测试类型，根据测试类型对电子设备中对应的历史数据进行处理；然后通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位；同时获取电子设备的运动参数，并根据运动参数获取对应的参考范围，和/或获取与电子设备所连接的卫星系统的第二系统数量，并根据第二系统数量获取对应的参考范围；定位成功之后，电子设备获取定位过程中生成的测试性能参数；当测试性能参数在参考范围内时，则对卫星系统的性能测试通过，并生成测试日志。对卫星系统的测试无需大量的辅助设备和复杂的操作，节约了大量的设备资源，大幅提高了卫星系统性能测试的效率。

在一个实施例中，上述定位模块702还用于获取电子设备的电量；当电子设备的电量大于电量阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，上述定位模块702还用于当电子设备的电量大于电量阈值时，根据电子设备的电量获取第一系统数量；根据第一系统数量选取卫星系统，并将电子设备与所选取的卫星系统建立连接；通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，上述定位模块702还用于获取电子设备的cpu占用率；当电子设备的cpu占用率小于占用率阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

关于性能测试装置的具体限定可以参见上文中对于性能测试方法的限定，在此不再赘述。上述性能测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种电子设备，该电子设备可以是终端，其内部结构图可以如图8所示。该电子设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该电子设备的处理器用于提供计算和控制能力。该电子设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该电子设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种性能测试方法。该电子设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该电子设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是电子设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图8中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的电子设备的限定，具体的电子设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位；获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的；用于当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取对卫星系统进行性能测试的测试类型；当测试类型为第一类型时，删除电子设备中的第一历史数据；当测试类型为第二类型时，删除电子设备中的第二历史数据；当测试类型为第三类型时，执行通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位步骤。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取电子设备的电量；当电子设备的电量大于电量阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：当电子设备的电量大于电量阈值时，根据电子设备的电量获取第一系统数量；根据第一系统数量选取卫星系统，并将电子设备与所选取的卫星系统建立连接；通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取电子设备的cpu占用率；当电子设备的cpu占用率小于占用率阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取电子设备的运动参数，并根据运动参数获取对应的参考范围；和/或获取与电子设备所连接的卫星系统的第二系统数量，并根据第二系统数量获取对应的参考范围。在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取日志等级；根据日志等级抓取对应的日志信息，日志信息用于表示电子设备在定位过程中记录的运行信息；根据抓取的日志信息生成测试日志。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位；获取电子设备在定位过程中生成的测试性能参数，测试性能参数用于表示电子设备接收卫星信号的能力，卫星信号是由卫星系统在定位过程中发送的；用于当测试性能参数在参考范围内时，对卫星系统的性能测试通过。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取对卫星系统进行性能测试的测试类型；当测试类型为第一类型时，删除电子设备中的第一历史数据；当测试类型为第二类型时，删除电子设备中的第二历史数据；当测试类型为第三类型时，执行通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位步骤。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取电子设备的电量；当电子设备的电量大于电量阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：当电子设备的电量大于电量阈值时，根据电子设备的电量获取第一系统数量；根据第一系统数量选取卫星系统，并将电子设备与所选取的卫星系统建立连接；通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取电子设备的cpu占用率；当电子设备的cpu占用率小于占用率阈值时，通过与电子设备连接的卫星系统对电子设备所处的位置进行定位。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取电子设备的运动参数，并根据运动参数获取对应的参考范围；和/或获取与电子设备所连接的卫星系统的第二系统数量，并根据第二系统数量获取对应的参考范围。在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取日志等级；根据日志等级抓取对应的日志信息，日志信息用于表示电子设备在定位过程中记录的运行信息；根据抓取的日志信息生成测试日志。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。