一种确定地层孔隙度的方法、装置及系统与流程

文档序号:16444813发布日期:2018-12-28 22:06阅读:379来源:国知局
一种确定地层孔隙度的方法、装置及系统与流程

本发明涉及石油天然气勘探开发技术领域,特别地,涉及一种确定地层孔隙度的方法、装置及系统。

背景技术

在测井综合解释中,确定地层孔隙度参数是整个解释过程中至关重要基础资料,特别是碳酸盐岩与火成岩、变质岩等复杂岩性地层剖面中,它的准确与否直接关系到最后解释成果及地层评价。

通常人们把原始测井资料加工成地质信息,包括计算数据处理得到的地质参数数据,并通过与计算图形结合对数据进行直观显示,来进行综合分析与判断地层的孔隙度。但由于测井信息与地质信息之间关系复杂且具有强烈的地区性,所以测井资料通常存在间接性和多解性的特点,从而严重影响了利用测井信息解释地层孔隙度的准确性。因此,本技术领域急需一种可以更加准确的通过测井信息解释确定地层孔隙度的方法。



技术实现要素:

本说明书实施例的目的是提供一种确定地层孔隙度的方法、装置及系统,可以更加准确的确定目标层段孔隙度的分布。

本说明书提供一种确定地层孔隙度的方法、装置及系统是包括如下方式实现的:

一种确定地层孔隙度的方法,包括:

将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点,其中,所述交会图版包括中子-密度标准岩性曲线;

将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线;

利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域;

根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。

本说明书提供的所述方法的另一个实施例中,采用下述方式构建所述交会图版:

生成中子-密度标准岩性曲线,对所述中子-密度标准岩性曲线进行岩性影响校正,获得交会图版。

本说明书提供的所述方法的另一个实施例中,所述构建所述交会图版,包括:

对岩性影响校正后的标准岩性曲线进行密度坐标归位处理,获得交会图版。

本说明书提供的所述方法的另一个实施例中,所述确定所述投影点对应的孔隙度,包括:

当所述投影点落在两种岩性的混合区域时,确定所述投影点最近的等值线,求取过投影点且与该等值线平行的直线;

计算该直线与所述混合区域对应的标准岩性曲线交点的值,将交点的值确定为该投影点的孔隙度。

本说明书提供的所述方法的另一个实施例中,所述方法还包括:

根据所述投影点所在岩性区域确定所述目标层段的岩性。

本说明书提供的所述方法的另一个实施例中,所述方法还包括:

根据对目标层段的中子及密度测量数据在所述交会图版中分布的分析结果,确定投影点的校正值及校正因子;

根据所述校正值及校正因子对所述目标层段的中子曲线或密度曲线进行环境校正。

另一方面,本说明书实施例还提供一种确定地层孔隙度的装置,包括:

数据投影模块,用于将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点,其中,所述交会图版包括中子-密度标准岩性曲线;

岩性区域划分模块,用于将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域;

孔隙度确定模块,用于根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。

本说明书提供的所述装置的另一个实施例中,所述装置还包括:

环境校正模块,用于根据对目标层段的中子及密度测量数据在所述交会图版中分布的分析结果,确定投影点的校正值及校正因子,根据所述校正值及校正因子对所述目标层段的中子曲线或密度曲线进行环境校正。

另一方面,本说明书实施例还提供一种确定地层孔隙度的设备,包括处理器及用于存储处理器可执行指令的存储器,所述指令被所述处理器执行时实现包括以下步骤:

将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点,其中,所述交会图版包括中子-密度标准岩性曲线;

将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线;

利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域;

根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。

另一方面,本说明书实施例还提供一种确定地层孔隙度的系统,包括至少一个处理器以及存储计算机可执行指令的存储器,所述处理器执行所述指令时实现上述任意一个实施例所述方法的步骤。

本说明书一个或多个实施例提供的一种确定地层孔隙度的方法、装置及系统,可以通过先将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点。然后,将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,并利用等值线将交会图版划分成不同的岩性区域。之后,可以确定各投影点所在的岩性区域,对于不同的岩性区域,基于不同的计算方法确定相应投影点的孔隙度,从而提高目标层段孔隙度确定的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:

图1为本说明书提供的一种确定地层孔隙度的方法实施例的流程示意图;

图2为本说明书提供的一个实施例中的中子测井仪的岩性影响校正示意图;

图3为本说明书提供的另一个实施例中的中子测井仪的岩性影响校正示意图;

图4为本说明书提供的另一个实施例中的三条标准岩性曲线纵坐标归位示意图;

图5为本说明书提供的另一个实施例中的三条标准岩性曲线区域划分示意图;

图6为本说明书提供的另一个实施例中的补偿中子与密度测量值投影示意图;

图7为本说明书提供的另一个实施例中的投影点最近等值线确定示意图;

图8为本说明书提供的另一个实施例中的投影点的孔隙度确定示意图;

图9为本说明书提供的另一个实施例中的补偿中子与密度环境校正之前投影位置示意图;

图10为本说明书提供的另一个实施例中的补偿中子与密度环境校正之后投影位置示意图;

图11为本说明书提供的另一个实施例中的利用交会图版计算获得的测井曲线示意图;

图12为本说明书提供的一种确定地层孔隙度的装置实施例的模块结构示意图。

图13为本说明书提供的另一种确定地层孔隙度的装置实施例的模块结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本说明书中的技术方案,下面将结合本说明书一个或多个实施例中的附图,对本说明书一个或多个实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是说明书一部分实施例,而不是全部的实施例。基于说明书一个或多个实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本说明书实施例方案保护的范围。

通常人们把原始测井资料加工成地质信息,包括计算数据处理得到的地质参数数据,并通过与计算图形结合对数据进行直观显示,来进行综合分析与判断地层的孔隙度。但由于测井信息与地质信息之间关系复杂且具有强烈的地区性,所以测井资料通常存在间接性和多解性的特点,从而严重影响了利用测井信息解释地层孔隙度的准确性。

相应的,本说明书实施例提供了一种确定地层孔隙度的方法,可以预先运用多个数据坐标构建交会图版,将岩性矿物的中子与密度测量值投影到上述交会图版中,直观清楚的观察井段岩性空间展布位置。然后,通过划分不同的岩性区域,确定测量数据投影点所在的岩性区域,对于不同的岩性区域,基于不同的计算方法确定相应投影点的孔隙度。进一步的,还可以利用标准岩性曲线及彼此之间构成的多边形区域,计算出对应深度点的地层孔隙度值,提高目标层段孔隙度确定的准确性。

图1是本说明书提供的所述一种确定地层孔隙度的方法实施例流程示意图。虽然本说明书提供了如下述实施例或附图所示的方法操作步骤或装置结构,但基于常规或者无需创造性的劳动在所述方法或装置中可以包括更多或者部分合并后更少的操作步骤或模块单元。在逻辑性上不存在必要因果关系的步骤或结构中,这些步骤的执行顺序或装置的模块结构不限于本说明书实施例或附图所示的执行顺序或模块结构。所述的方法或模块结构的在实际中的装置、服务器或终端产品应用时,可以按照实施例或者附图所示的方法或模块结构进行顺序执行或者并行执行(例如并行处理器或者多线程处理的环境、甚至包括分布式处理、服务器集群的实施环境)。

具体的一个实施例如图1所示,本说明书提供的确定地层孔隙度的方法的一个实施例中,所述方法可以包括:

s2:将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点。

可以获取待测井目标层段的补偿中子测量值与密度测量值数据。一些实施方式中,如可以利用补偿密度测井仪等测量目标层段内的岩石密度,获取密度测量值数据;可以利用补偿中子测井仪等测量目标层段测井内的热中子分布,获取补偿中子测量数据。

所述交会图版可以包括单矿物中子-密度标准岩性曲线形成的图版。具体实施时,可以预先构建纵、横坐标分别为中子、密度的图版,然后,可以通过测井测量出的地层补偿中子数据及密度数据,对大量补偿中子数据及密度数据进行分析测定标准矿物刻度线,从而在上述图版中生成不同单矿物的中子-密度标准岩性曲线。

本说明书的一个实施例中,可以对所述中子-密度标准岩性曲线进行岩性影响校正,获得交会图版。

在地层岩性研究中,地下岩石矿物中包含着很多岩性成分,具体实施时通常按岩性划分三类:碎屑岩储层、碳酸盐岩储层、其它岩类储层。碎屑岩主要成分是石英,长石等;碳酸盐岩主要成分是方解石,白云石;其中前两类是主要研究的储集层。

相应的,本说明书的一些实施方式中,可以在所述交会图版中生成三种单矿物标准岩性曲线,其中,三条单矿物线可以包括含水纯砂岩线、含水纯石灰岩线、含水纯白云岩线。补偿中子测井仪可以在标准的纯石灰岩井中刻度,以石灰岩孔隙度作为单位,对岩性不同的地层测得的孔隙度是不相同的,比如砂岩或是白云岩。通过对砂岩或是白云岩的标准岩性曲线进行中子岩性影响校正处理,可以进一步提高后续利用交会图版进行孔隙度确定及岩性解释的准确性。

图2为本说明书提供的一个实施例中的中子测井仪的岩性影响校正示意图,图3为本说明书提供的另一个实施例中的中子测井仪的岩性影响校正示意图。其中,cnl表示中子,rho表示密度,limestone表示石灰岩,domlmite表示白云岩,sandstone表示砂岩。具体实施时,如可以根据拟合校正方程对标准岩性曲线的中子数据进行校正。如对于2435中子测井仪的岩性影响校正的校正方程如下:

砂岩:φc=[(φ+1.98163)/0.57344]1/1.13

白云岩:φc=-0.83285+0.33658*φ0.8+0.15463φ1.4

利用上述校正方程校正后获得的交会图版如图2所示。

三条岩性影响校正曲线是y=f(x)关系式,将方程中的x与y的关系式互换,互换后的方程如下:

砂岩:φ=0.57344*φc1.13-1.98163

白云岩:φ=0.0061*φc2+0.605*φ-1.3363

可以根据上述互换后的方程将砂岩以及白云岩的标准岩性曲线的中子数据进行校正,从而获得交会图版,校正后获得的交会图版如图3所示。

本说明书的另一个实施例中,还可以将三条经过岩性影响校正后的标准岩性曲线进行密度坐标归位处理,获得交会图版。

具体实施时,对每一种纯岩石,依次给定孔隙度值最小值和最大值,按下述公式计算其体积密度值ρb:

ρb=φ*ρf+(1-φ)ρma

其中,φ表示孔隙度,ρf表示淡水泥浆参数,ρma表示纯岩石密度。

然后,根据上述计算获得的体积密度数据,依次调整标准岩性曲线的纵向密度坐标值,将标准岩性曲线进行密度坐标归位。

一些实施方式中,可以预先将单矿物的孔隙度坐标叠合到上述图版中,然后,在将标准岩性曲线进行密度坐标归位的同时,对应调整相应单矿物的孔隙度φ坐标。图4为本说明书提供的一个实施例中的三条标准岩性曲线纵坐标归位示意图。对比图3及图4可以看出,依据上述方案各标准岩性曲线分别进行了密度坐标归位,同时,三条单矿物孔隙度坐标也进行了相对应的调整,调整后获得图版如图4所示。利用上述密度坐标归位及孔隙度坐标调整处理的交会图版进行分析,无需经过复杂的公式换算,即可更加准确直观的观察井段岩性空间展布位置,从而可以大幅度提高岩性解释及孔隙度确定的准确性及效率。

然后,可以选择某井一定深度段里的补偿中子测量值与密度测量值,按照横坐标是补偿中子,纵坐标是密度投影到交会图版中,获得各数据对对应的投影点。

s4:将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域。

可以先按相同预设间隔对标准岩性曲线的孔隙度数据进行划分,获得标准岩性曲线上的离散数据点,将不同标准岩性曲线上相同值的点进行两两连接,获得等值线。然后,可以利用所述等值线将交会图版划分获得不同的岩性区域,可以通过如图形多边形包含等算法计算出所述投影点所在的岩性区域。

图5表示三条标准岩性曲线区域划分示意图。图6表示补偿中子与密度测量值投影示意图。如图5所示,将三条标准岩性曲线上的数据点按照预设间隔5进行离散化,获得离散数据点。然后,将任两条标准岩性曲线上相同值的离散数据点两两相连,形成多条等值线,利用等值线将图版划分获得多个岩性区域。

其中,图中三条等值线围成的三角形区域表示三种岩性混合区域。如,三条标准岩性曲线上数值点为5的点两两相连形成三条等值线,该三条等值线围成的三角形区域为三种岩性的混合区域。

两条相邻的等值线与两条标准岩性曲线围成的区域为两种岩性混合区域。如,纯白云岩、纯石灰岩数值点为5的点连成的等值线、与纯白云岩、纯石灰岩数值点为10的点连成的等值线、以及纯白云岩、纯石灰岩标准岩性曲线围成的区域,表示纯白云岩、纯石灰岩混合区域。

其他的区域,如标准岩性曲线、纯砂岩以上的区域、纯白云岩以下的区域则确定为纯岩性区域。具体的,如投影点落在纯砂岩标准岩性曲线或者纯砂岩标准岩性曲线以上的区域,或者,投影点落在纯白云岩标准岩性曲线或者纯白云岩标准岩性曲线以下的区域,或者,投影点落在纯石灰岩标准岩性曲线上,则确定该投影点落在纯岩性区域。

s6:根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。

可以根据所述投影点落在的岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。如,投影点落在纯岩性区域,则可以根据密度与孔隙度之间的函数关系直接确定投影点的孔隙度。如果投影点落在三种岩性混合区域内,则可以获取相应的三种岩性混合区域的三边,将三边对应的等值线的值确定为所述投影点的孔隙度。

本说明书的一个实施例中,可以确定所述投影点最近的等值线,求取过投影点且与该等值线平行的直线;计算该直线与两条标准岩性曲线的交点的值,将交点的值确定为该投影点的孔隙度。利用本实施例的方案,可以更加准确的确定两种岩性混合区域内目标层段的孔隙度分布。

假如投影点落在两种岩性混合区域内,可以通过海伦公式最小三角形面积法,查找出最近的等值线,然后,根据平行四边形法则,求取过投影点且与该等值线平行的直线,并计算该直线与两条标准岩性曲线的交点的值,将交点的值确定为该投影点的孔隙度。

图7表示投影点最近等值线确定示意图,图8表示投影点的孔隙度确定示意图。如图7所示,任一等值线与标准岩性曲线交点可以表示为ei、fi,则投影点g同ei、fi围成的三角形的三边a、b、c分别可以表示为:

a2=(gx-eix)2+(gy-eiy)2

b2=(gx-fix)2+(gy-fiy)2

c2=(eix-fix)2+(eiy-fiy)2

其中,gx、gy分别表示g点的横坐标、纵坐标,eix、eiy分别表示ei点的横坐标、纵坐标,fix、fiy分别表示fi点的横坐标、纵坐标。

三角形的面积s可以表示为:

s=[p(p-a)*(p-b)*(p-c)]1/2

其中,

然后,可以根据三角形面积最小化原则,确定离投影点g最近的等值线e-f。

如图8所示,可以根据平行四边形法则,求出与e-f线段平行的过投影点g的线段e′-f′。

可以根据下式计算过线段e-f直线的斜率kef及y轴的截距bef:

kef=(ey-fy)/(ex-fx)

bef=ey-kef*ex

其中,ey、ex分别表示e点的横、纵坐标,fx、fy分别表示f点的横、纵坐标。

则,过线段e′-f′的直线的斜率ke′f′及y轴的截距be′f′:

ke′f′=kef

be′f′=gy-ke′f′*gx

其中,gx、gy分别表示g点的横、纵坐标。

然后,可以计算过线段e′-f′的直线与两条标准岩性曲线的交点e′、f′的坐标值,从而确定出e′、f′的孔隙度。线段e′-f′为相对孔隙度的等值线,则可以将e′、f′点的孔隙度确定为g点的孔隙度。

依据本说明书上述实施例提供的方案,从而可以定量确定出交会图版上的任一投影点的孔隙度,即确定出投影点对应的各地层深度的孔隙度。

本说明书的另一个实施例中,可以进一步根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应深度位置的岩性。具体实施时,可以对目标工区的大量数据分析初步确定工区的岩性,然后,进一步结合一定深度的测量数据投影点分布,准确确定目标工区各深度的岩性,提高工区岩性确定的准确性。

本说明书提供的上述一个或者多个实施例,通过将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,然后,将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线。利用等值线将交会图版划分成不同的岩性区域,通过分析投影点所在的岩性区域,分别确定相应投影点对应的孔隙度。从而,可以提高目标层段孔隙度分布的准确性,同时,还可以进一步的准确确定目标工区各深度的岩性分布。

本说明书提供的一个或者多个实施例中,所述方法还可以包括:

s5:根据对目标层段的中子及密度测量数据在所述交会图版中分布的分析结果,确定投影点的校正值及校正因子,根据所述校正值及校正因子对所述目标层段的中子曲线或密度曲线进行环境校正。

利用本说明书上述实施例提供的方案,通过分析测井测量值在交会图版中投影点分布,分析相应地层的岩性。如果出现测井测量值在交会图版中绝大多数点虽然比较密集,但却与实际地质岩性符合较差的情况。则可以通过分析数据点分布,对测井测量数据进行适当校正,以降低测量环境对地层岩性分析及孔隙度等参数确定准确性的影响。

进一步的,可以通过计算测井测量数据在图版中的投影点的校正值及校正因子,根据所述校正值及校正因子对所述目标层段的中子曲线或密度曲线进行环境校正。

图9表示补偿中子与密度环境校正之前投影位置示意图,图10表示补偿中子与密度环境校正之后投影位置示意图。如图9所示,将目标层段的测量数据投影到交会图版上后,可以通过分析投影点的分布情况、并结合通过其他资料初步确定的目标区域岩性分布情况,确定测井测量数据的投影点是否出现偏差。如果出现偏差,则可以根据投影点的分布及其他测量数据,确定需要校正到的正确分布位置。并进一步根据需要校正到的位置以及投影点原始位置分布,计算校正值及校正因子。

其中,横、纵向校正值δx、δy可以表示为:

δx=x0-x

δy=y0-y

其中,x0、y0表示交会图版中投影点的原始位置坐标值,x、y表示投影点正确分布的位置坐标值。

x=xi*xscale

y=yi*yscale

其中,xscale、yscale分别表示横向、纵向校正因子。

然后,可以根据环境校正后的数据修正密度曲线及中子曲线。一些实施方式中,还可以通过进一步对比分析测井曲线图,综合评判校正效果,逐步调整上述校正值及校正因子,已获得较为满意的结果。其中,图11表示利用本说明书实施例构建的交会图版计算获得的测井曲线示意图,图11中的lei96表示测井编号,图11中各列分别为:depth表示井深,time表示时间,cn表示补偿中子测量数据,den表示密度测量数据,cnl-den-poro表示根据交会图版计算获得的孔隙度数据,limestone表示石灰石含量,domlmite表示白云石含量,boundary表示地层界限。

之后,可以利用环境校正后的数据确定目标层段的孔隙度及岩性,以提高孔隙度及岩性确定的准确性。

利用本说明书上述实施例的方案,可以进一步降低井下复杂的测量环境对地层岩性分析及孔隙度等数据准确确定的影响,为后期的解释成果分析及地层综合评价提供强有力的计算工具。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。具体的可以参照前述相关处理相关实施例的描述,在此不做一一赘述。

上述对本说明书特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下,在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外,在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中,多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。

本说明书一个或多个实施例提供的一种确定地层孔隙度的方法,可以通过先将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点。然后,将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,并利用等值线将交会图版划分成不同的岩性区域。之后,可以确定各投影点所在的岩性区域,对于不同的岩性区域,基于不同的计算方法确定相应投影点的孔隙度,从而提高目标层段孔隙度确定的准确性。

基于上述所述的确定地层孔隙度的方法,本说明书一个或多个实施例还提供一种确定地层孔隙度的装置。所述的装置可以包括使用了本说明书实施例所述方法的系统、软件(应用)、模块、组件、服务器等并结合必要的实施硬件的装置。基于同一创新构思,本说明书实施例提供的一个或多个实施例中的装置如下面的实施例所述。由于装置解决问题的实现方案与方法相似,因此本说明书实施例具体的装置的实施可以参见前述方法的实施,重复之处不再赘述。以下所使用的,术语“单元”或者“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现,但是硬件,或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。具体的,图12表示说明书提供的一种确定地层孔隙度的装置实施例的模块结构示意图,如图12所示,所述装置可以包括:

数据投影模块102,可以用于将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点,其中,所述交会图版包括中子-密度标准岩性曲线;

岩性区域划分模块104,可以用于将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域;

孔隙度确定模块106,可以用于根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。

利用上述实施例的方案,可以更加准确的确定目标工区的孔隙度。

图13为本说明书提供的另一种确定地层孔隙度的装置实施例的模块结构示意图。如图13所示,本说明书的另一个实施例中,所述装置还可以包括环境校正模块105,所述环境校正模块105,可以用于根据对目标层段的中子及密度测量数据在所述交会图版中分布的分析结果,确定投影点的校正值及校正因子,根据所述校正值及校正因子对所述目标层段的中子曲线或密度曲线进行环境校正。

利用上述实施例的方案,可以进一步降低井下复杂的测量环境对地层岩性分析及孔隙度等数据准确确定的影响。

需要说明的,上述所述的装置根据方法实施例的描述还可以包括其他的实施方式。具体的实现方式可以参照相关方法实施例的描述,在此不作一一赘述。

本说明书一个或多个实施例提供的一种确定地层孔隙度的装置,可以通过先将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点。然后,将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,并利用等值线将交会图版划分成不同的岩性区域。之后,可以确定各投影点所在的岩性区域,对于不同的岩性区域,基于不同的计算方法确定相应投影点的孔隙度,从而提高目标层段孔隙度确定的准确性。

本说明书提供的上述实施例所述的方法或装置可以通过计算机程序实现业务逻辑并记录在存储介质上,所述的存储介质可以计算机读取并执行,实现本说明书实施例所描述方案的效果。因此,本说明书还提供一种确定地层孔隙度的设备,包括处理器及存储处理器可执行指令的存储器,所述指令被所述处理器执行时实现包括以下步骤:

将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点,其中,所述交会图版包括中子-密度标准岩性曲线;

将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线;

利用所述等值线划分不同的岩性区域,确定所述投影点所在岩性区域;

根据所述投影点所在岩性区域确定所述投影点对应的孔隙度。

所述存储介质可以包括用于存储信息的物理装置,通常是将信息数字化后再以利用电、磁或者光学等方式的媒体加以存储。所述存储介质有可以包括:利用电能方式存储信息的装置如,各式存储器,如ram、rom等;利用磁能方式存储信息的装置如,硬盘、软盘、磁带、磁芯存储器、磁泡存储器、u盘;利用光学方式存储信息的装置如,cd或dvd。当然,还有其他方式的可读存储介质,例如量子存储器、石墨烯存储器等等。

需要说明的,所述设备根据方法实施例的描述还可以包括其他的实施方式。具体的实现方式可以参照相关方法实施例的描述,在此不作一一赘述。

上述实施例所述的一种确定地层孔隙度的设备,可以通过先将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点。然后,将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,并利用等值线将交会图版划分成不同的岩性区域。之后,可以确定各投影点所在的岩性区域,对于不同的岩性区域,基于不同的计算方法确定相应投影点的孔隙度,从而提高目标层段孔隙度确定的准确性。

本说明书还提供一种确定地层孔隙度的系统,所述系统可以为单独的确定地层孔隙度的系统,也可以应用在多种类型的油田开发系统或者数据分析系统中。所述的系统可以为单独的计算机,也可以包括使用了本说明书的一个或多个所述方法或一个或多个实施例装置的实际操作装置(如激发装置、接收装置、接收线路)等。所述确定地层孔隙度的系统可以包括至少一个处理器以及存储计算机可执行指令的存储器,所述处理器执行所述指令时实现上述任意一个或者多个实施例中所述方法的步骤。

需要说明的,上述所述的系统根据方法或者装置实施例的描述还可以包括其他的实施方式,具体的实现方式可以参照相关方法实施例的描述,在此不作一一赘述。

上述实施例所述的一种确定地层孔隙度的系统,可以通过先将目标层段的中子及密度测量数据投影到预先构建的交会图版中,获得投影点。然后,将所述交会图版中的任意两个标准岩性曲线中的相同数据点进行连接,获得等值线,并利用等值线将交会图版划分成不同的岩性区域。之后,可以确定各投影点所在的岩性区域,对于不同的岩性区域,基于不同的计算方法确定相应投影点的孔隙度,从而提高目标层段孔隙度确定的准确性。

需要说明的是,本说明书上述所述的装置或者系统根据相关方法实施例的描述还可以包括其他的实施方式,具体的实现方式可以参照方法实施例的描述,在此不作一一赘述。本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于硬件+程序类、存储介质+程序实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

尽管本说明书实施例内容中提到的交会图版、岩性区域划分等获取、定义、交互、计算、判断等操作和数据描述,但是,本说明书实施例并不局限于必须是符合标准数据模型/模板或本说明书实施例所描述的情况。某些行业标准或者使用自定义方式或实施例描述的实施基础上略加修改后的实施方案也可以实现上述实施例相同、等同或相近、或变形后可预料的实施效果。应用这些修改或变形后的数据获取、存储、判断、处理方式等获取的实施例,仍然可以属于本说明书的可选实施方案范围之内。

上述对本说明书特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下,在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外,在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中,多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。

上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元,可以由计算机芯片或实体实现,或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机。具体的,计算机例如可以为个人计算机、膝上型计算机、车载人机交互设备、平板计算机或者这些设备中的任何设备的组合。

为了描述的方便,描述以上装置时以功能分为各种模块分别描述。当然,在实施本说明书一个或多个时可以把各模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现,也可以将实现同一功能的模块由多个子模块或子单元的组合实现等。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。

本领域技术人员也知道,除了以纯计算机可读程序代码方式实现控制器以外,完全可以通过将方法步骤进行逻辑编程来使得控制器以逻辑门、开关、专用集成电路、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等的形式来实现相同功能。因此这种控制器可以被认为是一种硬件部件,而对其内部包括的用于实现各种功能的装置也可以视为硬件部件内的结构。或者甚至,可以将用于实现各种功能的装置视为既可以是实现方法的软件模块又可以是硬件部件内的结构。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在一个典型的配置中,计算设备包括一个或多个处理器(cpu)、输入/输出接口、网络接口和内存。

还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法或者设备中还存在另外的相同要素。

本领域技术人员应明白,本说明书一个或多个实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此,本说明书一个或多个实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本说明书一个或多个实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本说明书一个或多个实施例可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述,例如程序模块。一般地,程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本本说明书一个或多个实施例,在这些分布式计算环境中,由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中,程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本说明书的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述并不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

以上所述仅为本说明书的实施例而已,并不用于限制本说明书。对于本领域技术人员来说,本说明书可以有各种更改和变化。凡在本说明书的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本说明书的权利要求范围之内。

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