技术特征：
技术总结
本发明公开了一种光电导谱自动测量系统及方法，所述系统包括：带有计算机接口的集成式光源、放置在光学暗箱中的光路系统、测试盒、偏置电源、两台锁相放大器和一台计算机。方法：通过引入特殊的样品结构、针对高阻样品和低阻样品设计不同的测试线路来增强信号的幅度，通过使用锁相放大器(参考频率由斩波器提供)来测量矩形狭缝样品在光照/不光照两种情况下在测试线路中引入的与交变光同频率的周期性电压脉冲信号，然后通过一定的计算将实测的“电压—波长”数据转换为材料的“光电导率—波长”数据(即光电导谱)。测试过程不但更加省时、省力，而且测试结果还更加准确、可靠。
技术研发人员：艾斌;孔光临
受保护的技术使用者：中山大学
技术研发日：2018.10.23
技术公布日：2019.03.01