本实用新型属于大气污染源检测设备，尤其涉及一种气体分析仪吹扫气体预热装置。
背景技术：
气体分析仪是一种监测气体污染源的设备，例如FTIR、激光分析仪等等。其检测原理是通过检测光照射到污染源气体以使检测光产生光谱变化，通过分析光谱变化得到污染源气体中污染成分的含量。气体分析仪的检测精度与检测光量程有关，一般而言，检测光量程越大，检测精度越高。为了提高检测光光程，绝大部分气体分析仪的气体室内都设置有反射镜片。反射镜片与污染源气体直接接触，时间长了，污染源气体成分会附着在反射镜片表面导致反射镜片污染，并影响检测结果。解决这一问题的方法是通过反吹气体定时对反射镜片进行吹扫，清理掉反射镜片上的污染物。
然而，吹扫气体在进入气体室内后，也需要防止吹扫气体内的气态水液化析出吸附气体室内，导致检测误差。因此在吹扫气体进入气体室内之前需要对吹扫气体进行加热。现有的气体分析仪，一般具有两个加热部件，一个用于对气体室进行加热，另一用于对吹扫气体进行加热，这样导致整个气体分析仪内部设备臃肿，结构复杂，制造成本增高。
技术实现要素：
本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种结构简单，设计合理的气体分析仪吹扫气体预热装置。
本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：
一种气体分析仪吹扫气体预热装置，用于加热进入气体分析仪气体室内的吹扫气体，所述位于气体室底壁内的预热管道以及贴设在气体室底壁上的加热板，所述加热板上设置有若干支柱，所述支柱支撑气体室以使气体室与气体分析仪外壳之间具有间隔。
作为优选，所述预热管道具有一主管和两支管，所述两支管的出口分别与气体室两侧的反射镜片对应设置。
作为优选，所述气体室底壁通过注塑成型。
作为优选，所述气体室底壁通过精加工装配成型。
作为优选，所述气体室底壁上开设有截面构造为T型的凹槽，所述凹槽上盖合有封片，所述封片沉设于凹槽的沉头内。
作为优选，所述封片与凹槽壁之间设置有密封圈。
与现有技术相比，本实用新型具有以下技术优点：
本实用新型中气体室和吹扫气体共用一个加热板进行加热，简化了设备，同时吹扫气体由气体室的底壁进入到气体室内，便于吹扫气体的管路设计；另外，在对气体室进行维护时，相比于常规气体室由顶部进入吹扫气体，吹扫气体由底壁进入不受维护的影响，便于工作人员对气体室进行维护。
附图说明
图1是本实用新型的结构图。
图2是本实用新型一实施例的剖视图。
图3是本实用新型又一剖视图。
图4是图3中A部放大图。
具体实施方式
以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。
如图1至图4所示，本实用新型提供了一种气体分析仪吹扫气体预热装置，用于加热进入气体分析仪气体室2内的吹扫气体。预热装置包括设置在气体室2底壁7内的预热管道5以及贴设固定在气体室2底壁7下方的加热板6。这样设置，即可以通过一个加热板6同时对预热管道5内的吹扫气体以及气体室2进行加热。加热板6上设置有支柱3，支柱3的作用是将气体室2顶起，使气体室2与气体分析仪外壳之间具有一定的间隔，设置间隔一方面是为了隔热，防止分析仪外壳的温度过高，另一方面也便于预热管道5外部管路1的布局。
进一步的，所述预热管道5具有一主管和两支管，所述两支管的出口分别与气体室2两侧的反射镜片对应设置。需要指出的是，在本实用新型中，预热管道5在气体室2底壁7内的管路形状布局可以根据需要布置，可以如附图所示的呈T字型，也可以设计成弯曲状，预热管道5的设计只要能保证吹扫气体进入气体室2之后不会冷凝即可。
在一些实施例中，所述气体室2底壁7通过注塑成型。
在一些实施例中，所述气体室2底壁7通过精加工装配成型。
气体室2采用精加工装配成型时，所述气体室2底壁7上开设有截面构造为T型的凹槽，所述凹槽上盖合有封片9，所述封片9沉设于凹槽的沉头4内。采用封片9对封闭凹槽使之形成完全的封闭管路，同时封片9沉于凹槽的沉头4内，封片9的外表面与气体室2底壁7的外壁面平齐，这样便于加热板6的安装固定。
进一步的，所述封片9与凹槽壁之间设置有密封圈8。设置密封圈8可以更进一步的保证封片9与凹槽壁之间的密封性。
本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。