技术总结
本实用新型公开了一种X射线荧光光谱仪的内部装置保护结构，设置于X射线荧光光谱仪的样品放置口的内侧，包括上部开口、下部密封的保护罩体，所述保护罩体的上部开口与测试样品位置对应，所述保护罩体的上部开口下方被界定为异物接收腔，所述异物接收腔的两侧分别设置有X射线入口和X射线荧光检测口，在保护罩体底部设置有朝着上部开口方向拍摄的拍摄装置。在本实用新型中，当测试样不慎掉入或流入测试口，由于保护罩体的存在，测试样可进入保护罩体的异物接收腔，有效防止了测试样对X射线荧光光谱仪的内部件造成的影响和对测试的干扰。
技术研发人员：程偲;陈滨;张加强;罗美娜
受保护的技术使用者：上海新漫传感技术研究发展有限公司
技术研发日：2018.06.25
技术公布日：2019.02.01