一种紫外可见分光光度计的制作方法

文档序号:17507128发布日期:2019-04-24 00:08阅读:399来源:国知局
一种紫外可见分光光度计的制作方法

本实用新型涉及光度计设备技术领域,更具体地说,它涉及一种紫外可见分光光度计。



背景技术:

紫外可见分光光度计是由光源、单色器、吸收池、检测器和信号处理器等部件组成。光源提供足够强度的、稳定的连续光谱,单色器将光源发出的复合光分解并从中分出所需波长的单色光,检测器通过光电转换元件检测透过光的强度,将光信号转变成电信号。

目前,授权公告号为CN204389375U的中国专利公开了一种一种紫外分光光度计比色皿架,其包括包括底座,在底座上设有若干个方形的比色皿盛放槽,在底座的上方设有架体,在架体上设有若干个与比色皿盛放槽位置相对的通孔,在通孔的外侧的架体上设有一环形凹槽,在环形凹槽的内侧壁上设有一环形卡槽,在通孔内设有一清洁装置,所述清洁装置包括一设置在通孔内侧的固定环,在固定环的内侧上部黏贴有一环形滤纸层,在固定环内侧下部黏贴有一环形擦镜纸层,在固定环的底部两侧分别设有一弹性拨块,在两弹性拨块的外侧均设有一与环形凹槽相配合的U型卡块,U型卡块的内端伸至环形卡槽的内侧。

虽然,该实用新型在比色皿架上设置清洁装置,将比色皿放入比色皿盛放槽的过程中就能够对比色皿的光学面进行擦拭,操作过程简单。但是,其通过弹性拨块上的U型卡块与环形卡槽相配合的方式将清洁装置可拆卸连接于架体上,弹性拨块在不断拨动的过程中容易损坏,且U型卡块下端在拨动弹性拨块时的移动路径为弧形,难以直接进入环形卡槽内或固定效果不佳,长期使用后容易磨损,故弹性拨块的方式寿命短,在使用时容易出现问题。



技术实现要素:

针对现有技术的不足,本实用新型的目的是提供一种紫外可见分光光度计,其能在稳定对比色皿的清洁效果的同时,提高装置的使用寿命和使用稳定性。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:

一种紫外可见分光光度计,包括光度计本体,所述光度计本体一侧设有显示屏和控制键,另一侧设有样品池,所述样品池内设有水平的清洁架,所述清洁架上固定有若干横截面为方形的比色皿,所述清洁架内设有用于固定比色皿位置的固定环,所述固定环内周壁上设有清洁层,所述固定环上端向外延伸设有凸环,所述凸环底部设有T型块,所述清洁架上表面开有供T型块滑移的T型槽,所述T型槽设为弧形且其圆心位于比色皿的对称中心线上,所述T型槽一端设有供T型块向下进入的开口,所述样品池内设有限制比色皿转动的固定件。

通过采用上述技术方案:测量样品放入比色皿的过程中容易将样品洒落在比色皿的光学面,若光学面沾有残液,则会影响测量的精确性,故在比色皿放入固定环的过程中对比色皿的光学面进行擦拭,方便对测试的操作;通过将T型块从开口处固定于T型槽内,限制固定环在竖直和水平方向上的位移,防止比色皿在置入清洁架内或者取出时,使固定环跟随比色皿一起取出,并保证比色皿在试验时不发生平移;再通过固定件限制比色皿的转动,防止由于比色皿在放入清洁架内或者试验时,由于没有对其转动位置进行限位而使比色皿转动一定角度,从而导致光源透过比色皿的厚度发生变化,保证测试结果的准确性,且相对于弹性拨块的方式装置的使用寿命和使用稳定性更高。

本实用新型进一步设置为:所述固定件包括样品池底部供比色皿下端插接的方形孔。

通过采用上述技术方案:通过将比色皿下端插接与方形孔中,防止比色皿发生转动,并保证比色皿在竖直方向上的位置,减少比色皿发生倾斜的情况,提高测试结果的准确性。

本实用新型进一步设置为:所述凸环抵接于清洁架的上表面。

通过采用上述技术方案:通过将凸环抵接于清洁架的上表面稳定其水平位置,保证比色皿的竖直,减少比色皿的倾斜,提高测试结果的准确性。

本实用新型进一步设置为:所述凸环包括其底部嵌设的若干滚珠。

通过采用上述技术方案:在长时间将固定环沿T型槽进行旋转时通过凸环底部嵌设的滚珠以减小凸环与清洁架的上表面之间的摩擦力,减少凸环下表面的磨损程度,以提高固定环的使用寿命。

本实用新型进一步设置为:所述固定环上方设有套接于比色皿外的导向套。

通过采用上述技术方案:由于固定环与比色皿之间的接触面较小,清洁层一般为柔性层以防止刮伤比色皿的表面,导致清洁层对比色皿的固定效果较差,故设有导向套导向比色皿的竖直状态,防止其倾斜,提高测试结果的准确性。

本实用新型进一步设置为:所述导向套与比色皿上端面等高,且导向套的侧面开有通槽。

通过采用上述技术方案:通过导向套与比色皿上端面等高,在置入比色皿时可以清楚了解到比色皿底部是否插接到位;而为了方便在试验结束后取出比色皿,故在其侧面开有通槽以方便使用者将比色皿滑移取出;同时方便使用者对固定环的转动,方便将T型块转动滑移进入到T型槽末端。

本实用新型进一步设置为:所述方形孔顶部倒有圆角。

通过采用上述技术方案:防止在将比色皿向下安装时,由于其发生一定倾斜而使比色皿在插接入方形孔时卡顿或被方形孔的棱边刮伤,保护比色皿的表面,使比色皿的插接更顺畅。

本实用新型进一步设置为:所述方形孔底部设有若干等高柱。

通过采用上述技术方案:等高柱防止比色皿底面或方形孔底面粘结有杂物时即会影响到比色皿的竖直状态,使比色皿安装后不容易倾斜。

综上所述,本实用新型具有以下有益效果:

1.通过T型块、T型槽、清洁层以及方形孔的设置,其能在稳定对比色皿的清洁效果的同时,提高装置的使用寿命和使用稳定性;

2.通过导向套和等高柱的设置,保证比色皿的竖直,减少比色皿的倾斜,提高测试结果的准确性。

附图说明

图1是实施例提供的一种紫外可见分光光度计的整体结构示意图;

图2是图1沿A-A方向的剖视图;

图3是图2中B部分的放大结构示意图;

图4是实施例提供的一种紫外可见分光光度计的固定环与清洁架的爆炸结构示意图(隐藏盖体);

图5是图2中C部分的放大结构示意图。

图中:1、光度计本体;11、显示屏;12、控制键;13、样品池;131、方形孔;1311、圆角;1312、等高柱;14、盖体;2、清洁架;21、固定环;211、滤纸层;212、擦镜纸层;213、凸环;2132、滚珠;214、T型块;215、导向套;2151、通槽;22、T型槽;221、开口;3、比色皿。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

实施例:

本实用新型实施例披露了一种紫外可见分光光度计,参照图1,包括光度计本体1,光度计本体1一侧设有显示屏11和控制键12,另一侧设有样品池13(如图2所示),样品池13上方铰接有盖体14,盖体14的铰接轴沿光度计本体1长度方向设置。

参照图2和图3,样品池13内固定有水平的清洁架2,清洁架2上固定有若干横截面为方形的比色皿3,清洁架2内设有用于固定比色皿3位置的固定环21,固定环21内周壁上粘贴有清洁层,清洁层包括上方的滤纸层211和下方的擦镜纸层212。测量样品放入比色皿3的过程中容易将样品洒落在比色皿3的光学面,在比色皿3放入固定环21的过程中通过清洁层对比色皿3的光学面进行擦拭,测试结果更准确。

参照图3,固定环21上端向外延伸设有凸环213,凸环213抵接于清洁架2的上表面。稳定凸环213的水平位置,保证比色皿3的竖直,减少比色皿3的倾斜,提高测试结果的准确性。

参照图3,凸环213包括其底部绕其中心嵌设的若干滚珠2132。在将固定环21沿T型槽22进行旋转时减小凸环213与清洁架2的上表面之间的摩擦力,减少凸环213下表面的磨损程度,以提高固定环21的使用寿命。

参照图2和图4,固定环21上方设有套接于比色皿3外的导向套215,导向套215与比色皿3上端面等高,且导向套215的侧面开有通槽2151。由于清洁层对比色皿3的固定效果较差,故设有导向套215导向比色皿3的竖直状态,防止其倾斜,提高测试结果的准确性;导向套215与比色皿3上端面等高,在置入比色皿3时可以清楚了解到比色皿3底部是否插接到位;在导向套215侧面开有通槽2151以方便使用者将比色皿3滑移取出。

参照图4,凸环213底部设有T型块214,清洁架2上表面开有供T型块214滑移的T型槽22,T型槽22设为弧形且其圆心位于比色皿3的对称中心线上,T型槽22一端设有供T型块214向下进入的开口221,样品池13内设有限制比色皿3转动的固定件。将T型块214从开口221处固定于T型槽22内,限制固定环21在竖直和水平方向上的位移,保证比色皿3在试验时不发生平移;再通过固定件限制比色皿3的转动,防止光源透过比色皿3的厚度发生变化,保证测试结果的准确性。

参照图5,固定件包括样品池13底部供比色皿3下端插接的方形孔131。通过将比色皿3下端插接与方形孔131中,防止比色皿3发生转动,并减少比色皿3发生倾斜的情况,提高测试结果的准确性。

参照图5,方形孔131底部位于其四个角落位置分别设有等高柱1312。防止比色皿3底面或方形孔131底面粘结有杂物时即会影响到比色皿3的竖直状态,使比色皿3不容易倾斜。

参照图5,由于在将比色皿3向下安装时,其在发生一定倾斜时会使比色皿3在插接入方形孔131时卡顿或被方形孔131的棱边刮伤,故在方形孔131顶部倒有圆角1311,保护比色皿3的表面,使比色皿3的插接更顺畅。

工作过程概述:

测试时,将比色皿3向下插接入固定环21中,通过固定环21内周壁上的滤纸层211和擦镜纸层212对比色皿3的侧面进行滤水和擦拭,直至导向套215与比色皿3上端面等高,而后进行测试。其中,通过T型块214和T型槽22以及方形孔131定位比色皿3的位置,在稳定对比色皿3的清洁效果的同时,相对于弹性拨块的固定方式装置的使用寿命和使用稳定性更高。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,本实用新型的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理前提下的若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

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