一种便于取拿的COC老化测试设备的制作方法

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，具体为一种便于取拿的COC老化测试设备。

背景技术：

COC芯片是一种集成电路的芯片，可以有效地降低电子信息系统产品的开发成本，缩短开发周期，提高产品的竞争力，是未来工业界将采用的最主要的产品开发方式，近年来COC芯片得到广泛应用，其老化程度会严重影响使用性能，从而我们需要对其进行老化测试，其中高低温老化测试可检验产品处在高低温环境时的性能，然而在刚测试完时，取拿COC芯片时，需等老化测试设备的内部温度趋于常温方可取拿，影响了后续测试工作，大大降低了工作效率，鉴于此，我们提出一种便于取拿的COC老化测试设备。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种便于取拿的COC老化测试设备，以解决上述背景技术中提出的在老化测试设备刚测试完，需等待方可取拿COC芯片，影响到后续测试的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种便于取拿的COC老化测试设备，包括测试箱，所述测试箱的上方设有控制区，所述控制区的一侧设有测试区，所述测试区的下方设有存取区，所述存取区的一侧铰接有柜门，所述柜门的一侧连接有连杆，所述连杆的一端连接有测试台，所述柜门一侧开设有沉台，所述沉台的内部卡接有载物台，所述载物台的两侧焊接有固定块，所述固定块的上方设有限位槽，所述限位槽的底部开设有卡槽，所述卡槽的一侧设有T型槽且与T型槽相连通，所述卡槽的内部设有卡块，所述卡块的一端连接有T型块，所述测试台的外侧卡接有固定框，所述测试台后端的两侧设有插柱，所述测试台的底面且靠近前端的位置开设有滑槽，所述滑槽的内部设有滑块。

优选的，所述存取区内壁的两侧通过螺钉固定有三角块，所述三角块与所述卡块的一端外轮廓相同且卡接配合，所述存取区的内壁与所述固定框通过螺栓固定连接。

优选的，所述载物台上端的侧面设有防滑纹，所述限位槽的内部通过螺钉固定有限位块，所述T型槽与所述T型块卡接配合，所述限位块与所述卡块之间卡接有弹簧。

优选的，所述连杆的两端开设有连接口，两端所述连接口分别与所述固定块和所述滑块铰接。

优选的，所述固定框的一端为开口状且内侧设有插孔，所述插孔与所述插柱插接配合，所述滑槽与所述滑块滑动连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

该便于取拿的COC老化测试设备，将柜门和测试台通过连杆铰接而连接成一体，当向下打开柜门时，拉动连杆带动滑块在滑槽上滑行，从而使测试台重心前移而前倾下降，放置于其上的COC芯片便滑入载物台上，拔出载物台，倒出芯片，避免直接接触芯片，再把待测的芯片放入测试台上，向上关闭柜门，连杆会顶动测试台与固定框卡合，从而继续测试，此方式操作简单，既维持了测试区内的温度，又及时的取出产品，准备下次测试，从而大大的提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型中的柜门与测试台的闭合和打开状态侧视图图；

图3为本实用新型中的柜门整体结构示意图；

图4为本实用新型中的柜门结构示意图；

图5为本实用新型中的A放大结构示意图；

图6为本实用新型中的与卡块配合的限位块和三角块示意图；

图7为本实用新型中的连杆结构示意图；

图8为本实用新型中的测试台与固定框结构示意图。

图中：1、测试箱；2、控制区；3、测试区；4、存取区；40、三角块；5、柜门；50、沉台；51、载物台；510、防滑纹；52、固定块；53、限位槽；530、限位块；54、卡槽；540、T型槽；55、卡块；550、T型块；551、弹簧；6、连杆；60、连接口；7、测试台；70、固定框；700、插孔；71、插柱；72、滑槽；73、滑块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

请参阅图1-8，本实用新型提供一种技术方案：

一种便于取拿的COC老化测试设备，如图1、图2和图7所示，包括测试箱1，测试箱1的上方设有控制区2，控制区2的一侧设有测试区3，测试区3的下方设有存取区4，存取区4的一侧铰接有柜门5，柜门5的一侧连接有连杆6，连杆6的一端连接有测试台7。

具体的，本实施例的三角块40、载物台51、限位块530和卡块55均为塑胶模具制成，均采用PA塑胶原料，即尼龙，其具有很高的机械强度，耐热，耐磨损，使其自身经久耐用。

进一步的，存取区4内壁的两侧通过螺钉固定有三角块40，三角块40与卡块55的一端外轮廓相同且卡接配合，存取区4的内壁与固定框70通过螺栓固定连接。

除此之外，连杆6的两端开设有连接口60，两端连接口60分别与固定块52和滑块73均铰接，使柜门5与测试台7实现联动连接。

在具体实施中，由于COC芯片使用性能要求高，所以需对其进行老化测试，及时掌握其性能优劣，为了在高低温老化测试中及时取物，不浪费测试温度，本发明人对柜门5和测试台7作出改进，作为一种优选实施例，如图3、图3、图5、图6和图8所示，柜门5一侧开设有沉台50，沉台50的内部卡接有载物台51，通过交替更换载物台51，使待测芯片提前准备好，载物台51的两侧焊接有固定块52，固定块52的上方设有限位槽53，限位槽53的底部开设有卡槽54，卡槽54的一侧设有T型槽540且相连通，卡槽54的内部设有卡块55，卡块55的一端连接有T型块550，测试台7的外侧卡接有固定框70，测试台7后端的两侧设有插柱71，测试台7的底面且靠近前端的位置开设有滑槽72，滑槽72的内部设有滑块73。

具体的，载物台51上端的侧面设有防滑纹510，增加摩擦便于取出，限位槽53的内部通过螺钉固定有限位块530，顶住弹簧551，T型槽540与T型块550卡接配合，避免卡块55脱离卡槽54，限位块530与卡块55之间卡接有弹簧551，为卡块55的复位提供推力。

进一步的，固定框70的一端为开口状且内侧设有插孔700，插孔700与插柱71插接配合，便于测试台7绕其转动，滑槽72与滑块73滑动连接，滑块73的位置移动使得测试台7的重心转移，得以前倾下降。

本实施例的便于取拿的COC老化测试设备在测试结束时，向下打开柜门5，便拉动连杆6带动滑块73在滑槽72内向前端面滑行，测试台7的重心前移而下倾，从而放置于其上的COC芯片便滑入载物台上，得以取出，再把待测的芯片放入测试台7上，并向上关闭柜门5，连杆6会顶动测试台7与固定框70卡合，与此同时，卡块55接触三角块40并压着斜面向上移动，当过了三角块40的顶端后，卡块55在弹簧551的回弹力作用下向下移动，并与三角块40卡合，从而柜门5实现固定；本实用新型取COC芯片无需等待即可取出，加快了后续测试工作的进行，大大提高了工作效率。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。