1.一种测试设备，其特征在于，包括：
第一输入输出端口，配置为输出第一测试信号并接收第三反馈信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号，所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第二反馈信号生成；
判断逻辑电路，配置为根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一反馈信号由所述第一待测芯片响应于所述第二测试信号生成，所述第二反馈信号由所述第二待测芯片响应于所述第三测试信号生成。
3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述判断逻辑电路还配置为：
若所述第三反馈信号小于第一阈值或者大于第二阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；
若所述第三反馈信号大于等于所述第一阈值且小于等于所述第二阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。
4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述判断逻辑电路还配置为：
根据所述第三反馈信号获得第四反馈信号；
若所述第四反馈信号小于第三阈值或者大于第四阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；
若所述第四反馈信号大于等于所述第三阈值且小于等于所述第四阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。
5.一种测试载板，其特征在于，包括：
第一通道，配置为接收第一测试信号和发送第三反馈信号；
第二通道，配置为发送第二测试信号并接收第一反馈信号；
第三通道，配置为发送第三测试信号并接收第二反馈信号；
第一信号处理电路，所述第一通道、所述第二通道和所述第三通道均电连接至所述第一信号处理电路，所述第一信号处理电路配置为根据所述第一测试信号生成所述第二测试信号和所述第三测试信号，并根据所述第一反馈信号和所述第二反馈信号生成所述第三反馈信号。
6.根据权利要求5所述的测试载板，其特征在于，所述第二测试信号和所述第三测试信号的频率和相位均相同。
7.根据权利要求5所述的测试载板，其特征在于，所述第二测试信号和所述第三测试信号的频率、幅度和相位均相同。
8.根据权利要求5所述的测试载板，其特征在于，所述第一信号处理电路还配置为：
分别复用所述第一测试信号生成所述第二测试信号和所述第三测试信号。
9.根据权利要求5所述的测试载板，其特征在于，所述第一信号处理电路还配置为：
合并所述第一反馈信号和所述第二反馈信号获得所述第三反馈信号。
10.根据权利要求5所述的测试载板，其特征在于，所述第一信号处理电路还配置为：
对所述第一反馈信号和所述第二反馈信号求平均获得所述第三反馈信号。
11.一种测试系统，其特征在于，包括：
如权利要求1-4任一项所述的测试设备；
如权利要求5-10任一项所述的测试载板；以及
测试插槽，所述测试设备和所述测试插槽均电连接至所述测试载板。
12.根据权利要求11所述的测试系统，其特征在于，所述测试插槽用于置放待测芯片，且所述待测芯片的引脚电连接至所述测试插槽的引脚。