技术总结
本实用新型公开了一种继电器综合参数测试系统的吸合释放时间校准装置，它包括单刀双投开关，双投开关的转换端B引出到接线端A；单刀双投开关的D端引出到第一NPN型晶体三极管的基极；单刀双投开关的C端引出到第二NPN型晶体三极管的基极，第一NPN型晶体三极管的集电极引出到接线端E；第二NPN型晶体三极管的集电极引出到接线端F；第一NPN型晶体三极管的发射极引出到接地端GND；第二NPN型晶体三极管的发射极引出到接地端GND；解决了现有技术不能精确设定要校准的时间间隔点，从而造成所校准的点不能覆盖整个量程范围的难题。同时现有校准方法精度不高，不能满足量传要求等问题。
技术研发人员：瞿明生
受保护的技术使用者：贵州航天计量测试技术研究所
技术研发日：2018.11.29
技术公布日：2019.07.26