一种电源模块的并行测试装置的制作方法

本实用新型涉及电源模块测试装置领域，特别是指一种电源模块的并行测试装置。

背景技术：

电源模块是可以直接贴装在印刷电路板上的电源供应器，其特点是可为专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、微处理器、存储器、现场可编程门阵列(FPGA)及其他数字或模拟负载提供供电，广泛用于交换设备、接入设备、移动通讯、微波通讯以及光传输、路由器等通信领域和汽车电子、航空航天等。电源管理芯片加上芯片外部相关电源电路构成了电源模块，如果想要持续性地、高效率地问元器件供电，必不可少地是对电源管理芯片进行性能测试，目前常规检测电源管理芯片的装置一次只能对一个芯片进行测试，测试效率低下。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种电源模块的并行测试装置，提高对电源模块的测试效率。

基于上述目的本实用新型提供的一种电源模块的并行测试装置，其特征在于，包括夹持机构、第一检测机构和第二检测机构；

所述夹持机构为集成电路插座，用于放置待检测的芯片并夹持住芯片的引脚；

所述第一检测机构为检测端子，所述第二检测机构包括输入功率连接端子、输出功率连接端子和电连接器，所述集成电路插座电性连接输入功率连接端子、输出功率连接端子、电连接器和检测端子，第一检测机构和第二检测机构用于对芯片进行检测，第一检测机构和第二检测机构之间相互并联设置，第一检测机构和第二检测机构均电性连接夹持机构，夹持机构、第一检测机构和第二检测机构对应设置且数量彼此相等。

可选的，还包括基座，所述基座为印制电路板，所述印制电路板其中一个面设有所述集成电路插座，另外一个面设有所述电连接器，印制电路板设置集成电路插座的面上还设有输入功率连接端子、输出功率连接端子和检测端子。

可选的，所述输入功率连接端子和输出功率连接端子相对于集成电路插座对侧分布。

可选的，所述输入功率连接端子包括正极输入端子和负极输入端子，所述输出功率连接端子包括正极输出端子和负极输出端子，每一个所述集成电路插座对应一个所述正极输入端子、一个所述负极输入端子、一个所述正极输出端子和一个所述负极输出端子。

可选的，每一个所述集成电路插座对应一个检测端子。

可选的，所述集成电路插座设有调节手柄，集成电路插座设有所述调节手柄的一侧固定有金属板，调节手柄上套设有圆环，所述圆环的一侧固定有套板，所述套板上开设有通孔，所述通孔处滑动连接有推杆，所述推杆的一端固定有吸铁石，所述吸铁石与所述金属板吸附配合。

可选的，所述通孔设为多个，每个所述通孔内均滑动连接有所述推杆，推杆远离所述吸铁石的一端通过推板进行连接。

可选的，所述推杆上开设有环形槽，所述环形槽处套设有转动环，所述转动环上固定有凸块，所述通孔处开设有与所述凸块滑动配合的通行孔。

从上面所述可以看出，本实用新型提供一种电源模块的并行测试装置可以同时对多个芯片进行测试，具有两套独立的测试系统，双重选择，测试多样化，装置易安装，测试效率高。

附图说明

图1为本实用新型实施例正面的结构示意图；

图2为本实用新型实施例背面的结构示意图；

图3为本实用新型实施例中集成电路插座处的结构示意图；

图4为本实用新型实施例中推杆处的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

作为一个实施例，本实用新型提供的一种电源模块的并行测试装置，一种电源模块的并行测试装置，其特征在于，包括夹持机构、第一检测机构和第二检测机构；

所述夹持机构为集成电路插座，用于放置待检测的芯片并夹持住芯片的引脚；

所述第一检测机构为检测端子，所述第二检测机构包括输入功率连接端子、输出功率连接端子和电连接器，所述集成电路插座电性连接输入功率连接端子、输出功率连接端子、电连接器和检测端子，第一检测机构和第二检测机构用于对芯片进行检测，第一检测机构和第二检测机构之间相互并联设置，第一检测机构和第二检测机构均电性连接夹持机构，夹持机构、第一检测机构和第二检测机构对应设置且数量彼此相等。

通过该装置的设计，可以同时对多个芯片进行测试，具有两套独立的测试系统，双重选择，测试多样化，装置易安装，测试效率高。

请参阅图1，所述夹持机构为集成电路插座1，所述第一检测机构为检测端子2，所述第二检测机构包括输入功率连接端子和输出功率连接端子，所述集成电路插座1电性连接输入功率连接端子、输出功率连接端子、和检测端子 2。电源模块的并行测试装置还包括基座，所述基座为印制电路板4，所述印制电路板4其中一个面设有所述集成电路插座1，印制电路板4设置集成电路插座1的面上还设有输入功率连接端子、输出功率连接端子和检测端子2。所述输入功率连接端子和输出功率连接端子相对于集成电路插座1对侧分布。所述输入功率连接端子包括正极输入端子5和负极输入端子6，所述输出功率连接端子包括正极输出端子7和负极输出端子8，每一个所述集成电路插座1对应一个所述正极输入端子5、一个所述负极输入端子6、一个所述正极输出端子7、一个所述负极输出端子8和一个检测端子2。其中，输入功率连接端子是为芯片提供输入电压，正极输入端子5和负极输入端子6分别对应正极输入和负极输入，输出功率连接端子为芯片接入负载，作为电源模块的输出负载，正极输出端子7和输出端子8分别对应正极负载接入和负极负载加入，对电源模块接入输出负载后能够对电源模块的输出信号进行测量。

由于芯片具有不同的封装形式，集成电路插座1在印制电路板4上的形式不限，根据情况自有选择一种或者多种形式。

请参阅图2，所述第二检测机构还包括电连接器3，所述印制电路板4相对于设有集成电路插座1的另外一个面设有所述电连接器3，电连接器3与集成电路插座1电性连接。第二检测机构是用输入功率连接端子为电源模块接入输入电压，输出功率连接端子为电源模块接入输出负载，然后通过电连接器连接外部检测装置实现对电源模块的检测。

第一测试机构是直接通过检测端子2将芯片与外部检测装置进行连接。

本实用新型采用到了电源模块测试系统NHR5700对芯片进行测试，本实用新型提到的芯片均是代表电源管理芯片。考虑到与NHR5700母板连接的便捷性，电连接器3选用两个3×16针的电连接器，将集成电路插座1焊接在印制电路板4上后，在印制电路板4上进行布线。

常规的集成电路插座1设有手柄，便于夹紧或者松开芯片的引脚，转动手柄的来调节引脚夹口的大小。在长期使用过程中，由于手柄多次机械运动自身松动或者使用不当，手柄可能会失灵，导致夹口不能夹紧芯片引脚，芯片会从集成电路插座1处松动，导致电路不同或者测试结果不精确。考虑到这个问题，请参阅图3，所述集成电路插座1设有调节手柄101，集成电路插座1设有所述调节手柄101的一侧固定有金属板102，调节手柄101上套设有圆环103，圆环103需要精密地套设在调节手柄101外围，保证圆环103相对于调节手柄 101不会转轴或者滑动。所述圆环103的一侧固定有套板104，所述套板104 上开设有通孔105，所述通孔105处滑动连接有推杆106，所述推杆106的一端固定有吸铁石107，所述吸铁石107与所述金属板102吸附配合，所述通孔 105设为多个，每个所述通孔105内均滑动连接有所述推杆106，推杆106远离所述吸铁石107的一端通过推板108进行连接，所述推杆106上开设有环形槽，所述环形槽处套设有转动环109，所述转动环109上固定有凸块110，所述通孔105处开设有与所述凸块110滑动配合的通行孔111，其中转动环109 的外径可以与推杆106的外径设置为同等数值，这样转动环109在环形槽内转动时，不会影响到推杆106在通孔105处的滑动。具体操作时，需要调节夹口大小时，向远离金属板102的外侧拉动推板108，吸铁石107并不会接触到金属板102，调节手柄101可以正常地转动，夹口大小相应进行调节；当夹口夹紧芯片的引脚，使得第一检测机构和第二检测机构可以精确得出电源模块的测试结果情况下，向靠近金属板102的内侧推动推板108，吸铁石107接触到金属板102，并与金属板102吸合，调节手柄101在不施加足够大的外力情况下不易移动，等于说固定住了夹口的大小。

请参阅图4，为了避免推杆106在通孔105处晃动，在推杆106上开设了一个环形槽，环形槽处套设了转动环109，转动环109上焊接了一个凸块110，对应地在通孔105上开设一个和凸块110大小匹配的通行孔111。转动转动环 109，并且当凸块110与通行孔111位置错位状态下，推杆106无法向相对凸块110与套板104接触的一面的套板104侧按压，这样的设置，可以避免误操作的情况下，吸铁石107与金属吧102吸合。

本实用新型的有益效果为：可以同时对多个芯片进行测试，具有两套独立的测试系统，双重选择，测试多样化，装置易安装，测试效率高。

需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。