一种光耦检测装置的制作方法

本发明涉及轨道交通技术领域，具体涉及一种光耦检测装置，尤其涉及一种地铁车辆制动电阻控制盒用光耦元件检测装置。

背景技术：

光耦合器亦称光电隔离器或光电耦合器，简称光耦。它是以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器(红外线发光二极管led)与受光器(光敏半导体管，光敏电阻)封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接受光线之后就产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”转换。

目前，普遍采用万用表来检测光耦的好坏，但是该方法存在操作复杂、检测效率低、容易错检的情况。

在实际的生产过程中，用普通方法检测出的光耦元件安装于地铁车辆制动电阻控制盒时因光耦元件原因导致制动电阻控制盒存在30％-50％的不合格率，使得制动电阻控制板调试时需大量返修。

综上所述，急需一种光耦检测装置以解决现有技术中存在的问题。

技术实现要素：

本发明目的在于提供一种光耦检测装置，具体技术方案如下：

一种光耦检测装置，包括输入电压调节回路、输出回路以及光耦，所述输入电压调节回路连接光耦的输入端，所述输出回路连接光耦的输出端；

所述输入电压调节回路包括第一电源、可调电位器以及限流电阻，所述第一电源的正极通过可调电位器连接光耦输入端的正极，所述第一电源的负极通过限流电阻连接光耦输入端的负极，通过可调电位器调节输入电压调节回路中的电流大小，实现改变光耦中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦输出端的电压，根据光耦输出端的电压判断光耦是否合格。

以上技术方案中优选的，所述输出回路包括与光耦输出端连接的第二电源，所述第二电源的正极连接所述光耦的集电极，所述第二电源的负极连接所述光耦的发射极。

以上技术方案中优选的，所述输出回路还包括第二电容和偏置电阻，所述偏置电阻设置于第二电源的正极与光耦的集电极之间，所述第二电容的正极连接光耦的集电极，所述第二电容的负极连接第二电源的负极，通过测量第二电容正、负极间的电压即可得到光耦输出端的电压。

以上技术方案中优选的，所述输出回路还包括dc/dc电源模块和第三电源，所述第三电源连接所述dc/dc电源模块的输入端，通过dc/dc电源模块将输入的第三电源转换成第二电源并输出，所述第三电源为直流110v。

以上技术方案中优选的，所述第二电源的负极和第三电源的负极之间设有隔离电容。

以上技术方案中优选的，所述第三电源的正极与dc/dc电源模块之间还串联设有保险丝和防反接二极管，所述防反接二极管靠近dc/dc电源模块设置，所述保险丝靠近第三电源设置。

以上技术方案中优选的，所述输出回路还包括用于滤波的第四电容和第三电容，所述第四电容的正极连接第二电源的正极，所述第四电容的负极连接第二电源的负极，所述第三电容的正极连接dc/dc电源模块输入端的正极，所述第三电容的负极连接第三电源的负极。

以上技术方案中优选的，所述第一电源为直流30v，所述第二电源为直流12v。

以上技术方案中优选的，所述输入电源调节回路还包括用于滤波的第一电容，所述第一电容的正极连接第一电源的正极，所述第一电容的负极连接第一电源的负极。

以上技术方案中优选的，还包括光耦固定装置，所述光耦设置于光耦固定装置上并通过光耦固定装置连接输入电压调节回路和输出回路。

应用本发明的技术方案，具有以下有益效果：

(1)本发明的光耦检测装置包括输入电压调节回路、输出回路以及光耦，通过输入电压调节回路中的可调电位器调节回路中的电流大小，实现改变光耦中发光二极管的发光强度，进而实现光耦中光敏三极管在发光二极管传过来的光作用下导通，因此只要检测光耦输出端的电压即可判断光耦是否合格，解决了现有技术中使用万用表检测存在的问题，使用本发明的光耦检测装置对光耦元件的检测准确率达到100％，避免现有技术检测方法导致制动电阻控制盒存在30％-50％的不合格率的情况，同时大大的提高了检测的效率，节约了人力和检测的时间成本。

(2)本发明的光耦检测装置设置保险丝防止回路出现过载，对电路进行有效保护，设置防反接二极管可以利用二极管的单向导通性防止直流110v电源的正负极接反，对电路起到保护作用。

(3)本发明的光耦检测装置设置光耦固定装置实现光耦插到光耦固定装置上即可以实现与输入电压调节回路、输出回路连通，方便拆卸和安装光耦元件，提高检测效率。

(4)本发明的光耦检测装置测量第二电容正极和负极间的电压即可得到光耦输出端的电压，相对于现有技术通过光耦引脚判断光耦好坏的方法更加方便，测量的效率更高。

(5)本发明的光耦检测装置在直流110v和直流12v之间设置隔离电容，可以有效的防止emc干扰(电磁干扰)。

(6)本发明的光耦检测装置设置第一电容、第二电容、第三电容以及第四电容进行滤波，保证电路工作的稳定性。

除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本发明还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本发明作进一步详细的说明。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明光耦检测装置的电路图；

其中，1、输入电压调节回路，2、输出回路，c1、第一电容，r1、限流电阻，vr1、可调电位器，u1、光耦，c2、第二电容，r2、偏置电阻，s1、dc/dc电源模块，d1、防反接二极管，f1、保险丝，c3、第三电容，c4、第四电容，c5、隔离电容。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明，但是本发明可以根据权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。

实施例1：

参见图1，一种光耦检测装置，具体是一种用于地铁车辆制动电阻控制盒用光耦元件检测装置，包括输入电压调节回路1、输出回路2以及光耦u1，所述输入电压调节回路1连接光耦u1的输入端，所述输出回路2连接光耦u1的输出端；

所述输入电压调节回路1包括第一电源、可调电位器vr1以及限流电阻r1，所述第一电源的正极通过可调电位器vr1连接光耦u1输入端的正极，所述第一电源的负极通过限流电阻r1连接光耦u1输入端的负极，通过可调电位器vr1调节输入电压调节回路1中的电流大小，实现改变光耦u1中发光二极管的发光强度，进而实现调节光耦u1输出端的电压，根据光耦u1输出端的电压判断光耦u1是否合格。

所述输出回路包括与光耦u1输出端连接的第二电源，所述第二电源的正极连接所述光耦u1的集电极，所述第二电源的负极连接所述光耦u1的发射极。

所述第一电源为直流30v，所述第二电源为直流12v。

所述光耦检测装置还包括光耦固定装置，所述光耦u1设置于光耦固定装置上并通过光耦固定装置连接输入电压调节回路1和输出回路2。

优选的，所述光耦固定装置可以采用通用的14脚ic插座剪掉中间的10脚制作而成，实现光耦u1插到光耦固定装置上即可以实现与输入电压调节回路、输出回路连通，方便拆卸和安装光耦元件，提高检测效率。

所述输出回路还包括第二电容c2和偏置电阻r2，所述偏置电阻r2设置于第二电源的正极与光耦u1的集电极之间，所述第二电容c2的正极连接光耦u1的集电极，所述第二电容c2的负极连接第二电源的负极，通过测量第二电容c2正、负极间的电压即可得到光耦u1输出端的电压。

本发明光耦检测装置根据光耦u1输出端的电压判断光耦u1是否合格，具体为：使用万用表测量第二电容c2正极和负极间的电压，当测得的电压小于等于10v时判定光耦元件合格，当测得电压大于10v时判定光耦元件不合格。

申请人根据实际经验将判定电压设定为10v，虽然不同型号光耦间的判定电压会存在一定差别，但是10v的判定电压已经可以基本满足现有光耦产品的合格判定需求，当然本领域技术人员也可以根据实际情况进行相应的浮动调整。

所述输出回路2还包括dc/dc电源模块s1和第三电源，所述第三电源连接所述dc/dc电源模块s1的输入端，通过dc/dc电源模块s1将输入的第三电源转换成第二电源并输出，所述第三电源为直流110v。

本领域技术人员可以理解，所述dc/dc电源模块s1的输出端输出的即为第二电源，dc/dc电源模块s1是将直流110v转换为直流12v。

所述第二电源的负极和第三电源的负极之间设有隔离电容c5。

所述第三电源的正极与dc/dc电源模块s1之间还串联设有保险丝f1和防反接二极管d1，所述防反接二极管d1靠近dc/dc电源模块s1设置，所述保险丝f1靠近第三电源设置。

设置保险丝f1防止回路出现过载，对电路进行有效保护，设置防反接二极管d1可以利用二极管的单向导通性防止直流110v电源的正负极接反，对电路起到保护作用。

所述输出回路2还包括用于滤波的第四电容c4和第三电容c3，所述第四电容c4的正极连接第二电源的正极，所述第四电容c4的负极连接第二电源的负极，所述第三电容的正极连接dc/dc电源模块s1输入端的正极，所述第三电容的负极连接第三电源的负极。

所述输入电源调节回路还包括用于滤波的第一电容c1，所述第一电容c1的正极连接第一电源的正极，所述第一电容c1的负极连接第一电源的负极。

应用本实施例的技术方案，具体是：

将待测光耦元件插入光耦固定装置中，将本发明的光耦检测装置通电，通过可调电位器vr1调节输入电压回路中的电流使光耦工作，使用万用表测量第二电容两端的电压，测得电压小于等于10v则判定光耦合格，测得电压大于10v则判定光耦不合格。

应用本发明的技术方案，效果是：

解决了现有技术中使用万用表检测存在的问题，使用本发明的光耦检测装置对光耦元件的检测准确率达到100％，避免现有技术检测方法导致制动电阻控制盒存在30％-50％的不合格率的情况，同时大大的提高了检测的效率，节约了人力和检测的时间成本。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。