一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法与流程

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法。

背景技术：

随着科技的不断发展，智能电视的种类也越来越多，功能也越来越复杂。为了确保生产的智能电视或主板更加安全可靠，各生产厂家通常会将刚生产的智能电视或主板放到特定环境下进行老化试验，传统的老化试验一般通过人工来控制不同待测设备的老化测试，这不仅效率低，还容易出现人为失误，目前市场的开关难以同时单独控制待测设备的老化测试。

可见，目前待测设备例如电视或主板老化实验存在难以单独对待测设备进行老化控制的问题。

技术实现要素：

为此，本发明提供一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法，以解决现有技术中难以单独对待测设备进行老化控制的技术问题。

一种实现待测设备智能老化控制的装置，包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择单元和开关单元，所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接，所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端，所述开关单元的另一端连接待测设备；

所述电源，用于为所述微控制处理器、所述存储单元、所述输入单元及所述开关选择单元供电；

所述存储单元，用于存储开关单元的地址；

所述输入单元，用于接收测试指令及所述待测设备的测试时间，并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器；

所述微控制处理器，用于根据所述测试指令、所述开关单元的地址及所述测试时间生成对应开关单元的电平控制信号，并将所述电平控制信号发送至开关选择单元；

所述开关选择单元，用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平，通过所述高低电平控制所述开关单元中对应开关的闭合或断开；

所述开关单元，用于根据所述开关选择单元的电平信号控制对应待测设备中各电路的上电或断电。

一种实现待测设备智能老化控制的方法，包括：

接收输入的待测设备、所述待测设备的测试指令及测试时间；

根据所述待测设备的测试位置及所述测试指令中的测试对象确定开关单元的地址；

根据预先配置的所述开关单元的地址与所述开关单元的映射关系，选择对应的开关单元；

根据所述测试时间确定所述地址中对应开关单元的闭合时间；

通过电平控制信号控制选择的所述中开关单元的断开/闭合的状态及闭合的时间，完成对所述待测设备的老化测试。

在本发明实施例中，通过微控制处理器将接收的测试指令及所述待测设备的测试时间转化成对应开关单元的电平控制信号，并通过开关选择单元根据该电平控制信号控制对应开关单元的闭合或断开，使得开关单元可以根据该电平控制信号一直闭合或在某一时刻断开，由于不同的开关单元可以在接入不同的待测设备，使得本发明提供的智能老化控制的装置和方法可实现对单台或多台待测设备的老化的独立控制。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例中提供的电路的模块结构示意图；

图2为本发明另一实施例中提供的电路的模块结构示意图；

图3为本发明又一实施例中提供的电路的模块结构示意图；

图4为本发明再一实施例中提供的电路的模块结构示意图；

图5为本发明一实施例中提供的开关选择单元的电路结构示意图；

图6为本发明一实施例中提供的开关矩阵关系的示意图；

图7为本发明一实施例中提供的开关单元电路结构示意图；

图8为本发明另一实施例中提供的开关单元电路结构示意图；

图9为本发明一实施例中提供的实现待测设备智能老化控制的方法的流程图；

图10为本发明实施例图1中步骤20的具体流程示意图；

图11为本发明实施例图1中步骤30的具体流程示意图；

图12为本发明另一实施例中提供的实现待测设备智能老化控制的方法的流程图；

图13为本发明实施例图12中步骤60的具体流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

以下结合具体附图对本发明的实现进行详细的描述：

图1示出了本发明一实施例所提供的实现待测设备智能老化控制的装置，为了便于说明。仅示出了与本实施例相关的部分，详述如下：

如图1所示，本发明所提供的实现待测设备智能老化控制的装置包括：微控制处理器101、存储单元102、电源103、输入单元104，还包括开关选择单元105和开关单元106。

其中，所述存储单元102、所述电源103、所述输入单元104及所述开关选择单元105的一端均与所述微控制处理器101连接，所述开关选择单元105的另一端连接所述开关单元106的一端，所述开关单元106的另一端连接待测设备107。

具体的，所述电源103，用于为所述微控制处理器101、所述存储单元102、所述输入单元104及所述开关选择单元105供电；所述存储单元102，用于存储开关单元106的地址；所述输入单元104，用于接收测试指令及所述待测设备107的测试时间，并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器101；所述微控制处理器101，用于根据所述测试指令、所述开关单元106的地址及所述测试时间生成对应开关单元106的电平控制信号，并将所述电平控制信号发送至开关选择单元105；所述开关选择单元105，用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平，通过所述高低电平控制所述开关单元106中对应开关的闭合或断开；所述开关单元106，用于根据所述开关选择单元105的电平信号控制对应待测设备107中各电路的上电或断电。

进一步的，所述开关选择单元105包括工位开关引脚和状态开关引脚，所述开关单元包括工位开关单元和状态开关单元，所述开关选择单元通过所述工位开关引脚连接所述工位开关单元，并通过所述状态开关引脚连接所述状态开关单元。

具体的，所述工位开关引脚，用于根据所述工位开关引脚的高低电平控制所述工位开关单元的闭合或断开，控制与工位开关单元对应工位的待测设备的测试使能。所述状态开关引脚，用于根据所述状态开关引脚的高低电平控制所述状态开关单元的闭合或断开，控制所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间；所述工位开关单元，用于控制与所述工位开关单元对应工位的测试使能；所述状态开关单元，用于控制所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间，控制所述待测设备中不同电路的老化测试时长。

在本发明的另一个实施方式中，所述装置还包括：电压转换单元108，所述电压转换单元的一端与电源103连接，所述电压转换单元108的另一端与所述第二开关单元106b连接。

进一步的，电压转换单元108用于当所述电源103的电压与所述待测设备107的工作电压不相同时，将所述电源输出的电压转换为所述待测设备的工作电压。

在其中一个实施例中，当所述待测设备的工作电压低于所述电源的输出电压时，与对应待测设备连接的第二开关单元106b为mos管开关。

具体的，第一开关单元106a包括第一工位开关单元和第一状态开关单元，其中，该第一工位开关单元用于确定第一待测设备，第一状态开关单元用于控制第一待测设备中不同电路的老化测试时间。

具体的，第二开关单元106b包括第二工位开关单元和第二状态开关单元，其中，该第二工位开关单元用于确定第二待测设备，第二状态开关单元用于控制第二待测设备中不同电路的老化测试时间。

在本发明的一个具体实施例中，待测设备包括电视和主板，当待测设备为主板等低压待测设备时，将电源提供的220v交流电通过电压转化单元将交流电转化为12v/24v的低压直流电，为主板老化提供供电，同时对应的第二开关单元为低压mos管电路，第二开关单元电路如图8所示。

需要说明的是，图2中第一开关单元106a和第二开关单元106b都是开关单元，当待测设备为电视时，第一开关单元106a为图7所示的开关，当待测设备为主板等低压设备时，所述第二开关单元106b为图8所示的低压mos管开关。

在其中一个实施例中，所述装置还包括计时单元109，所述计时单元与所述微控制处理器101连接。

具体的，所述微控制处理器101还用于将所述测试时间转换对应开关单元106的测试时长，并将所述测试时长发送给所述计时单元109；当接收到计时单元109反馈的计时结束的信号时，生成对应开关单元106的低电平的控制信号，并将所述低电平的控制信号发送给所述开关选择单元105。

进一步的，所述计时单元，用于当所述微控制处理器控制所述待测设备中的电路上电时，启动计时；当所述待测设备的上电时间达到所述测试时长时，向所述微控制处理器发送计时结束的信号。

进一步的，对待测设备例如电视或者主板进行老化测试时，还包括监测输入单元110，所述监测输入单元110的一端与微控制处理器101连接，所述监测输入单元110的另一端与所述待测设备107连接。

具体的，所述监测输入单元110用于检测所述待测设备107及所述待测设备中各电路的工作状态，并将所述工作状态发送至所述微控制处理器101。进一步的，所述监测输入单元110具体用于当发送至所述待测设备的测试信号与所述待测设备根据所述测试信号反馈的回传信号相符时，判断所述待测设备107工作正常，否则，判断所述待测设备107工作异常。

进一步的，对待测设备例如电视或者主板进行老化测试时，还包括显示单元111，所述显示单元111与所述微控制处理器101连接。

具体的，所述显示单元111用于显示对所述待测设备107的老化测试的结果。

在本发明的一个具体的实施例中，通过监测输入单元，监测待测设备的工作状态，常见监测电路可由摄像头、具感光能力的红外二极管或其它可直接与待测设备通讯的接口电路组成。

在此以系统通过开关矩阵控制电视老化时间和监测电视等待测设备工作状态为例，将待测设备接入测试工位，同时将测试位置保存在系统存储单元中，手动输入设定老化时间后系统通过控制开关矩阵开始对待测设备进行老化测试，同时通过监测输入单元电路实时监测待测设备的工作状态，监测电路通过摄像头、红外感应头或串口等组成，在系统到达老化时间时，若待测设备未出现异常，则测试通过。反之，系统会显示异常测试工位状态，同时提醒实验员及时处理，待处理完成后，可自由决定是否继续老化测试。

本发明实施例还提供一种实现待测设备智能老化控制的方法，可以应用到上述实施例的实现待测设备智能老化控制装置中，用于对待测设备的老化测试。

如图9所示，本发明实施例提供一种实现待测设备智能老化控制的方法，包括以下步骤：

步骤10：接收输入的待测设备、所述待测设备的测试指令及测试时间。

在其中一个实施例中，上述待测设备包括但不限于电视、主板等需要老化测试的电子设备，例如，冰箱，洗衣机。该测试指令包括待测设备的选择以及待测设备中各个电路的测试时间，例如电视中第一电路的测试时间为1h、第二电路的测试时间为2h、第三电路的测试时间为3h等。

步骤20：根据所述待测设备的测试位置及所述测试指令中的测试对象确定开关单元的地址。

其中，每个测试工位均有其对应的地址，根据待测设备的接入位置可以确定工位开关单元的地址，根据待测设备中待测电路的接入位置可以确定状态开关单元的地址。

步骤30：根据预先配置的所述开关单元的地址与所述开关单元的映射关系，选择对应的开关单元。

其中，所述测试工位的工位地址和所述工位开关单元有一一对应的映射关系，根据所述待测设备的工位地址可以确定与其对应的工位开关单元。

步骤40：根据所述测试时间确定所述地址中对应开关单元的闭合时间。

其中，根据接收到的待测设备的各个电路的测试时间，控制在一定时间内相对应的开关单元的闭合时间，当待测设备的老化测试时长达到所述测试时间，开关断开。

步骤50：通过电平控制信号控制选择的所述中开关单元的断开/闭合的状态及闭合的时间，完成对所述待测设备的老化测试。

其中，如图5所示，待测设备接入工位的开关由对应的引脚控制，当开关选择单元输出的电平控制信号为1时，则控制对应的开关单元闭合，则此时，待测设备上电，完成对所述待测设备的测试。

在本发明的一个实施例中，系统通过开关矩阵控制电视老化时间和监测电视等待测设备，如图6所示的开关矩阵，其中，开关矩阵中每一路开关单元的工位开关地址和状态开关地址控制的高低电平信号用于控制对应开关单元在特定的测试时间内开关的闭合与断开。

其中，可通过控制各个开关单元的闭合时间控制与对应开关单元对应的待测设备或待测设备中的某一电路模块的老化测试时间。

在本发明的一个具体的实施例中，待测设备包括电视、主板等，在待测设备接入测试工位后，获取待测设备的测试指令及测试时间。如图5所示，当待测设备为电视时，若分别控制接入测试工位‘1’、‘2’、‘3’位置电视老化时间为1h、2h、3h。假定电视接入位置开关由y1、y2、y3控制，查询存储单元中对应的开关单元的地址为001、010、011，通过选择开关单元将对应y1、y2、y3输出置为高，则对应图7中开关单元的控制脚被拉高，开关打开，即电视开始上电老化。同时通过输入单元接收设定的老化时间为1h、2h、3h，当老化时间达到1h后，系统控制开关单元的地址为001的开关选择单元输出为0，此时对应的开关单元断开，电视断电，即电视完成1h老化测试。当老化时间到达2h和3h后，系统控制地址为010、011，开关断开，即电视完成2h和3h老化测试。

需要说明的是，在对电视进行老化测试时，所述第一开关单元如图7所示。其中，开关选择单元输出连接到所述第一开关单元对应的en控制脚。当开关选择单元输出的电平控制信号为1时，即第一开关单元控制脚被拉高，开关闭合，v1与v2接通，电视上电，当开关选择单元输出的电平控制信号为0时，即第一开关单元控制脚为低电平，开关断开，v1与v2没有接通，电视断电。

在本发明的另一实施例中，在对主板进行老化测试时，所述第二开关单元如图8所示，其中g为栅极(gate)，s为源极(source)，d为漏极(drain)，开关选择单元输出连接到所述第二开关单元对应的en控制脚，在g端加入高低电平即可控制mos管的闭合与断开，当开关选择单元输出的电平控制信号为1时，即第二开关单元控制脚被拉高，开关闭合，v1与v2接通，主板上电，当开关选择单元输出的电平控制信号为0时，即第二开关单元控制脚为低电平，开关断开，v1与v2没有接通，主板断电。

对于步骤20，如图10所示，可以通过步骤21至步骤22实现，包括：

步骤21：根据所述待测设备所在测试工位的位置确定所述测试工位的工位地址；

步骤22：根据所述待测设备中各电路的接入位置确定测试状态的状态地址。

对于步骤21，每一个测试工位的位置均有与其对应的测试工位地址，根据测试工位的位置确定所述测试工位的工位地址，根据待测设备中待测电路的接入位置可以确定状态开关单元的地址。

对于步骤22，根据测试工位的位置确定待测设备测试状态的状态地址，根据所述状态地址控制对应的所述状态开关单元的闭合或断开。

对于步骤30，如图11所述，可以通过步骤31至步骤32实现包括：

步骤31：据预先配置的所述工位地址与工位开关单元的映射关系，选择对应的工位开关单元；

步骤32：根据预先配置的所述状态地址与状态开关单元的映射关系，选择对应的状态开关单元。

对于步骤31，每一个测试工位地址与工位开关单元有一一对应的映射关系，根据测试工位的位置对应的测试工位地址确定对应的工位开关单元。

对于步骤32，每一个测试工位地址与状态开关单元有一一对应的映射关系，根据测试工位的位置确定待测设备测试状态的状态开关单元，以及确定所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间和所述待测设备中不同电路的老化测试时长。

在一个可选的实施方法中，所述方法还包括：

当电源电压与待测设备的工作电压不相同时，将所述电源输出的电压转换为所述待测设备的工作电压。其中，假定待测设备为主板等低压设备时，先将电源提供的220v交流电通过电压转换单元108转换为12v/24v直流电，为主板老化提供供电。

具体的，当所述待测设备的工作电压低于所述电源的输出电压时，将与对应待测设备连接的开关单元设为mos管开关。

需要说明的是，将与对应待测设备连接的开关单元为mos管开关，mos管开关具体电路如图8所示。

在本发明实施例提供的一种待测设备智能老化控制的方法，还包括：

步骤60：检测所述待测设备及所述待测设备中各电路的工作状态；

步骤70：显示所述待测设备工作状态及所述待测设备中各电路的工作状态。

对于步骤60，对老化测试中的待测设备进行检测，当异常出现时，系统通过存储单元中的开关单元的地址确定电视对应上电的开关位置，从而确定故障电视测试工位。

对于步骤70，若待测设备在老化测试时的工作状态是正常的，在显示单元中将显示测试的时间，若待测设备在老化测试时的工作状态是异常的，在显示单元中显示测试异常的位置，同时系统发出警示，并通过显示单元出来，以便测试人员及时分析处理。

对于步骤60，如图13所示，可以通过步骤61至步骤63实现，包括：

步骤61：向所述待测设备发送测试信号；

步骤62：接收所述待测设备根据所述测试信号反馈的回传信号；

步骤63：当所述测试信号与所述回传信号相符时，判断所述待测设备工作正常，否则，判断所述待测设备工作异常。

对于步骤61和步骤62，当接入开关选择单元中对应开关单元的地址为001的待测设备开始老化时，查询开关单元在存储单元中的地址后同步控制监测输入单元对应地址为001的串口电路接通，同时不断通过串口定时发送命令给待测设备，并接受待测设备根据所述测试信号的回传信号。

对于步骤63，比较所述测试信号和所述回传信号，当发送的测试信号和回传信号相符时，则确认待测设备工作正常；反之，则确认待测设备工作异常。

进一步地，所述测试信号与回传信号相符的情况例如：

(1)发送的测试信号为a，根据测试信号a返回的回传信号也为a，可以确定待测设备工作正常；

(2)当根据测试信号a返回的回传信号为b时，若回传信号b符合预先设置的规则时，则也可确定待测设备工作正常。

在其中一个实施例中，该回传信号b符合预先设置的规则的情况例如回传信号b中包含有预先设置的关键字，再例如回传信号b中包含的数值在预设的区间范围之内等等。

其中，待测设备在进行老化测试时，监测输入单元会同步对所述待测设备的工作状态进行监测，本发明中采用的是uart串口检测模式，通过串口与待测设备通讯可灵活设置待测设备老化测试时的工作状态，如静置、通道切换、频道、音量加减等。另外，监测输入单元的每路串口开关地址与控制待测设备上电和断电的开关单元的地址相同，即控制待测设备上电的开关地址与系统控制串口开关的地址均为存储单元中的同一地址，在对待测设备进行老化测试时，同时由于现有技术中待测设备难以单独控制老化时间，老化过程中出现故障时，需要人工值守检查而不能自动检测和报警，通过监测输入单元可实时监测待测设备的工作状态，在设备老化出现异常时能及时反馈异常信息，便于测试人员及时分析处理，从而大大提升老化测试效率。

在本发明的实施例中，通过微控制处理器将接收的测试指令及所述待测设备的测试时间转化成对应开关单元的电平控制信号，并通过开关选择单元根据该电平控制信号控制对应开关单元的闭合或断开，使得开关单元可以根据该电平控制信号一直闭合或在某一时刻断开，由于不同的开关单元可以在接入不同的待测设备，使得本发明提供的老化控制装置可实现对单台或多台待测设备的老化时间的独立智能控制，从而解决了现有技术中待测设备实验存在难以单独控制老化时间的问题。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。