技术总结
本发明公开了一种利用吸收式μ介子放射线照相法检测和定位结构的方法，涉及探测技术领域，该方法中包括用于探测用的处理器和探测器镜头，为检测和跟踪通过预定体积的μ介子的装置，所述方法包括以下步骤：μ介子的第一组轨迹的获取，μ介子的第二组轨迹的获取，识别映射区域的边界以获得信号区域以及计算通过信号区域的结构的大小和形状，本发明的方法用于被包裹在大量其他物质中的物体的检测、定位以及几何重建，尤其是隐藏的腔体类物质或重物，同时还具有更高的精度。
技术研发人员：吴倩倩;方敏;李扬;袁荣;王涛
受保护的技术使用者：亳州文青测量技术有限公司
技术研发日：2019.10.16
技术公布日：2020.01.24