1.一种基于f-p干涉仪腔内增强型的透射式正交偏振相位显微成像装置。其特征是：它由激光光源1、光衰减系统2、激光扩束系统3、f-p干涉仪4、偏振分光棱镜(pbs)5、显微物镜6和8、探测相机7和9、计算机10组成。所述装置中，将待测微粒放入f-p干涉仪(法布里-珀罗干涉仪)，激光光源1发出的光经光衰减系统2衰减后，再由激光扩束系统3扩束，随后进入到f-p干涉仪4，光束在f-p干涉仪的腔内每反射一次，都有相应的透射光传至pbs偏振分光棱镜5中，经过多次反射后，pbs分光棱镜产生两束传播方向垂直且偏振态相互垂直的光束，分别传至显微物镜6和8，由探测相机7和9分别接收信号后，将得到的信号传输至计算机10进行处理。计算机10将得到的两组信号做出对比，消除掉单张图像所存在的误差，得到理想的图像。
2.根据权利要求1所述的显微成像装置，其特征是：所使用的光路系统中的f-p干涉仪作为产生成倍光程差的器件，通过光在f-p腔中的多次反射，每次经过待测微粒都可以成倍增加光程差，从而显著增大干涉条纹的宽度，达到了提高分辨率的目的。
3.根据权利要求2所述的f-p干涉仪，其特征是：所述的f-p干涉仪，腔体长度不变，待测物体置于腔体中，通过多次反射得到成倍放大的干涉条纹。
4.根据权利要求1所述的显微成像装置，其特征是：所使用的pbs偏振分光棱镜将光束分为偏振方向垂直的两束光，可以分别得到两幅图像，克服单一偏振态记录导致的信息缺失，提高图像分辨率。
5.根据权利要求1所述的显微成像测量装置。其特征是：所使用的显微物镜为高分辨率物镜。