一种继电器检测座的制作方法

本实用新型涉及继电器领域，具体是涉及一种继电器检测座。

背景技术：

接触电阻为继电器产品的一项重要技术参数，其在出厂之前必须对继电器每组触点接触电阻分别进行测量。因继电器的触点导通接触电阻都是豪欧甚至微欧级别，传统的万用表表笔测试不准确；而如果采用电桥测试夹来测试也不方便，因继电器的引脚多且间距小，人工用电桥夹操作及其容易造成测试误判，而且也无法适应自动化在线测试。

为了便于自动化测试，目前市面上主要采用以下两种测试方法：

第一种是如附图1所示的方式，即继电器1a的每个引脚10a都与检测座2a上的其中一根探针20a接触，由于受压力、接触久后表面灰尘等因素的影响，引脚10a和探针20a之间的接触电阻的阻值并非恒定的，因而仪器测试到的总电阻不能等同于触点导通的电阻；而且这种测试方式采用的是单端测试的方式，这并不符合测试标准。

第二种是如附图2所示的方式，即继电器1b的每个引脚10b都插入至检测座2b上的其中一组夹簧20b内并以其接触，该方式采用双端测试的方式，测试准确；但是夹簧20b的簧片的寿命太短，继电器1b的引脚10b稍微不正，都可能会直接造成簧片的损毁。

技术实现要素：

本实用新型旨在提供一种继电器检测座，以提供一种探针测试寿命长、符合测试标准的继电器检测座。

具体方案如下：

一种继电器检测座，包括基座本体以及安装在基座本体内的若干探针组，每一探针组都包括了相互绝缘隔离设置的第一探针和第二探针，所述第一探针和第二探针的测试端都延伸至基座本体同侧的外部，检测时，同一探针组的第一探针和第二探针的测试端都与继电器的同一引脚接触。

进一步的，所述基座本体包括上基座和下基座，所述上基座和下基座相对的面上分别设置有若干第一导向槽和若干第二导向槽，每一第一导向槽内都安装有一第一探针，每一第二导向槽内都安装有一第二探针，所述上基座和下基座之间还设置有一将第一探针和第二探针绝缘隔离的绝缘片。

进一步的，所述第一探针和第二探针对称设置在绝缘片的两侧上，第一探针和第二探针也成镜像设置。

进一步的，所述第一探针和第二探针的测试端均为尖端结构。

进一步的，所述第一探针和第二探针的测试端分别具有一倾斜设置的第一导向面和第二导向面，所述第一导向面和第二导向面均由靠近基座本体的近端往远离基座本体的远端方向倾斜设置。

进一步的，所有第一探针和第二探针都分别套设有一弹簧，所述弹簧安装在各自的第一导向槽和第二导向槽内。

本实用新型提供的继电器检测座与现有技术相比较具有以下优点：本实用新型提供的继电器检测座的每一探针组都包括了相互绝缘隔离设置的第一探针和第二探针，检测时，同一探针组的第一探针和第二探针的测试端都与继电器的同一引脚接触，采用双端接触测试，符合测试标准，而且探针不易损坏，使用寿命长。

附图说明

图1示出了现有技术中继电器引脚接触电阻的第一种检测方式的示意图。

图2示出了现有技术中继电器引脚接触电阻的第二种检测方式的示意图。

图3示出了本实用新型的继电器检测座的示意图。

图4示出了本实用新型的继电器检测座的爆炸图。

图5示出了现有技术中继电器引脚接触电阻的检测方式的示意图。

具体实施方式

为进一步说明各实施例，本实用新型提供有附图。这些附图为本实用新型揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本实用新型的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。

现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。

如图3所示，本实用新型提供了一种继电器检测座，包括基座本体3以及安装在基座本体3内的若干探针组4，每一探针组4都包括了相互绝缘隔离设置的第一探针40和第二探针42，所述第一探针40和第二探针42的测试端都延伸至基座本体3同侧的外部，检测时，同一探针组4的第一探针40和第二探针42的测试端都与继电器的同一引脚接触，该继电器检测座在检测时与继电器每一引脚都采用双端接触测试的方式，符合测试标准，而且探针不易损坏，使用寿命长。

在本实施例中，较佳的，参考图4，所述基座本体3包括上基座30和下基座32，所述上基座30和下基座32相对的面上分别设置有若干第一导向槽300和若干第二导向槽320，每一第一导向槽300内都安装有一第一探针40，每一第二导向槽320内都安装有一第二探针42，所述上基座30和下基座32之间还设置有一将第一探针40和第二探针42绝缘隔离的绝缘片34。其中，第一探针40和第二探针42分别能够在各自的第一导向槽300和第二导向槽320内滑动，以调节其各自延伸出的长度，以适配不同规格尺寸的继电器。而绝缘片34优选采用耐磨的绝缘垫片，例如聚四氟乙烯垫片。

优选的，所述第一探针40和第二探针42对称设置在绝缘片34的两侧上，第一探针和第二探针也成镜像设置，相对应的，第一导向槽300和第二导向槽320也是成镜像设置，因此可便于上基座30、下基座32以及第一探针40和第二探针42的生产和装配。

较优的，所述第一探针40和第二探针42的测试端均为尖端结构，与继电器的引脚接触为电接触或者线接触，减小其接触面积，可保证检测的准确性。其中，第一探针40和第二探针42宜由硬质合金材料制成，例如不锈钢等。

更优的，所述第一探针40和第二探针42的测试端分别具有一倾斜设置的第一导向面400和第二导向面420，所述第一导向面400和第二导向面420均由靠近基座本体的近端往远离基座本体的远端方向倾斜设置，第一导向面400和第二导向面420可以便于测试时继电器的引脚的插入，而且还可以继电器的引脚对第一探针40和第二探针42的测试端的损失，以延长第一探针40和第二探针42的使用寿命。

参考图4，较佳的，所有第一探针40和第二探针42都分别套设有一弹簧50，所述弹簧50安装在各自的第一导向槽300和第二导向槽320内，以便于第一探针40和第二探针42的伸缩和回位。

本实施例提供的继电器检测座在对继电器引脚的接触电阻进行检测的示意图如图5所示，在图5中采用两个上述的继电器检测座来进行检测，每一继电器检测座的探针组4分别和继电器1c同一列的引脚10c接触，当不同型号的继电器1c两列引脚10c之间间距差别比较小时，可通过第一探针40和第二探针42上的弹簧可以微调，而当继电器1c两列引脚10c之间间距差别比较大时，可以通过调节继电器检测座之间的间距来适配，这也是现有的继电器检测座所不具备的功能。

尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。