电路板测试治具的制作方法

本实用新型涉及电路板测试技术领域，具体而言，涉及一种电路板测试治具。

背景技术：

在生产装配中，大多需要对电路板进行测试，以确保装配好的部件能够正常工作。

而现在有的测试治具仅针对一种电路板，对于不同的电路板，需要更换不同的测试治具，其治具利用率较低，物料成本较高。

有鉴于此，研发设计出一种能够解决上述技术问题的电路板测试治具显得尤为重要。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种电路板测试治具，其具有能够适配多种待测电路板，利用率较高的特点。

本实用新型提供一种技术方案：

第一方面，本实用新型实施例提供了一种电路板测试治具，包括测试对接组件和测试组件，所述测试对接组件包括测试安装板、测试顶针板及多个测试顶针；所述测试安装板用于固定连接待测电路板；所述测试顶针板上开设有数量多于所述测试顶针的测试孔，多个所述测试顶针可拆卸地一一设置于所述测试孔，所述测试安装板活动连接于所述测试顶针，且被构造为能够沿第一方向靠近所述测试顶针板运动，以使多个所述测试顶针分别与所述待测电路板上的测试接口电连接，其中，所述第一方向为垂直于所述测试顶针板且朝向所述测试顶针板的方向；所述测试组件分别与多个所述测试顶针电连接，且用于测试所述待测电路板。

结合第一方面，在第一方面的第一种实现方式中，所述测试安装板上开设有多个测试安装孔，所述测试安装板上开设有多个测试安装孔，所述测试对接组件还包括数量少于所述测试安装孔的多个测试安装件，多个所述测试安装件可拆卸地一一设置于所述测试安装孔，所述测试安装件用于可拆卸地连接所述待测电路板，以连接所述待测电路板于所述测试安装板。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第二种实现方式中，所述测试安装件包括依次连接的第一安装段和第二安装段，且所述第一安装段和所述第二安装段呈夹角设置，所述第一安装段可拆卸地设置于所述测试安装孔，多个所述第二安装段远离对应的所述第一安装段的一端用于可拆卸连接所述待测电路板。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第三种实现方式中，所述电路板测试治具还包括测试机架，所述测试顶针板安装于所述测试机架，所述测试安装板位于所述测试顶针板远离所述测试机架的一侧；所述测试安装板上还开设有测试通孔，所述第二安装段远离所述第一安装段的一端延伸至所述测试通孔，以使所述待测电路板与所述测试通孔相对应，且所述测试通孔与所述测试顶针相对应，并被构造为在所述测试安装板靠近所述测试顶针板运动时，所述测试顶针穿过所述测试通孔，并与所述测试接口电连接。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第四种实现方式中，所述测试对接组件还包括测试压持板和多个测试压持件；多个所述测试压持件均连接于所述测试压持板，所述测试压持板活动连接于所述测试机架，且被构造为能够沿所述第一方向靠近所述测试安装板运动，以沿所述第一方向抵持所述测试安装板，并带动所述测试压持件压持所述待测电路板远离所述测试顶针板的一侧。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第五种实现方式中，所述测试压持板上开设有数量多于所述测试压持件的多个测试压持孔，多个所述测试压持件可拆卸地一一设置于所述测试压持孔。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第六种实现方式中，所述测试对接组件还包括多个受力柱；多个所述受力柱分布设置于所述测试安装板的边沿，且位于所述测试安装板和所述测试压持板之间，并被构造为所述测试压持板通过多个所述受力柱共同压持所述测试安装板。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第七种实现方式中，所述测试对接组件还包括测试导向柱，所述测试导向柱沿所述第一方向设置，且所述测试压持板滑动连接于所述测试压持板。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第八种实现方式中，所述测试对接组件还包括测试提拉杆，所述测试提拉杆的一端转动连接于所述测试压持板，且所述测试提拉杆靠近所述测试压持板的位置与所述测试机架转动连接。

结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第九种实现方式中，所述测试对接组件还包括测试缓冲件，所述测试缓冲件包括缓冲弹性部和缓冲导向部；

所述缓冲导向部的一端连接于所述测试顶针板，另一端可活动地穿设于所述测试安装板，且沿所述第一方向设置，所述缓冲弹性部弹性形变的压缩设置于所述测试安装板和所述测试顶针板之间，以使所述测试安装板能够沿所述缓冲导向部靠近所述测试顶针板运动。

相比现有技术，本实用新型实施例提供的电路板测试治具相对于现有技术的有益效果包括：

测试对接组件包括测试安装板、测试顶针板及多个测试顶针，测试安装板固定连接待测电路板，在测试顶针板上开设有数量多于测试顶针的测试孔，多个测试顶针可拆卸地一一设置于测试孔，由于测试顶针的数量少于测试孔，该测试顶针可选择地设置于不同位置的测试孔内，并且测试安装板活动连接于测试顶针，且被构造为能够沿第一方向靠近测试顶针板运动，以使多个测试顶针分别与待测电路板上的测试接口电连接，其中，第一方向为垂直于测试顶针板且朝向测试顶针板的方向。这样一来，在使用时，使用者可将测试顶针设置于与测试接口对应的第一测试孔内，并将待测电路板固定于待测安装板，以使得测试顶针与对应的待测电路板上的测试接口对应，再通过带动测试安装板沿第一方向靠近测试顶针板运动，以使测试顶针与测试接口对接，再由测试组件完成对待测电路板的测试。而在待测电路板更换或者待测电路板的测试接口的分布位置改变时，使用者可通过调整测试顶针于不同位置的测试孔内，以使得测试顶针能够适配不同的待测电路板或不同分布的测试接口，以提高测试治具的利用率。

为使本实用新型的上述目的、特征及优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定。对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例提供的电路板测试治具的结构示意图。

图2为图1中的ii处的局部放大结构示意图。

图标：10-电路板测试治具；12-测试对接组件；121-测试压持板；1212-测试压持孔；1213-测试压持件；122-测试安装板；1221-测试安装孔；1222-测试通孔；123-测试安装件；1231-第一安装段；1232-第二安装段；1241-测试顶针板；1242-测试孔；1243-测试顶针；1244-固定块；125-测试缓冲件；1251-缓冲弹性部；1252-缓冲导向部；126-受力柱；127-测试导向柱；128-测试连接板；129-测试提拉杆；15-测试组件；151-测试电流表；152-测试电压表；153-功能测试件；1531-锂电池；1532-脉冲灯管；1533-风扇；1534-外接电源接口；1535-白炽灯；1536-充放电电容；1537-制冷片；1538-触摸按键；1539-观察窗口；17-测试机架；900-待测电路板。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。术语“上”、“下”、“内”、“外”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，“设置”、“连接”等术语应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接连接，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合附图，对本实用新型的具体实施方式进行详细说明。

实施例：

请参阅图1和图2，图1为本实用新型实施例提供的电路板测试治具10的结构示意图。图2为图1中的ii处的局部放大结构示意图。图1和图2中的箭头所指的方向均为第一方向。

本实用新型实施例提供一种电路板测试治具10，该电路板测试治具10具有能够适配多种待测电路板900，利用率较高的特点。该电路板测试治具10能够应用于测试线或装配线等场景，当然，该电路板测试治具10也能够独立使用。

该电路板测试治具10包括测试对接组件12和测试组件15，其中，测试组件15用于测试待测电路板900的性能，且通过测试对接组件12与待测电路板900的测试接口(图未示)对接，而该测试对接组件12能够适配不同待测电路板900的不同位置分布的测试接口，以提高电路板测试治具10的利用率。

该测试对接组件12包括测试安装板122、测试顶针板1241及多个测试顶针1243，测试安装板122固定连接待测电路板900，在测试顶针板1241上开设有数量多于测试顶针1243的测试孔1242，多个测试顶针1243可拆卸地一一设置于测试孔1242，由于测试顶针1243的数量少于测试孔1242，该测试顶针1243可选择地设置于不同位置的测试孔1242内，并且测试安装板122活动连接于测试顶针1243，且被构造为能够沿第一方向靠近测试顶针板1241运动，以使多个测试顶针1243分别与待测电路板900上的测试接口电连接，其中，第一方向为大致垂直于测试顶针板1241且朝向测试顶针板1241的方向，上述垂直是指两者的角度在八十五度至九十五度之间。换言之，多个测试顶针1243可拆卸地设置于部分测试孔1242内，且在需要适配不同分布的测试接口或不同的待测电路板900时，可更换测试顶针1243于不同位置的测试孔1242内，以适配不同分布的测试接口或不同的待测电路板900，而多个测试顶针1243均电连接于测试组件15，以使测试组件15通过测试顶针1243测试待测电路板900，如待测电路板900的工作是否正常，功能是否完善等情况。

这样一来，在使用时，使用者可将测试顶针1243设置于与测试接口对应的第一测试孔1242内，并将待测电路板900固定于待测安装板，以使得测试顶针1243与对应的待测电路板900上的测试接口对应，再通过带动测试安装板122沿第一方向靠近测试顶针板1241运动，以使测试顶针1243与测试接口对接，再由测试组件15完成对待测电路板900的测试。

而在待测电路板900更换或者待测电路板900的测试接口的分布位置改变时，使用者可通过调整测试顶针1243于不同位置的测试孔1242内，以使得测试顶针1243能够适配不同的待测电路板900或不同分布的测试接口，以提高测试治具的利用率。

需要说明的是，测试顶针1243横截面积小于或等于测试接口的面积以保证测试顶针1243能方便且稳定地与测试接口接触，并且，测试顶针1243为柔性材料制成，可通过调整测试顶针1243的形状来进一步微调测试顶针1243的位置，确保顶针与测试接口接触良好。

请继续参阅图2，在测试安装板122上可开设多个测试安装孔1221，该测试对接组件12还可包括数量少于测试安装孔1221的多个测试安装件123，多个测试安装件123一一设置于测试安装孔1221内，多个测试安装件123再与待测电路板900可拆卸连接，使得待测电路板900可通过测试安装件123可选择地且可拆卸地连接于部分测试安装孔1221，以连接待测电路板900于测试安装板122，换言之，对于不同的电路板、对接接口分布变化或者测试需求变化，可通过测试安装件123于测试安装板122的位置来适配，即通过测试安装件123与不同位置的测试安装孔1221连接，再通过测试安装件123与待测电路板900连接，以调整待测电路板900的位置，以进一步提高电路板测试治具10的适配性。

进一步地，该测试安装件123可包括依次连接的第一安装段1231和第二安装段1232，且第一安装段1231和第二安装段1232呈夹角设置，其中，第一安装段1231可拆卸地设置于测试安装孔1221，且由于测试安装孔1221的数量多于测试安装件123，第一安装段1231可选择地设置于不同位置的测试安装孔1221内，多个第二安装段1232远离对应的第一安装段1231的一端用于可拆卸连接待测电路板900。

这样一来，通过弯折设置的第一安装段1231和第二安装段1232来连接待测电路板900于测试安装板122，在待测电路板900更换或者待测电路板900的测试接口的分布位置改变时，可通过将第一安装段1231设置于不同的测试安装孔1221内，来调整第二安装段1232远离第一安装段1231的一端的位置，也可通过将第一安装段1231设置于不同的测试安装孔1221内，使得第二安装段1232由不同方向朝待测电路板900延伸，以微调调整第二安装段1232远离第一安装段1231的一端的位置，进一步的提高电路板测试治具10的适配性。

需要说明的是，在本实施例中，第一安装段1231和第二安装段1232大致呈直角，而在其他实施例中，第一安装段1231和第二安装段1232也可呈其他角度设置，此外，测试对接组件12还可包括测试缓冲件125，该测试缓冲件125包括缓冲弹性部1251和缓冲导向部1252，缓冲导向部1252的一端连接于测试顶针板1241，另一端可活动地穿设于测试安装板122，且沿第一方向设置，缓冲弹性部1251弹性形变的压缩设置于测试安装板122和测试顶针板1241之间，以使测试安装板122能够沿缓冲导向部1252靠近测试顶针板1241运动，这样一来，在测试安装板122靠近测试顶针板1241运动时，缓冲弹性部1251压缩，避免在测试接口与测试顶针1243对接时，待测电路板900或者测试顶针1243安装件收到较大冲击，且在完成测试后，缓冲弹性部1251还能够抬起测试安装板122，以分离测试顶针1243和测试接口。

请继续参阅图1和图2，该电路板测试治具10还可包括测试机架17，测试顶针板1241安装于测试机架17，而测试安装板122位于测试顶针板1241远离测试机架17的一侧，换言之，测试安装板122和测试机架17分别位于所述测试顶针板1241的两侧。

在测试安装板122上还可开设测试通孔1222，第二安装段1232远离第一安装段1231的一端延伸至测试通孔1222，以使待测电路板900与测试通孔1222相对应，也就是说，测试安装件123设置于测试安装板122远离测试机架17的一侧，且连接待测电路板900于测试安装板122远离测试机架17的一侧，以便于操作人员于测试安装板122上方更换待测电路板900；并且，测试通孔1222与测试顶针1243相对应，并使得在测试安装板122靠近测试顶针板1241运动时，测试通孔1222沿第一方向套于测试顶针1243，使得测试顶针1243穿过测试通孔1222与测试接口电连接。

进一步地，该测试对接组件12还可包括测试压持板121和多个测试压持件1213，多个测试压持件1213均连接于测试压持板121，而测试压持板121活动连接于测试机架17，且该测试压持板121能够沿第一方向靠近测试安装板122运动，以沿第一方向抵持测试安装板122，以带动测试安装板122沿第一方向运动，其还能够同时带动测试压持件1213压持待测电路板900远离测试顶针板1241的一侧，这样一来，测试顶针1243由待测电路板900底部向上顶持时，测试压持件1213由待测电路板900的上方压持待测电路板900，以进一步固定待测电路板900，提高测试顶针1243与待测接口对接的稳定性。

需要说明的是，在本实施例中，第二安装段1232远离第一安装段1231的一端抵持于待测电路板900远离测试压持板121的一侧，与测试压持件1213共同夹持待测电路板900，保持待测电路板900相对于待测安装板的位置稳定，进一步提高测试顶针1243与待测接口对接的稳定性。此外，测试压持件1213抵持于待测电路板900的位置与第二安装段1232抵持于待测电路板900的位置可以为待测电路板900的同一位置的两面，提高夹持待测电路板900的稳固性，当然，测试压持件1213抵持于待测电路板900的位置与第二安装段1232抵持于待测电路板900的位置也可错开，依据待测电路板900的具体构造调整测试压持件1213和第二安装段1232夹持待测电路板900的夹持位置。

在操作时，操作者可先将待测电路板900放置于第二安装段1232远离第一安装段1231的一端上，再操作测试压持板121，以带动测试压持板121沿第一方向运动，使得测试压持件1213由待测电路板900的上方压持待测电路板900，以固定待测电路板900，并使得测试安装板122沿第一方向运动，且测试顶针1243穿过测试通孔1222与测试接口电连接。

进一步地，测试压持板121上可开设数量多于测试压持件1213的多个测试压持孔1212，而多个测试压持件1213可拆卸地一一设置于测试压持孔1212，由于测试压持件1213的数量少于测试压持孔1212，这样一来，可灵活调节测试压持件1213于测试压持板121的位置，以满足在不同的电路板、对接接口分布变化或者测试需求变化时对待测电路板900的压持需求，保持待测电路板900相对于待测安装板的位置稳定，进一步提高电路板测试治具10的适配性。

需要说明的是，测试对接组件12还可包括多个受力柱126，多个受力柱126分布设置于测试安装板122的边沿，且位于测试安装板122和测试压持板121之间，在测试压持板121靠近测试安装板122时，测试压持板121通过多个受力柱126共同压持测试安装板122，以提高抵持测试安装板122的稳定性。

此外，上述的测试顶针1243、测试压持件1213及第一安装段1231均通过固定块1244卡持于或螺纹连接于对应的孔内，该固定块1244可以为橡胶，也可为塑料或金属块。而测试孔1242相对于测试安装孔1221和测试压持孔1212来说，其更加小，且更加稠密，以确保测试顶针1243能覆盖整个待测电路板900，且口径较大的测试安装孔1221和测试压持孔1212可确保更加稳固地固定待测电路板900。

进一步地，该测试对接组件12还可包括测试导向柱127，测试导向柱127沿第一方向设置，且测试压持板121滑动连接于测试压持板121，以使测试压持板121沿测试导向柱127滑动，进一步提高测试压持板121运动的稳定性。

需要说明的是，测试对接组件12还可包括测试连接板128，测试连接板128连接于测试压持板121远离测试安装板122的一侧，且测试连接板128与测试压持板121之间留有间隙，以便于安装测试压持件1213，且测试连接板128与测试导向柱127滑动连接，以滑动连接测试连接板128和测试压持板121。

进一步地，测试对接组件12还可包括测试提拉杆129，该测试提拉杆129的一端转动连接于测试连接板128，且测试提拉杆129靠近测试压持板121的位置与测试机架17转动连接，这样一来，操作者可通过扳动测试提拉杆129远离测试压持板121的一端，以通过杠杆原理带动测试连接板128升降，进而带动测试压持板121升高或降低，而在其他实施例中，测试压持板121也可通过其他运动机构实现靠近待测电路板900的运动，如机械臂，或电动、气动或油动的可伸缩机构等。

请继续参阅图1，为便于展示内部结构，图1中的部分测试组件15以虚线表示，其中，该测试组件15包括均与测试顶针1243电连接地测试电流表151和测试电压表152，以测试待测电路工作时的工作电流和工作电压是否正常。

进一步地，该测试组件15还包括功能测试件153，以测试待测电路板900的功能是否正常，在本实施例中，以待测电路板900为脱毛仪的电路板为例，功能测试件153包括锂电池1531、脉冲灯管1532、风扇1533、外接电源接口1534、白炽灯1535，充放电电容1536、制冷片1537及触摸按键1538，功能测试件153通过测试顶针1243与待测电路板900电连接，以形成脱毛仪的电路部分，且在测试机架17上还开设有观察窗口1539与白炽灯1535相对，其中，外接电源接口1534或锂电池1531向待测电路板900供电；制冷片1537用来体验制冷片1537是否制冷，以检测待测电路板900的制冷功能是否正常；触摸按键1538用来实现操作产品，以检测待测电路板900操作功能是否正常；白炽电灯用来给充放电电容1536放电，观察窗口1539用来观察下方的白炽灯1535在充放电电容1536放电过程是否亮，脉冲灯管1532设置于测试机架17下方，且与观察窗口1539错开，以避免脉冲光直射，伤害使用者眼睛。可以理解的是在其他实施例中，功能测试件153也可为形成其他产品的除待测电路板900之外的电路部分。

在使用时：先调整测试顶针1243于测试顶针板1241的位置；将待测电路板900固定放置于第二安装段1232远离第一安装段1231的一端；通过测试提拉杆129放下测试压持板121，以压持测试安装板122，测试压持件1213与第二安装段1232共同夹持待测电路板900，且使得测试安装板122下压，以使测试顶针1243穿过测试通孔1222，并使得测试顶针1243穿过测试通孔1222与测试接口电连接；给待测电路板900供电，逐条测试待测电路板900的各项功能，并观察工作电流和电压；测试完毕，关闭电源；对充放电电容1536进行放电，以确保操作者安全，可通过观察窗口1539查看白炽灯1535的亮灭情况判断充放电电容1536的放电情况；通过测试提拉杆129提起测试压持板121，测试安装板122在缓冲弹性部1251的弹性力的作用下被抬起，使得测试接口与测试顶针1243分离，取下待测电路板900，便完成一个待测电路板900的测试。

本实用新型实施例提供的电路板测试治具10的工作原理是：

测试对接组件12包括测试安装板122、测试顶针板1241及多个测试顶针1243，测试安装板122固定连接待测电路板900，在测试顶针板1241上开设有数量多于测试顶针1243的测试孔1242，多个测试顶针1243可拆卸地一一设置于测试孔1242，由于测试顶针1243的数量少于测试孔1242，该测试顶针1243可选择地设置于不同位置的测试孔1242内，并且测试安装板122活动连接于测试顶针1243，且被构造为能够沿第一方向靠近测试顶针板1241运动，以使多个测试顶针1243分别与待测电路板900上的测试接口电连接，其中，第一方向为垂直于测试顶针板1241且朝向测试顶针板1241的方向，换言之，多个测试顶针1243可拆卸地设置于部分测试孔1242内，且在需要适配不同分布的测试接口或不同的待测电路板900时，可更换测试顶针1243于不同位置的测试孔1242内，以适配不同分布的测试接口或不同的待测电路板900，而多个测试顶针1243均电连接于测试组件15，以使测试组件15通过测试顶针1243测试待测电路板900，如测试待测电路板900的工作是否正常，功能是否完善等情况。这样一来，在使用时，使用者可将测试顶针1243设置于与测试接口对应的第一测试孔1242内，并将待测电路板900固定于待测安装板，以使得测试顶针1243与对应的待测电路板900上的测试接口对应，再通过带动测试安装板122沿第一方向靠近测试顶针板1241运动，以使测试顶针1243与测试接口对接，再由测试组件15完成对待测电路板900的测试。而在待测电路板900更换或者待测电路板900的测试接口的分布位置改变时，使用者可通过调整测试顶针1243于不同位置的测试孔1242内，以使得测试顶针1243能够适配不同的待测电路板900或不同分布的测试接口，以提高测试治具的利用率。

综上所述：

本实用新型实施例提供一种电路板测试治具10，其具有能够适配多种待测电路板900，利用率较高的特点。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，在不冲突的情况下，上述的实施例中的特征可以相互组合，本实用新型也可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。并且，应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。