1.一种系统，包括：
光源，被配置为发射光；
发射透镜，被定位为获得发射的光并且被配置为产生成形光束；
光学元件，包括具有旋转轴的镜子，所述光学元件被定位为：
获得所述成形光束并且将所述成形光束重定向到近场物体以从所述近场物体产生散射光，并且
获得并且重定向所述散射光的至少一部分；以及
收集透镜，被配置为将所述散射光的所述至少一部分聚焦在光检测器上，所述收集透镜包括子午平面，
其中所述发射透镜包括子午平面，该子午平面与所述光学元件的旋转轴一致并且与所述收集透镜的子午平面一致。
2.如权利要求1所述的系统，其中所述镜子包括以下至少一者：棱镜、平面镜、楔形镜。
3.如权利要求1所述的系统，其中所述镜子包括以下至少一者：具有分隔的镜子、镜子的集合。
4.如权利要求1所述的系统，还包括：
处理器；以及
存储器，包括指令，所述指令当被所述处理器执行时，使得所述系统基于所述散射光在所述光检测器上的所述部分来检测物体。
5.如权利要求4所述的系统，其中所述镜子包括旋转速度，并且
其中所述指令当被所述处理器执行时，还使得所述系统：
确定检测速率；并且
基于所述检测速率和视场中的至少一者来确定所述镜子的旋转速度。
6.如权利要求1所述的系统，其中所述光源是线性光源。
7.如权利要求1所述的系统，其中所述光源包括激光二极管阵列。
8.如权利要求1所述的系统，其中所述光源包括以下至少一者：紫外光、可见光、近红外光。
9.如权利要求1所述的系统，其中所述光检测器包括以下至少一者：光电二极管、光电倍增管、雪崩光电二极管阵列。
10.如权利要求1所述的系统，其中所述发射透镜包括以下至少一者：衍射光学元件、透镜的阵列。
11.如权利要求1所述的系统，还包括：
第二光源，被配置为第二发射光；
第二发射透镜，被定位为获得第二发射的光并且被配置为产生第二成形光束，其中所述光学元件被定位为获得所述第二成形光束并且将所述第二成形光束重定向到所述近场物体以从所述近场物体产生第二散射光，并且获得并重定向所述第二散射光的至少一部分；以及
第二收集透镜，被配置为将所述第二散射光的所述至少一部分聚焦在第二光检测器上，所述第二收集透镜包括子午平面，
其中所述第二发射透镜包括子午平面，该子午平面与所述光学元件的旋转轴一致并且与所述第二收集透镜的子午平面一致。
12.一种方法，包括：
从光源发射光；
由被定位为获得发射的光的发射透镜来产生成形光束；
由光学元件获得所述成形光束并且由所述光学元件将所述成形光束重定向到近场物体以从所述近场物体产生散射光；
由所述光学元件获得并且重定向所述散射光的至少一部分；并且
由收集透镜将所述散射光的所述至少一部分聚焦在光检测器上。
13.如权利要求12所述的方法，其中：
所述光学元件包括具有旋转轴的镜子；
所述收集透镜包括子午平面；并且
所述发射透镜包括子午平面，该子午平面与所述光学元件的旋转轴一致并且与所述收集透镜的子午平面一致。
14.如权利要求12所述的方法，其中：
所述光学元件包括具有旋转轴的镜子；
所述收集透镜包括弧矢平面，该弧矢平面符合以下至少一项：与所述发射透镜的弧矢平面一致、与所述发射透镜的弧矢平面平行；
所述收集透镜和所述发射透镜分别分布在所述镜子的旋转轴的左侧和右侧；并且
所述发射透镜的子午平面和所述收集透镜的子午平面与所述旋转轴平行。
15.如权利要求14所述的方法，其中所述镜子包括以下至少一者：具有隔断的镜子、镜子的集合。
16.如权利要求14所述的方法，其中所述方法还包括基于所述散射光在所述光检测器上的所述部分来检测物体。
17.如权利要求16所述的方法，其中所述镜子包括旋转速度，
所述方法还包括：
确定检测速率；并且
基于所述检测速率和视场中的至少一者来确定所述镜子的旋转速度。
18.如权利要求12所述的方法，其中所述光源是线性光源。
19.如权利要求12所述的方法，其中所述光源包括激光二极管阵列。
20.一种系统，包括：
光源，被配置为发射光；
发射透镜，被定位为获得发射的光并且被配置为产生成形光束；
光学元件，包括具有旋转轴的镜子，所述光学元件被定位为：
获得所述成形光束并且将所述成形光束重定向到近场物体以从所述近场物体产生散射光，并且
获得并且重定向所述散射光的至少一部分；以及
收集透镜，被配置为将所述散射光的所述至少一部分聚焦在光检测器上，
其中所述收集透镜的弧矢平面和所述发射透镜的弧矢平面是一致的，
其中所述收集透镜和所述发射透镜分别分布在所述镜子的旋转轴的左侧和右侧。