一种方便对电极箔展平的检测装置的制作方法

文档序号:21106522发布日期:2020-06-16 21:20阅读:138来源:国知局
一种方便对电极箔展平的检测装置的制作方法

本发明涉及方便对电极箔展平的检测装置领域,具体说是一种方便对电极箔展平的检测装置。



背景技术:

电极箔是专门用来制作铝电解电容器正负极的材料;铝电解电容器是由经过腐蚀并覆盖氧化膜的阳极铝箔、经过腐蚀的阴极铝箔和电解纸卷绕后,再浸渍工作电解液,然后密封艾铝壳中而制作成的,在使用电极箔做电容器正负极时,首先需要对电极箔的平整度进行检测,对平整度较差的需要进行展平。

然而,当使用千分表对电极箔的表面的平整度进行检测时,需要逐个小面积的检测电极箔,检测的效率低,且不便于电极箔在操作台上快速的移动,且不便于对电极箔的平整度存在问题的电极箔进行标识,且检测组件和展平组件分开设置,进而影响了电极箔的检测和展平的效率及其质量。



技术实现要素:

针对现有技术中的问题,本发明提供了一种方便对电极箔展平的检测装置。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种方便对电极箔展平的检测装置,包括框架、距离调节结构、导向结构、检测结构、标记结构、展平结构和驱动结构;所述框架上设有两个对称的所述距离调节结构,所述距离调节结构和所述框架上均设有转动连接的用于输送电极箔的所述导向结构;所述框架的内部设有所述驱动结构,所述驱动结构连接于所述框架的内部的所述导向结构;所述框架的内部设有用于对电极箔上不平整区域进行标记的所述标记结构,且所述框架上设有与所述标记结构对应的用于检测电极箔的平整度的所述检测结构;所述框架的其中一端设有用于对电极箔进行展平的所述展平结构。

具体的,所述驱动结构包括摇杆、皮带和三个带轮,所述摇杆贯穿连接于所述框架,所述摇杆与所述框架之间转动连接,三个所述带轮分别固定于所述摇杆和所述框架的内部的两个所述导向结构,所述皮带缠绕于所述带轮。

具体的,所述距离调节结构包括第一驱动杆、第一滑套和第一定位杆,所述框架上对称设有两个所述第一定位杆,所述第一滑套与所述第一定位杆之间滑动连接,所述第一滑套上设有转动连接的所述导向结构,所述第一驱动杆贯穿连接于所述第一滑套和所述第一定位杆,所述第一驱动杆与所述第一滑套之间转动连接,所述第一驱动杆与所述第一定位杆之间螺纹连接。

具体的,所述导向结构包括外圈、四根传动轴、卡块、限位套和泄压片,四根所述传动轴分别转动连接于所述框架和所述第一滑套,所述框架的内部的所述传动轴上设有所述带轮,所述传动轴上的所述带轮的直径大于所述摇杆上的所述带轮的直径,所述传动轴的圆周方向上至少设有三个所述卡块,所述限位套与所述卡块卡合,所述限位套与所述传动轴卡合,所述限位套的圆周方向上圆周阵列设有多个s形结构的所述泄压片,所述泄压片背离所述限位套的一端设有所述外圈,所述限位套设于所述外圈的内部。

具体的,所述检测结构包括第二驱动杆、第二滑套、固定板、滑杆、检测板、第二定位杆、导向轮和复位弹簧,所述第二定位杆垂直固定于所述框架,所述第二定位杆上滑动连接有截面为u形结构的所述第二滑套,所述第二驱动杆贯穿连接于所述第二滑套和所述第二定位杆,所述第二滑套背离所述第二定位杆的一端设有截面为t形结构的用于固定千分表的所述固定板,所述滑杆与所述第二滑套之间滑动连接,所述滑杆与所述第二滑套之间连接有所述复位弹簧,所述滑杆的侧壁对称设有多个转动连接的所述导向轮,所述导向轮与所述第二滑套之间滚动连接,所述滑杆背离所述复位弹簧的一端设有所述检测板。

具体的,所述标记结构包括驱动板、导向槽、凹槽、拉绳、定位轮、滑块、书写笔、限位弹簧和导向块,截面为梯形结构的所述驱动板与所述框架之间滑动连接,所述驱动板的底端设有所述凹槽,所述框架上对称设有两个沿着垂直于所述检测板方向的截面为“十”字形结构的所述导向槽,所述导向槽的内部滑动连接有所述滑块,所述滑块与所述框架的内部的截面为梯形的所述导向块之间滑动连接,所述书写笔与所述滑块卡合,所述滑块与所述框架之间设有所述限位弹簧,所述拉绳的一端固定于所述驱动板,所述拉绳的另外一端贯穿于所述框架从所述限位弹簧延伸至所述滑块,所述拉绳的拐弯处缠绕于所述框架的内部的转动连接的所述定位轮。

具体的,所述展平结构包括第三驱动杆、展平板、驱动组件和第三定位杆,所述驱动组件固定于所述框架,所述驱动组件为电动液压缸、电动气缸或电动推杆的一种,所述驱动组件上固定有所述第三定位杆,所述第三定位杆与所述框架之间滑动连接,截面为l形的用于展平电极箔的所述展平板与所述第三定位杆之间滑动连接,所述第三驱动杆贯穿连接于所述展平板和所述第三定位杆,所述第三驱动杆与所述展平板之间转动连接,所述第三驱动杆与所述第三定位杆之间螺纹连接。

本发明的有益效果:

(1)本发明所述的一种方便对电极箔展平的检测装置,框架上设有两个对称的距离调节结构,距离调节结构和框架上均设有转动连接的用于输送电极箔的导向结构;框架的内部设有驱动结构,驱动结构连接于框架的内部的导向结构,进而便于通过距离调节结构调节框架上的导向结构与距离调节结构上的导向结构之间的距离,便于适用于不同厚度的电极箔,通过驱动结构驱动框架的内部的导向结构转动,进而便于快速的控制电极箔在框架上移动,使电极箔的检测的效率更高;即:首先将框架安装在检测台上,将待检测的电极箔从侧方向放入一一对应的两个外圈之间,然后根据电极箔的厚度的不同,转动第一驱动杆,第一驱动杆螺纹驱动第一滑套与第一定位杆之间滑动,进而使第一滑套上的外圈和框架的内部的外圈抵触电极箔,进而便于适用于不同厚度的电极箔,然后转动摇杆,摇杆与框架之间转动连接,摇杆上的带轮通过皮带带动另外两个带轮转动,带轮带动框架的内部的传动轴转动,进而使传动轴带动限位套转动,从而通过泄压片带动外圈驱动电极箔移动,传动轴上的带轮的直径大于摇杆上的带轮的直径,使驱动更加省力,同时使带轮之间受力更加均匀,当形变的电极箔经过两个外圈时,外圈抵触s形的泄压片变形,进而有效的防止挤压力过大给电极箔造成新的弯折和损坏,进而大大提高了电极箔检测时的输送的质量及其效率。

(2)本发明所述的一种方便对电极箔展平的检测装置,框架的中线处设有用于检测电极箔平整度的检测结构,进而便于通过千分表快速的对电极箔的表面的平整度进行检测,配合导向结构的使用,使电极箔的检测的效率更高,即:根据电极箔的厚度调节检测板的位置,转动第二驱动杆,第二驱动杆螺纹驱动第二滑套与第二定位杆之间滑动,进而使检测板与电极箔抵触,使固定板上的千分表的指针指向零,外圈驱动电极箔移动时,检测板与电极箔之间滑动连接,当电极箔上不平整时,电极箔抵触检测板,使检测板抵触千分表,使千分表指针位置改变,便于快速的清楚同一区域的电极箔是否平整,同时检测板上的滑杆上设有导向轮,导向轮与第二滑套之间滚动连接,进而将滑杆与第二滑套之间的滑动摩擦力转换为滚动摩擦力,进而使滑杆与第二滑套的滑动效果更好。

(3)本发明所述的一种方便对电极箔展平的检测装置,框架的内部设有用于对电极箔上不平整区域进行标记的标记结构,且框架上设有与标记结构对应的用于检测电极箔的平整度的检测结构;进而便于检测结构检测不平整时通过标记结构快速的标记电极箔不平整的位置,便于配合框架的其中一端的用于对电极箔进行展平的展平结构对电极箔进行展平,进而大大提高了电极箔的检测和维修的效率及其质量,即:在书写笔和滑块之间安装个弹簧,使书写笔在弹簧的作用力下在滑块的内部背离电极箔方向移动,当千分表检测到电极箔不平整时,手指进入凹槽,拉动驱动板与框架之间滑动,驱动板拉动拉绳与定位轮之间滚动,拉绳拉动滑块,框架上对称设有两个沿着垂直于检测板方向的截面为“十”字形结构的导向槽,进而使滑块滑动更加顺畅,滑块滑动过程中使滑块的内部的书写笔逐渐抵触截面为梯形的导向块,使书写笔可接触电极箔,使书写笔在电极箔上标识,进而便于展平后对电极箔不平整位置进行二次检测,根据电极箔的厚度,转动第三驱动杆,第三驱动杆螺纹驱动展平板与第三定位杆之间滑动,进而调节展平板距离电极箔之间的距离,当需要展平电极箔时,按压驱动组件的开关,驱动组件带动第三定位杆,进而使第三定位杆带动展平板配合框架对电极箔进行展平,进而便于在检测电极箔的平整性后及时的对电极箔进行展平,有效的防止往复搬运电极箔,进而大大提高了电极箔的生产加工的效率及其质量。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1为本发明提供的一种方便对电极箔展平的检测装置的整体结构示意图;

图2为图1所示的框架与检测结构的连接结构示意图;

图3为图1所示的导向结构与驱动结构的连接结构示意图;

图4为图3所示的a部放大示意图;

图5为图1所示的检测结构的结构示意图;

图6为图5所示的b部放大示意图;

图7为图1所示的框架与标记结构的连接结构示意图。

图中:1、框架,2、距离调节结构,21、第一驱动杆,22、第一滑套,23、第一定位杆,3、导向结构,31、外圈,32、传动轴,33、卡块,34、限位套,35、泄压片,4、检测结构,41、第二驱动杆,42、第二滑套,43、固定板,44、滑杆,45、检测板,46、第二定位杆,47、导向轮,48、复位弹簧,5、标记结构,51、驱动板,52、导向槽,53、凹槽,54、拉绳,55、定位轮,56、滑块,57、书写笔,58、限位弹簧,59、导向块,6、展平结构,61、第三驱动杆,62、展平板,63、驱动组件,64、第三定位杆,7、驱动结构,71、摇杆,72、皮带,73、带轮。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。

如图1-图7所示,本发明所述的一种方便对电极箔展平的检测装置,包括框架1、距离调节结构2、导向结构3、检测结构4、标记结构5、展平结构6和驱动结构7;所述框架1上设有两个对称的所述距离调节结构2,所述距离调节结构2和所述框架1上均设有转动连接的用于输送电极箔的所述导向结构3;所述框架1的内部设有所述驱动结构7,所述驱动结构7连接于所述框架1的内部的所述导向结构3;所述框架1的内部设有用于对电极箔上不平整区域进行标记的所述标记结构5,且所述框架1上设有与所述标记结构5对应的用于检测电极箔的平整度的所述检测结构4;所述框架1的其中一端设有用于对电极箔进行展平的所述展平结构6。

具体的,所述驱动结构7包括摇杆71、皮带72和三个带轮73,所述摇杆71贯穿连接于所述框架1,所述摇杆71与所述框架1之间转动连接,三个所述带轮73分别固定于所述摇杆71和所述框架1的内部的两个所述导向结构3,所述皮带72缠绕于所述带轮73。

具体的,所述距离调节结构2包括第一驱动杆21、第一滑套22和第一定位杆23,所述框架1上对称设有两个所述第一定位杆23,所述第一滑套22与所述第一定位杆23之间滑动连接,所述第一滑套22上设有转动连接的所述导向结构3,所述第一驱动杆21贯穿连接于所述第一滑套22和所述第一定位杆23,所述第一驱动杆21与所述第一滑套22之间转动连接,所述第一驱动杆21与所述第一定位杆23之间螺纹连接。

具体的,所述导向结构3包括外圈31、四根传动轴32、卡块33、限位套34和泄压片35,四根所述传动轴32分别转动连接于所述框架1和所述第一滑套22,所述框架1的内部的所述传动轴32上设有所述带轮73,所述传动轴32上的所述带轮73的直径大于所述摇杆71上的所述带轮73的直径,所述传动轴32的圆周方向上至少设有三个所述卡块33,所述限位套34与所述卡块33卡合,所述限位套34与所述传动轴32卡合,所述限位套34的圆周方向上圆周阵列设有多个s形结构的所述泄压片35,所述泄压片35背离所述限位套34的一端设有所述外圈31,所述限位套34设于所述外圈31的内部;所述框架1上设有两个对称的所述距离调节结构2,所述距离调节结构2和所述框架1上均设有转动连接的用于输送电极箔的所述导向结构3;所述框架1的内部设有所述驱动结构7,所述驱动结构7连接于所述框架1的内部的所述导向结构3,进而便于通过所述距离调节结构2调节所述框架1上的所述导向结构3与所述距离调节结构2上的所述导向结构3之间的距离,便于适用于不同厚度的电极箔,通过所述驱动结构7驱动所述框架1的内部的所述导向结构3转动,进而便于快速的控制电极箔在所述框架1上移动,使电极箔的检测的效率更高;即:首先将所述框架1安装在检测台上,将待检测的电极箔从侧方向放入一一对应的两个所述外圈31之间,然后根据电极箔的厚度的不同,转动所述第一驱动杆21,所述第一驱动杆21螺纹驱动所述第一滑套22与所述第一定位杆23之间滑动,进而使所述第一滑套22上的所述外圈31和所述框架1的内部的所述外圈31抵触电极箔,进而便于适用于不同厚度的电极箔,然后转动所述摇杆71,所述摇杆71与所述框架1之间转动连接,所述摇杆71上的所述带轮73通过皮带带动另外两个所述带轮73转动,所述带轮73带动所述框架1的内部的所述传动轴32转动,进而使所述传动轴32带动所述限位套34转动,从而通过所述泄压片35带动所述外圈31驱动电极箔移动,所述传动轴32上的所述带轮73的直径大于所述摇杆71上的所述带轮73的直径,使驱动更加省力,同时使所述带轮73之间受力更加均匀,当形变的电极箔经过两个所述外圈31时,所述外圈31抵触s形的所述泄压片35变形,进而有效的防止挤压力过大给电极箔造成新的弯折和损坏,进而大大提高了电极箔检测时的输送的质量及其效率。

具体的,所述检测结构4包括第二驱动杆41、第二滑套42、固定板43、滑杆44、检测板45、第二定位杆46、导向轮47和复位弹簧48,所述第二定位杆46垂直固定于所述框架1,所述第二定位杆46上滑动连接有截面为u形结构的所述第二滑套42,所述第二驱动杆41贯穿连接于所述第二滑套42和所述第二定位杆46,所述第二滑套42背离所述第二定位杆46的一端设有截面为t形结构的用于固定千分表的所述固定板43,所述滑杆44与所述第二滑套42之间滑动连接,所述滑杆44与所述第二滑套42之间连接有所述复位弹簧48,所述滑杆44的侧壁对称设有多个转动连接的所述导向轮47,所述导向轮47与所述第二滑套42之间滚动连接,所述滑杆44背离所述复位弹簧48的一端设有所述检测板45;所述框架1的中线处设有用于检测电极箔平整度的所述检测结构4,进而便于通过千分表快速的对电极箔的表面的平整度进行检测,配合所述导向结构3的使用,使电极箔的检测的效率更高,即:根据电极箔的厚度调节所述检测板45的位置,转动所述第二驱动杆41,所述第二驱动杆41螺纹驱动所述第二滑套42与所述第二定位杆46之间滑动,进而使所述检测板45与电极箔抵触,使所述固定板43上的千分表的指针指向零,所述外圈31驱动电极箔移动时,所述检测板45与电极箔之间滑动连接,当电极箔上不平整时,电极箔抵触所述检测板45,使所述检测板45抵触千分表,使千分表指针位置改变,便于快速的清楚同一区域的电极箔是否平整,同时所述检测板45上的所述滑杆44上设有所述导向轮47,所述导向轮47与所述第二滑套42之间滚动连接,进而将所述滑杆44与所述第二滑套42之间的滑动摩擦力转换为滚动摩擦力,进而使所述滑杆44与所述第二滑套42的滑动效果更好。

具体的,所述标记结构5包括驱动板51、导向槽52、凹槽53、拉绳54、定位轮55、滑块56、书写笔57、限位弹簧58和导向块59,截面为梯形结构的所述驱动板51与所述框架1之间滑动连接,所述驱动板51的底端设有所述凹槽,所述框架1上对称设有两个沿着垂直于所述检测板45方向的截面为“十”字形结构的所述导向槽52,所述导向槽52的内部滑动连接有所述滑块56,所述滑块56与所述框架1的内部的截面为梯形的所述导向块59之间滑动连接,所述书写笔57与所述滑块56卡合,所述滑块56与所述框架1之间设有所述限位弹簧58,所述拉绳54的一端固定于所述驱动板51,所述拉绳54的另外一端贯穿于所述框架1从所述限位弹簧58延伸至所述滑块56,所述拉绳54的拐弯处缠绕于所述框架1的内部的转动连接的所述定位轮55。

具体的,所述展平结构6包括第三驱动杆61、展平板62、驱动组件63和第三定位杆64,所述驱动组件63固定于所述框架1,所述驱动组件63为电动液压缸、电动气缸或电动推杆的一种,所述驱动组件63上固定有所述第三定位杆64,所述第三定位杆64与所述框架1之间滑动连接,截面为l形的用于展平电极箔的所述展平板62与所述第三定位杆64之间滑动连接,所述第三驱动杆61贯穿连接于所述展平板62和所述第三定位杆64,所述第三驱动杆61与所述展平板62之间转动连接,所述第三驱动杆61与所述第三定位杆64之间螺纹连接;所述框架1的内部设有用于对电极箔上不平整区域进行标记的所述标记结构5,且所述框架1上设有与所述标记结构5对应的用于检测电极箔的平整度的所述检测结构4;进而便于所述检测结构4检测不平整时通过所述标记结构5快速的标记电极箔不平整的位置,便于配合所述框架1的其中一端的用于对电极箔进行展平的所述展平结构6对电极箔进行展平,进而大大提高了电极箔的检测和维修的效率及其质量,即:在所述书写笔57和所述滑块56之间安装个弹簧,使所述书写笔57在弹簧的作用力下在所述滑块56的内部背离电极箔方向移动,当千分表检测到电极箔不平整时,手指进入所述凹槽53,拉动所述驱动板51与所述框架1之间滑动,所述驱动板51拉动所述拉绳54与所述定位轮55之间滚动,所述拉绳54拉动所述滑块56,所述框架1上对称设有两个沿着垂直于所述检测板45方向的截面为“十”字形结构的所述导向槽52,进而使所述滑块56滑动更加顺畅,所述滑块56滑动过程中使所述滑块56的内部的书写笔57逐渐抵触截面为梯形的所述导向块59,使所述书写笔57可接触电极箔,使所述书写笔57在电极箔上标识,进而便于展平后对电极箔不平整位置进行二次检测,根据电极箔的厚度,转动所述第三驱动杆61,所述第三驱动杆61螺纹驱动所述展平板62与所述第三定位杆64之间滑动,进而调节所述展平板62距离电极箔之间的距离,当需要展平电极箔时,按压所述驱动组件63的开关,所述驱动组件63带动所述第三定位杆64,进而使所述第三定位杆64带动所述展平板62配合所述框架1对电极箔进行展平,进而便于在检测电极箔的平整性后及时的对电极箔进行展平,有效的防止往复搬运电极箔,进而大大提高了电极箔的生产加工的效率及其质量。

在使用时,首先将框架1安装在检测台上,将待检测的电极箔从侧方向放入一一对应的两个外圈31之间,然后根据电极箔的厚度的不同,转动第一驱动杆21,第一驱动杆21螺纹驱动第一滑套22与第一定位杆23之间滑动,进而使第一滑套22上的外圈31和框架1的内部的外圈31抵触电极箔,进而便于适用于不同厚度的电极箔,然后转动摇杆71,摇杆71与框架1之间转动连接,摇杆71上的带轮73通过皮带带动另外两个带轮73转动,带轮73带动框架1的内部的传动轴32转动,进而使传动轴32带动限位套34转动,从而通过泄压片35带动外圈31驱动电极箔移动,传动轴32上的带轮73的直径大于摇杆71上的带轮73的直径,使驱动更加省力,同时使带轮73之间受力更加均匀,当形变的电极箔经过两个外圈31时,外圈31抵触s形的泄压片35变形,进而有效的防止挤压力过大给电极箔造成新的弯折和损坏,进而大大提高了电极箔检测时的输送的质量及其效率;根据电极箔的厚度调节检测板45的位置,转动第二驱动杆41,第二驱动杆41螺纹驱动第二滑套42与第二定位杆46之间滑动,进而使检测板45与电极箔抵触,使固定板43上的千分表的指针指向零,外圈31驱动电极箔移动时,检测板45与电极箔之间滑动连接,当电极箔上不平整时,电极箔抵触检测板45,使检测板45抵触千分表,使千分表指针位置改变,便于快速的清楚同一区域的电极箔是否平整,同时检测板45上的滑杆44上设有导向轮47,导向轮47与第二滑套42之间滚动连接,进而将滑杆44与第二滑套42之间的滑动摩擦力转换为滚动摩擦力,进而使滑杆44与第二滑套42的滑动效果更好;在书写笔57和滑块56之间安装个弹簧,使书写笔57在弹簧的作用力下在滑块56的内部背离电极箔方向移动,当千分表检测到电极箔不平整时,手指进入凹槽53,拉动驱动板51与框架1之间滑动,驱动板51拉动拉绳54与定位轮55之间滚动,拉绳54拉动滑块56,框架1上对称设有两个沿着垂直于检测板45方向的截面为“十”字形结构的导向槽52,进而使滑块56滑动更加顺畅,滑块56滑动过程中使滑块56的内部的书写笔57逐渐抵触截面为梯形的导向块59,使书写笔57可接触电极箔,使书写笔57在电极箔上标识,进而便于展平后对电极箔不平整位置进行二次检测,根据电极箔的厚度,转动第三驱动杆61,第三驱动杆61螺纹驱动展平板62与第三定位杆64之间滑动,进而调节展平板62距离电极箔之间的距离,当需要展平电极箔时,按压驱动组件63的开关,驱动组件63带动第三定位杆64,进而使第三定位杆64带动展平板62配合框架1对电极箔进行展平,进而便于在检测电极箔的平整性后及时的对电极箔进行展平,有效的防止往复搬运电极箔,进而大大提高了电极箔的生产加工的效率及其质量。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施方式和说明书中的描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入本发明要求保护的范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

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