连接器件以及电子设备的制作方法

本发明涉及电气元件检测工具技术领域，尤其是涉及一种连接器件以及电子设备。

背景技术：

随着自动控制技术的发展，各种控制芯片、板对板连接器等电气元件在市场中都占有着巨大的份额。为了确保芯片的准确性和性能的达标可靠，在电气元件导入市场之前，需要进行详细的测试。

现有的电气元件测试装置均为塑胶材料的插座，在塑胶材质的插座中装配多根金属探针。

但是，塑料材料的插座存在信号隔离度较差，信号在多通道之间容易相互耦合，相互干扰。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种连接器件以及电子设备，以缓解了现有技术中存在的连接器件信号隔离度差，信号容易相互干扰，影响最终测试结果精确性的技术问题。

第一方面，本发明提供的连接器件，包括：固定主体和测试探针；

所述固定主体内设置有多个容置通道，所述测试探针插设于所述容置通道；

所述固定主体配置为能够屏蔽各所述测试探针之间的干扰信号。

在可选的实施方式中，

所述固定主体设置有多个贯穿孔；

所述贯穿孔内形成所述容置通道，任意相邻的两个所述贯穿孔之间由金属材料隔离。

在可选的实施方式中，

所述连接器件还包括隔离构件；

所述隔离构件设置于所述容置通道内，且套设于所述测试探针外，所述隔离构件配置为能够隔离所述测试探针与所述固定主体之间的电性接触。

在可选的实施方式中，

所述隔离构件由塑料材质制成。

在可选的实施方式中，

以所述连接器件的用于接触待测物的一端为第一端；

所述贯穿孔的靠近所述第一端的内壁设置有第一台阶结构；

所述隔离构件靠近所述第一端的设置有与所述第一台阶结构相配合的第一缺口结构。

在可选的实施方式中，

所述隔离构件靠近所述第一端的端部设置有第二台阶结构；

所述测试探针靠近所述第一端的端部设置有第二缺口结构；

所述测试探针的所述第二缺口结构搭接于所述隔离构件的所述第二台阶结构。

在可选的实施方式中，

以所述连接器件背离待测物的一端为第二端；

所述连接器件的第二端连接有转接构件，各个所述测试探针均与所述转接构件连接。

在可选的实施方式中，

所述转接构件设置为转接板；

所述转接板上设置有多个信号馈入结构，多个所述测试探针与多个所述信号馈入结构一一对应连接。

在可选的实施方式中，

所述转接构件包括多个转接线；

多个所述转接线与多个所述测试探针一一对应连接。

在可选的实施方式中，

所述固定主体的第一端设置有用于容纳待测物的容置槽，所述测试探针相对应的端部在所述待测物装配于所述容置槽的状态下与所述待测物接触。

第二方面，本发明提供的电子设备，包括所述连接器件。

本发明提供的一种连接器件，包括：固定主体和测试探针；固定主体内设置有多个容置通道，测试探针插设于容置通道；固定主体配置为能够屏蔽各测试探针之间的干扰信号。通过在固定主体上开设能够容纳测试探针的容置通道，每个容置通道均设置有测试探针，且固定主体能够屏蔽各个测试探针之间的信号干扰，保证信号质量，缓解了现有技术中存在的连接器件信号隔离度差，信号容易相互干扰，影响最终测试结果精确性的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的连接器件带有转接板的整体结构剖视图；

图2为本发明实施例提供的连接器件带有转接板的整体结构示意图；

图3为本发明实施例提供的连接器件带有转接线的整体结构剖视图；

图4为本发明实施例提供的连接器件带有转接线的整体结构示意图；

图5为本发明实施例提供的连接器件第一视角下的结构示意图。

图标：100-固定主体；110-贯穿孔；120-第一台阶结构；200-测试探针；210-第二缺口结构；300-隔离构件；310-第二台阶结构；410-转接板；420-转接线；500-待测物。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面结合附图，对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

如图1-4所示，本实施例提供的连接器件，包括：固定主体100和测试探针200；固定主体100内设置有多个容置通道，测试探针200插设于容置通道；固定主体100配置为能够屏蔽各测试探针200之间的干扰信号。

具体的，每个容置通道中均设置有一个测试探针200，容置通道和测试探针200的数量一一对应设置，每个容置通道内的测试探针200被固定主体100包裹，固定主体100选用能够屏蔽信号的材料，以使固定主体100能够屏蔽各个测试探针200之间的干扰信号，提高测试探针200的测试信号质量，降低测试误差。

在上述实施例的基础上，如图5所示，其中，第一视角为正视于贯穿孔110孔壁视角，在第一视角下，可选的实施方式中，本实施例提供的连接器件中的固定主体100设置有多个贯穿孔110；贯穿孔110内形成容置通道，任意相邻的两个贯穿孔110之间由金属材料隔离。

关于上述的“任意相邻的两个贯穿孔110之间由金属材料隔离”不限于将固定主体100的整体设置为金属材料，也可部分为金属材料，部分金属材料设置在任意相邻的两个测试探针200之间。

例如：围绕贯穿孔110的环形区域由金属材料制成，可以为金属圆管，进一步地说明，各个金属圆管插入到多个贯穿孔110内，将各个测试探针200包裹在内，使各个测试探针200被金属圆管隔离。

又例如，围绕贯穿孔110的矩形区域由金属材料制成，可以设置为方钢管，插入到贯穿孔110内，能够屏蔽各个测试探针200之间的干扰信号即可。

为了方便表述，以下将任意相邻的两个贯穿孔110之间由金属材料隔离的区域简称为隔离区。

还需要说明的是，由于隔离区由金属材料制成，测试探针200同样由金属材料制成，金属材料和金属材料直接接触会导致短路问题的发生。为了避免短路问题的发生，在可选的实施方式中，连接器件还包括隔离构件300；隔离构件300设置于容置通道内，且套设于测试探针200外，隔离构件300配置为能够隔离测试探针200与固定主体100之间的电性接触。

在可选的实施方式中，隔离构件300由塑料材质制成。

隔离构件300套设在测试探针200，使隔离构件300夹设在固定主体100和测试探针200之间，更为具体地，隔离构件300具体设置为塑料圆管，其贴合在金属圆管的管壁内，隔离构件300也可设置为塑料方管，塑料方管贴合在方钢管的内壁，将测试探针200与金属材料的隔离区隔离即可。

为了实现隔离构件300的限位，在可选的实施方式中，本实施例提供的连接器件中的以连接器件的用于接触待测物500的一端为第一端；贯穿孔110的靠近第一端的内壁设置有第一台阶结构120；隔离构件300靠近第一端的设置有与第一台阶结构120相配合的第一缺口结构。

具体的，第一台阶结构120具体为在贯穿孔110的孔壁方向设置凸台，隔离构件300伸入到贯穿孔110内，隔离构件300具体分为直径不同的大小套管，在大套管与小套管之间的连接处形成第一缺口结构，大套筒的底面与凸台的顶面抵接，进而将隔离构件300搭接在第一台阶结构120上，避免隔离构件300从贯穿孔110中穿出，将隔离构件300限制在贯穿孔110内。

为了实现测试探针200和隔离构件300的限位，在可选的实施方式中，隔离构件300的靠近第一端的端部设置有第二台阶结构310；测试探针200的靠近第一端的端部设置有第二缺口结构210；测试探针200的第二缺口结构210搭接于隔离构件300的第二台阶结构310。

具体的，第二台阶结构为在隔离构件300的内壁上设置凸台，第二缺口结构210搭接在凸台的顶面上，避免测试探针200从隔离构件300中掉出，使测试探针200能够固定在隔离构件300内，保证测试过程的顺利进行。

需要注意的是，测试探针200具体包括相互连接的第一探针和第二探针，第二探针的直径大于第一探针的直径，在第二探针与第一探针的连接处形成第二缺口结构210，第二探针搭接在第二台阶结构310上，第一探针设置在第二探针靠近待测物500的一侧，在第二探针内设置弹簧，弹簧与第一探针连接，当待测物500与第一探针接触时，第一探针缩入到第二探针中，弹簧处于压缩状态，当待测物500未与第一探针接触时，弹簧处于伸长状态，使第一探针伸出。

另外，测试探针200、隔离构件300与固定主体100之间可设置为同轴线结构，该结构中测试探针200和隔离构件300的端部均可穿出贯穿孔110，在测试过程中，待测物500与测试探针200接触，测试探针200与隔离构件300缩入到贯穿孔110内。

在上述实施例的基础上，在可选的实施方式中，本实施例提供的连接器件中以连接器件背离待测物500的一端为第二端；连接器件的第二端连接有转接构件，各个测试探针200均与转接构件连接。

具体的，固定主体100远离待测物500的一端设置有转接构件，各个测试探针200均与转接构件电连接，各个测试探针200测试信号通过转接构件传输至外部处理设备中，外部处理设备对测试信号进行处理，读取测试数据并显示，以便相关工作人员知晓待测物500的相关数据。

在可选的实施方式中，转接构件设置为转接板410；转接板410上设置有多个信号馈入结构，多个测试探针200与多个信号馈入结构一一对应连接。

具体的，转接板410能够紧贴在固定主体100上，与固定主体100成为一体，转接板410具体可设置为pcb电路板和连接线，测试探针200上的测试信号通过pcb电路板上的信号馈入结构传输，将多个测试信号收集，pcb电路板通过连接线与外部处理设备连接，将测试信号传递到外部处理设备中，以供外部处理设备处理并显示测试信号。

在可选的实施方式中，转接构件包括多个转接线420；多个转接线420与多个测试探针200一一对应连接。

具体的，转接线420与测试探针200远离待测物500的一端连接，每个测试探针200对应设置一个转接线420，转接线420远离测试探针200的一端与外部处理设备电连接，测试探针200中的测试信号通过转接线420传递到外部处理设备中，转接线420的设置能够直接将测试探针200上的测试信号传递到外部处理设备中，代替转接板410的使用，减少连接器件的整体占用空间。

本实施例的可选方案中，较为优选地，固定主体100的第一端设置有用于容纳待测物500的容置槽，测试探针200相对应的端部在待测物500装配于容置槽的状态下与待测物500接触。

具体的，固定主体100靠近待测物500的一端开设容置槽，待测物500能够放置于容置槽内，便于固定主体100内的测试探针200与待测物500接触，同时能够减少测试探针200伸出固定主体100的长度，保证在测试时，测试探针200完全置于固定主体100内，屏蔽各个测试探针200之间的干扰信号，保证测试质量，提高数据的准确性。

在未测试时，测试探针200的端部从贯穿孔110内穿出伸入到容置槽中，当将待测物500安装到容置槽中时，待测物500与位于容置槽内的测试探针200接触，待测物500逐渐伸入到容置槽的过程中，待测物500对测试探针200产生力，测试探针200逐渐缩入到贯穿孔110内，待测物500完全伸入到容置槽中时，测试探针200完全置于贯穿孔110内，开始测试。

本实施例提供的电子设备，包括所述连接器件。

由于本实施例提供的电子设备的技术效果与上述的连接器件的技术效果相同，此处不再赘述。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。