一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法与流程

[0001]
本发明属于光学测量相关技术领域，更具体地，涉及一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法。


背景技术：

[0002]
光学三维测量方法，例如结构光和相位偏折术，在现代制造业中扮演者越来越重要的角色。其中，相移技术是连接被测物体和传感器的桥梁。相位恢复的精度直接决定光学测量方法的测量精度。一般来说影响相位恢复精度的因素主要有三个方面：1，获取相移条纹图像的质量；2，相移步数；3，亮度调制度参数。其中，随着相移步数的增大，所需要投射相移图像的数量也越多，测量速度则随之降低。亮度调制度参数一般与系统参数配置和被测物体的表面反射率相关。因此提高低质量条纹图像恢复的相位精度已成为光学三维测量方法的关键技术。
[0003]
影响条纹图像质量的因素主要有三个方面：1，图像噪声；2，光源非线性；3，被测物体表面反射率。图像噪声一般通过滤波方法来滤除，例如通过高斯滤波，中值滤波，小波变换滤波，savitzky-golay滤波等方法。光源非线性参数一般通过标定光源gamma值来对条纹图像非线性误差进行校正。表面反射率变化较大的物体的三维测量一般是通过高动态范围技术和偏振成像技术来解决的。
[0004]
但是，影响条纹图像质量的因素是综合性的，不是孤立存在的，也就是说影响条纹图像质量的三个因素会同时存在。因此，针对反射率变化较大的物体的条纹图像进行滤波时，会受到表面反射率的影响而导致失真。并且高动态范围成像技术的一个显著缺陷是投射图片数量较大，因而导致测量速度降低。


技术实现要素：

[0005]
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法，其中该方法将相位投影到图像亮度空间，以得到均匀反射率下的条纹图像，且保留了高斯噪声的性质，因此针对该条纹图像进行迭代滤波将消除物体表面反射率和光源非线性亮度的影响，从而实现低质量条纹图像的高精度相位恢复。
[0006]
为实现上述目的，本发明提出了一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法，该方法包括如下步骤：
[0007]
s1设定光源的参数值，然后通过该参数值生成需要投射的相移条纹图像并由该光源进行投射；
[0008]
s2对步骤s1中投射的相移条纹图像进行拍摄获得原始拍摄图像，然后对该原始拍摄图像进行解码，以此获得初始相位φ
c
；
[0009]
s3将步骤s2获得的初始相位φ
c
投影到图像亮度空间，根据其获得当前迭代周期的相位投影条纹图像其中i为迭代周期；
[0010]
s4对步骤s3获得的当前迭代周期的相位投影条纹图像进行高斯滤波，得到
当前迭代周期的滤波投影条纹图像并根据其获得当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)；
[0011]
s5判断所述当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)与上一迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i-1)是否小于或等于预设阈值，若是，则将当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)输出；若否，则转入步骤s6；
[0012]
s6将当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)代入步骤s3中，将其投影到图像亮度空间获得下一迭代周期的相位投影条纹图像并重复步骤s3～s5以进行迭代，直至误差小于或等于预设阈值，以此对低质量条纹图像的相位进行迭代校正。
[0013]
作为进一步优选地，步骤s1中，光源的参数值包括相移步数、平均亮度和幅值。
[0014]
作为进一步优选地，步骤s1中，利用下式生成需要透射的相移条纹图像i
n
，
[0015][0016]
式中，a(x,y)为平均亮度，b(x,y)为幅值，n为相移步数,φ为原始相位。
[0017]
作为进一步优选地，步骤s2中，利用下式获得初始相位φ
c
，
[0018][0019]
作为进一步优选地，步骤s3中，利用下式获得当前迭代周期的相位投影条纹图像
[0020][0021]
式中，
f
φ
c
(0)＝φ
c
。
[0022]
作为进一步优选地，步骤s4中，利用下式获得当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)，
[0023][0024]
作为进一步优选地，步骤s5中，预设阈值为0.001～0.05。
[0025]
总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，主要具备以下的技术优点：
[0026]
1.本发明提供了一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法，该方法将相位投影到图像亮度空间，以得到均匀反射率下的条纹图像，且抑制了高斯噪声的影响，因此针对该条纹图像进行迭代滤波将消除物体表面反射率和光源非线性亮度的影响，从而实现低质量条纹图像的高精度相位恢复，能够有效提高光学三维测量技术的测量精度，极大的改善了反射率较低或反射率较高物体的三维测量效果；并且于传统方法相比无需额外投射条纹图像即可高精度恢复相位信息，有效提高测量速度同时能够兼顾影响条纹图像质量的三个
因素，即图像噪声、光源非线性和被测物体表面反射率；
[0027]
2.同时，本发明通过对迭代相位校正过程中的具体过程进行优化，能够进一步提高三维重建精度；
[0028]
3.此外，本发明通过对预设阈值进行限定，能够在保证计算精度的同时有效提高计算速度。
附图说明
[0029]
图1是按照本发明优选实施例构建的针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法的流程示意图。
具体实施方式
[0030]
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0031]
如图1所示，本发明实施例提供了一种针对低质量条纹图像的迭代相位校正方法，该方法包括如下步骤：
[0032]
s1设定光源的参数值，以此对光源成像像素坐标下的每个点进行编码，具体为：设定相移为相移步数为n、平均亮度a(x,y)和幅值b(x,y)，然后通过该参数值，并根据原始相位φ利用下式生成需要透射的相移条纹图像i
n
，然后由该光源进行投射，
[0033][0034]
s2利用相机拍摄光源投射在物体表面的图像，以此获得原始拍摄图像然后对该原始拍摄图像进行解码，利用下式获得初始相位φ
c
，
[0035][0036]
s3将步骤s2获得的初始相位φ
c
投影到图像亮度空间，根据下式获得当前迭代周期的相位投影条纹图像其中i为迭代周期，
[0037][0038]
式中，
f
φ
c
(0)＝φ
c
；
[0039]
s4对步骤s3获得的当前迭代周期的相位投影条纹图像进行高斯滤波，得到当前迭代周期的滤波投影条纹图像并下式获得当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)，
[0040][0041]
s5判断当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)与上一迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i-1)的误差是否小于或等于预设阈值，若是，则将当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)输出；若否，则转入步骤s6；
[0042]
s6将当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)代入步骤s3中，将其投影到图像亮度空间获得下一迭代周期的相位投影条纹图像并重复步骤s3～s5以进行迭代，直至误差小于或等于预设阈值，以此对低质量条纹图像的相位进行迭代校正；
[0043]
具体迭代过程为：将当前迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i)代入步骤s3中，将其投影到图像亮度空间获得下一迭代周期的相位投影条纹图像对下一迭代周期的相位投影条纹图像进行高斯滤波，得到下一迭代周期的滤波投影条纹图像以此获得下一迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i+1)；判断下一迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i+1)与初始相位φ
c
的误差是否小于预设阈值t，即判断|
f
φ
c
(i+1)-f
φ
c
(i)|≤t是否成立，若是，则将下一迭代周期的高斯滤波相位
f
φ
c
(i+1)输出；若否，则继续进行迭代，直至误差小于预设阈值，以此对低质量条纹图像的相位进行迭代校正。
[0044]
进一步，预设阈值的选取范围为0.001～0.05，可根据精度要求及计算速度要求设定阈值，阈值设定越低则精度越高但计算速度越慢，而预设设定越高则精度越低但计算速度越快，因此该范围可以在保证计算精度的时候提高计算速度。
[0045]
本发明将相位投影到图像亮度空间，将得到均匀反射率下的条纹图像，且抑制了高斯噪声的影响，通过进行迭代滤波，能够实现低质量条纹图像的高精度相位恢复，能够消除物体表面反射率和光源非线性亮度的影响。当条纹图像的最大亮度为255，所拍摄的条纹图像的波峰和波谷亮度差为6时，所提出的迭代相位校正方法仍然能够恢复精确相位信息。相比于传统方法，所提出的方法无需额外投射条纹图像即可高精度恢复相位信息，不需要通过高动态范围成像技术来获取不同曝光时间下的相移条纹图像，因而不会增加投射的图片数量，从而有效提高测量速度。
[0046]
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。