一种防止芯片误入测试模式的方法及系统与流程

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种防止芯片误入测试模式的方法及系统。

背景技术：

ic(integratedcircuit，芯片)，又称集成电路，是一种微型电子器件或部件，通过一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。芯片的运行模式通常可分为工作模式和测试模式，其中，工作模式是芯片的正常运行模式，对于一般的用户来说，通常是在工作模式中进行工作；测试模式是芯片供应商在生产芯片后，在ate(automatictestequipment，自动测试设备)机台上进行测试的模式，在该模式下，可以对芯片的各个管脚施加不同的激励，来测试芯片生产或封装环节是否出现问题，以实现芯片内部电路的运行测试。

这两种模式是互斥的，芯片处于测试模式时，无法执行工作模式中预定的功能，由此，使用者通常不希望芯片误入测试模式。然而现有技术中，由于芯片的模式设置接口复杂，往往会由于用户的误操作或者故意的因素，而导致芯片进入测试模式，使得芯片无法正常工作，甚至出现安全问题。

技术实现要素：

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种防止芯片误入测试模式的方法及系统。

其中，一种防止芯片误入测试模式的方法，所述芯片包括一用于接收第一信号的第一引脚；

所述方法包括：

步骤s1，预置对应于所述测试模式的导入码型；

步骤s2，获取所述第一引脚接收到的第一信号；

步骤s3，对所述第一信号进行处理，并判断处理后的所述第一信号是否属于所述导入码型，根据判断结果控制所述芯片进入测试模式。

优选的，所述第一引脚为复位引脚，所述复位引脚用于接收一第一信号；

所述步骤s3，包括：

步骤s31，对所述第一信号进行消抖处理生成对应的第二信号，并根据所述第一信号和所述第二信号生成第三信号；

步骤s32，根据所述第二信号和所述第三信号，判断对应的所述第一信号是否属于所述导入码型，并根据判断结果控制所述芯片进入测试模式。

优选的，所述芯片还包括一时钟引脚，所述时钟引脚用于接收一时钟信号；

所述步骤s31，包括：

步骤s311，获取所述时钟信号，并根据所述时钟信号对第一信号进行采样处理；

步骤s312，根据采样处理后的所述第一信号和所述第二信号生成所述第三信号。

优选的，所述第一信号包括对应于所述导入码型的导入部分和对应于功能配置的配置部分；所述方法还包括：

所述芯片于所述测试模式中，根据所述配置部分对所述芯片进行配置。

一种防止芯片误入测试模式的系统，所述芯片包括一用于接收第一信号的第一引脚；

所述系统包括：

预置模块，用于预置对应于所述测试模式的导入码型；

控制模块，连接所述预置模块，用于获取所述第一引脚接收到的第一信号并进行处理，判断处理后的所述第一信号是否属于所述导入码型，根据判断结果控制所述芯片进入测试模式。

优选的，所述第一引脚为复位引脚，所述复位引脚用于接收一第一信号；

所述控制模块还包括：

一消抖单元，用于对所述第一信号进行消抖处理生成对应的第二信号；

一处理单元，连接所述消抖单元，用于获取所述第一信号和所述第二信号并生成对应的第三信号；

一控制单元，连接所述处理单元，用于根据所述第二信号和所述第三信号，判断对应的所述第一信号是否属于所述导入码型，并根据判断结果控制所述芯片进入测试模式。

优选的，所述芯片还包括一时钟引脚，所述时钟引脚用于接收一时钟信号；

所述处理单元包括：

第一处理部件，用于获取所述时钟信号，并根据所述时钟信号对第一信号进行采样处理；

第二处理部件，连接所述第一处理部件，用于根据采样处理后的所述第一信号和所述第二信号生成所述第三信号。

优选的，所述第一信号包括对应于所述导入码型的导入部分和对应于功能配置的配置部分；

所述配置模块包括：

一配置单元，所述芯片于所述测试模式下，根据所述配置部分对所述芯片进行配置。

本发明的技术方案有益效果在于：提供一种防止芯片误入测试模式的方法及系统，能够准确且快速地控制芯片进入测试模式，避免因使用者误操作而导致芯片进行测试模式，进而影响到芯片的正常工作。

附图说明

图1(a)为现有技术中，上拉到dvdd，控制芯片进入工作模式的示意图；

图1(b)为现有技术中，下拉到地，控制芯片进入测试模式的示意图；

图2为本申请的较佳的实施方式中，一种防止芯片误入测试模式的方法的流程示意图；

图3为本申请的较佳的实施方式中，步骤s3的流程示意图；

图4为本申请的较佳的实施方式中，步骤s31的流程示意图；

图5为本申请的较佳的实施方式中，一种防止芯片误入测试模式的系统的结构示意图；

图6为本申请的较佳的实施方式中，控制模块的结构示意图；

图7为本申请的较佳的实施方式中，处理单元的结构示意图；

图8为本申请的较佳的实施方式中，第一信号、第二信号、第三信号的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。

现有技术中，常通过上电的方式控制芯片的运行模式为正常工作模式，或是测试模式，如图1(a)-(b)所示，对于管脚pin_led，采用不同的上下拉，控制芯片的运行模式，具体可如图1(a)所示，当上拉到dvdd时，控制芯片进入工作模式，而如图1(b)所示，当下拉到地时，控制芯片进入测试模式。然而，无论是控制芯片进入工作模式，还是控制芯片进入测试模式，都要求使用者对某些管脚进行固定的上下拉，若客户不小心做错板级电路，将会误入测试模式，将导致此时的芯片不能工作。

考虑到实际运用中，只有在ate机台上才需要进入测试模式，而在ate机台上，机台可以对芯片的管脚输入激励。由此，本发明提供一种防止芯片误入测试模式的方法及系统。

其中，一种防止芯片误入测试模式的方法，芯片包括一用于接收信号的第一引脚；

如图2所示，方法包括：

步骤s1，预置对应于测试模式的导入码型；

步骤s2，获取第一引脚接收到的第一信号；

步骤s3，对第一信号进行处理，并判断处理后的第一信号是否属于导入码型，根据判断结果控制芯片进入测试模式。

具体地，本发明可以预设用于控制芯片进入测试模式的导入码型，在芯片的第一引脚接收的信号经处理后，属于预设的导入码型时，可控制芯片进入测试模式。

本发明优选的实施方式中，第一引脚为复位引脚，复位引脚用于接收一第一信号；

如图3所示，步骤s3，包括：

步骤s31，对第一信号进行消抖处理生成对应的第二信号，并根据第一信号和第二信号生成第三信号；

步骤s32，根据第二信号和第三信号，判断对应的第一信号是否属于导入码型，并根据判断结果控制芯片进入测试模式。

具体地，考虑到芯片上的管脚有限，而测试模式又需要尽可能多的管脚来增加扫描链，减少测试时间和成本，同时该管脚在工作模式中又不能出现导入波形，此处可将复位引脚作为第一引脚，相应地，为实现复位引脚的功能复用，即实现复位功能的同时，还可以控制芯片进入测试模式，将根据复位引脚接收到的第一信号，以及消抖处理后的第二信号生成第三信号，以判断芯片此时接收到的第一信号是否对应地属于导入码型，控制芯片进行测试模式。

本发明优选的实施方式中，芯片还包括一时钟引脚，时钟引脚用于接收一时钟信号；

如图4所示，步骤s31，包括：

步骤s311，获取时钟信号，并根据时钟信号对第一信号进行采样处理；

步骤s312，根据采样处理后的第一信号和第二信号生成第三信号。

具体地，时钟信号可对复位引脚接收到的信号进行采样。

本发明优选的实施方式中，第一信号包括对应于导入码型的导入部分和对应于功能配置的配置部分；方法还包括：

芯片于测试模式中，根据配置部分对芯片进行配置。

具体地，第一信号还包括对应于功能配置的配置部分，复位引脚接收到第一信号后，还可根据配置部分对芯片进行配置，也就是说，在该测试模式导入码型后，可以定义更多的数据位来表示测试模式下的不同配置，比如是否压缩testpattern(测试模式)，是否使能内部pll等等。这样可以节省更多管脚，从而可以增加更多扫描链。

其中，一种防止芯片误入测试模式的系统，芯片包括一用于接收第一信号的第一引脚；

如图5所示，系统包括：

预置模块1，用于预置对应于测试模式的导入码型；

控制模块2，连接预置单元1，用于获取第一引脚接收到的第一信号并进行处理，判断处理后的第一信号是否属于导入码型，根据判断结果控制芯片进入测试模式。

本发明优选的实施方式中，第一引脚为复位引脚，复位引脚用于接收一第一信号；

如图6所示，控制模块2还包括：

一消抖单元21，用于对第一信号进行消抖处理生成对应的第二信号；

一处理单元22，连接消抖单元21，用于获取第一信号和第二信号并生成对应的第三信号；

一控制单元23，连接处理单元22，用于根据第二信号和第三信号，判断对应的第一信号是否属于导入码型，并根据判断结果控制芯片进入测试模式。

本发明优选的实施方式中，芯片还包括一时钟引脚，时钟引脚用于接收一时钟信号；

如图7所示，处理单元22包括：

第一处理部件221，用于获取时钟信号，并根据时钟信号对第一信号进行采样处理；

第二处理部件222，连接第一处理部件221，用于根据采样处理后的第一信号和第二信号生成第三信号。

本发明优选的实施方式中，第一信号包括对应于导入码型的导入部分和对应于功能配置的配置部分；

配置模块包括：

一配置单元，芯片于测试模式中，根据配置部分对芯片进行配置。

实施例：

本实施例为防止芯片误入测试模式的系统的一个具体应用的实施例，其中的有效电平是0电平。

预置模块预置对应于测试模式的导入码型，导入码型的数据结构可以包括18个字节的数据，其中，第0至第15的字节可对应导入部分，可以为“01011001_01010100”，第16至17的字节可对应信号中的配置部分，如下表1所示：

表1

芯片的复位管脚接收第一信号reset_n，时钟管脚接收时钟信号test_clock，控制模块中的消抖单元对第一信号reset_n进行消抖处理，生成第二信号internal_reset_n，控制单元根据第一信号reset_n、时钟信号test_clock和第二信号internal_reset_n生成第三信号en_test_mode、compress_en和bypass_pll；

如图8所示，判断复位管脚接收到的第一信号属于预设的导入码型，第三信号中的导入部分en_test_mode由“0”变成“1”，此时的芯片进入测试模式，再根据接收到的第三信号中的配置部分compress_en和bypass_pll，进行对应的功能配置和测试。

而当复位管脚的第一信号reset_n长时间为“0”时，则控制芯片退出测试模式后，进入工作模式。

本发明的技术方案有益效果在于：提供一种防止芯片误入测试模式的方法及系统，对芯片接收到的信号进行处理，并判断处理后的信号是否属于预设的导入码型，控制芯片进入测试模式，能够准确且快速地控制芯片进入测试模式，避免因使用者误操作而导致芯片进行测试模式，进而影响到芯片的正常工作。

以上仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。