电路板测试装置及测试设备的制作方法

本实用新型涉及自动化测试技术领域，特别涉及一种电路板测试装置及设备。

背景技术：

电路板广泛应用于电子产品生产中，电路板生产过程中，需要对电路板进行检测，检测其电流、电压、线路开短路或通信性能等参数。

目前采用人工检测的方式对电路板进行测试，人工检测的方式，需要工人手持探针，同时连通电路板上的测试点逐一进行检测，这样的检测方式，劳动强度大，浪费人力，且检测效率低。

技术实现要素：

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种电路板测试装置，能够实现电路板自动测试，提高测试效率。

本实用新型还提出一种具有上述电路板测试装置的测试设备。

根据本实用新型的电路板测试装置，包括：

测试架，所述测试架包括第一支撑板和与所述第一支撑板通过气缸连接的第二支撑板，所述气缸可带动所述第二支撑板向所述第一支撑板方向移动，所述气缸可带动所述第二支撑板向所述第一支撑板方向移动；

多个上探针模组，安装在所述第二支撑板上，所述上探针模组包括扫码枪和上探针，分别对应设置在所述第二支撑板的上表面和下表面，所述第二支撑板上设置有通孔，所述扫码枪可穿过所述通孔至所述第二支撑板下方；

多个下探针模组，安装在所述第一支撑板上，所述下探针模组包括下探针；

载板，设置在所述第一支撑板和所述第二支撑板之间，用于装设待测电路板；

控制箱，设置在所述测试架底部，与所述上探针模组和所述气缸电连接。

根据本实用新型实施例的电路板测试装置，至少具有如下有益效果：电路板测试装置包括测试架、多个上探针模组、多个下探针模组、载板和控制箱，其中测试架包括第一支撑板和第二支撑板，在第一支撑板和第二支撑板之间设置有气缸，气缸可以带动第二支撑板向第一支撑板方向移动，在第一支撑板和第二支撑板上分别安装有多个下探针模组和多个上探针模组，上探针模组和下探针模组分别对应设置有上探针和下探针，载板设置在第一支撑板和第二支撑板之间，用于装设待测电路板，当测试电路板时，将载板从测试架拉出，进行电路板安装后将载板推回至第一支撑板和第二支撑板之间，使被测电路板的下表面与第一支撑板上的下探针模组中的下探针接触，启动控制箱控制气缸运动，带动第二支撑板向下移动，从而带动上探针模组中的上探针和扫码枪同时向下移动，与电路板的上表面相接触，扫码枪用于对被测电路板进行扫码，获取编号方便数据追踪记录，上探针、被测电路板和下探针相互接触连接生成测试数据，测试数据经上探针模组反馈至控制箱，再通过控制箱下载测试数据，从而完成对电路板功能的检测。本申请中，同时设置有多个上探针模组和多个下探针模组可以同时对多个待测电路板进行测试，提高测试效率，另外，也可以根据测试需求，对单独的一块或者多块电路板就行选择性测试，进行多样化测试。

根据本实用新型的一些实施例，多个所述上探针模组、上探针模组呈阵列设置。

根据本实用新型的一些实施例，还包括外壳，所述外壳设置在所述测试架外表面，在所述外壳的正面设置有测试按钮，所述测试按钮与所述控制箱电连接，所述外壳的侧面设置有散热孔。

根据本实用新型第二方面实施例的电路板测试设备，包括：

机架；

测试装置，安装在所述机架上，所述测试装置包括多个上探针模组、多个下探针模组、载板和控制箱，所述载板设置在所述上探针模组和所述下探针模组之间，用于安装被测电路板，所述控制箱设置在所述下探针模组底部。控制所述上探针模组向下探针模组方向移动，使上探针模组和下探针模组分别连接被测电路板的上下表面，对电路板进行测试。

根据本实用新型实施例的电路板测试设备，至少具有如下有益效果：电路板测试设备包括机架和测试装置，其中测试装置包括多个上探针模组、多个下探针模组、载板和控制箱，载板设置在上探针模组和下探针模组之间，当测试电路板时，将载板从测试架拉出，进行电路板安装后将载板推回至测试装置，使被测电路板的下表面与下探针模组接触，此时控制箱控制上探针模组向下移动，与电路板的上表面相接触，上探针模组、被测电路板和下探针模组相互接触连接生成测试数据，测试数据经上探针模组反馈至控制箱，再通过控制箱下载测试数据，从而完成对电路板功能的检测，本申请中，同时设置有多个上探针模组和多个下探针模组可以同时对多个待测电路板进行测试，提高测试效率，另外，也可以根据测试需求，对单独的一块或者多块电路板就行选择性测试，进行多样化测试。

根据本实用新型的一些实施例，所述上探针模组和与所述下探针模组之间通过气缸连接，所述气缸可带动所述上探针模组向下移动，在所述上探针模组和所述下探针模组之间设置有限位柱。

根据本实用新型的一些实施例，多个所述上探针模组和多个所述下探针模组分别包括呈阵列分布，所述上探针模组包括扫码枪和上探针，所述下探针模组包括下探针，所述上探针和所述下探针上下相对设置。

根据本实用新型的一些实施例，所述控制箱设置有控制按钮，与所述气缸电连接。

根据本实用新型的一些实施例，所述测试装置还包括外壳，所述外壳设置在所述测试架外表面，在所述外壳的表面设置有测试按钮和散热孔，所述测试按钮与所述控制箱电连接。

根据本实用新型的一些实施例，还包括显示屏，设置在所述机架上，与所述测试装置电连接，用于显示电路板测试结果。

根据本实用新型的一些实施例，所述机架底部安装有可活动的轮子，方便移动。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本实用新型实施例的电路板测试装置的结构图；

图2为本实用新型实施例的电路板测试装置关于上探针模组和下探针模组的结构图；

图3为本实用新型实施例的电路板测试装置关于载板的结构图；

图4为本实用新型实施例的电路板测设备的结构图。

测试装置100、测试架110、第一支撑板111、气缸112、第二支撑板113、通孔113a、限位柱114、上探针模组120、扫码枪121、上探针122、下探针模组130、定位柱131、下探针132、载板140、导轨141、支撑架142、控制箱150、控制按钮151、外壳160、测试按钮161、散热孔162、机架200、轮子210、显示屏300。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个及两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本实用新型的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。

参照图1至图3，在本申请的一些实施例中，电路板测试装置包括测试架110，测试架110包括第一支撑板111和与第一支撑板111通过气缸112连接的第二支撑板113，气缸112可带动第二支撑板113向第一支撑板111方向移动，在第二支撑板113和第一支撑板111之间设置有限位柱114；多个上探针模组120，安装在第二支撑板113上，上探针模组120包括扫码枪121和上探针122，分别对应设置在第二支撑板113的上表面和下表面，第二支撑板113上设置有通孔113a，扫码枪121可穿过通孔113a至第二支撑板113下方；多个下探针模组130，安装在第一支撑板111上，下探针模组130包括定位柱131和下探针132，设置在第一支撑板111的上方；载板140，设置在第一支撑板111和第二支撑板113之间，载板140包括导轨141和支撑架142，导轨141固定在测试架110上，支撑架142可沿着导轨141进行抽取移动；控制箱150，设置在测试架110底部，与与上探针模组120电连接，控制箱150设置有控制按钮151，与气缸112电连接。

在一实施例中，电路板测试装置包括测试架110、多个上探针模组120、多个下探针模组130、载板140和控制箱150，其中测试架110包括第一支撑板111和第二支撑板113，在第一支撑板111和第二支撑板113之间设置有气缸112和限位柱114，气缸112可以带动第二支撑板113向第一支撑板111方向移动，限位柱114用于限制第二支撑板113的移动距离，在第一支撑板111和第二支撑板113上分别安装有下探针模组130和上探针模组120，上探针模组120和下探针模组130分别对应设置有上探针122和下探针132，载板140设置在第一支撑板111和第二支撑板113之间，包括导轨141和用于装载被测电路板的支撑架142，载板140可沿着导轨141方向相对测试架110进行抽取移动，当测试电路板时，将载板140从测试架110拉出，进行电路板安装后将载板140推回至第一支撑板111和第二支撑板113之间，使被测电路板的下表面与第一支撑板111上的下探针模组130中的下探针132接触，此时启动控制按钮151，使控制箱150控制气缸112运动，带动第二支撑板113向下移动，从而带动上探针模组120中的上探针122和扫码枪121同时向下移动，与电路板的上表面相接触，扫码枪121用于对被测电路板进行扫码，获取编号方便数据追踪记录，上探针122、被测电路板和下探针132相互接触连接生成测试数据，测试数据经上探针模组120反馈至控制箱150，再通过控制箱150下载测试数据，从而完成对电路板功能的检测，通过设置有多个上探针模组120和多个下探针模组130可以同时对多个待测电路板进行测试，提高测试效率，另外，也可以根据测试需求，对单独的一块或者多块电路板就行选择性测试，进行多样化测试。

需要说明的是，上探针122安装在上探针模组120的下方，可以与被测电路板直接接触，而扫码枪121由于体积较大，需要安装在上探针模组120的上方，因此需要穿过第二支撑板113的通孔113a才可与被测电路板进行接触，第二支撑板113通孔113a位置和数量根据扫码枪121的数量和位置进行设置，另外在下探针模组130上还设置有定位柱131，定位柱131用于定位下探针132与被测电路板的位置，使下探针132与被测电路板的测试点精准连接。

参照图2，在本申请的一些实施例中，多个上探针模组120、下探针模组130呈阵列设置。

在一实施例中，测试状态时，扫码枪121用于对电路板的型号和编码等电路板信息进行扫码追踪记录，上探针122和下探针132同时与电路板两面的测试点连接进行测试，扫码枪121、上探针模组120和下探针模组130可呈周期性阵列分布，同时对多个电路板进行测试，提高测试效率，在本申请一个实施例中，阵列数量为四，可同时实现对四个电路板的测试。

参照图1，在本申请的一些实施例中，还包括外壳160，外壳160设置在测试架110外表面，在外壳160的正面设置有测试按钮161，测试按钮161与控制箱150电连接，外壳的侧面设置有散热孔162。

在一实施例中，在测试架110的外表面设置有外壳160，防止测试过程中的误触碰，另外在外壳160上设置有测试按钮161，测试按钮161与控制箱150电连接，测试按钮161根据上探针模组120和下探针模组130的数量可以设置为一个或多个，通过按压测试按钮161，对单个或多个电路板进行测试操作，另外，外壳160的侧面还设置有用于散热的散热孔162，散热孔162可以对工作状态下上探针模组120和下探针模组130进行散热，防止测试过程中产热较大影响测试效果。

参照图1至图4，在本申请的一些实施例中，还提供了一种电路板测试设备，该电路板测试设备包括机架200；测试装置100，安装在机架200上，测试装置100包括多个上探针模组120、多个下探针模组130、载板140和控制箱150，载板140设置在上探针模组120和下探针模组130之间，用于安装被测电路板，控制箱150设置在下探针模组130底部与上探针模组120电连接，控制上探针模组120向下探针模组130方向移动，使上探针模组120和下探针模组130分别接触被测电路板的上下表面，对电路板进行测试。

在一实施例中，电路板测试设备包括机架200和测试装置100，其中测试装置100包括多个上探针模组120、多个下探针模组130、载板140和控制箱150，载板140设置在上探针模组120和下探针模组130之间，当测试电路板时，将载板140从测试架110拉出，进行电路板安装后将载板140推回至测试装置100，使被测电路板的下表面与下探针模组130接触，此时控制箱150控制上探针模组120向下移动，与电路板的上表面相接触，上探针模组120、被测电路板和下探针模组130相互接触连接生成测试数据，测试数据经上探针模组120反馈至控制箱150，再通过控制箱150下载测试数据，从而完成对电路板功能的检测，通过设置有多个上探针模组120和多个下探针模组130可以同时对多个待测电路板进行测试，提高测试效率，另外，也可以根据测试需求，对单独的一块或者多块电路板就行选择性测试，进行多样化测试。

参照图2，在本申请的一些实施例中，上探针模组120和与下探针模组130之间通过气缸112连接，气缸112可带动上探针模组120向下移动，在上探针模组120和下探针模组130之间设置有限位柱114。

在一实施例中，在一实施例中，上探针模组120设置在下探针模组130上方，中间通过气缸112支撑连接，在进行电路板测试时，下探针模组130与电路板下表面的测试点接触，气缸112向下移动带动上探针模组120向下运动，与电路板上表面的测试点相接触，上探针模组120、被测电路板和下探针模组130相互接触连接从而生成测试数据，进行测试，为了避免上探针模组120下移距离过大或者不到位的情况发生，在上探针模组120和下探针模组130之间还设置有限位柱114，限位柱114设置在上探针模组120和下探针模组130的四个顶角处，未测试状态下，限位柱114可起到支撑作用，测试状态下，限位柱114上部分向下移动，使上探针模组120刚好接触到的电路板上表面的测试点，实现限位和保护作用。

参照图2，在本申请的一些实施例中，多个上探针模组120和多个下探针模组130呈阵列分布，上探针模组120包括扫码枪121和上探针122，下探针模组130包括下探针132。

在一实施例中，在一实施例中，上探针模组120和下探针模组130分别包括上探针122和下探针132，上探针122安装在上探针模组120下方，下探针132安装在下探针模组130上方，测试状态时，上探针122和下探针132同时与电路板两面的测试点连接进行测试，上探针模组120和下探针模组130可呈周期性阵列分布，同时对多个电路板进行测试，提高测试效率，在本申请一个实施例中，阵列数量为四，可同时实现对四个电路板的测试。

参照图1，在本申请的一些实施例中，控制箱150设置有控制按钮151，在一实施例中，控制箱150上设置有控制按钮151，控制按钮151用于对电路板测试设备整体进行控制，例如电源启动，设备急停等控制。

参照图1，在本申请的一些实施例中，测试装置100还包括外壳160，外壳160设置在测试架110外表面，在外壳160的正面设置有测试按钮161，测试按钮161与控制箱150电连接。

在一实施例中，在测试架110的外表面设置有外壳160，防止测试过程中的误触碰，另外在外壳160上设置有测试按钮161，测试按钮161与控制箱150电连接，测试按钮161根据上探针模组120和下探针模组130的数量可以设置为一个或多个，通过按压测试按钮161，对单个或多个电路板进行测试操作。

参照图4，在本申请的一些实施例中，还包括显示屏300，设置在机架200上，与测试装置100电连接，用于显示电路板测试结果。

在一实施例中，电路板测试设备还包括显示屏300，安装在机架200上端，显示屏300与测试装置100电连接，测试装置100测试到的电路板数据可通过显示屏300进行显示，方便测试者观察。

参照图4，在本申请的一些实施例中，机架200底部安装有可活动的轮子210，方便移动。在一实施例中，机架200底部设置有四个可活动的轮子210，通过设置轮子210可以对电路板测试设备进行移动，移动到不同的测试场地和环境进行测试，方便使用。

上面结合附图对本实施例作了详细说明，但是本不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本宗旨的前提下作出各种变化。