一种用于工业检测的金属探测器的制作方法

本实用新型涉及工业检测技术领域，尤其涉及一种用于工业检测的金属探测器。

背景技术：

金属探测器利用电磁感应的原理，利用有交流电通过的线圈，产生迅速变化的磁场。这个磁场能在金属物体内部能感生涡电流。涡电流又会产生磁场，倒过来影响原来的磁场，引发探测器发出鸣声，广泛用于安全检查、考古、探矿，寻找废旧金属，在工业加工时常需要对原料进行金属检测。

经检索，中国专利公开号为cn206209136u的专利，公开了一种金属检测机，包括机身、金属探测器、控制面板、检测控制装置、报警器、电动机、传送带、支架及转轴，所述报警器安装在机身顶部，所述金属探测器安装在机身底部，所述机身横跨在传送带上，所述传送带两端与转轴连接，且传送带绕转轴旋转运动。上述专利中的金属检测机存在以下不足：检测时不具备将混杂有金属杂质的原料清理出的功能。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于工业检测的金属探测器。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种用于工业检测的金属探测器，包括底座，所述底座两侧内壁通过轴承连接有两个输送辊筒，且两个输送辊筒的圆周处套接有同一个输送带，底座的一侧外壁设有输送电机，所述底座的顶部设有门型架，门型架的顶部内壁设有第一电动伸缩杆，且第一电动伸缩杆活塞杆的一端设有活动罩，所述门型架的顶部外壁设有输送泵，且输送泵进料口的一端设有吸料管，吸料管的另一端和活动罩连接，所述输送泵出料口的一端设有出料管，底座的一侧外壁设有收集槽，且出料管远离输送泵的一端延伸至收集槽的内部，所述底座两侧内壁的顶部设有同一个第一探测机构，且第一探测机构位于活动罩的一侧，门型架的内壁设有处理器。

作为本实用新型再进一步的方案：所述底座的一端外壁开设有下料口，且下料口的底部内壁设有下料板。

作为本实用新型再进一步的方案：所述收集槽的顶部开口为圆筒形结构。

作为本实用新型再进一步的方案：所述收集槽的底部内壁设有第二电动伸缩杆，且第二电动伸缩杆的顶部设有圆锥形结构的活动块，活动块圆周底部的外径大于收集槽顶部开口的内径。

作为本实用新型再进一步的方案：所述收集槽圆周内壁的顶部滑动连接有转动圈，且转动圈底部的一侧通过紧固螺栓依次连接有第二探测机构和抽料管。

作为本实用新型再进一步的方案：所述转动圈顶部的圆周处开设有均匀分布的齿槽，且收集槽一侧外壁设有驱动电机，驱动电机的输出轴设有驱动齿轮，驱动齿轮的圆周与齿槽啮合。

本实用新型的有益效果为：

1.通过设置第一探测机构、第一电动伸缩杆、活动罩和输送泵，将工业原料铺设在输送带上进行输送，第一探测机构检测原料中混杂金属杂质时，处理器控制第一电动伸缩杆推动活动罩向下移动，同时输送泵通过活动罩和吸料管、出料管将输送带上的原料输送至收集槽内，及时高效的检测并清理出掺杂有金属杂质的原料，高效准确；

2.通过设置活动块、第二电动伸缩杆、驱动电机、转动圈、第二探测机构和抽料管，出料管将混杂金属杂质的原料倒在活动块上，原料沿活动块的顶部滑落至收集槽开口的圆周内壁处，可通过驱动电机和驱动齿轮带动转动圈转动，此时第二探测机构对收集槽开口圆周内壁的原料进行检测，当检测出金属杂质的位置时，抽料管将该处的原料和金属杂质抽离，可更加精确的找出金属杂质，避免清除金属杂质时过多原料被一同清除。

附图说明

图1为实施例1提出的一种用于工业检测的金属探测器的结构示意图；

图2为实施例1提出的一种用于工业检测的金属探测器的底座和门型架结构剖视图；

图3为实施例1提出的一种用于工业检测的金属探测器的门型架结构示意图；

图4为实施例2提出的一种用于工业检测的金属探测器的转动圈和收集槽侧面结构剖视图；

图5为实施例2提出的一种用于工业检测的金属探测器的转动圈侧面结构剖视图。

图中：1底座、2输送电机、3输送带、4输送辊筒、5活动罩、6第一电动伸缩杆、7门型架、8吸料管、9输送泵、10出料管、11活动块、12第二电动伸缩杆、13收集槽、14第一探测机构、15转动圈、16齿槽、17抽料管、18第二探测机构、19驱动电机、20驱动齿轮。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。

下面详细描述本专利的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利，而不能理解为对本专利的限制。

在本专利的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利的限制。

在本专利的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定相连、设置，也可以是可拆卸连接、设置，或一体地连接、设置。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利中的具体含义。

实施例1

参照图1-3，一种用于工业检测的金属探测器，包括底座1，底座1两侧内壁通过轴承连接有两个输送辊筒4，且两个输送辊筒4的圆周处套接有同一个输送带3，底座1的一侧外壁通过紧固螺栓连接有输送电机2，底座1的顶部通过紧固螺栓连接有门型架7，门型架7的顶部内壁通过紧固螺栓连接有第一电动伸缩杆6，且第一电动伸缩杆6活塞杆的一端通过紧固螺栓连接有活动罩5，门型架7的顶部外壁通过紧固螺栓连接有输送泵9，且输送泵9进料口的一端通过紧固螺栓连接有吸料管8，吸料管8的另一端和活动罩5连接，输送泵9出料口的一端通过紧固螺栓连接有出料管10，底座1的一侧外壁通过紧固螺栓连接有收集槽13，且出料管10远离输送泵9的一端延伸至收集槽13的内部，底座1两侧内壁的顶部通过紧固螺栓连接有同一个第一探测机构14，且第一探测机构14位于活动罩5的一侧，门型架7的内壁通过紧固螺栓连接有处理器，将工业原料铺设在输送带3上进行输送，第一探测机构14检测原料中混杂金属杂质时，处理器控制第一电动伸缩杆6推动活动罩5向下移动，同时输送泵9通过活动罩5和吸料管8、出料管10将输送带3上的原料输送至收集槽13内，及时高效的检测并清理出掺杂有金属杂质的原料，高效准确。

其中，底座1的一端外壁开设有下料口，且下料口的底部内壁通过紧固螺栓连接有下料板。

其中，收集槽13的顶部开口为圆筒形结构。

工作原理：将工业原料铺设在输送带3上进行输送，第一探测机构14检测原料中混杂金属杂质时，处理器控制第一电动伸缩杆6推动活动罩5向下移动，同时输送泵9通过活动罩5和吸料管8、出料管10将输送带3上的原料输送至收集槽13内，及时高效的检测并清理出掺杂有金属杂质的原料，高效准确。

实施例2

参照图4-5，一种用于工业检测的金属探测器，本实施例相较于实施例1，收集槽13的底部内壁通过紧固螺栓连接有第二电动伸缩杆12，且第二电动伸缩杆12的顶部通过紧固螺栓连接有圆锥形结构的活动块11，活动块11圆周底部的外径大于收集槽13顶部开口的内径，收集槽13圆周内壁的顶部滑动连接有转动圈15，且转动圈15底部的一侧通过紧固螺栓依次连接有第二探测机构18和抽料管17，转动圈15顶部的圆周处开设有均匀分布的齿槽16，且收集槽13一侧外壁通过紧固螺栓连接有驱动电机19，驱动电机19的输出轴通过紧固螺栓连接有驱动齿轮20，驱动齿轮20的圆周与齿槽16啮合。

工作原理：出料管10将混杂金属杂质的原料倒在活动块11上，原料沿活动块11的顶部滑落至收集槽13开口的圆周内壁处，可通过驱动电机19和驱动齿轮20带动转动圈15转动，此时第二探测机构18对收集槽13开口圆周内壁的原料进行检测，当检测出金属杂质的位置时，抽料管17将该处的原料和金属杂质抽离，可更加精确的找出金属杂质，避免清除金属杂质时过多原料被一同清除。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。