一种快充测试器的制作方法

1.本实用新型属于快充测试技术领域，尤其涉及一种用于对快速充电器进行性能测试的快充测试器。


背景技术：

2.随着人们生活质量的不断提高，对手机等消费类产品的需求也不断增大，对应又快又安全的充电技术则成为人们所关注的热门课题。为了生产出更好更安全的快充移动电源等产品，亟待提出一种可测试该类产品性能是否符合快充标准的装置。具有被现在越来越多的电子设备支持的快充协议的快充测试器由此诞生。但由于目前市场上用于给便携式电子产品进行快速充电的快充充电器具有宽范围的输出电压(比如5v、9v、12v、15v、20v等)，以兼容不同的电子产品，从而提升快充充电器的通用性并减少充电器的型号及数量。现有的快充充电器(比如目前主流的qc协议与pd协议快充充电器)在出厂前，生产厂商都会对其进行功能、老化测试以检测其性能。因此，用于检测这些快充充电器的快充测试器，主要输出电压是5v、9v、12v、15v及20v，在生产及测试中，需要有跟所述快充测试器匹配的专门负载才能使其输出相应的电压。现有的方案一种是手动调节输出电压，比如拔码开关或者按键等，此种方式检测效率低，且不能进行自动化测试；另一种则是采用单片机编写相应的握手协议触发其输出响应的电压的电子负载，这种方法成本高，而且会导致没有快充协议的旧测试设备无法使用。


技术实现要素：

3.本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种能自动检测待测快充充电器负载的输出电压并相应自动切换成与所述待测负载相匹配的输出电压以实现自动测试，同时提升快充测试效率、降低测试成本、并可以利用现有测试设备测试电子负载的快充测试器。
4.本实用新型是这样实现的，一种快充测试器，所述快充测试器连接在快充充电器与电子负载之间，其包括壳体，usb
‑
a接口，第一type
‑
c接口，第二 type
‑
c接口及线缆；所述usb
‑
a接口、所述第一type
‑
c接口及所述第二 type
‑
c接口集成在所述壳体内，且所述usb
‑
a接口与所述第二type
‑
c接口相对设置，所述第一type
‑
c接口与所述usb
‑
a接口及所述第二type
‑
c接口分别相邻垂直设置，所述电子负载具有启动电压，所述快充测试器的输出为空载时或者小于一定负载时，所述快充测试器诱骗其输出电压自动循环变化；当所述快充充电器的输出大于等于一定负载时，所述快充测试器诱骗其输出电压为其当前电压保持不变。
5.进一步地，前述的所述线缆与所述第一type
‑
c接口相对设置且用于连接其他元件以与其他元件之间传输信号。
6.进一步地，前述的所述快充测试器包括芯片mcu及电阻rs，所述芯片 mcu与第一端口vo+，第二端口vo
‑
及第三端口vl+分别连接，所述电阻rs 连接在第一端口vo+与第三端口vl+之间；所述快充充电器的输出端与所述快充测试器之间通过连接线连接有第五端口
cc1、第六端口cc2、第七端口d+、第八端口d
‑
、第一端口vo+及第二端口vo
‑
；电子负载与所述快充测试器之间通过连接线连接有第三端口vl+及第四端口vl
‑
。
7.进一步地，前述的所述芯片mcu的内部设置有参考电压vref，其电压值一般为0.05v
‑
0.25v之间；当所述芯片mcu检测流过所述电阻rs上的电压为 vrs，当vrs≧vref时，所述测试器与快充充电器通信将输出电压固定在所述快充充电器的当前电压。
8.进一步地，前述的所述电阻rs的电阻值一般为0.01
‑
0.05欧姆；所述电阻 rs既可以放在第三端口vl+(输出正极)，也可以放在第三端口vl
‑
(输出负极)，还可以集成在所述芯片mcu内。
9.本实用新型与现有技术相比，有益效果在于：本实用新型实施例提供的快充测试器，其通过使快充充电器的输出为空载时或者小于一定负载时(比如 <0.5a)，本实用新型的快充测试器可以诱骗其输出电压自动循环变化；反之，当所述快充充电器的输出大于等于一定负载时(比如≧0.5a)，本实用新型的快充测试器诱骗其输出电压为其当前电压保持不变，从而实现自动切换其输出电压以实现自动测试，同时提升快充测试效率、降低测试成本、并可以利用现有测试设备测试电子负载的快充测试器。
附图说明
10.图1是本实用新型实施例提供的快充测试器的结构示意图。
11.图2是图1中的快充测试器的电路示意图形式一。
12.图3是图1中的快充测试器的电路示意图形式二。
13.主要元件符号说明
14.15.具体实施方式
16.下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
17.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
18.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
19.请参阅图1至图2所示，本实用新型实施例提供的用于自动检测快充充电器性能的快充测试器包括壳体100，usb
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a接口10，第一type
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c接口11，第二type
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c接口12及线缆13。所述usb
‑
a接口10、所述第一type
‑
c接口 11及所述第二type
‑
c接口12集成在所述壳体100内，且所述usb
‑
a接口10 与所述第二type
‑
c接口12相对设置，所述第一type
‑
c接口11与所述usb
‑
a 接口10及所述第二type
‑
c接口12分别相邻垂直设置。所述线缆13与所述第一type
‑
c接口11相对设置且用于连接其他元件以与其他元件之间传输信号。
20.所述快充测试器的电路包括芯片mcu及电阻rs，所述芯片mcu与第一端口vo+，第二端口vo
‑
及第三端口vl+分别连接，电阻rs连接在第一端口 vo+与第三端口vl+之间。所述快充充电器的输出端与所述快充测试器之间通过连接线连接有第五端口cc1、第六端口cc2、第七端口d+、第八端口d
‑
、第一端口vo+及第二端口vo
‑
。电子负载与所述快充测试器之间通过连接线连接有第三端口vl+及第四端口vl
‑
。
21.可以理解，所述芯片mcu与第一端口vo+，第二端口vo
‑
及第四端口vl
‑ꢀ
分别连接，所述电阻rs连接在第二端口vo
‑
与第四端口vl
‑
之间。
22.当所述快充测试器上连接有负载时，且所述负载上检测到所述第三端口 vl+与所述第四端口vl
‑
之间的负载输入电压vl达到所述负载的启动电压 von时，所述电子负载加载。也就是说，当用户将电子负载的启动电压von设置为6v，负载设置恒流(cc)1a时，当vl≧von时，才会加载至1a。反之，当vl<von时，电子负载不加载。
23.当外部快充充电器接入所述测试器电路时，所述芯片mcu上电开始工作，并模拟用电器通过第五端口cc1及第六端口cc2或者是第七端口d+与第八端口d
‑
与快充充电器之间形成通信传输，此时，所述快充充电器诱骗输出电压 vl，所述输出电压vl依次在所述快充
充电器的最低输出电压v
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low＝5v至 9v、12v、15v直至最高输出电压v
‑
high＝20v之间依次循环，所述芯片mcu 的内部设置有参考电压vref，其电压值一般为0.05v
‑
0.25v之间，所述芯片mcu 持续检测流过所述电阻rs上的电流(此电流值可转换为相应的电压为vrs)，当vrs≧vref时，所述测试器与快充充电器通信将输出电压固定在所述快充充电器的当前电压，如当所述快充充电器的输出电压为9v时，所述芯片mcu检测到流过所述电阻rs上的电压值：vrs≧vref，则所述测试器与所述快充充电器通信将其输出电压固定为9v，不再向后循环。
24.所述芯片mcu持续采集流过所述电阻rs上的电压vrs，并与其内部的基准电压vref进行比较，当vrs<vref时，所述测试器则与所述快充充电器之间进行通信传输，并重新模拟用电器通过所述第五端口cc1及所述第六端口cc2 或者所述第七端口d+与所述第八端口d
‑
，而与所述快充充电器通信，使所述快充充电器依次输出5v、9v、12v、15v、20v的电压并依次循环。
25.在本实施例中，所述电阻rs的电阻值一般为0.01
‑
0.05欧姆。所述电阻rs 既可以放在第三端口vl+(输出正极)，也可以放在第三端口vl
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(输出负极)，还可以集成在所述芯片mcu内。
26.定义：v
‑
low：快充充电器支持的最低输出电压；v
‑
high：快充充电器支持的最高输出电压；vo：快充充电器输出电压；vl：电子负载输入电压；von：电子负载启动电压。
27.本实用新型实施例提供的快充测试器，通过使快充充电器的输出为空载时或者小于一定负载时(比如<0.5a)，本实用新型的快充测试器可以诱骗其输出电压自动循环变化；反之，当所述快充充电器的输出大于等于一定负载时(比如≧0.5a)，本实用新型的快充测试器诱骗其输出电压为其当前电压保持不变，从而实现自动切换其输出电压以实现自动测试，同时提升快充测试效率、降低测试成本、并可以利用现有的没有快充协议的测试设备测试电子负载。
28.以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。