一种传感器用安全性高的不同温度测试装置的制作方法

文档序号:26489460发布日期:2021-08-31 17:44阅读:142来源:国知局
一种传感器用安全性高的不同温度测试装置的制作方法

本发明属于传感器测试技术领域,尤其涉及一种传感器用安全性高的不同温度测试装置。



背景技术:

传感器是一种设备、模块或子系统,其目的是检测环境中的事件或变化,并将信息发送给其他电子设备,通常是计算机处理器,传感器需要与其他电子设备一起使用,因此,需要一种安全性高的不同温度来对传感器进行测试。

在传感器测试时,无法对传感器探头均匀受热,并且传感器与热源容易接触过近,测试时容易触碰到其他,安全性不高,并且不能在不同温度下对传感器进行性能测试,于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提供传感器用安全性高的不同温度测试装置,以期达到更具有更加实用价值性的目的。



技术实现要素:

为了解决上述技术问题,本发明提供一种传感器用安全性高的不同温度测试装置,由以下具体技术手段所达成:

一种传感器用安全性高的不同温度测试装置,包括壳体,所述壳体的内部转动安装有配重杆,所述配重杆的内部套接有扇形板,所述扇形板的外表面活动连接有支杆,所述支杆的底端活动连接有移动头,所述移动头滑动安装在侧边座的内侧表面,所述侧边座的内部滑动安装有底杆,所述底杆的内部设置有磁铁,所述磁铁的上方在的内部设置有相对应的线圈,所述底杆的底端贴合有斜块杆,所述斜块杆的内部贯穿有受压架,所述受压架的外侧下方设置有摆动架,所述摆动架的末端活动连接有顶板,所述顶板的顶端贴合有活塞板,所述活塞板滑动安装在抽吸筒的内部,所述抽吸筒固定连接在测试箱的底部,所述测试箱的内部左右两侧设置有夹持头,所述夹持头贯穿在伸缩套杆的内部,所述伸缩套杆的外表面固定安装有侧杆,所述侧杆插接在复位齿板的内部,所述复位齿板的上表面啮合有齿轮盘,所述齿轮盘的前表面活动连接有活动架,所述活动架的顶端活动安装在滑块的前表面,所述滑块的前表面通过扭矩弹簧安装有卡接头,所述卡接头卡接在滑动柱的内部,所述滑动柱滑动安装在壳体的内部上壁,所述滑动柱的内部设置有可变电阻,所述可变电阻的上方设置有相对应的金属片。

进一步的,所述线圈产生的磁场磁极与相对面磁铁的磁极相同,所述线圈与可变电阻之间电性连接,所述底杆的顶端固定连接有弹簧,通过滑块表面的卡接头带动滑动柱在壳体的内部移动,来调节滑动柱上的金属片与可变电阻的位置,进一步调节可变电阻连入电路的电阻值,从而调节同可变电阻串联的线圈内的电流,从而保证线圈产生的磁场推动磁铁推动底杆向下移动。

进一步的,所述夹持头的外表面和测试箱的左右两侧分别设置有相对应的齿盘和齿板,所述抽吸筒与测试箱的连接处设置有单向阀,所述伸缩套杆和移动头为上下对应设置。

进一步的,所述侧杆的顶端与复位齿板的内部分别设置有相对应的三角块和斜槽,所述复位齿板的外表面固定连接有弹簧。

进一步的,所述配重杆与驱动轴之间固定连接,所述配重杆的内部和扇形板的外表面分别设置有相对应的半滑孔和凸柱,所述受压架的顶部设置有与移动头相对应的斜块,在配重杆转动时,内部的半滑孔接触到扇形板的凸柱时,来带动扇形板进行转动,扇形板拉动支杆底部的移动头在侧边座的表面上下移动,利用配重杆和扇形板之间半滑孔和凸柱的设计来达到上下两端短暂驻留。

进一步的,所述卡接头的外侧在滑块的前表面设置有挡柱,所述滑动柱的内部均等距开设有与卡接头相对应的卡孔。

与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:

1、该发明将需要测试的传感器放置在夹持头的中间,通过驱动轴带动配重杆转动,在配重杆旋转时内部的半滑孔接触到扇形板的凸柱时,来带动扇形板进行转动,扇形板拉动支杆底部的移动头在侧边座的表面上下移动,利用配重杆和扇形板之间半滑孔和凸柱的设计来达到上下两端短暂驻留,移动头接触伸缩套杆后,伸缩套杆带动夹持头在测试箱中移动,利用夹持头与测试箱中的齿盘和齿板结合,使夹持头中的传感器在内部受热更加均匀,并且保证无法接触到热源,保证测试过程中安全性的同时,提高了测试结果的准确性。

2、该发明当伸缩套杆与侧杆同时向上时,侧杆插接到复位齿板内部,拉动复位齿板与齿轮盘啮合后,齿轮盘表面的活动架拉动滑块表面的卡接头移动,利用卡接头外侧的限位柱,从而卡接头只能带动滑动柱向外侧移动,来调节滑动柱上的金属片与可变电阻的位置,进一步调节可变电阻连入电路的电阻值,从而调节同可变电阻串联的线圈内的电流,从而保证线圈产生的磁场推动磁铁推动底杆向下移动,底杆推动斜块杆向内侧移动,移动头挤压受压架底部的摆动架,摆动架末端将顶板抬起后,顶板表面弧形与活塞板接触后,对抽吸筒内部进行抽拉,将测试箱内部高温逐渐排出,从而能够在传感器测试的过程中,依次来降低内部的温度,实现了不同温度下测试的目的,使测试结果数据更加充分。

附图说明

图1是本发明内部结构示意图;

图2是本发明壳体的内部结构示意图;

图3是本发明卡接头和滑动柱的连接处结构示意图;

图4是本发明图1中a部分放大结构示意图。

图中:1、壳体;2、配重杆;3、扇形板;4、支杆;5、移动头;6、侧边座;7、底杆;701、线圈;702、磁铁;8、斜块杆;9、受压架;10、摆动架;11、顶板;12、活塞板;13、抽吸筒;14、测试箱;15、夹持头;16、伸缩套杆;17、侧杆;18、复位齿板;19、齿轮盘;20、活动架;21、滑块;22、卡接头;23、滑动柱;2301、可变电阻;2302、金属片。

具体实施方式

以下结合附图对本发明做进一步描述:

本发明提供一种传感器用安全性高的不同温度测试装置,如附图1至附图4所示:包括壳体1,壳体1的内部转动安装有配重杆2,配重杆2与驱动轴之间固定连接,配重杆2的内部和扇形板3的外表面分别设置有相对应的半滑孔和凸柱,配重杆2的内部套接有扇形板3,扇形板3的外表面活动连接有支杆4,支杆4的底端活动连接有移动头5,移动头5滑动安装在侧边座6的内侧表面,在配重杆2转动时,内部的半滑孔接触到扇形板3的凸柱时,来带动扇形板3进行转动,扇形板3拉动支杆4底部的移动头5在侧边座6的表面上下移动,利用配重杆2和扇形板3之间半滑孔和凸柱的设计来达到上下两端短暂驻留,侧边座6的内部滑动安装有底杆7,底杆7的内部设置有磁铁702,磁铁702的上方在侧边座6的内部设置有相对应的线圈701,线圈701产生的磁场磁极与相对面磁铁702的磁极相同,线圈701与可变电阻2301之间电性连接,底杆7的顶端固定连接有弹簧。

底杆7的底端贴合有斜块杆8,斜块杆8的内部贯穿有受压架9,受压架9的顶部设置有与移动头5相对应的斜块,受压架9的外侧下方设置有摆动架10,摆动架10的末端活动连接有顶板11,顶板11的顶端贴合有活塞板12,活塞板12滑动安装在抽吸筒13的内部,抽吸筒13固定连接在测试箱14的底部,测试箱14的内部左右两侧设置有夹持头15,夹持头15贯穿在伸缩套杆16的内部,夹持头15的外表面和测试箱14的左右两侧分别设置有相对应的齿盘和齿板,抽吸筒13与测试箱14的连接处设置有单向阀,伸缩套杆16和移动头5为上下对应设置,伸缩套杆16的外表面固定安装有侧杆17,侧杆17插接在复位齿板18的内部,侧杆17的顶端与复位齿板18的内部分别设置有相对应的三角块和斜槽,复位齿板18的外表面固定连接有弹簧,复位齿板18的上表面啮合有齿轮盘19,齿轮盘19的前表面活动连接有活动架20。

活动架20的顶端活动安装在滑块21的前表面,滑块21的前表面通过扭矩弹簧安装有卡接头22,卡接头22卡接在滑动柱23的内部,滑动柱23滑动安装在壳体1的内部上壁,滑动柱23的内部设置有可变电阻2301,可变电阻2301的上方设置有相对应的金属片2302,卡接头22的外侧在滑块21的前表面设置有挡柱,滑动柱23的内部均等距开设有与卡接头22相对应的卡孔,通过滑块21表面的卡接头22带动滑动柱23在壳体1的内部移动,来调节滑动柱23上的金属片2302与可变电阻2301的位置,进一步调节可变电阻2301连入电路的电阻值,从而调节同可变电阻2301串联的线圈701内的电流,从而保证线圈701产生的磁场推动磁铁702推动底杆7向下移动。

本实施例的具体使用方式与作用:

本发明中,将需要测试的传感器放置在夹持头15的中间,通过驱动轴带动配重杆2转动,在配重杆2旋转时内部的半滑孔接触到扇形板3的凸柱时,来带动扇形板3进行转动,扇形板3拉动支杆4底部的移动头5在侧边座6的表面上下移动,利用配重杆2和扇形板3之间半滑孔和凸柱的设计来达到上下两端短暂驻留,移动头5接触伸缩套杆16后,伸缩套杆16带动夹持头15在测试箱14中移动,利用夹持头15与测试箱14中的齿盘和齿板结合,使夹持头15中的传感器在内部受热更加均匀,并且保证无法接触到热源,保证测试过程中安全性的同时,提高了测试结果的准确性,而当伸缩套杆16与侧杆17同时向上时,侧杆17插接到复位齿板18内部,拉动复位齿板18与齿轮盘19啮合后,齿轮盘19表面的活动架20拉动滑块21表面的卡接头22移动,利用卡接头22外侧的限位柱,从而卡接头22只能带动滑动柱23向外侧移动,在滑动柱23移动时,来调节滑动柱23上的金属片2302与可变电阻2301的位置,进一步调节可变电阻2301连入电路的电阻值,从而调节同可变电阻2301串联的线圈701内的电流,从而保证线圈701产生的磁场推动磁铁702推动底杆7向下移动,底杆7推动斜块杆8向内侧移动,保证移动头5与受压架9对应后,移动头5挤压受压架9底部的摆动架10,摆动架10末端将顶板11抬起后,顶板11表面弧形与活塞板12接触后,对抽吸筒13内部进行抽拉,将测试箱14内部高温逐渐排出,从而能够在传感器测试的过程中,依次来降低内部的温度,实现了不同温度下测试的目的,使测试结果数据更加充分。

利用本发明所述技术方案,或本领域的技术人员在本发明技术方案的启发下,设计出类似的技术方案,而达到上述技术效果的,均是落入本发明的保护范围。

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