一种COB显示屏测试治具及其使用方法与流程

一种cob显示屏测试治具及其使用方法
技术领域
1.本发明涉及cob显示屏测试治具技术领域，尤其涉及一种cob显示屏测试治具及其使用方法。


背景技术：

2.测试治具属于治具下面的一个类别，顾名思义，就是专门对产品的功能、功率校准、寿命和性能等方便进行测试以及试验的一种治具。而cob显示屏在生产过程中，就需要用到测试治具来进行测试。
3.目前现有的cob显示屏测试治具在实际使用时，通常采用机械零部件挤压cob显示屏的中间区域，从而将cob显示屏固定到测试治具上，但是由于cob显示屏的中间区域较为脆弱，这种方式非常容易损坏到cob显示屏，影响了cob显示屏的良品率，需要进行改进。


技术实现要素：

4.本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种cob显示屏测试治具及其使用方法。
5.为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：一种cob显示屏测试治具，它是由pcb测试板、测试下针座、测试上针座、测试件、测试探针和真空吸附结构构成，所述pcb测试板的顶面固定安装有测试下针座，所述测试下针座的顶面固装有测试上针座，所述测试上针座的顶面放置有测试件，所述测试探针装在pcb测试板的顶面。
6.优选的，所述测试探针贯穿测试下针座和测试上针座并延伸至测试上针座的外部。
7.优选的，所述测试探针为双头探针。
8.优选的，所述测试下针座和测试上针座之间通过螺栓固定连接，所述测试件与测试上针座的大小相适配。
9.优选的，所述测试探针均匀分布于pcb测试板的顶面。
10.优选的，一种cob显示屏测试治具的使用方法包括以下步骤：
11.s1：首先将需要测试的测试件放在测试上针座的顶面，随后调节测试件，并使测试件完全对准测试上针座；
12.s2：随后就可以打开真空吸附结构，此时由于负压强的作用，测试件被真空吸附结构吸住，这时测试件被固定；
13.s3：然后就可以通过设备来将测试件的四周压紧，从而确保测试件与测试探针之间接触良好，随后开始测试。
14.与现有技术相比，本发明的优点和积极效果在于，
15.本发明中的测试探针为双头探针，这样在实际测试的过程中，可以避免传统接线的繁琐事项，从而提高测试的稳定性，同时通过真空吸附结构来对测试件进行固定的方式，可以避免测试件受到损伤，利于实际的使用。
附图说明
16.图1为本发明提出一种cob显示屏测试治具及其使用方法的俯视图；
17.图2为本发明提出一种cob显示屏测试治具及其使用方法的截面图。
18.图例说明：
19.1、pcb测试板；2、测试下针座；3、测试上针座；4、测试件；5、测试探针；6、真空吸附结构。
具体实施方式
20.为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
21.在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。
22.请参阅图1
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2，本发明提供一种技术方案：一种cob显示屏测试治具及其使用方法，它是由pcb测试板1、测试下针座2、测试上针座3、测试件4、测试探针5和真空吸附结构6构成，pcb测试板1的顶面固定安装有测试下针座2，测试下针座2的顶面固装有测试上针座3，测试上针座3的顶面放置有测试件4，测试探针5装在pcb测试板1的顶面。
23.本实施方案中，测试件4代指cob显示屏，在实际测试的过程中，首先将需要测试的测试件4放在测试上针座3的顶面，这时测试件4的中间区域与真空吸附结构6对准，这时打开真空吸附结构6，此时由于负压强的作用，测试件4被真空吸附结构6吸住，这时测试件4被固定，随后就可以通过设备来将测试件4的四周压紧，从而确保测试件4与测试探针5之间接触良好，随后就可以开始测试，本发明中的测试探针5为双头探针，这样在实际测试的过程中，可以避免传统接线的繁琐事项，从而提高测试的稳定性，同时通过真空吸附结构6来对测试件4进行固定的方式，可以避免测试件4受到损伤，利于实际的使用。
24.具体的，测试探针5贯穿测试下针座2和测试上针座3并延伸至测试上针座3的外部。
25.在本实施例中：测试探针5用来测试放置在测试上针座3上的测试件4。
26.具体的，测试探针5为双头探针。
27.在本实施例中：测试探针5为双头探针，这样在实际测试的过程中，可以避免传统接线的繁琐事项，从而提高测试的稳定性。
28.具体的，测试下针座2和测试上针座3之间通过螺栓固定连接，测试件4与测试上针座3的大小相适配。
29.在本实施例中：测试件4可以稳固的放置在测试上针座3的顶面。
30.具体的，测试探针5均匀分布于pcb测试板1的顶面。
31.在本实施例中：测试探针5可以更加全面的对测试件4进行测试。
32.一种cob显示屏测试治具的使用方法，包括以下步骤：
33.s1：首先将需要测试的测试件4放在测试上针座3的顶面，随后调节测试件4，并使测试件4完全对准测试上针座3；
34.s2：随后就可以打开真空吸附结构6，此时由于负压强的作用，测试件4被真空吸附结构6吸住，这时测试件4被固定；
35.s3：然后就可以通过设备来将测试件4的四周压紧，从而确保测试件4与测试探针5之间接触良好，随后开始测试。
36.工作原理：测试件4代指cob显示屏，在实际测试的过程中，首先将需要测试的测试件4放在测试上针座3的顶面，这时测试件4的中间区域与真空吸附结构6对准，这时打开真空吸附结构6，此时由于负压强的作用，测试件4被真空吸附结构6吸住，这时测试件4被固定，随后就可以通过设备来将测试件4的四周压紧，从而确保测试件4与测试探针5之间接触良好，随后就可以开始测试。
37.以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非是对本发明作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本发明技术方案的保护范围。


技术特征：
1.一种cob显示屏测试治具，它是由pcb测试板(1)、测试下针座(2)、测试上针座(3)、测试件(4)、测试探针(5)和真空吸附结构(6)构成，其特征在于：所述pcb测试板(1)的顶面固定安装有测试下针座(2)，所述测试下针座(2)的顶面固装有测试上针座(3)，所述测试上针座(3)的顶面放置有测试件(4)，所述测试探针(5)装在pcb测试板(1)的顶面。2.根据权利要求1所述的一种cob显示屏测试治具，其特征在于：所述测试探针(5)贯穿测试下针座(2)和测试上针座(3)并延伸至测试上针座(3)的外部。3.根据权利要求1所述的一种cob显示屏测试治具，其特征在于：所述测试探针(5)为双头探针。4.根据权利要求1所述的一种cob显示屏测试治具，其特征在于：所述测试下针座(2)和测试上针座(3)之间通过螺栓固定连接，所述测试件(4)与测试上针座(3)的大小相适配。5.根据权利要求1所述的一种cob显示屏测试治具，其特征在于：所述测试探针(5)均匀分布于pcb测试板(1)的顶面。6.根据权利要求1所述的一种cob显示屏测试治具的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：s1：首先将需要测试的测试件(4)放在测试上针座(3)的顶面，随后调节测试件(4)，并使测试件(4)完全对准测试上针座(3)；s2：随后就可以打开真空吸附结构(6)，此时由于负压强的作用，测试件(4)被真空吸附结构(6)吸住，这时测试件(4)被固定；s3：然后就可以通过设备来将测试件(4)的四周压紧，从而确保测试件(4)与测试探针(5)之间接触良好，随后开始测试。

技术总结
本发明提供一种COB显示屏测试治具及其使用方法，涉及COB显示屏测试治具技术领域，它是由PCB测试板、测试下针座、测试上针座、测试件、测试探针和真空吸附结构构成，所述PCB测试板的顶面固定安装有测试下针座，所述测试下针座的顶面固装有测试上针座，所述测试上针座的顶面放置有测试件，所述测试探针装在PCB测试板的顶面。本发明中，只需要将需要测试的测试件放在测试上针座的顶面，即可通过测试探针进行测试，同时测试探针为双头探针，这样在实际测试的过程中，可以避免传统接线的繁琐事项，从而提高测试的稳定性，同时通过真空吸附结构来对测试件进行固定的方式，可以避免测试件受到损伤，利于实际的使用。利于实际的使用。利于实际的使用。


技术研发人员：ꢀ(74)专利代理机构
受保护的技术使用者：东莞市台易电子科技有限公司
技术研发日：2021.06.01
技术公布日：2021/10/11