用于执行电磁兼容性测量的系统和方法与流程

1.本发明涉及一种用于执行电磁兼容性测量的系统。本发明还涉及一种用于执行电磁兼容性测量的方法。


背景技术：

2.虽然原则上可应用于用于放大来自信号源的电子信号的任何装置，但是本发明及其潜在问题将在下文中结合提供用于执行电磁兼容性(emc)测量的测试信号的装置来描述。
3.为了测试被测器件或测试装置的emc，可以向相应的器件或测试装置提供特定的测试信号。然后分析被测器件或测试系统的响应。
4.为了向被测器件施加emc测试所需的信号，测试系统必须生成具有足够信号强度的预定信号。
5.在这种背景下，需要一种测试系统和测试方法，用于在用于emc测量的测试场景上施加适当的信号。


技术实现要素：

6.本发明旨在提供一种用于执行emc测量的测试系统和测试方法。特别地，本发明旨在提供一种用于提供用于emc测量的信号的系统和方法。
7.这通过独立权利要求的特征来实现。其他有利实施例是从属权利要求的主题。
8.根据第一方面，提供了一种用于执行电磁兼容性测量的系统。该系统包括信号源和放大单元。所述信号源被配置为生成测试信号。所述信号源还可以将生成的测试信号提供给放大单元。所述放大单元包括输入端、放大器和输出端。所述放大单元的输入端被配置为从所述信号源接收生成的测试信号。所述放大器被配置为放大所接收的测试信号。特别地，所述放大器可以对接收到的测试信号执行预定放大。输出装置被配置为输出放大的测试信号。所述信号源被配置为限制提供给所述放大单元的输入端的所生成的测试信号的电平。特别地，所述信号源将所生成的测试信号的电平限制为低于预定阈值。
9.根据另一方面，提供了一种用于执行电磁兼容性测量的方法。该方法包括生成测试信号的步骤。特别地，所述测试信号可以由信号源生成。该方法还包括：通过所述放大单元的输入端接收生成的测试信号；通过所述放大单元的放大器放大接收的测试信号；以及通过所述放大单元的输出端输出来输出放大的测试信号。特别地，提供给所述放大单元的输入端的所生成的测试信号的电平被限制为低于预定阈值。
10.本发明基于这样的发现，即测试电磁兼容性(emc)需要提供具有适当信号电平的测试信号。为此目的，测试信号必须由一个或多个放大器放大。然而，如果放大器被提供有具有高信号电平的输入信号，则所述放大器可能被过驱动(overdriven)。在这种情况下，所述放大器可以不再提供输入信号的线性放大。此外，如果信号的输入电平太高，则甚至可能损坏放大器。
11.本发明考虑到这一发现，并旨在限制提供给emc测试系统的放大器的输入信号的最大信号电平。以这种方式，可以防止所述放大器被过驱动。
12.为此目的，可以根据所述放大器的特性来设置预定阈值。特别地，所述预定阈值可以被设置为使得由信号生成器提供给放大器的输入端的信号电平总是低于将导致所述放大器被过驱动的值。通过根据所述放大器的特性来定义阈值，可以以适当的方式配置信号源和放大器的整个系统。特别地，通过根据放大器的特性使用用于限制由信号生成器提供的信号的信号电平的阈值，可以适配各个组件，特别是所述信号源和所述放大器，使得由所述信号生成器提供的测试信号以最佳方式被放大而不过度驱动所述放大器。以这种方式，可以避免所述放大器放大中的非线性，并且可以保护所述放大器免受损坏。
13.所述信号源可以是用于生成适当测试信号的任何类型的适当信号源。为此目的，所述信号源可以包括诸如模拟或数字信号生成器的元件。例如，所述信号源可以包括用于数字地生成特定信号波形的数字信号处理器。然而，用于生成期望的测试信号的任何其他方式也是可能的。
14.所述信号源可以生成具有预定特性的一个或多个测试信号。例如，可以指定可由所生成的测试信号覆盖的一个或多个频率或频率范围。此外，还可以指定由信号生成器生成的信号的信号形状。例如，所述信号生成器可以生成正弦信号、具有矩形或锯齿形状或任何其他期望的信号形状的信号。此外，由所述信号生成器生成的测试信号可以包括具有预定脉冲序列等的测试信号。然而，应当理解，用于表征由所述信号生成器生成的测试信号的任何其他特定特性也是可能的。
15.取决于所述信号生成器的配置或特定类型的信号生成器，由所述信号生成器提供的测试信号的输出电平和/或最大振幅可以变化。因此，如下面将更详细地描述的，可能需要根据用于放大测试信号的后续放大器的特性来适配(尤其是限制)由信号生成器提供的测试信号。
16.所述放大器可以是用于放大由所述信号生成器提供的测试信号的任何类型的适当放大器。为此，具有所述放大器的放大单元可以包括与所述信号生成器的输出电耦合的输入端口。因此，由所述信号生成器提供的测试信号由所述放大单元的输入端口接收。此外，所述放大单元可以包括用于提供经放大的测试信号的输出端口。
17.所述放大单元的放大器对在所述放大单元的输入端口接收的信号进行放大，并将经放大的信号输出到输出端口。为此，所述放大器可以是用于放大所述电信号的任何适当的放大器。特别地，根据由所述信号生成器提供的测试信号的频率特性，所述放大器可以具有适当的频率范围和/或带宽。此外，所述放大器可以执行适当的放大，以便提供具有用于执行期望的emc测量的适当特性的输出信号。例如，所述放大器可以提供具有特定信号电平和/或幅度的经放大的测试信号。然而，根据用于执行emc测量的期望要求，所述放大器还可以具有任何其他适当的特性。
18.例如，所述放大器可以是运算放大器等。然而，任何其他类型适当放大器也是可能的。如果需要，所述放大器可以包括多个放大元件，这些放大元件可以组合在一起，例如组合在放大链中，以便实现期望的放大特性。
19.放大器通常可以在预定规范内操作。这些规范(specifications)例如可以涉及特定的频率范围或带宽。此外，规范还可以表征可以提供给所述放大器的信号的最大输入电
平。如果所述输入信号的电平超过最大输入电平，则所述放大器可能被过驱动。在这种情况下，所述放大器可能不能执行所述输入信号的线性放大。此外，如果所述输入信号的电平超过最大信号电平，则甚至可能损坏所述放大器或所述放大器的至少一些组件。
20.为了避免当所述放大器被提供有高于特定信号电平的输入信号时的这种情况，可以控制提供给所述放大器的输入信号，使得所述输入信号总是低于预定阈值，例如所述放大器的最大输入电平。以此方式，可以防止所述放大器被过驱动。
21.为此目的，用于限制提供给所述放大器的输入信号的任何类型的适当方案都是可能的。例如，可以向所述信号生成器提供预定阈值并控制所述信号生成器的操作，使得所生成的测试信号总是低于预定阈值。或者，也可以使用标准化信号生成器并以传统方式操作该信号生成器。随后，可以在所述信号生成器的输出端和所述放大器的输入端之间布置衰减元件，以便限制提供给所述放大器的输入端的测试信号。然而，用于将所述测试信号的信号电平或最大振幅限制为总是低于预定阈值的任何其他方式也是可能的。
22.通过限制所述放大器的输入，特别是将提供给所述放大器的信号的信号电平和/或最大振幅限制到预定的最大值，可以避免过驱动所述放大器。因此，可以防止所述放大器的放大中的非线性或所述放大器的损坏。
23.本发明的其他实施方式是其他从属权利要求和参考附图的以下描述的主题。
24.在可能的实施例中，基于预定阈值来设置所述信号源的最大信号电平。
25.例如，可以将预定阈值提供给所述信号源，并且操作所述信号源，使得所生成的测试信号总是低于所提供的预定阈值电平。例如，所述信号源可以包括数字信号生成器，该数字信号生成器被操作成使得所生成的测试信号总是低于所提供的预定阈值电平。为此目的，可以以任何适当的方式将预定阈值电平提供给所述信号源。例如，预定阈值可以被提供给所述信号源的适当输入。例如，可以将数字数据提供给所述信号源以指定预定阈值电平。还可能的是，所述信号源包括内部存储器，并且预定的最大阈值电平可以被写入到该存储器中，并且随后，所述信号源可以参考该存储器以限制所述信号源的输出信号。然而，用于基于预定阈值电平限制由所述信号源提供的信号的任何其他方式也是可能的。
26.在可能的实施例中，根据所述放大器的最大输入电平来设置预定阈值电平。
27.例如，可以基于由相关放大器的数据表提供的数据来指定阈值电平。然而，也可以预先执行所述放大器的一些测量并且使用这些测量数据以便确定所述放大器的最大适当输入电平。因此，通过将提供给所述放大器的信号的信号电平限制为所述放大器的最大输入电平，可以防止所述放大器的过驱动。
28.在可能的实施例中，基于一个或多个校准值来设置预定阈值水平。校准值可以在所述信号源开始生成测试信号之前预先确定。
29.因此，以开环方式限制提供给所述放大器的测试信号的限制。换句话说，提供给所述放大器的测试信号的限制在没有从所述放大器反馈到所述信号生成器的情况下进行设置。此外，预先指定预定阈值一次，随后基于预定阈值电平操作具有所述信号生成器和所述放大器的系统。例如，所述信号源可以配置有适当的设置，以便将所生成的信号的信号电平限制为总是低于预定阈值。此外，可以基于预定阈值调整所述信号源的输入值或目标值，或者以任何其他适当的方式控制或配置所述信号源，使得提供给所述放大器的输入端的生成的测试信号低于预定阈值。
30.在可能的实施例中，系统包括控制器。所述控制器可以被配置为监测所生成的测试信号。例如，所述控制器可以在所述信号源处分析所述测试信号。或者，所述控制器可以在所述放大单元处，例如在所述放大单元的输入处，分析所述测试信号。所述控制器可以控制所述信号源，以便限制生成的测试信号的电平。特别地，所述控制器可以限制由所述信号源生成的测试信号，使得所生成的测试信号持续地低于预定阈值。以此方式，实现了用于控制所述测试信号的生成的闭环控制回路。例如，所述控制器可以直接控制所述信号源的信号生成器(例如数字信号生成器)的生成。附加地或替代地，所述控制器可以控制衰减装置，该衰减装置可以在将信号提供给所述放大单元之前使由所述信号源提供的测试信号衰减。
31.此外，所述控制器还可以监测所述放大单元的操作，特别是所述放大器的操作。例如，所述控制器可以被配置为检测所述放大器的过驱动，并且如果所述放大器被过驱动，则调整预定阈值。
32.在可能的实施例中，系统包括存储器。所述存储器可以被配置为存储校准数据。所述校准数据可以包括用于指定所述信号源的输出何时引起过驱动所述放大器的数据。例如，所述校准数据可以指定所述信号源的目标值和/或配置数据与所述信号源提供的相应输出之间的关系。因此，可以基于存储在所述存储器中的校准数据来操作所述信号源。
33.此外，可以基于所述放大器的数据表来确定所述校准数据。还可以通过测量来分析所述放大器并且基于预先获得的测量数据来确定所述校准数据。例如，可以在实验室等中分析所述放大器，以便确定所述放大器的特性。因此，可以基于测量结果生成所述校准数据并将其存储在适当的存储器中。
34.在可能的实施例中，用于存储所述校准数据的存储器可以包括在所述信号源、所述放大器或第三方设备中。特别地，用于存储所述校准数据的存储器可以与用于控制预定阈值的控制器通信地耦合。第三方设备可以是任何类型的设备，其可以与所述信号源和/或所述放大器通信地耦合，特别是与所述控制器通信地耦合。特别地，至少所述信号源、所述放大单元和所述存储器可以以公共布置组合在一起，例如在公共壳体中组合在一起。
35.在可能的实施例中，所述信号源被配置为从至少包括所述信号源和所述放大器的装置中移除。此外，当所述信号源从装置移除时，可以基于测量结果来确定所述校准数据。例如，可以在从公共装置中移除信号源之后测量所述信号源的信号生成，以便确定适当的特性，例如由所述信号源提供的最大信号电平等。特别地，可以确定信号源的设置与由所述信号源提供的结果输出之间的关系和/或提供给所述信号源的目标值与由所述信号源提供的输出之间的关系，特别是所述信号源的结果输出的电平或最大振幅。此外，还可以在移除所述信号源之后分析具有放大器的装置的行为。例如，可以将适当的信号施加到装置，用于测量所述放大器的特性，并且当去除所述信号源时基于所述放大器的分析来确定适当的校准数据。
36.在可能的实施例中，所述放大单元包括用于接收外部信号的至少一个另外的输入。因此，所述放大单元的放大器可以被配置为放大接收到的外部信号或接收到的测试信号。
37.在可能的实施例中，所述放大单元可以包括开关，用于将从所述信号源接收到的测试信号提供给所述放大器，或者将接收到的测试信号旁路并将外部测试信号提供给所述放大器。以这种方式，所述系统可以被提供有来自外部信号源的另外的测试信号，用于执行
emc测量。特别地，可能的是，用于接收外部信号的另一输入可以包括用于在将所述外部信号提供给所述放大器之前适配外部信号电平或外部信号电平的最大振幅的组件。例如，可以设置衰减器等来控制提供给所述放大器的外部信号的信号电平或幅度。因此，还可以将外部提供的信号的性质限制为低于预定阈值。
38.因此，利用本发明，可以提供用于执行emc测量的信号，其中测试信号由放大器放大而不过驱动该放大器。为此目的，控制所述放大器的输入，使得用于所述放大器的输入信号的信号电平总是低于预定阈值电平。
附图说明
39.为了更完整地理解本发明及其优点，现在结合附图参考以下描述。下面使用在附图的示意图中指定的示例性实施方式更详细地解释本发明，其中：
40.图1示出了根据实施例的用于执行emc测量的系统的框图；
41.图2示出了用于执行emc测量的另一系统的框图；
42.图3示出了用于执行emc测量的又一实施例的框图；
43.图4示出了用于执行emc测量的另一实施例的框图；以及
44.图5示出了说明用于执行emc测量的方法的流程图。
45.附图旨在提供对本发明实施方式的进一步理解。附图示出了实施方式，并且结合描述帮助解释本发明的原理和概念。考虑到附图，所提及的其他实施方式和许多优点变得显而易见。附图中的元件不必按比例示出。
46.在附图中，除非另有说明，相同的、功能等同的和相同的操作元件、特征和部件在每种情况下都具有相同的附图标记。
具体实施方式
47.图1示出了根据一个实施例的用于执行电磁兼容性测量的系统1的示意性框图。该系统包括信号源10和放大单元20。信号源10生成测试信号，该测试信号被提供给放大器20。来自信号源10的测试信号由放大单元20的输入端口21接收并提供给放大器25。放大器25对接收到的测试信号进行放大，并将放大后的测试信号提供给放大单元20的输出端口29。为了执行emc测量，在输出端口29处提供的经放大的测试信号可以被施加到被测试器件100或测试装置。因此，可以测试被测试器件100或测试装置的emc。
48.信号源10和/或放大单元20可以是例如传统的标准组件。因此，信号源10可以提供具有特定预定特性的测试信号，特别是具有特定信号电平和/或幅度的测试信号。放大单元20的放大器25可以对接收到的测试信号执行特定放大。特别地，放大器25可以具有特定限制，例如特定的最大输入电平。如果向放大器25提供超过该最大输入电平的信号，则放大器25可能被过驱动。在这种情况下，放大器25可能不再执行线性放大，并且甚至可能损坏放大器25或放大器25的至少一些组件。
49.如果信号源10的特性与放大单元20的放大器25的特性不匹配，则可能的是信号源10可以提供至少部分超过放大器25的极限的测试信号。为了避免过驱动放大器25，控制提供给放大单元20的信号，使得信号电平总是低于预定阈值。这样，可以防止放大器25的过驱动。
50.信号源10可以是用于提供期望的测试信号的任何类型的适当信号源。如上所述，信号源10可以是传统信号源或至少包括具有特定预定特性的传统信号生成器。例如，信号源10可以生成具有特定特性的一个或多个信号，例如具有一个或多个特定频率或频率范围的信号、特定信号形状(例如正弦信号、矩形或锯齿信号形状、特定脉冲序列等)。例如，信号源10提供的信号可以由诸如可编程数字信号处理器等的数字信号生成器生成。然而，任何其他类型信号生成器也是可能的。
51.特别地，如果可以使用市场上可获得的传统信号源，则诸如信号电平、最大振幅等的信号特性可以在固定限度内。
52.此外，放大单元20的放大器25可以是用于放大在输入端口21处从信号源10提供的测试信号的放大器。例如，放大器25可以是传统的放大器，例如市场上可得到的放大器。放大器25可以具有诸如带宽、频率范围、放大系数等的特定特性。即使在本实施例和以下实施例中仅提及单个放大器25，也可以使用多个放大器的组合以实现期望的放大。例如，链中两个或更多个后续放大元件是可能的。
53.通常，诸如放大器25的放大器可以对输入信号执行线性或几乎线性的放大。然而，如果输入信号超过特定电平，则放大器25可能被过驱动。在这种情况下，放大器25可能不再处于执行输入信号的线性放大的位置。此外，在输入信号太高的情况下，甚至可能损坏放大器25或放大器25的至少一个组件。
54.在信号源10提供测试信号情况下，该测试信号可能具有高于放大器25的最大允许信号电平或幅度的信号电平或最大幅度，放大器25可能被过驱动。为了避免这种情况，本实施例的测试系统1可以将放大单元20接收到的测试信号的最大信号电平或最大振幅限制为最大预定阈值。特别地，该最大预定阈值可以等于或小于在没有过驱动放大器25的情况下可能的最大值。
55.例如，最大预定阈值可用于配置信号源10的信号生成。附加地或替代地，还可以在将信号提供给放大单元20之前使用衰减器等来衰减或限制由信号源10生成的信号。然而，用于将放大器25的输入信号限制到预定阈值的任何其他方式也是可能的。
56.图2示出了用于执行emc测量的另一实施例的示意性框图。根据图2的测试系统1主要对应于先前描述的实施例。
57.根据图2的实施例通过开环配置来限制放大器25的输入信号。换句话说，不存在从放大单元20到信号源10的反馈。此外，该装置仅预先配置或校准一次。为此目的，可以测量或分析信号源10和/或放大器25，以便确定相应的特性。例如，可以从公共测试装置1移除信号源10和/或放大器25，并且单独地测量相应的组件。例如，可以分析信号源10的输出特性。随后，信号源10可以被配置为使得由信号源10提供的所生成的测试信号仍然低于预定阈值。因此，可以避免放大器25的过驱动。此外，还可以分析放大器25，以便确定放大器25的特性，特别是为了识别可以提供给放大器25的输入而不过驱动放大器25的信号的最大极限。
58.在测量信号源10和/或放大器25之后，可以确定适当的配置，并且可以确定用于操作系统的参数，特别是用于操作信号源10的参数。所确定的参数，例如校准数据，可以存储在存储器30中。存储器30可以是例如包括在信号源10中的存储器。然而，也可以将校准数据存储在包括在放大单元20中的存储器中，并且经由通信链路向信号源10提供相应的数据。此外，具有用于存储相应数据的存储器30的任何其他第三方设备也是可能的。
59.图3示出了用于执行emc测量的另一系统的示意性框图。该装置主要对应于先前描述的实施例，特别是图1的实施例。根据图3的配置与先前描述的实施例的不同之处在于，测试信号的限制包括闭环控制回路。
60.为此目的，提供从放大单元20到信号源10的反馈。例如，放大单元20可以测量放大器25的输入信号。所测量的信号或至少具有最大幅度和/或信号电平的数据可以被提供给信号源10。因此，信号源10可以控制信号生成，使得放大器25的输入处的信号总是低于预定阈值。为此目的，信号源10的信号生成可以例如由控制器11等控制。此外，附加的校准数据可以用于控制信号源10的操作。
61.如上面结合根据图2的实施例已经提到的，可以预先测量信号源10和/或放大器25的特性，并且可以确定适当的校准数据。校准数据可以包括例如关于最大信号电平或幅度的数据，该最大信号电平或幅度可以被提供给放大器25的输入而没有过驱动放大器25。此外，校准数据还可以包括关于信号源10的数据，特别是关于信号源10的信号生成器的数据。例如，校准数据可以包括具有用于指定信号源10的特性的操作数据或配置参数的表。相应的校准数据可以存储在存储器30中，该存储器类似于上面已经结合图2的实施例描述的存储器30。
62.图4示出了用于执行emc测量的系统1的另一实施例的示意性框图。根据图4的系统还可以包括上面已经结合图1至图3描述的实施例的所有特征。
63.根据图4的实施例与先前描述的实施例的不同之处在于，放大单元20包括至少一个另外的输入端口22。至少一个另外的输入端口22中的每一个可以从外部信号源40接收测试信号。以此方式，外部信号源40可用于生成可被放大并施加到待测器件100以执行emc测量的替代测试信号。为此目的，任何类型的适当外部信号源40都是可能的。因此，放大器25可替代地使用由内部信号源10提供的测试信号或由外部信号源40提供的信号。
64.为了选择由内部信号源10提供的内部测试信号或外部测试信号，可以设置开关23。开关23可以是手动操作的开关。然而，也可以使用电子控制开关。例如，开关23可以在内部信号源10和外部信号源40之间自动切换。例如，如果没有外部信号源40连接到另一输入端口22，则开关23可以选择内部信号源10。或者，如果外部信号源40连接到另一输入端口22，则开关23可以自动选择外部信号源40。
65.例如，放大单元20可以包括附加元件，例如衰减器等，其可以将外部信号的最大信号电平或幅度限制到预定阈值。这样，在提供外部测试信号的情况下，甚至可以防止过驱动放大器25。
66.图5示出了示出根据实施例的用于执行emc测量的方法的示意图。
67.在步骤s1中，生成测试信号。测试信号可以由信号源10生成。
68.在步骤s2中，接收所生成的测试信号。例如，测试信号可以由放大单元20的输入端21接收。
69.在步骤s3中，放大接收到的测试信号。例如，测试信号可以由放大单元20的放大器25放大。
70.在步骤s4中，输出放大的测试信号。例如，放大的测试信号可以由放大单元20的输出端29输出。
71.特别地，提供给所述放大单元的输入端的所生成的测试信号的电平被限制为低于
预定阈值。
72.信号源的最大信号电平可以基于预定阈值。
73.可以根据放大器的最大输入电平来设置预定阈值。
74.预定阈值可以基于在信号源开始生成测试信号之前已经预先确定的一个或多个校准值来设置。
75.可以监测施加到放大器的测试信号，并且可以基于所监测的测试信号来控制测试信号的生成。特别地，可以控制测试信号的生成，使得所生成的测试信号的电平持续地低于预定阈值。
76.校准数据可以存储在存储器中，其中校准数据可以包括指定信号源的输出何时导致放大器被过驱动的数据。存储器可以包括在信号源、放大器或第三方设备中。
77.信号源可以从至少包括信号源和放大器的装置移除，并且当信号源从装置移除时，可以基于测量结果来确定校准数据。
78.该方法还可以包括用于接收外部信号的步骤。特别地，外部信号可以由放大单元的至少一个另外的输入接收。因此，放大可以执行外部信号或生成的测试信号的放大。
79.特别地，外部信号或生成的测试信号可以通过开关选择，用于将外部信号或生成的测试信号提供给放大器。
80.总之，本发明提供了一种用于执行电磁兼容性测量的系统和方法。信号源生成测试信号，该测试信号由放大器放大。通过将施加到放大器的测试信号限制在预定阈值以下来防止放大器的过驱动。
81.在前面的详细描述中，出于简化本公开的目的，将各种特征一起分组在一个或多个示例或多个示例中。应当理解，上述描述是说明性的，而不是限制性的。其旨在覆盖可包括在本发明的范围内的所有替代、修改和等同物。在阅读上述说明书后，许多其他示例对于本领域技术人员将是显而易见的。
82.在前述说明书中使用的特定术语用于提供对本发明的彻底理解。然而，对于本领域技术人员而言，根据本文提供的说明书显而易见的是，为了实践本发明，不需要具体细节。因此，出于说明和描述的目的而呈现本发明的特定实施例的前述描述。这些描述不旨在是穷尽的或将本发明限制到所公开的精确形式；显然，考虑到以上教导，许多修改和变化是可能的。选择和描述实施例是为了最好地解释本发明的原理及其实际应用，从而使本领域技术人员能够最好地利用本发明和具有适合于预期的特定用途的各种修改的各种实施例。在整个说明书中，术语“包括”和“在其中”分别被用作相应术语“包含”和“其中”的纯英语等价物。此外，术语“第一”、“第二”和“第三”等仅用作标签，并不旨在对其对象施加数字要求或建立一定的重要性排名。
83.附图标记列表
84.1 emc测量系统
85.10 信号源
86.11 控制器
87.20 放大单元
88.21 输入端口
89.22 另一输入端口
90.23 开关
91.25 放大器
92.29 输出端口
93.30 存储器
94.40 外部信号源
95.100 被测器件。