射频测试座、探针、射频电路以及电子设备的制作方法

1.本技术属于通信技术领域，具体涉及一种射频测试座、一种探针、一种射频电路以及一种电子设备。


背景技术：

2.随着科技的发展，随着通信技术的发展，手机、平板电脑等电子设备对网络功能的要求也越来越高，需要支持的网络制式也越来越多，相应的，电子设备上的天线通路也越来越多。
3.在先的技术中，每个天线通路中都需要设置射频测试座来对该天线通路的射频性能进行调试和测试，因此，随着电子设备中天线通路的增加，射频测试座的数量也相应增加。
4.然而，由于射频测试座需要一定的结构避空区域，因此，射频测试座在电路板上占据的空间较大，很容易导致电路板的空间很难得到有效的利用。


技术实现要素：

5.本技术旨在提供一种射频测试座、一种探针、一种射频电路以及一种电子设备，以解决现有的射频测试座在电路板上占据的空间较大，电路板的空间很难得到有效的利用的问题。
6.为了解决上述技术问题，本技术是这样实现的：
7.第一方面，本技术公开了一种射频测试座，所述射频测试座包括：外框、第一绝缘固定件和第二绝缘固定件；其中，
8.所述外框上设置有用于容纳所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件的容纳空间；
9.所述第一绝缘固定件和所述第二绝缘固定件设置于所述容纳空间内，所述第一绝缘固定件上设置有第一信号弹脚和第二信号弹脚，所述第二绝缘固定件上设置有第三信号弹脚和第四信号弹脚；
10.第一测试探针可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，第二测试探针可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由第二工作状态切换至第二测试状态；
11.其中，在所述第一工作状态，所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚导通，在所述第一测试状态，所述第二信号弹脚与所述第二测试探针抵接，所述第一信号弹脚和所述第二信号弹脚断开；在所述第二工作状态，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚导通，在所述第二测试状态，所述第四信号弹脚与所述第二测试探针抵接，所述第三信号弹脚和所述第四信号弹脚断开。
12.第二方面，本技术实施例还公开了一种探针，所述探针包括：第一测试探针和第二测试探针；其中，
13.所述第一测试探针和所述第二测试探针为一体结构；其中，
14.所述第二测试探针内设置有空腔，所述第一测试探针设置于所述空腔内且至少部分从所述空腔中伸出。
15.第三方面，本技术还公开了一种射频电路，所述射频电路包括：收发器、第一射频输入电路、第一射频输出电路、第二射频输入电路、第二射频输出电路以及上述任一项所述的射频测试座；
16.所述第一射频输入电路的一端、所述第二射频输入电路的一端分别与所述收发器电连接，所述第一射频输入电路的另一端与所述射频测试座的第二信号弹脚电连接，所述第一射频输出电路与所述射频测试座的第一信号弹脚电连接；所述第二射频输入电路的另一端与所述射频测试座的第四信号弹脚电连接，所述第二射频输出电路与所述射频测试座的第三信号弹脚电连接。
17.第四方面，本技术还公开了一种电子设备，所述电子设备包括：上述射频测试座。
18.本技术实施例中，所述射频测试座的第一绝缘固定件上设置第一信号弹脚和第二信号弹脚，所述第二绝缘固定件上设置有第三信号弹脚和第四信号弹脚。通过将第一测试探针插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，实现第一射频信号的传输或者测试。通过将第二测试探针插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由所述第二工作状态切换至第二测试状态，以实现所述第二射频信号的传输或者测试。也即，所述第一射频信号的天线通路和所述第二射频信号的天线通路可以共用一个射频测试座，这样，就可以减少电子设备中的射频测试座的数量，减小所述射频测试座在所述电子设备的电路板中占据的空间，提高所述电路板的空间利用率。
19.本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
20.本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
21.图1是现有的一种射频电路的结构示意图；
22.图2是本技术实施例所述的一种射频测试座某一角度的结构示意图；
23.图3是图1所示的射频测试座另一角度的结构示意图；
24.图4是图1所示的射频测试座的分解结构示意图；
25.图5是图1所示的射频测试座处于第一工作状态的结构示意图；
26.图6是图1所示的射频测试座处于第一测试状态的结构示意图；
27.图7是图1所示的射频测试座处于第二工作状态的结构示意图；
28.图8是图1所示的射频测试座处于第二测试状态的结构示意图；
29.图9是本技术实施例的探针与射频测试座配合使用的某一角度的结构示意图；
30.图10图9所示的结构另一角度的结构示意图；
31.图11是本技术实施例所述的一种射频电路的结构示意图；
32.附图标记：10－外框，11－第一绝缘固定件，111－第一信号弹脚，112－第二信号弹脚，113－支撑部，12－第二绝缘固定件，121－第三信号弹脚，122－第四信号弹脚，
1221－通孔，13－第一测试探针，14－第二测试探针，15－内框，20－收发器，21－天线通路，210－传统射频测试座，22－第一射频输入电路，23－第一射频输出电路，24－第二射频输入电路，25－第二射频输出电路，26－射频测试座，27－第一天线，28－第二天线。
具体实施方式
33.下面将详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
34.本技术的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
35.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
36.在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
37.参照图1，示出了现有的一种射频电路的结构示意图，如图1所示，所述射频电路具体可以包括收发器20和多条天线通路21，其中，为了对天线通路21的射频性能进行调试和测试，每一条天线通路21中通常都要设置一个传统射频测试座210。
38.如图1所示，由于每条天线通路21中皆设置有传统射频测试座210，因此，现有的射频电路中，传统射频测试座210的数量较多。由于传统射频测试座210需要一定的结构避空区域，因此，传统射频测试座210在电路板上占据的空间较大，从而，很容易导致电路板的空间很难得到有效的利用。
39.参照图2，示出了本技术实施例所述的一种射频测试座某一角度的结构示意图，参照图3，示出了图1所示的射频测试座另一角度的结构示意图，参照图4，示出了图1所示的射频测试座的分解结构示意图，参照图5，示出了图1所示的射频测试座处于第一工作状态的结构示意图，参照图6，示出了图1所示的射频测试座处于第一测试状态的结构示意图，参照图7，示出了图1所示的射频测试座处于第二工作状态的结构示意图，参照图8，示出了图1所示的射频测试座处于第二测试状态的结构示意图。
40.具体的，所述射频测试座包括：外框10、第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12；其中，
41.外框10上设置有用于容纳第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12的容纳空间；
42.第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12设置于所述容纳空间内，第一绝缘固定件11上设置有第一信号弹脚111和第二信号弹脚112，第二绝缘固定件12上设置有第三信号弹脚121和第四信号弹脚122；
43.第一测试探针13可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由图5所示的第一工作状态切换至图6所示的第一测试状态，第二测试探针14可插入所述射频测试座中，以使所述射频测试座由图7所示的第二工作状态切换至图8所示的第二测试状态；
44.其中，在所述第一工作状态，第一信号弹脚111和第二信号弹脚112导通，以传输第一射频信号，在所述第一测试状态，第二信号弹脚112与第一测试探针13抵接，第一信号弹脚111和第二信号弹脚112断开，以测试所述第一射频信号；在所述第二工作状态，第三信号弹脚121和第四信号弹脚122导通，以传输第二射频信号，在所述第二测试状态，第四信号弹脚122与第二测试探针14抵接，第三信号弹脚121和第四信号弹脚122断开，以测试所述第二射频信号。
45.本技术实施例中，所述射频测试座的第一绝缘固定件11上设置第一信号弹脚111和第二信号弹脚112，第二绝缘固定件12上设置有第三信号弹脚121和第四信号弹脚122。通过将第一测试探针13插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，实现第一射频信号的传输或者测试。通过将第二测试探针14插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由所述第二工作状态切换至第二测试状态，以实现所述第二射频信号的传输或者测试。也即，所述第一射频信号的天线通路和所述第二射频信号的天线通路可以共用一个射频测试座。这样，就可以减少电子设备中的射频测试座的数量，减小所述射频测试座在所述电子设备的电路板中占据的空间，提高所述电路板的空间利用率。
46.需要说明的是，所述第一射频信号可所述第二射频信号可以为同类型的射频信号，例如，所述第一射频信号和所述第二射频信号可以同为高频信号或者低频信号；或者，所述第一射频信号和所述第二射频信号为不同类型的射频信号，例如，所述第一射频信号为高频信号，所述第二射频信号为低频信号，本技术实施例对于所述第一射频信号和所述第二射频信号的具体内容可以不做限定。
47.具体地，外框10可以采用铜、银等能够导电的金属制成。在所述射频测试座用于电子设备的情况下，所述电子设备内可以设置有电路板，所述电路板可以包括但不局限于印制电路板和柔性电路板中的至少一种。所述电路板中可以设置有接地端，而所述射频测试座的外框10可以焊接在所述电路板上的接地端，以实现外框10的接地。第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12则可以采用塑料、塑胶等绝缘材料制成。
48.在实际应用中，所述射频测试座还可以包括内框15，内框15设置于外框10内，用于支撑外框10。内框15内设置有通孔，以便于第一测试探针13或者第二测试探针14穿过内框15，与位于内框15底部的信号弹脚接触。
49.示例地，内框15可以采用塑胶、塑料等绝缘材料制成，本技术实施例对于内框15的具体材质可以不做限定。
50.本技术实施例中，第一信号弹脚111和第二信号弹脚112可以连接于用于辐射第一射频信号的天线通路上。具体的，第一信号弹脚111可以与第一射频信号的输出电路连接，
第二信号弹脚112可以与所述第一射频信号的输入电路连接。这样，在第一信号弹脚111和第二信号弹脚112导通的情况下，所述第一射频信号的输入电路和输出电路可以导通，实现第一射频信号的传输和辐射；在第一信号弹脚111和第二信号弹脚112断开的情况下，所述第一射频信号的输入电路输入的信号可以经第一测试探针13传输至测试电路上去，以对所述第一射频信号的天线通路的射频性能进行调试和测试。
51.同理，第三信号弹脚121和第四信号弹脚122可以连接于用于辐射第二射频信号的天线通路上。具体的，第三信号弹脚121可以与所述第二射频信号的输出电路连接，第四信号弹脚122可以与所述第一射频信号的输入电路连接。这样，在所述第三信号弹脚121和所述第四信号弹脚122导通的情况下，所述第二射频信号的输入电路和输出电路可以导通，实现第二射频信号的传输和辐射；在所述第三信号弹脚121和所述第四信号弹脚122断开的情况下，所述第二射频信号的输入电路输入的信号可以经第二测试探针14传输至测试电路上去，以对所述第二射频信号的天线通路的射频性能进行调试和测试。
52.在本技术的一些可选实施例中，第一测试探针13、第二测试探针14可从第一方向插入所述射频测试座中；第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12沿所述第一方向堆叠设置于所述容纳空间内，且第一绝缘固定件11设置于第二绝缘固定件12远离第一测试探针13和第二测试探针14的一侧。
53.具体的，通过将第一测试探针13和第二测试探针14从同一方向插入所述射频测试中，可以便于第一测试探针13和第二测试探针14共用外框10内部的插入空间，减小外框10的体积，从而，可以减小所述射频测试座的整体体积。而通过将第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12堆叠设置与外框10内部的容纳空间，则可以减小第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12所占的容纳空间的体积，进而，可以进一步减小所述射频测试座的体积。
54.示例的，所述第一方向可以为竖直方向，第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12可以沿所述竖直方向堆叠设置于容纳空间内，而且，第一绝缘固定件11设置于所述容纳空间的底部，第二绝缘固定件12设置于第一绝缘固定件11的上方。
55.在具体的应用中，可以采用一体注塑成型的工艺将第一信号弹脚111和第二信号弹脚112连接于第一绝缘固定件11上，以及，采用一体注塑成型的工艺将第三信号弹脚121和第四信号弹脚122连接于第二绝缘固定件12上。然后，再将内框15套设于外框10内，再将第二绝缘固定件12和第一绝缘固定件11依次堆叠于内框15的底部，再用外框10底部的卡接部分别从第一绝缘固定件11的四侧卡接第一绝缘固定件11即可。具体的，由于第二绝缘固定件12和第一绝缘固定件11堆叠于内框15的底部，第一绝缘固定件11和第二绝缘固定件12还可以起到支撑内框15的作用。
56.如图5所示，沿所述第一方向的投影方向，第一信号弹脚111的投影和第二信号弹脚112的投影至少部分重合。如图7所示，沿所述第一方向的投影方向，第三信号弹脚121和第四信号弹脚122至少部分重合。其中，在图5所示的第一工作状态，第一信号弹脚111和第二信号弹脚112至少部分搭接，在图6所示的第一测试状态，第一信号弹脚111和第二信号弹脚112解除搭接。在图7所示的第二工作状态，第三信号弹脚121和第四信号弹脚122至少部分搭接，在图8所示的第二测试状态，第三信号弹脚121和第四信号弹脚122解除搭接。
57.如图5所示，在所述第一工作状态下，第一信号弹脚111和第二信号弹脚112至少部分搭接，以实现第一信号弹脚111和第二信号弹脚112之间的导通，第二信号弹脚112输入的
所述第一射频信号可以通过第一信号弹脚111输出。如图6所示，在所述第一测试状态下，第一信号弹脚111和第二信号弹脚112可以解除搭接，以实现第一信号弹脚111和第二信号弹脚112之间的断开，第二信号弹脚112输入的所述第一射频信号可以通过第一测试探针13输出至测试电路，以实现所述第一射频信号的天线通路的射频性能的测试或者调试。
58.如图7所示，在所述第二工作状态下，第三信号弹脚121和第四信号弹脚122至少部分搭接，以实现第三信号弹脚121和第四信号弹脚122之间的导通，第四信号弹脚122输入的所述第二射频信号可以通过第三信号弹脚121输出。如图8所示，在所述第二测试状态下，第三信号弹脚121和第四信号弹脚122可以解除搭接，以实现第三信号弹脚121和第四信号弹脚122之间的断开，第四信号弹脚122输入的所述第二射频信号可以通过第二测试探针14输出至测试电路，以实现所述第二射频信号的天线通路的射频性能的测试或者调试。
59.本技术实施例中，外框10上设置有用于插入第一测试探针13和第二测试探针14的插口，如图6所示，所述插口可以设置在外框10的顶部。第二信号弹脚112设置在第一信号弹脚111远离所述插口的一侧，在所述第一测试状态，第一测试探针13与第二信号弹脚112抵接，第一信号弹脚111与第二信号弹脚112解除搭接。
60.在具体的应用中，由于第二信号弹脚112设置在第一信号弹脚111远离所述插口的一侧，在需要将所述射频测试座从所述第一工作状态切换至所述第一测试状态的情况下，可以将第一测试探针13从所述第一方向插入所述射频测试座中，以使得第一测试探针13与第二信号弹脚112抵接，第一测试探针13沿所述第一方向的进一步下压，可以使得第二信号弹脚112朝向远离第一信号弹脚111的方向运动，直至解除第二信号弹脚112与第一信号弹脚111之间的搭接，以断开第一信号弹脚111与第二信号弹脚112之间导通。而需要将所述射频测试座从图6所示的第一测试状态切换至图5所示的第一工作状态时，仅需将第一测试探针13从所述射频测试座中拔出即可，在解除第一测试探针13对第二信号弹脚112的抵接之后，第二信号弹脚112可以在弹性回复力的作用下回弹至与第一信号弹脚111搭接的状态，实现图5所示的第一工作状态。这样，就可以实现所述第一工作状态和所述第一测试状态之间的快速切换。
61.如图8所示，第四信号弹脚122设置在第三信号弹脚121远离所述插口的一侧，在所述第二测试状态，第二测试探针14与第四信号弹脚122抵接，第三信号弹脚121与第四信号弹脚122解除搭接。
62.在具体的应用中，由于第四信号弹脚122设置在第三信号弹脚121远离所述插口的一侧，在需要将所述射频测试座从所述第二工作状态切换至所述第二测试状态的情况下，可以将第二测试探针14从所述第一方向插入所述射频测试座中，以使得第二测试探针14与第四信号弹脚122抵接，第二测试探针14沿所述第一方向的进一步下压，可以使得第四信号弹脚122朝向远离第三信号弹脚121的方向运动，直至解除第四信号弹脚122与第三信号弹脚121之间的搭接，以断开第三信号弹脚121与第四信号弹脚122之间导通。而需要将所述射频测试座从图8所示的第二测试状态切换至图7所示的第二工作状态时，仅需将第二测试探针14从所述射频测试座中拔出即可，在解除第二测试探针14对第四信号弹脚122的抵接之后，第四信号弹脚122可以在弹性回复力的作用下回弹至与第三信号弹脚121搭接的状态，实现图7所示的第二工作状态。这样，就可以实现所述第二工作状态和所述第二测试状态之间的快速切换。
63.在本技术的一些可选实施例中，第四信号弹脚122上设置有用于避让第一测试探针13的通孔1221，在所述第一测试状态，第一测试探针13可以穿过通孔1221与第二信号弹脚112抵接，并将第二信号弹脚112压下与第一信号弹脚111分离。
64.具体的，由于第一测试探针13可以从第四信号弹脚122上的通孔1221穿过并与第二信号弹脚112抵接，因此，在第一测试探针13插入所述射频测试座中时，可以避免第一测试探针13与第四信号弹脚122接触并将第四信号弹脚122压下的操作，提高第一测试探针13的测试精度。
65.本技术实施例中，第二测试探针14的外径需要大于通孔1221的孔径，这样，在需要将所述射频测试座由所述第二工作状态切换成所述第二测试状态时，第二测试探针14可以插入所述射频测试座中并将第四信号弹脚122压下，避免了第二测试探针14从第四信号弹脚122的通孔1221中穿过的缺陷，从而，可以提高第二测试探针14将第四信号弹脚122压下的可靠性。
66.如图7、图8所示，第一绝缘固定件11上设置有朝向第四信号弹脚122凸起的支撑部113，支撑部113凸出于第一信号弹脚111和第二信号弹脚112设置。在图8所示的第二测试状态下，当第二测试探针14将第四信号弹脚122压下至与第三信号弹脚121分离的位置时，支撑部113可以起到限制第四信号弹脚122继续朝向运动的作用。这样，就可以避免第四信号弹脚122与第二信号弹脚112接触造成的短路现象。
67.可选地，支撑部113和第一绝缘固定件11为一体成型结构，以避免额外在第一绝缘固定件11加工支撑部113的操作，提高支撑部113的加工效率。示例的，第一绝缘固定件11和支撑部113可以采用同一种材料制成，例如，塑料或者塑胶，第一绝缘固定件11和支撑部113可以采用一体注塑成型的工艺加工而成。
68.本技术实施例还可以包括一种探针，所述探针可以包括第一测试探针13和第二测试探针14，所述探针可以用于与上述各实施例中的射频测试座配合使用。
69.参照图9，示出了本技术实施例的探针与射频测试座配合使用的某一角度的结构示意图，参照图10，示出了图9所示的结构另一角度的结构示意图。如图9和图10所示，所述探针中，第一测试探针13和第二测试探针14可以为一体结构；其中，第二测试探针14内设置有空腔，第一测试探针13设置于所述空腔内且至少部分从所述空腔中伸出。这样，在将第二测试探针14插入所述射频测试座内并与第四信号弹脚122抵接时，第二测试探针14内的第一测试探针13可以相应插入所述射频测试座内并与第二信号弹脚112抵接，这样，就可以同时对所述第一射频信号和所述第二射频信号的天线通路的射频新能进行测试或者调试，以提高所述射频测试座对于射频信号的测试效率。
70.需要说明的是，在实际应用中，本领域技术人员可以将第一测试探针13和第二测试探针14设置成分体的结构，也可以将第一测试探针13和第二测试探针14设置成一体结构，本技术实施例对于第一测试探针13和第二测试探针14的具体结构可以不做限定。
71.综上，本技术实施例所述的射频测试座至少可以包括以下优点：
72.本技术实施例中，所述射频测试座的第一绝缘固定件上设置第一信号弹脚和第二信号弹脚，所述第二绝缘固定件上设置有第三信号弹脚和第四信号弹脚。通过将第一测试探针插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，实现第一射频信号的传输或者测试。通过将第二测试探针插入所述射频测试座中，可以
使所述射频测试座由所述第二工作状态切换至第二测试状态，以实现所述第二射频信号的传输或者测试。也即，所述第一射频信号的天线通路和所述第二射频信号的天线通路可以共用一个射频测试座，这样，就可以减少电子设备中的射频测试座的数量，减小所述射频测试座在所述电子设备的电路板中占据的空间，提高所述电路板的空间利用率。
73.参照图11，示出了本技术实施例所述的一种射频电路的结构示意图，如图11所示，所述射频电路包括：收发器20、第一射频输入电路22、第一射频输出电路23、第二射频输入电路24、第二射频输出电路25以及上述任一实施例所述的射频测试座26；第一射频输入电路22的一端、第二射频输入电路24的一端分别与收发器20电连接，第一射频输入电路22的另一端与射频测试座26的第二信号弹脚112电连接，第一射频输出电路23的一端与射频测试座26的第一信号弹脚111电连接，第一射频输出电路23的另一端连接有第一天线27，第一天线27可以用于辐射第一射频信号，第二射频输入电路24的另一端与射频测试座26的第四信号弹脚122电连接，第二射频输出电路25的一端与所述射频测试座26的第三信号弹脚121电连接，第二射频输出电路25的另一端连接有第二天线28，第二天线28可以用于辐射第二射频信号。
74.本技术实施例中，所述射频测试座26的具体结构与上述任一实施例所述的射频测试座的结构相同，在此不做赘述。
75.本技术实施例中，第一射频输入电路22、射频测试座26的第一信号弹脚111和第二信号弹脚112、第一射频输出电路23以及第一天线27可以形成第一天线通路，所述第一天线通路可以用于传输和辐射所述第一射频信号。同理，第二射频输入电路24、射频测试座26的第三信号弹脚121和第四信号弹脚122、第二射频输出电路25以及第二天线28可以形成第二天线通路，所述第二天线通路可以用于传输和辐射所述第二射频信号。
76.具体的，在射频测试座26处于所述第一工作状态时，射频测试座26的第一信号弹脚111和所述第二信号弹脚112可以导通，以导通第一射频输入电路22和第一射频输出电路23，实现所述第一射频信号的传输和辐射。在射频测试座26处于所述第一测试状态时，射频测试座26的第一信号弹脚111和第二信号弹脚112可以断开，以断开第一射频输入电路22和第一射频输出电路23之间的电连接。这样，第一射频输入电路22输入的第一射频信号可以经第一测试探针13传输至测试电路上去，以对所述第一天线通路的射频性能进行调试和测试。
77.具体的，在射频测试座26处于所述第二工作状态时，射频测试座26的第三信号弹脚121和第四信号弹脚122可以导通，以导通第二射频输入电路24和第二射频输出电路25，实现所述第二射频信号的传输和辐射。在射频测试座26处于所述第二测试状态时，射频测试座26的第三信号弹脚121和第四信号弹脚122可以断开，以断开第二射频输入电路24和第二射频输出电路25之间的电连接。这样，第二射频输入电路24输入的第二射频信号可以经第二测试探针14传输至测试电路上去，以对所述第二天线通路的射频性能进行调试和测试。
78.也即，第一射频信号的第一天线通路和所述第二射频信号的第二天线通路21可以共用一个射频测试座26，这样，就可以减少射频电路中的射频测试座26的数量，减小射频测试座26在所述电子设备的电路板中占据的空间，提高所述电路板的空间利用率。
79.例如，如图11所示，所述射频电路中包括有4个天线通路，但是，仅需设置2个射频
测试座26即可，所述射频电路中的射频测试座26的数量较少。
80.综上，本技术实施例所述的射频电路至少可以包括以下优点：
81.本技术实施例中，所述射频电路中的射频测试座包括第一信号弹脚和第二信号弹脚，以及第三信号弹脚和第四信号弹脚。通过将第一测试探针插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由第一工作状态切换至第一测试状态，实现第一射频信号的传输或者测试。通过将第二测试探针插入所述射频测试座中，可以使所述射频测试座由所述第二工作状态切换至第二测试状态，以实现所述第二射频信号的传输或者测试。也即，所述第一射频信号的天线通路和所述第二射频信号的天线通路可以共用一个射频测试座，这样，就可以减少电子设备中的射频测试座的数量，减小所述射频测试座在所述电子设备的电路板中占据的空间，提高所述电路板的空间利用率。
82.本技术实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备具体可以包括：上述射频测试座。所述电子设备可以包括但不局限于手机、平板电脑以及可穿戴设备中的任意一种，本技术实施例对于所述电子设备的具体类型可以不做限定。
83.需要说明的是，本技术实施例中，所述射频电路与前述各实施例中的射频测试座的结构和工作原理都相同，在此不做赘述。
84.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
85.尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。