一种称量盘及具有所述称量盘的质量比较器的制作方法

1.本发明涉及计量检测技术领域，特别涉及一种称量盘及具有所述称量盘的质量比较器。


背景技术：

2.砝码检定/校准需依据国家计量检定规程jjg99-2006《砝码检定规程》执行，通过高等级砝码与低等级砝码比较的方式，确定低等级砝码是否合格，以及低等级砝码的实际质量值。在实际应用中，通过比较被检砝码与相对被检砝码所在砝码等级的高等级的标准砝码之间的质量值的差值，确定被检砝码的实际质量值。在比较被检砝码和标准砝码质量值的差值时，需要用到衡量仪器，例如机械天平、电子天平或质量比较器。
3.但是在进行差值的衡量时，通常要求机械天平、电子天平或质量比较器的最大称量大于被检砝码的质量，最小分度值远小于被检砝码的最大允许误差，特别是对于准确度等级较高的砝码，要求分度数(分度数＝最大称量/分度值)极大才能满足衡量需求。可以满足相应要求的机械天平稳定性、适用性较差，已基本淘汰，电子天平或质量比较器则受传感器技术水平的制约，测量稳定性较差，而且造价高昂，且国内没有生产能力。


技术实现要素：

4.本发明提供一种称量盘及具有所述称量盘的质量比较器，用于减小被检砝码加载在质量比较器上的质量值，从而实现用低载荷小分度值的质量比较器对大质量砝码的检定。
5.第一方面，本发明实施例提供的一种称量盘，包括：
6.第一秤盘，位于第一平面，为环状秤盘，用于放置第一砝码；
7.第二秤盘，通过垂直于所述第一平面的连接杆固定，用于放置第二砝码；所述第二秤盘在所述第一平面的投影，位于所述第一秤盘在所述第一平面的投影形成的内圆区域；
8.杠杆组件，包括多个杠杆，所述杠杆包括支撑杆以及与所述支撑杆垂直连接的支点，所述第一秤盘连接有所述支撑杆的一端，所述第二秤盘连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘和所述第二秤盘位于所述支点的两侧。
9.作为一种可选的实施方式，所述第二秤盘上设置有齿状容器，通过所述齿状容器的相邻齿间的缝隙放置所述第二砝码。
10.作为一种可选的实施方式，所述第一砝码包括环状砝码，所述环状砝码在第一平面的投影面积和所述第二秤盘在第一平面的投影面积相同，所述第一砝码通过不同的厚度表示不同的质量。
11.作为一种可选的实施方式，所述第二秤盘包括称量秤盘和配衡秤盘，其中：
12.所述称量秤盘用于放置第二砝码；
13.所述配衡秤盘，通过所述连接杆与所述称量秤盘相连，固定在所述第一秤盘和所述称量秤盘之间，所述配衡秤盘在所述第一平面的投影，位于所述称量秤盘在所述第一平
面的投影区域内，所述第一秤盘连接有所述支撑杆的一端，所述配衡秤盘连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘和所述配衡秤盘位于所述支点的两侧。
14.作为一种可选的实施方式，所述第一秤盘的内圆面积大于所述第二秤盘的面积；和/或，所述称量秤盘的面积大于所述配衡秤盘的面积。
15.作为一种可选的实施方式，针对任意一个杠杆，所述杠杆的支点安装在质量比较器的秤体平面上。
16.作为一种可选的实施方式，所述杠杆为包括等臂杠杆在内的固定比例的杠杆。
17.作为一种可选的实施方式，所述连接杆靠近所述第一平面的一侧用于连接质量比较器的传感器。
18.第二方面，本发明实施例提供的一种具有所述称量盘的质量比较器，包括：
19.包括置于所述电子天平的秤体平面上方的所述称量盘；
20.所述称量盘的连接杆靠近所述第一平面的一侧与所述质量比较器的传感器连接部位相连接，所述杠杆的支点固定于所述质量比较器的秤体平面上。
21.作为一种可选的实施方式，所述杠杆的支点通过焊接或粘连的方式固定在所述质量比较器的秤体平面上。
22.本技术的这些方面或其他方面在以下的实施例的描述中会更加简明易懂。
附图说明
23.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
24.图1为本发明实施例提供的一种称量盘的结构示意图；
25.图2a为本发明实施例提供的一种齿状容器的侧刨图；
26.图2b为本发明实施例提供的一种齿状容器位于第二秤盘的示意图；
27.图3为本发明实施例提供的一种质量比较器的秤体俯视图；
28.图4为本发明实施例提供的另一种称量盘的示意图；
29.图5为本发明实施例提供的一种具有上述称量盘的质量比较器的示意图；
30.图6为本发明实施例提供的另一种具有上述称量盘的质量比较器的示意图。
具体实施方式
31.为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
32.本发明实施例中术语“砝码等级”和“等级”都用于表示jjg99-2006《砝码检定规程》中划分的砝码的等级。
33.本发明实施例描述的应用场景是为了更加清楚的说明本发明实施例的技术方案，并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定，本领域普通技术人员可知，随着新应
用场景的出现，本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。其中，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
34.砝码检定/校准需依据国家计量检定规程jjg99-2006《砝码检定规程》执行，通过高等级砝码与低等级砝码比较的方式，确定低等级砝码是否合格，以及低等级砝码的实际质量值。砝码等级依据jjg99-2006《砝码检定规程》划分，由高到低依次为e1、e2、f1、f2、m1、m
12
、m2、m3。在实际应用中，通过比较被检砝码与相对被检砝码所在等级的高等级的标准砝码之间的质量值的差值，确定被检砝码的实际质量值。在比较被检砝码和标准砝码质量值的差值时，需要用到衡量仪器，例如机械天平、电子天平或质量比较器。使用机械天平进行砝码的检定时，需人工读取多个摆动点计算平衡位置，工作效率低，受外界影响大，准确度不高，而且天平易损坏，目前基本淘汰；检定砝码时因不考虑衡量仪器的线性测量准确度，仅考虑衡量仪器的分辨力和测量重复性，所以将电子天平或质量比较器进行比较测量，使用电子天平或质量比较器进行砝码的检定时，由于电子天平或质量比较器均采用重力传感器制造，因此通过电子天平或质量比较器的重力传感器来检定不同规格(质量)的砝码。
35.在实际砝码的检定过程中，对电子天平或质量比较器有如下几个方面的要求：
36.第一方面，要求该电子天平或质量比较器的最大称量不小于砝码质量，例如，检定20kg的砝码，电子天平或质量比较器的最大称量需大于20kg。
37.第二方面，对于不同等级的砝码，电子天平或质量比较器的最小分度值(最小分辨率)需远小于该砝码的最大允许误差。其中，砝码的最大允许误差是指jjg99-2006《砝码检定规程》规定的砝码在其对应的准确度等级下，其标称质量值和真实质量值的差值的极限值，例如砝码的标称质量值为100g，其最大允许误差为
±
0.00016g，则其真实质量值应在100
±
0.00016g范围内；并且，不同等级、不同标称值的砝码，最大允许误差是不同的，例如标称值100g且等级为e2等级的砝码的最大允许误差是
±
0.16mg，而标称值100g且等级为f2等级的砝码的最大允许误差是
±
1.6mg。在标称值和砝码等级确定的条件下，该砝码的最大允许误差是固定的。
38.在检定砝码过程中电子天平或质量比较器仅作为衡量工具，用于确定标准砝码和被检砝码的质量值的差值，但电子天平或质量比较器的最小分度值必须小于被检砝码的最大允许误差，例如被检砝码的最大允许误差是
±
1.6mg，因此需要电子天平或质量比较器的最小分度值能达到0.1mg，如果电子天平或质量比较器最小分度值仅能达到1mg，那么将无法对最大允许误差是
±
1.6mg的砝码进行检定。
39.第三方面，电子天平或质量比较器的测量重复性需小于被检砝码的最大允许误差。重复性是指被检砝码多次使用电子天平或质量比较器测量得到的结果的一致性。
40.由于电子天平或质量比较器需要满足上述三个方面的要求才能实现对砝码的检定，因此，在实际应用中，经常需要使用最大称量较大，且分度值较小的电子天平或质量比较器进行砝码的检定，例如使用最大称量20kg，分度值1mg的电子天平或质量比较器，或是最大称量5000g，分度值0.1mg等分度数(分度数＝最大称量/分度值)极大的电子天平或质量比较器。而在实际电子天平或质量比较器的生产中，通常难以做到称量极大，分度值极小。并且，由于电子天平或质量比较器是利用重力传感器进行质量检测的，那么当电子天平或质量比较器通电后传感器温度的微小变化都会对电子天平或质量比较器的稳定性产生极大的影响，因此在分度数极大的情况下难以保证电子天平或质量比较器的稳定性。目前
大多数厂家无法生产出分度数极大的电子天平或质量比较器，虽然也有极少的厂家能够生产，不仅价格昂贵，而且由于分度数极大时，传感器温度的微小变化都会对电子天平或质量比较器的稳定性产生极大的影响，因此难以保证电子天平或质量比较器进行砝码检定时的稳定性。
41.由于在进行砝码的检定时，完全依赖于电子天平或质量比较器的重力传感器的性能，检定大质量的砝码就需要用到性能较高的传感器，如果传感器无法满足性能要求，那么就无法进行砝码的检定，并且，由于秤盘自身的质量影响，会导致电子天平或质量比较器的传感器实际所能称量的范围变小，降低传感器能够检测的最大质量值，不利于对砝码的检定/校准。
42.本发明实施例提供一种秤量盘，能够减小被检砝码加载在电子天平或质量比较器上的质量值，从而实现采用较小称量的电子天平或质量比较器对较大质量的砝码进行检定。在实际情况中，称量较小的电子天平或质量比较器的分度值也相对较小，而由于本实施例提供的称量盘能够减小被检砝码加载在电子天平或质量比较器传感器上的质量，那么就可以用分度值小的电子天平或质量比较器来检测大质量的砝码，极大地减小了对于电子天平或质量比较器的传感器的依赖程度，能够有效降低用于砝码检定、校准的质量比较器的制造成本，同时由于使用小量程小分度值的电子天平或质量比较器，相比于传统的检定同等质量砝码的电子天平或质量比较器而言，所需的传感器的分度数较小，稳定性和重复性更易得到保证。
43.本实施例提供的一种称量盘，包括第一秤盘、第二秤盘，并且第一秤盘和第二秤盘通过杠杆组件连接，设计的核心思想是将加载在第一秤盘上的向下的重力，利用杠杆原理转换为向上的阻力作用于第二秤盘，从而减小第二秤盘上加载的砝码作用于电子天平或质量比较器的向下的重力。
44.如图1所示，本实施例提供的一种称量盘的结构示意图，包括：
45.第一秤盘101，位于第一平面，为环状秤盘，用于放置第一砝码；
46.可选的，第一平面可以是水平面。其中，第一秤盘101是环状的，放置在第一秤盘101上的第一砝码是环状的，即第一砝码为环状砝码，实施中，可以通过不同的厚度来表示不同质量的第一砝码。并且，环状砝码在第一平面的投影面积和所述第二秤盘在第一平面的投影面积相同。
47.第二秤盘102，通过垂直于所述第一平面的连接杆102a固定，用于放置第二砝码；所述第二秤盘在所述第一平面的投影，位于所述第一秤盘在所述第一平面的投影形成的内圆区域；
48.实施中，由于第一秤盘101是环状秤盘，那么第一秤盘101在第一平面的投影也是环状的，那么该环状的投影内部会形成一个内圆区域，第二秤盘102在第一平面的投影，位于该内圆区域内。
49.实施中，在所述连接杆102a所在的方向上，第一秤盘101和第二秤盘102，呈上下平行关系，并且所述连接杆102a远离第一平面的部位与第一秤盘101连接。
50.可选的，第二秤盘102可以为圆形、方形、椭圆等各种形状，本实施例对第二秤盘102的形状不作过多限定，并且第二秤盘102的面积小于所述第一秤盘101的内圆面积，例如，第二秤盘102为圆形时，所述第二秤盘102的直径小于所述第一秤盘101的内圆面积。
51.实施中，第一砝码施加在电子秤上的力通过杠杆组件103的作用，反作用于第二砝码施加在电子秤上的力，从而利用第一砝码来降低第二砝码加载在电子天平或质量比较器上的重力，以使对第二砝码进行检定的时候，能够利用较小称量范围的电子天平或质量比较器实现对超过该称量范围的较大质量的砝码的检定。
52.在一些实施例中，为了更好的配合放置砝码的齿状机械臂，还可以在第二秤盘102上设置齿状容器，用于通过所述齿状容器的相邻齿间的缝隙放置所述第二砝码，从而配合齿状机械臂同时将多个第二砝码放置在对应的缝隙中。如图2a所示，为本实施例提供的齿状容器的侧刨图。如图2b所示，为所述齿状容器设置在第二秤盘102上的示意图。
53.杠杆组件103，包括多个杠杆，所述杠杆包括支撑杆以及与所述支撑杆垂直连接的支点，所述第一秤盘101连接有所述支撑杆的一端，所述第二秤盘102连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘101和所述第二秤盘102位于所述支点的两侧。
54.实施中，通过杠杆组件103中的多个杠杆，针对任意一个杠杆，将第一秤盘101和第二秤盘102进行连接，并且第一秤盘101连接杠杆的一端，第二秤盘102连接杠杆的另一端，第一秤盘101和第二秤盘102分别位于该杠杆的支点的两侧，针对每一个杠杆，都通过该连接方式将第一秤盘101和第二秤盘102进行连接。其中杠杆组件103包括但不限于3个杠杆或3个以上的杠杆。
55.由于第一秤盘101和第二秤盘102是通过杠杆连接的，那么基于杠杆原理，施加在第一秤盘101上的第一砝码产生的作用力(即向下的重力)，通过杠杆原理，转换为反方向的作用力(即向上的阻力)，作用与第二秤盘102上的第二砝码产生的重力，此时，电子天平或质量比较器实际上能够测量得到的第二砝码的重力＝第二砝码的重力-第一砝码产生的阻力，从而降低了被检定的第二砝码在加载电子天平或质量比较器上的重力。
56.在一些实施例中，针对任意一个杠杆，该杠杆的支点安装在电子天平或质量比较器的秤体平面上，第一秤盘101通过多个杠杆进行固定，且第一秤盘101所在的第一平面与电子天平或质量比较器的秤体平面是平行的。实施中，电子天平或质量比较器的秤体四周包括一层可拆卸的铝板，杠杆的支点直接通过焊接或粘连的方式固定在该层铝板上，且保证不接触电子天平或质量比较器的传感器，保证电子天平或质量比较器的秤体平面强度符合要求。
57.在一些实施例中，本实施例中的杠杆是等臂杠杆，也可以是非等臂杠杆，本实施例对此不作过多限定。
58.在一些实施例中，为了将上述称量盘安装在电子天平或质量比较器上，设置靠近该第一平面(第一秤盘101)的连接杆102a的一侧(理解为连接杆102a的底部)，用于连接电子天平或质量比较器的传感器。实施中，电子天平或质量比较器的秤体平面设置有传感器连接部位(例如凹陷部位)，用于将所述连接杆102a插入传感器连接部位，以固定所述连接杆102a和所述第二秤盘，并且可以通过传感器检测第二秤盘以及第二秤盘上第二砝码的质量。如图3所示，为本实施例提供的一种电子天平或质量比较器的秤体俯视图，包括传感器连接部位300，用于和所述连接杆102a组合后，将第二秤盘102固定在电子天平或质量比较器的秤体上，检测第二秤盘102上的第二砝码的质量。
59.在一些实施例中，如图4所示，本实施例还提供另一种称量盘，包括：
60.第一秤盘101，位于第一平面，为环状秤盘，用于放置第一砝码；其中，第一平面为
水平面，第一砝码为环状砝码，实施中，可以通过不同的厚度来表示不同质量的第一砝码。并且，环状砝码在第一平面的投影面积和所述第二秤盘在第一平面的投影面积相同。
61.第二秤盘400，包括称量秤盘400a和配衡秤盘400b，其中：
62.所述称量秤盘400a用于放置第二砝码；
63.所述配衡秤盘400b，通过所述连接杆与所述称量秤盘400a相连，固定在所述第一秤盘101和所述称量秤盘400a之间，所述配衡秤盘400b在所述第一平面的投影，位于所述称量秤盘400a在所述第一平面的投影区域内，所述第一秤盘101连接有所述支撑杆的一端，所述配衡秤盘400b连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘101和所述配衡秤盘400b位于所述支点的两侧。
64.秤盘101是环状秤盘，那么第一秤盘101在第一平面的投影也是环状的，那么该环状的投影内部会形成一个内圆区域，第二秤盘400的称量秤盘400a和配衡秤盘400b分别在第一平面的投影，都位于该内圆区域内。在所述连接杆102a所在的方向上，第一秤盘101和第二秤盘400，呈上下平行关系，称量秤盘400a和配衡秤盘400b，呈上下平行关系，并且所述连接杆102a远离所述第一平面的部位依次与配衡秤盘400b、称量秤盘400a连接。
65.实施中，第一砝码施加在电子天平或质量比较器上的力通过杠杆组件103的作用，转换为阻力(反作用力)作用于配衡秤盘400b，通过作用于配衡秤盘400b的阻力，将该阻力作用于第二砝码施加在称量秤盘400a上的力，从而利用第一砝码来降低第二砝码的质量，以使对第二砝码进行检定的时候，能够利用较小称量范围的电子秤实现对超过该称量范围的较大质量的砝码的检定。
66.在一些实施例中，还可以在第二秤盘400的称量秤盘400a上设置齿状容器，用于通过所述齿状容器的相邻齿间的缝隙放置所述第二砝码。
67.配衡秤盘400b，与所述连接杆102a相连，固定在所述第一秤盘101和所述称量秤盘400a之间，所述配衡秤盘400b在所述第一平面的投影，位于所述称量秤盘400a在所述第一平面的投影区域内；
68.实施中，在连接杆102a所在的方向，远离所述第一平面的部位连接有称量秤盘400a，靠近第一平面的部位连接有配衡秤盘400b，即连接杆102a从上到下的方向依次排列为称量秤盘400a、配衡秤盘400b以及第一秤盘101。
69.在一些实施例中，由于所述第一秤盘101为环状秤盘，则所述第一秤盘101的内圆面积大于所述称量秤盘400a、配衡秤盘400b的面积；和/或，所述称量秤盘400a的面积大于所述配衡秤盘400b的面积。实施中，配衡秤盘400b上不放置砝码，配衡秤盘400b用于与第一秤盘101通过杠杆组件103连接，从而将施加在第一秤盘101上的作用力，通过杠杆组件103转换为阻力，通过配衡秤盘400b将该阻力作用于称量秤盘400a。
70.杠杆组件103，包括多个杠杆，所述杠杆包括支撑杆以及与所述支撑杆垂直连接的支点，所述第一秤盘101连接有所述支撑杆的一端，所述配衡秤盘400b连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘101和所述配衡秤盘400b位于所述支点的两侧。
71.在一些实施例中，针对任意一个杠杆，该杠杆的支点安装在电子天平或质量比较器的秤体平面上，第一秤盘101通过多个杠杆进行固定，且第一秤盘101所在的第一平面与电子天平或质量比较器的秤体平面是平行的。
72.在一些实施例中，本实施例中的杠杆是固定比例的杠杆，即可以是等臂杠杆，也可
以是非等臂杠杆，本实施例对此不作过多限定。
73.在一些实施例中，为了将上述称量盘安装在电子天平或质量比较器上，设置靠近该第一平面(第一秤盘101)的连接杆102a的一侧(理解为连接杆102a的底部)，用于连接电子天平或质量比较器的传感器。实施中，电子天平或质量比较器的秤体平面设置有凹陷部位，用于将所述连接杆102a插入所述凹陷部位，以固定所述连接杆102a和所述第二秤盘。
74.如图5所示，本发明实施例还提供一种具有上述称量盘的质量比较器(注:使用此种秤盘后,不具备直接称量能力,仅能比较测量,所以统一名称为质量比较器)，包括：
75.质量比较器的秤体500；
76.称量盘501，置于所述质量比较器的秤体500平面上方；称量盘501的连接杆102a靠近所述第一平面的一侧与所述质量比较器的传感器连接部位相连接，称量盘501中的杠杆的支点固定于所述质量比较器的秤体平面上。
77.在一些实施例中，称量盘501，包括：
78.第一秤盘101，位于第一平面，为环状秤盘，用于放置第一砝码；
79.第二秤盘102，通过垂直于所述第一平面的连接杆102a固定，用于放置第二砝码；所述第二秤盘在所述第一平面的投影，位于所述第一秤盘在所述第一平面的投影形成的内圆区域；
80.杠杆组件103，包括多个杠杆，所述杠杆包括支撑杆以及与所述支撑杆垂直连接的支点，所述第一秤盘101连接有所述支撑杆的一端，所述第二秤盘102连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘101和所述第二秤盘102位于所述支点的两侧。
81.在一些实施例中，称量盘501中的杠杆的支点通过焊接或粘连的方式固定在所述电子天平的秤体平面上。
82.如图6所示，本发明实施例还提供另一种具有上述称量盘的质量比较器，包括：
83.质量比较器的秤体600；
84.称量盘601，置于所述质量比较器的秤体600平面上方；称量盘601的连接杆102a靠近所述第一平面的一侧与所述质量比较器的传感器连接部位相连接，称量盘601中的杠杆的支点固定于所述质量比较器的秤体平面上。
85.在一些实施例中，称量盘601，包括：
86.第一秤盘101，位于第一平面，为环状秤盘，用于放置第一砝码；
87.第二秤盘400，包括称量秤盘400a和配衡秤盘400b，其中：
88.所述称量秤盘400a用于放置第二砝码；
89.所述配衡秤盘400b，通过所述连接杆与所述称量秤盘400a相连，固定在所述第一秤盘101和所述称量秤盘400a之间，所述配衡秤盘400b在所述第一平面的投影，位于所述称量秤盘400a在所述第一平面的投影区域内，所述第一秤盘101连接有所述支撑杆的一端，所述配衡秤盘400b连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘101和所述配衡秤盘400b位于所述支点的两侧。
90.杠杆组件103，包括多个杠杆，所述杠杆包括支撑杆以及与所述支撑杆垂直连接的支点，所述第一秤盘101连接有所述支撑杆的一端，所述配衡秤盘400b连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘101和所述配衡秤盘400b位于所述支点的两侧。
91.在一些实施例中，称量盘601中的杠杆的支点通过焊接或粘连的方式固定在所述
质量比较器的秤体平面上。
92.本实施例采用具有上述称量盘的质量比较器实现对超过该质量比较器称量范围的大质量砝码的检定，能够减小被检砝码加载在质量比较器的传感器上的质量值的方式，实现在小量程(小分度值)的质量比较器的传感器上加载大质量的砝码，通过与高等级标准砝码比较的方式实现砝码的检定。其中，检定的过程通常是，先在具有上述称量盘的电子天平或质量比较器上放上标准砝码，比如该标准砝码显示的质量为a1＝100.0000g，然后取下标准砝码放上被检砝码，被检砝码显示的质量为b＝100.0002g，再换上该标准砝码后显示的质量为a2＝100.0000g，然后计算被检砝码与标准砝码的差值＝b-(a1+a2)/2，这样就完成了一次被检砝码的检定，根据实际需要可能需进行1-3次重复检定。由于砝码检定采用的是比较测量法，所以通过外部配衡的方式(即根据第一秤盘上施加第一砝码的作用力，通过杠杆转换为反作用力)，对标准砝码和被检砝码在传感器上加载时减掉的力是相等的情况下，检定、校准结果不会受到影响。
93.在一些实施例中，第二秤盘为标准砝码、被检砝码的加载位置，即本实施例中的第二砝码包括但不限于标准砝码、被检定的砝码中的至少一种，加载第二砝码后会产生一个向下的力作用于传感器；第一秤盘为环形秤盘，加载在第一秤盘上的第一砝码向下的力，通过一定比例的杠杆转换成向上的力，作用于第二秤盘，从而减小第二秤盘加载的第二砝码作用于传感器上的力。例如：电子天平的传感器最大称量200g，第二砝码为2000g(包括被检砝码、标准砝码均为2000g)不能直接加载在电子天平的传感器上，则在第一秤盘上加载1800g的第一砝码(环形砝码)，此处假设杠杆组件中的杠杆都为等臂杠杆，则最终加载在电子天平的传感器上的向下的力＝第二砝码质量产生的力(2000g)减去第一秤盘上加载的作用力(1800g)，即最终作用在传感器上的向下的力能够达到传感器测量范围，实际加载在传感器上的质量为200g，满足传感器称量范围，实现用小量程传感器测量大质量砝码。
94.由于目前使用的传统电子天平(质量比较器)检定砝码时完全依赖于传感器性能，检定多大的砝码，就要使用多大的传感器，本实施例能够减小对传感器的依赖程度，有效降低用于砝码检定、校准的质量比较器的制造成本。同时由于本实施例中使用的传感器相对于传统电子天平(以检定砝码评价的电子天平)而言，所需的传感器的分度数较小，稳定性、重复性更易得到保证。
95.本实施例通过第一秤盘上加载的第一砝码的作用力以及杠杆原理，实现小量程传感器检定、校准大质量砝码，也可以应用在对其他电子天平的改造上，例如安装较重的异形秤盘影响天平范围时，可以采用本实施例中的称量盘减小质量的影响。
96.显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。