一种螺母装配检验电路及方法与流程

1.本发明涉及电子电路技术领域，具体而言，涉及一种螺母装配检验电路及方法。


背景技术：

2.目前线控器中的螺母孔是否装配金属螺母的检验方法是通过检验员目视检验的方式实现，在实际操作中，需要人工对所有螺母孔进行逐一检查来确认是否装配了螺母。该检验方法耗时费力效率低，人工参与力度大，易漏项或检测失误。而且通过目视检验的方式在实际生产中不可控因素大，后工序不做整机搭配通讯检测，容易造成漏检的问题，导致客户投诉。
3.针对现有技术中人工目视检验螺母孔是否装配金属螺母的方式效率低并且易导致漏检的问题，目前尚未提出有效的解决方案。


技术实现要素：

4.本发明实施例中提供一种螺母装配检验电路及方法，以解决现有技术中人工目视检验螺母孔是否装配金属螺母的方式效率低并且易导致漏检的问题。
5.为解决上述技术问题，本发明提供了一种螺母装配检验电路，所述电路包括：
6.至少两个检测光耦，与待测螺母孔一一对应设置，其输入侧的正极连接电压源，负极连接所述待测螺母孔的边缘的第一触点，所述待测螺母孔的边缘的第二触点连接地线；其输出侧的负极连接地线，正极连接控制芯片；
7.第一指示回路，所述第一指示回路连接所述控制芯片，且与所述检测光耦具有一一对应关系，用于指示所述检测光耦是否导通，进而指示所述待测螺母孔是否已装配螺母。
8.进一步地，所述第一指示回路包括：
9.第一指示灯，其正极连接所述电压源，负极连接地线；
10.第一开关管，接入所述第一指示灯的负极和地线之间，其控制端连接所述控制芯片；
11.所述控制芯片用于：在任一检测光耦导通时，控制对应的第一指示回路中的第一开关管导通，进而控制对应的第一指示灯亮起，以指示该检测光耦对应的待测螺母孔已装配螺母；在任一检测光耦未导通时，控制对应的第一指示回路中的第一开关管关断，进而控制对应的第一指示灯关闭，以指示该检测光耦对应的待测螺母孔未装配螺母。
12.进一步地，所述电路还包括：
13.第二指示回路，接入第一稳压芯片的输出端和地线之间，还连接所述控制芯片，用于在所述控制芯片的控制下指示所述检测光耦的导通状态。
14.进一步地，所述第二指示回路包括：
15.第二指示灯，其第一端连接所述第一稳压芯片的输出端，第二端连接地线；
16.第一继电器，其触点连接在所述第二指示灯的第一端与所述第一稳压芯片的输出端之间；其线圈的第一端连接所述第一稳压芯片的输出端，第二端连接地线；
17.第二开关管，接入所述第一继电器的线圈的第二端和地线之间，其控制端连接所述控制芯片。
18.进一步地，所述控制芯片，具体用于检测所有检测光耦的导通状态；在所述导通状态为全部导通时，控制所述第二指示回路的第二开关管导通，进而控制所述第一继电器得电，最终控制所述第二指示灯亮起；在所述导通状态为部分未导通时，控制所述第二指示回路的第二开关管关断，进而控制所述第一继电器断电，最终控制所述第二指示灯关闭；
19.所述第二指示回路，用于在所述第二指示灯亮起时指示所述检测光耦的导通状态为全部导通，进而指示全部待测螺母孔已装配螺母；在所述第二指示灯关闭时指示所述检测光耦的导通状态为部分未导通，进而指示部分待测螺母孔未装配螺母。
20.进一步地，所述电路还包括：
21.第三指示回路，接入第一稳压芯片的输出端和地线之间，还连接所述控制芯片，用于在所述控制芯片的控制下指示检测光耦的导通状态。
22.进一步地，所述第三指示回路包括：
23.蜂鸣器，其第一端连接所述第一稳压芯片的输出端，第二端连接地线；
24.第二继电器，其触点连接在所述蜂鸣器的第一端与所述第一稳压芯片的输出端之间；其线圈的第一端连接所述第一稳压芯片的输出端，第二端连接地线；
25.第三开关管，接入所述第二继电器的线圈的第二端和地线之间，其控制端连接所述控制芯片。
26.进一步地，所述控制芯片，具体用于检测所有检测光耦的导通状态；在所述导通状态为部分未导通时，控制所述第三指示回路的第三开关管导通，进而控制所述第二继电器得电，最终控制所述蜂鸣器响起；在所述导通状态为全部导通时，控制所述第三开关管关断，进而控制所述第二继电器断电，最终控制所述蜂鸣器关闭；
27.所述第三指示回路，用于在所述蜂鸣器响起时指示所述检测光耦的导通状态为部分未导通，进而指示部分待测螺母孔未装配螺母；在所述蜂鸣器关闭时指示所述检测光耦的导通状态为全部导通，进而指示全部待测螺母孔均已装配螺母。
28.进一步地，所述第三指示回路还包括：
29.第三指示灯，与所述蜂鸣器并联设置，在所述蜂鸣器关闭时，所述第三指示灯关闭；在所述蜂鸣器响起时，所述第三指示灯亮起。
30.进一步地，所述电路还包括：
31.变压器，其输入侧连接市电网络，输出侧分别连接第一稳压芯片和第二稳压芯片，所述第一稳压芯片用于为第二指示回路和第三指示回路供电，所述第二稳压芯片用于为所述控制芯片供电。
32.本发明还提供一种螺母装配检验方法，所述方法包括：
33.获取检测光耦的导通状态；
34.根据所述检测光耦的导通状态控制第一指示回路的通电状态，进而指示待测螺母孔是否已装配螺母；
35.其中，所述检测光耦的数量至少为两个，与所述待测螺母孔一一对应设置，其输入侧的正极连接电压源，负极连接所述待测螺母孔的边缘的第一触点，所述待测螺母孔的边缘的第二触点连接地线；其输出侧的负极连接地线，正极连接控制芯片；所述第一指示回路
连接所述控制芯片，且与所述检测光耦具有一一对应关系。
36.进一步地，根据所述检测光耦的导通状态控制第一指示回路的通电状态，进而指示待测螺母孔是否已装配螺母，包括：
37.如果任一检测光耦导通，则控制对应的第一指示回路中的第一开关管导通，进而控制对应的第一指示灯亮起，以指示该检测光耦对应的待测螺母孔已装配螺母；
38.如果任一检测光耦未导通，则控制对应的第一指示回路中的第一开关管关断，进而控制对应的第一指示灯关闭，以指示该检测光耦对应的待测螺母孔未装配螺母。
39.应用本发明的技术方案，通过至少两个检测光耦的导通状态来反映待测螺母孔是否装配螺母，通过与检测光耦一一对应设置的第一指示电路来指示检测光耦的导通状态，进而指示对应的待测螺母孔是否装配螺母，每次至少可以准确完成两个待测螺母孔的检测，相比于人工目视检验，能够提高检测效率，同时避免漏检。
附图说明
40.图1为本发明实施例的螺母装配检测原理示意图；
41.图2为根据本发明实施例的螺母装配检验电路的结构图；
42.图3为根据本发明实施例的一种螺母装配检验方法的流程图；
43.图4为根据本发明实施例的另一种螺母装配检验方法的操作流程图。
具体实施方式
44.为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
45.在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义，“多种”一般包含至少两种。
46.应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
47.应当理解，尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述指示回路，但这些指示回路不应限于这些术语。这些术语仅用来将实现不同功能的指示回路区分开。例如，在不脱离本发明实施例范围的情况下，第一指示回路也可以被称为第二指示回路，类似地，第二指示回路也可以被称为第一指示回路。
48.取决于语境，如在此所使用的词语“如果”、“若”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。
49.还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的商品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确
列出的其他要素，或者是还包括为这种商品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的商品或者装置中还存在另外的相同要素。
50.下面结合附图详细说明本发明的可选实施例。
51.实施例1
52.本实施例提供一种螺母装配检验电路，本实施例的螺母装配检验电路适用于金属螺母的装配检测，图1为本发明实施例的螺母装配检测原理示意图，如图1所示，线控器1上设置有螺母孔2，由于螺母采用金属材料制成，装配螺母后，螺母孔2的边缘形成金属圈3，未装配螺母时，螺母孔2的边缘形成绝缘圈4。由与金属具有导电性，当包含电源的二极管电路的两条引线接入金属圈3时，二极管导通发光，当包含电源的二极管电路的两条引线接入绝缘圈4时，二极管断电不发光，由此可见，可以通过将包含电源的二极管电路的两条引线接入螺母孔2的边缘，观察二极管是否发光的方式，来判断线控器1上的螺母孔2是否装配螺母。
53.基于上述思路，本实施例提供了一种螺母装配检验电路，图2为根据本发明实施例的螺母装配检验电路的结构图，如图2所示，该电路包括：
54.至少两个检测光耦u，与待测螺母孔一一对应设置，其输入侧的正极连接电压源vcc，负极连接待测螺母孔的边缘的第一触点，待测螺母孔的边缘的第二触点连接地线；其输出侧的负极连接地线，正极连接控制芯片10。
55.如图2所示，本实施例中的螺母装配检验电路包括四个检测光耦u，第一个检测光耦u的输入侧的正极连接电压源vcc(提供12v电源电压)，负极连接第一检测探针a，第一检测探针a通过引线连接第一个待测螺母孔的边缘的第一触点，第二个检测光耦u的输入侧的正极连接电压源vcc，负极连接第二检测探针b，第二检测探针b通过引线连接第二个待测螺母孔的边缘的第一触点，第三个检测光耦u的输入侧的正极连接电压源vcc，负极连接第二检测探针c，第三检测探针c通过引线连接第三个待测螺母孔的边缘的第一触点；第四个检测光耦u的输入侧的正极连接电压源vcc，负极连接第四检测探针d，第四检测探针b通过引线连接第四个待测螺母孔的边缘的第一触点。第一至第四个待测螺母孔的边缘的第二触点均连接第五极检测探针e，第五极检测探针e连接地线。
56.如图2所示，上述螺母装配检验电路第一指示回路20，连接控制芯片10，且与检测光耦u具有一一对应关系，即每个检测光耦u均对应一个第一指示回路20，用于指示检测光耦u是否导通，进而指示待测螺母孔是否已装配螺母。本实施例中，与检测光耦u的数量对应，设置四个第一指示回路20，分别指示四个检测光耦u的导通状态。
57.本实施例的螺母装配检验电路，通过至少两个检测光耦u的导通状态来反映待测螺母孔是否装配螺母，通过与检测光耦u一一对应设置的第一指示电路来指示检测光耦u的导通状态，进而指示对应的待测螺母孔是否装配螺母，每次至少可以准确完成两个待测螺母孔的检测，相比于人工目视检验，能够提高检测效率，同时避免漏检。
58.实施例2
59.本实施例提供另一种螺母装配检验电路，为了直观地指示上述检测光耦u的导通状态，如图2所示，第一指示回路20包括：第一指示灯led1，其正极连接电压源vcc，负极连接地线；第一开关管q1，接入第一指示灯led1的负极和地线之间，其控制端通过第一电阻r1连
接控制芯片10。
60.控制芯片10在任一检测光耦u导通时，控制对应的第一指示回路20中的第一开关管q1导通，进而控制对应的第一指示灯led1亮起，以指示该检测光耦u对应的待测螺母孔已装配螺母；在任一检测光耦u未导通时，控制对应的第一指示回路20中的第一开关管q1关断，进而控制对应的第一指示灯关闭，以指示该检测光耦u对应的待测螺母孔未装配螺母。
61.在仅有部分待测螺母孔装配了螺母时，对应的部分第一指示灯led1亮起，此时检测人员需要一一查看第一指示灯led1的状态，确定哪些待测螺母孔均装配了螺母，哪些未装配螺母，这是比较合理的，但是，在全部待测螺母孔均装配了螺母时，也需要一一查看第一指示灯led1的状态，会耗费比较多的时间，为了使检测人员在全部待测螺母孔均装配了螺母时，能够快速获知该情况，如图2所示，上述电路还包括：第二指示回路30，接入第一稳压芯片的输出端和地线之间，还连接所述控制芯片，用于在控制芯片10的控制下指示检测光耦u的导通状态。
62.具体地，第二指示回路30包括：第二指示灯led2，其第一端连接第一稳压芯片ic1的输出端，第二端连接地线；第一继电器k1，其触点连接在所述第二指示灯led2的第一端与所述第一稳压芯片ic1的输出端之间；其线圈的第一端连接第一稳压芯片ic1的输出端，第二端连接地线；第二开关管q2，接入第一继电器k1的线圈的第二端和地线之间，其控制端通过第二电阻r2和端子f连接控制芯片10上的端子f。
63.控制芯片10，具体用于检测所有检测光耦u的导通状态；在上述导通状态为全部导通时，控制第二指示回路30的第二开关管q2导通，进而控制所述第一继电器k1得电，最终控制第二指示灯led2亮起；在上述导通状态为部分未导通时，控制第二指示回路30的第二开关管q2关断，进而控制第一继电器k1断电，最终控制第二指示灯led2关闭；
64.第二指示回路30，用于在第二指示灯led2亮起时指示检测光耦u的导通状态为全部导通，进而指示全部待测螺母孔已装配螺母；在第二指示灯关led2闭时指示检测光耦u的导通状态为部分未导通，进而指示部分待测螺母孔未装配螺母。
65.在具体实施时，第二指示灯led2可以设置为绿色，以指示全部待测螺母孔均已装配螺母，通过检测的情况。
66.为了使检测人员在快速获知部分待测螺母孔未装配螺母的情况，如图2所示，上述电路还包括：第三指示回路40，接入第一稳压芯片ic1的输出端和地线之间，还连接所述控制芯片10，用于在控制芯片10的控制下指示检测光耦u的导通状态。具体地，第三指示回路40包括：蜂鸣器b，其第一端连接第一稳压芯片ic1的输出端，第二端连接地线；第二继电器k2，其触点连接在蜂鸣器b的第一端与第一稳压芯片ic1的输出端之间；其线圈的第一端连接第一稳压芯片ic1的输出端，第二端连接地线；第三开关管q3，接入第二继电器k2的线圈的第二端和地线之间，其控制端通过第三电阻r3和端子g连接控制芯片10的端子g。
67.控制芯片10，在所有检测光耦u的导通状态为部分未导通时，控制第三开关管q3导通，进而控制第二继电器k2得电，最终控制蜂鸣器b响起；在所有检测光耦u的导通状态为全部导通时，控制第三开关管q3关断，进而控制第二继电器k2断电，最终控制所述蜂鸣器b关闭。
68.第三指示回路40，用于在蜂鸣器b响起时指示检测光耦u的导通状态为部分未导通，进而指示部分待测螺母孔未装配螺母；在蜂鸣器b关闭时指示检测光耦u的导通状态为
全部导通，进而指示全部待测螺母孔均已装配螺母。
69.第三指示回路40还包括：第三指示灯led3，与所述蜂鸣器b并联设置，在蜂鸣器b关闭时，第三指示灯led3同时关闭；在蜂鸣器b响起时，第三指示灯led3同时亮起。
70.在具体实施时，第三指示灯led3可以设置为红色，以指示部分待测螺母孔未装配螺母，未通过检测的情况。
71.为了将市电网络提供的高压强电转化为低压弱电，以便于为芯片供电，电路还包括：变压器t，其输入侧连接市电网络，输出侧分别连接第一稳压芯片ic1和第二稳压芯片ic2，第一稳压芯片ic1的型号为u7812，输出12v电压，用于为第二指示回路30和第三指示回路40供电，第二稳压芯片ic2的型号为u7805，输出5v电压，用于为控制芯片10供电。
72.实施例3
73.本实施例提供一种螺母装配检验方法，图3为根据本发明实施例的一种螺母装配检验方法的流程图，如图3所示，该方法包括：
74.s101，获取检测光耦的导通状态。
75.s102，根据检测光耦的导通状态控制第一指示回路的通电状态，进而指示待测螺母孔是否已装配螺母。
76.其中，如上文中提及的图2中所示，检测光耦的数量至少为两个，与待测螺母孔一一对应设置，其输入侧的正极连接电压源，负极连接所述待测螺母孔的边缘的第一触点，所述待测螺母孔的边缘的第二触点连接地线；其输出侧的负极连接地线，正极连接控制芯片；所述第一指示回路连接所述控制芯片，且与所述检测光耦具有一一对应关系。
77.本实施例的螺母装配检验方法，通过获取检测光耦的导通状态。
78.s102，根据所述检测光耦的导通状态控制第一指示回路的通电状态，进而指示待测螺母孔是否已装配螺母，每次至少可以准确完成两个待测螺母孔的检测，相比于人工目视检验，能够提高检测效率，同时避免漏检。
79.实施例2
80.本实施例提供另一种螺母装配检验方法，在上述实施例中，第一指示回路包括：第一指示灯led1，其正极连接电压源，负极连接地线；第一开关管q1，接入第一指示灯led1的负极和地线之间，其控制端连接控制芯片10，因此，根据检测光耦的导通状态控制第一指示回路20的通电状态，进而指示待测螺母孔是否已装配螺母，具体包括：如果任一检测光耦u导通，则控制对应的第一指示回路20中的第一开关管q1导通，进而控制对应的第一指示灯led1亮起，以指示该检测光耦u对应的待测螺母孔已装配螺母；如果任一检测光耦u未导通，则控制对应的第一指示回路20中的第一开关管q1关断，进而控制对应的第一指示灯led1关闭，以指示该检测光耦对应的待测螺母孔未装配螺母。
81.在仅有部分待测螺母孔装配了螺母时，对应的部分第一指示灯led1亮起，此时检测人员需要一一查看第一指示灯led1的状态，确定哪些待测螺母孔均装配了螺母，哪些未装配螺母，这是比较合理的，但是，在全部待测螺母孔均装配了螺母时，也需要一一查看第一指示灯led1的状态，会耗费比较多的时间，为了使检测人员在全部待测螺母孔均装配了螺母时，能够快速获知该情况，如图2所示，上述电路还包括：第二指示回路30，接入第一稳压芯片的输出端和地线之间，还连接所述控制芯片，用于在控制芯片10的控制下指示检测光耦u的导通状态。具体地，第二指示回路30包括：第二指示灯led2，其第一端连接第一稳压
芯片ic1的输出端，第二端连接地线；第一继电器k1，其触点连接在所述第二指示灯led2的第一端与所述第一稳压芯片ic1的输出端之间；其线圈的第一端连接所述第一稳压芯片ic1的输出端，第二端连接地线；第二开关管q2，接入第一继电器k1的线圈的第二端和地线之间，其控制端连接控制芯片10。
82.因此，上述方法还包括：如果全部检测光耦u导通，则控制第二开关管q2导通，进而控制第一继电器k1得电，最终控制第二指示灯led2亮起，以指示全部待测螺母孔已装配螺母；如果部分检测光耦u未导通，则控制第二开关管q2关断，进而控制第一继电器k1断电，最终控制第二指示灯led2关闭，以指示部分待测螺母孔未装配螺母。
83.为了使检测人员在快速获知部分待测螺母孔未装配螺母的情况，如图2所示，上述电路还包括：第三指示回路40，接入第一稳压芯片ic1的输出端和地线之间，还连接控制芯片10，用于在所述控制芯片10的控制下指示检测光耦u的导通状态。具体地，第三指示回路40包括：蜂鸣器b，其第一端连接第一稳压芯片ic1的输出端，第二端连接地线；第二继电器k2，其触点连接在蜂鸣器b的第一端与第一稳压芯片ic1的输出端之间；其线圈的第一端连接第一稳压芯片ic1的输出端，第二端连接地线；第三开关管q3，接入第二继电器k2的线圈的第二端和地线之间，其控制端连接控制芯片10。
84.因此，上述方法还包括：如果部分检测光耦u未导通，则控制第三开关管q3导通，进而控制第二继电器k2得电，最终控制蜂鸣器b响起，以指示部分待测螺母孔未装配螺母；如果全部检测光耦u导通，则控制第三开关管q3关断，进而控制第二继电器k2断电，最终控制所述蜂鸣器b关闭，以指示全部待测螺母孔已装配螺母。
85.上述实施中，第三指示回路40还包括：第三指示灯led3，与所述蜂鸣器b并联设置，因此，上述方法还包括：在蜂鸣器b关闭时，控制第三指示灯led3同时关闭；在蜂鸣器b响起时，控制第三指示灯led3同时亮起。
86.下面结合一具体示例详细说明本发明，图4为根据本发明实施例的另一种螺母装配检验方法的操作流程图，如图4所示，该方法包括：
87.s1，控制螺母装配检测电路的检测探针与待测线控器上的待测螺母孔相接触后，将待测线控器和上述螺母装配检测电路放置在保压工装下。
88.s2，判断是否满足第二指示灯亮，第三指示灯灭，且蜂鸣器不响；如果是，则执行步骤s3，如果否，则执行步骤s4。
89.s3，判定全部待测螺母孔均已装配螺母，通过检测。
90.s4，判定部分待测螺母孔未装配螺母，未通过检测。
91.s5，根据第一指示灯的亮灭情况确定未装配螺母的待测螺母孔，并确定其所属的线控器，将该线控器确定为故障件。
92.本实施例通过螺母装配检验电路结合上述螺母装配检验方法，检测光耦导通，第一指示灯亮起，则表明待测螺母孔中已装配螺母，检测光耦导通则说明待测螺母孔中未装配螺母，从而达到分离线控器来料不良的异常。本发明相对于人工过程目检检查可实现100％检出不良，获得检验效率的提升，同时避免漏检，杜绝售后投拆，能够提高公司形象。
93.以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其
中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
94.通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如rom/ram、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
95.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。