一种空载输出电压升高的电源模块失效的分析方法与流程

1.本技术涉及测量分析技术领域，尤其涉及一种空载输出电压升高的电源模块失效的分析方法。


背景技术：

2.电源模块的发展已有30多年的历史，早期电源模块的开关频率很低，成本昂贵，仅用于卫星电源等少数领域。70年代后期以来，随着集成电路设计与制造技术的进步，各种电源模块大量问世，将控制、驱动、保护、检测电路等一起封装在一个模块内，体积更小，可靠性更高，使得其被广泛应用于电子计算机、通信、航天等诸多领域，其中，dc-dc电源模块的应用最为广泛。
3.dc-dc电源模块常见的失效模式包括无输出、输入或输出短路、功能异常等，其中，功能异常主要表现为输出电压异常，如输出电压偏高或偏低，无法实现正常稳压功能，此类失效模式中有一种带载输出电压正常，空载输出电压异常的情形，该失效模式一直是失效分析的难点，极难通过失效分析设备对故障点进行直接定位。目前针对该类失效模式的分析较为困难，必须要存在多个失效件并且有对比件的情况下，才能对其进行失效分析，分析难度很大，不利于实际实用。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术的目的在于提出一种空载输出电压升高的dc-dc电源模块失效的分析方法。
5.基于上述目的，本技术提供了一种空载输出电压升高的电源模块失效的分析方法，包括：
6.获取待测的dc-dc电源模块的反馈环路系统中所有独立器件的当前功能数据；
7.将每个所述独立器件的所述当前功能数据与对应的标准功能数据进行比对；
8.响应于一所述独立器件的当前功能数据与对应的所述标准功能数据不相同，则判定该独立器件为所述dc-dc电源模块的失效位置；响应于确定所有所述独立器件的所述当前功能数据与对应的所述标准功能数据均相同，改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号，获取所述dc-dc电源模块的当前空载输出电压；
9.将所述当前空载输出电压与所述dc-dc电源模块的原始空载输出电压进行比对；
10.响应于所述当前空载输出电压小于所述原始空载输出电压，则判定所述pwm比较器为所述dc-dc电源模块的失效位置。
11.进一步地，所述独立器件包括无源器件和/或光耦。
12.进一步地，响应于确定所述反馈环路系统中包含所述光耦，所述改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号，包括：通过改变所述光耦的输出电流来改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号。
13.进一步地，所述通过改变所述光耦的输出电流来改变所述反馈环路系统中pwm比
较器的输入信号，包括：通过在所述光耦的输入电阻上并联可调电阻或将所述输入电阻更换为电阻值不同的引入电阻来改变所述光耦的输出电流，以改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号。
14.进一步地，响应于确定所述反馈环路系统中不包含光耦，所述改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号，包括：在所述反馈环路系统中的误差放大器的输出端和所述pwm比较器的输入端之间并联电阻来改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号。
15.进一步地，响应于确定所述独立器件包括无源器件，获取所述无源器件的所述当前功能数据的执行过程，包括：使用万用表对所述无源器件进行测量，并获取所述万用表测得的所述当前功能数据。
16.进一步地，响应于确定所述独立器件包括无源器件和光耦，获取所述无源器件的当前功能数据的执行过程，包括：使用万用表对所述无源器件进行测量，并获取所述万用表测得的所述当前功能数据；
17.获取所述光耦的所述当前功能数据的执行过程，包括：
18.将所述光耦从所述电源模块的焊接位置上解焊；
19.获取所述光耦的当前功能数据；
20.将所述光耦重新焊接至所述焊接位置。
21.进一步地，在所述获取待测的dc-dc电源模块的反馈环路系统中所有独立器件的当前功能数据之前，还包括：将所述dc-dc电源模块开封，去除所述dc-dc电源模块内部的灌封胶，至暴露所述dc-dc电源模块内所有元器件。
22.进一步地，在所述将所述dc-dc电源模块开封，去除所述dc-dc电源模块内部的灌封胶，至暴露所述dc-dc电源模块内所有元器件之前，还包括：通过x射线对所述电源模块内部进行检查，确定所述电源模块内部无烧毁、键合丝熔断和/或焊接异常。
23.进一步地，在所述将所述dc-dc电源模块开封，去除所述dc-dc电源模块内部的灌封胶，至暴露所述dc-dc电源模块内所有元器件之前，还包括：对所述电源模块的输入端和/或输出端进行电流电压特性曲线测试，得到测试数据，确定所述测试数据正常。
24.从上面所述可以看出，本技术提供的空载输出电压升高的dc-dc电源模块失效的分析方法，通过在反馈环路系统中并联可调电阻或更换电阻的方式实现对仅有一只失效件且无对比件条件下的空载输出电压升高的dc-dc电源模块的失效分析，即使在无多个失效件并且无对比件的情况下，也可以对dc-dc电源模块进行失效分析，并且可以对模块内部的失效位置进行精确定位，针对性强，操作简单，失效定位准确。
附图说明
25.为了更清楚地说明本技术或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
26.图1为本技术实施例的空载输出电压升高的电源模块失效的分析方法的流程示意图；
27.图2为本技术实施例的对所述电源模块进行初步检测的流程示意图。
具体实施方式
28.为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本技术进一步详细说明。
29.需要说明的是，除非另外定义，本技术实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
30.dc-dc电源模块作为混合集成电路，内部集成了包含误差放大器、基准电路、振荡器、比较器、控制电路、驱动电路、开关管、阻容感等诸多有源和无源器件，其工作机理一般为：输出电压通过反馈网络(通常采用电阻分压)获得反馈电压信号，反馈电压信号作为基准信号通过误差放大器输出放大的误差信号，将放大的误差信号输入到脉宽调制比较器(即pwm比较器)的其中一个输入端。脉宽调制比较器的另一个输入端的输入为经过斜波补偿的电流采样信号。脉宽调制比较器的输出脉冲信号通过逻辑控制电路模块(包括触发器、驱动电路等)来控制开关管的导通与截止，从而调节输出电压使其达到稳定状态。
31.如背景技术所述，dc-dc电源模块的常见失效模式包括无输出、输入或输出短路、功能异常等。其中，功能异常主要表现为输出电压异常，如输出电压偏高或偏低，无法实现正常稳压功能，此类失效模式中有一种带载输出电压正常，空载输出电压异常的情形，该情形的失效模式一直是失效分析的难点。在该失效模式下，模块仅在空载时输出电压异常，带载时功能正常，表明模块通常还具备一定的功能，因此极难通过失效分析设备对模块的故障点进行直接定位。另外，该失效模式通常为可靠性降低或深层损伤导致的参数漂移，因此模块内部元器件芯片表面往往很难发现明显损伤痕迹，进一步增大了失效分析的难度。
32.因此，基于上述问题，本技术提供了一种空载输出电压升高的电源模块失效的分析方法，通过在反馈环路系统中并联可调电阻或更换电阻的方式实现对仅有一只失效件且无对比件条件下的空载输出电压升高的dc-dc电源模块的失效分析，可以对模块内部的失效位置进行精确定位，针对性强，操作简单，失效定位准确。
33.下面结合附图，具体介绍本公开的各种非限制性实施方式。
34.参考图1，本技术提供了一种空载输出电压升高的电源模块失效的分析方法，包括如下步骤。
35.步骤s101、获取待测的dc-dc电源模块的反馈环路系统中所有独立器件的当前功能数据。
36.具体的，dc-dc电源模块通常包括：误差放大器、基准电路、振荡器、比较器、控制电路、驱动电路、开关管、阻容感等诸多有源和无源器件。结合dc-dc电源模块的工作机理进可知，空载输出电压升高通常应为其反馈环路系统出现了问题。反馈环路系统主要包含分压电阻、误差放大器(内部集成基准电路)、光耦(有的dc-dc电源模块有光耦，有的dc-dc电源模块没有有光耦，)，pwm比较器(内部集成基准电路、逻辑控制电路、比较电路等)。因此，对
于空载输出电压升高的电源模块的失效分析主要是对于电源模块内的反馈环路系统的失效分析。
37.进行失效分析时，先获取待测的dc-dc电源模块的反馈环路系统中所有独立器件的当前功能数据。所述独立器件包括无源器件和/或光耦。
38.具体的，当所述dc-dc电源模块的反馈环路系统中不包括光耦时，所述独立器件包括无源器件。本步骤中获取待测的dc-dc电源模块的反馈环路系统中所有独立器件的当前功能数据，即为获取所有无源器件的当前功能数据。
39.所述无源器件主要指的是电阻类、电感类和电容类器件，这类器件在不需要外加电源的条件下，就可以显示其特性，主要包括电阻，电容，电感，转换器，渐变器，匹配网络，谐振器，滤波器，混频器和开关等。
40.获取所述无源器件的所述当前功能数据的执行过程，包括：使用万用表对所述无源器件进行测量，并获取所述万用表测得的所述当前功能数据。例如，通过万用表对分压电阻进行测量，万用表测量得到的数据3ω即为所述分压电阻的当前功能数据。
41.当所述dc-dc电源模块的反馈环路系统中包含光耦时，所述独立器件包括无源器件和光耦。本步骤中获取待测的dc-dc电源模块的反馈环路系统中所有独立器件的当前功能数据，即为获取所有无源器件和光耦的当前功能数据。
42.其中，获取所述无源器件的当前功能数据的执行过程如前所述，在此不做赘述。
43.获取所述光耦的所述当前功能数据的执行过程，包括：
44.(1)将所述光耦从所述电源模块的焊接位置上解焊。(2)获取所述光耦的当前功能数据。(3)将所述光耦重新焊接至所述焊接位置。
45.具体的，对于带光耦的反馈环路系统，由于光耦传输异常导致的输出电压异常较为常见，因此需要对光耦进行功能性能排查。对光耦的功能进行排查时，需要先将光耦从所述电源模块上解焊，然后使用光耦专用的测试平台来检测光耦的工作性能，判定其是否出现异常；或者使用比较法、数字万用表检测法或者光电效应判断法等对光耦的功能进行测试，以排查是否存在功能异常。本实施例中，采用光耦专用的测试平台来对光耦的功能进行测试，测试结果即为待测光耦的所述当前功能数据。再将所述光耦重新焊接至所述焊接位置，以便于进行后续检测。光耦重新焊接后再进行功能性能测试以确保空载输出电压升高的失效现象依然存在。
46.步骤s102、将每个所述独立器件的所述当前功能数据与对应的标准功能数据进行比对。
47.具体的，所述标准功能数据即为所述独立器件正常状态下对应的功能数据。例如，所述电源模块中，分压电阻的标准功能数据为5ω，步骤s101中获取的所述分压电阻的当前功能数据为3ω，本步骤中需要将所述分压电阻对应的当前功能数据3ω与对应的标准功能数据5ω进行比对。
48.通过当前功能数据与标准功能数据的比对，可以去判断对应的独立器件是否存在异常，若某个独立器件出现异常，会导致电源模块的输出电压异常。因此通过简单的数据比对，可以初步判断是否是某个独立器件出现异常。
49.步骤s103、响应于一所述独立器件的当前功能数据与对应的所述标准功能数据不相同，则判定该独立器件为所述dc-dc电源模块的失效位置；响应于确定所有所述独立器件
的所述当前功能数据与对应的所述标准功能数据均相同，改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号，获取所述dc-dc电源模块的当前空载输出电压；
50.具体的，将所有的独立器件的当前功能数据与对应的标准功能数据进行比对后，当某一所述独立器件的当前功能数据与对应的所述标准功能数据不相同时，则判定该独立器件为所述dc-dc电源模块的失效位置。例如，所述电源模块中，分压电阻的标准功能数据为5ω，步骤s101中获取的所述分压电阻的当前功能数据为3ω，将所述分压电阻对应的当前功能数据3ω与对应的标准功能数据5ω进行比对，比对结果显示所述分压电阻的当前功能数据与对应的标准功能数据不同，那么判定所述分压电阻即为所述电源模块的失效位置。
51.当所有所述独立器件的所述当前功能数据与对应的所述标准功能数据均相同时，证明所有的独立器件的功能均正常。在确定所有独立器件均正常后，反馈环路系统的异常只可能是剩下的还没有被检测的误差放大器和pwm比较器的异常导致的。若误差放大器异常，那么所述电源模块的带载输出电压和空载输出电压都应该出现异常，但是待测的电源模块为带载输出电压正常，而空载输出电压异常，这种失效模式不可能是误差放大器异常导致的。因此，在确定所有独立器件均正常后，反馈环路系统的异常只可能是pwm比较器的异常导致的，接下来需要检测的是pwm比较器是否异常。
52.检测pwm比较器是否异常，需要改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号，获取所述dc-dc电源模块的当前空载输出电压。
53.当所述反馈环路系统中包含所述光耦时，通过改变所述光耦的输出电流来改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号。具体的，通过在所述光耦的输入电阻上并联可调电阻或将所述输入电阻更换为电阻值不同的引入电阻来改变所述光耦的输出电流，进而改变输入所述pwm比较器的输入信号，最终改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输出信号，所述输出信号通过逻辑控制电路模块来控制开关管的导通与截止，从而调节电源模块的输出电压，因此通过所述输出信号最终获得所述电源模块的当前空载输出电压。
54.进一步的，可调电阻或电阻值不同的引入电阻的设置，使得检测分析过程中可以多次改变并联的电阻的阻值，进而得到多次的检测结果，以确保检测结果的准确性。
55.当所述反馈环路系统中不包含光耦时，在所述反馈环路系统中的误差放大器的输出端和所述pwm比较器的输入端之间并联电阻来改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号，进而改变输入所述pwm比较器中的输入信号，最终得到所述电源模块的当前空载输出电压。
56.其中，所述并联电阻可以为可调电阻，也可以为阻值不同的恒定电阻。可调电阻或阻值不同的恒定电阻的设置，使得检测分析过程中可以多次改变并联的电阻的阻值，进而得到多次的检测结果，以确保检测结果的准确性。
57.步骤s104、所述当前空载输出电压与所述dc-dc电源模块的原始空载输出电压进行比对。
58.具体的，将测得的所述前空载输出电压与所述dc-dc电源模块的原始空载输出电压进行比对，比对的结果可以为：前空载输出电压大于原始空载输出电压；或前空载输出电压等于原始空载输出电压；或前空载输出电压小于原始空载输出电压。
59.步骤s105、响应于所述当前空载输出电压小于所述原始空载输出电压，则判定所
述pwm比较器为所述dc-dc电源模块的失效位置。
60.具体的，依据步骤s104中进行比对得到的比对结果，当所述当前空载输出电压小于所述原始空载输出电压时，证明通过改变所述反馈环路系统中pwm比较器的输入信号，使得所述dc-dc电源模块的功能已恢复(有可能是全部恢复，也有可能是部分恢复)，则判定所述pwm比较器为所述dc-dc电源模块的失效位置。
61.其中，当所述当前空载输出电压小于所述原始空载输出电压，但是仍然大于所述电源模块正常时对应的标准空载输出电压时，证明电源模块的功能部分恢复；当所述当前空载输出电压小于所述原始空载输出电压，并且接近或者等于所述电源模块正常时对应的标准空载输出电压时，证明电源模块的功能完全恢复。
62.当pwm比较器失效时，pwm比较器内部基准发生了参数退化，导致在空载状态下其内部基准波信号幅值改变使其最低电压小于光耦输出的信号最小值(即pwm比较器的输入信号)，使得pwm信号占空比无法为0，造成所述电源模块空载时输出能量过剩，进而导致电源模块空载时的输出电压升高。
63.传统的电源模块的失效分析方法中，必须要存在多个失效件并且有对比件的情况下，才能对其进行失效分析，否则失效分析无法进行。本技术提供的空载输出电压升高的dc-dc电源模块失效的分析方法，通过在反馈环路系统中并联可调电阻或更换电阻的方式实现对仅有一只失效件且无对比件条件下的空载输出电压升高的dc-dc电源模块的失效分析，即使在无多个失效件并且无对比件的情况下，也可以对dc-dc电源模块进行失效分析，并且可以对模块内部的失效位置进行精确定位，针对性强，操作简单，失效定位准确。
64.在一些实施例中，参考图2，在所述步骤s101获取待测的dc-dc电源模块的反馈环路系统中所有独立器件的当前功能数据之前，可以对所述电源模块进行初步检测，包括：
65.步骤一、对所述电源模块的输入端和/或输出端进行电流电压特性曲线测试，得到测试数据，确定所述测试数据正常。
66.具体的，通过晶体管测试仪对待测的所述电源模块的输入端或输出端进行电流电压特性曲线测试(即i-v曲线测试)，初步判断所述电源模块的输入端或输出端是否存在异常。当对所述电源模块的输入端和/或输出端进行电流电压特性曲线测试，得到的测试数据正常，即测试数据与标准数据一致，则可以进行步骤二。通常空载输出电压升高的dc-dc电源模块的输入端和/或输出端引脚间不易看出明显的i-v特性曲线差异，仅表现为功能上的异常。当所述测试数据与标准数据不一致时，则可根据所述i-v特性曲线直接定位到异常端，有利于后续的失效分析。
67.步骤二、通过x射线对所述电源模块内部进行检查，确定所述电源模块内部无烧毁、键合丝熔断和/或焊接异常。
68.具体的，通过x射线对电源模块内部进行检查，排查是否存在内部烧毁、键合丝熔断、焊接异常或其他异常现象，通常空载输出电压升高的dc-dc电源模块不易通过x射线看出明显差异。
69.步骤三、将所述dc-dc电源模块开封，去除所述dc-dc电源模块内部的灌封胶，至暴露所述dc-dc电源模块内所有元器件。
70.具体的，对待测的dc-dc电源模块进行开封，并去除内部灌封胶，去胶时应注意保护内部元器件，将内部各元器件均暴露出来，并且电源模块的输入和输出端引脚需保留，便
于后续检测分析。还可以通过功能性能测试对失效的电源模块进行功能测试，明确其空载输出电压升高的具体情况，便于后续检测对比。
71.在一些实施例中，本技术提供了一种空载输出电压升高的电源模块失效的分析方法，包括如下步骤：
72.步骤一、通过外观检查该电源模块结构完整，未见开裂烧毁等明显异常。
73.步骤二、通过x射线观察未见所述电源模块内部存在烧毁、键合丝熔断、焊接异常等现象。
74.步骤三、通过i-v特性曲线测试未见所述电源模块的输入端和输出端存在明显短路、开路等异常现象。
75.步骤四、将所述电源模块开封并去除内部灌封胶后，暴露出内部所有元器件。
76.步骤五、通过在光耦输入级电阻上并联电阻的方式改变光耦输入级大小，进而改变光耦输出级信号大小，结果显示待测电源模块的空载输出电压得到明显改善，空载输出电压明显降低，接近正常电压；再次将光耦输出级二极管短路，改变输出级信号大小(即改变pwm比较器输入端信号大小)后，所述电源模块的空载输出电压恢复正常，由此可以判定所述电测模块的失效位置为pwm比较器，pwm比较器内部基准异常导致了电源模块的空载输出电压异常。
77.在一些实施例中，本技术提供了一种空载输出电压升高的电源模块失效的分析方法，包括如下步骤：
78.第一步：通过晶体管测试仪对待测电源模块的输入端或输出端进行i-v曲线测试，初步尝试判断电源模块输入端或输出端是否存在异常，通常空载输出电压升高的dc-dc电源模块引脚间不易看出明显的i-v特性曲线差异，仅表现为功能上的异常，i-v特性曲线若能直接定位到异常端，会利于后续的失效分析。
79.第二步：通过x射线对电源模块内部进行检查，排查是否存在内部烧毁、键合丝熔断、焊接异常或其他异常现象，通常空载输出电压升高的dc-dc电源模块不易通过x射线看出明显差异。
80.第三步：通过功能性能测试对失效电源模块进行功能测试，明确其输出参数升高超差情况。
81.第四步：对模块进行开封并去除内部灌封胶(去胶时应注意保护内部元器件，且输入或输出端引脚需保留)，将内部各元器件暴露出来。
82.第五步：结合dc-dc电源模块工作机理进行分析，空载输出电压升高通常应为其反馈环路系统出现了问题，反馈环路系统主要包含分压电阻、误差放大器(内部集成基准电路)、光耦(有的模块没有)，pwm比较器(内部集成基准电路、逻辑控制电路、比较电路等)，因此需要对所述反馈环路系统中的各个器件进行分析排查。
83.1.通过万用表对分压电阻等无源器件进行测量，确定这些无源器件是否存在异常。无源器件出现异常，会导致反馈电压信号异常，进而导致电源模块的输出电压升高。因此，若某个无源器件出现异常，则判定该无源器件为待测的电源模块的失效位置。
84.2.对于带光耦的反馈环路系统，首先需对光耦进行功能性能排查(光耦传输异常导致的输出异常较为常见)，可将光耦解焊后进行功能性能测试，以排查是否存在功能异常，若光耦无异常，则需将光耦重新焊接于基板上进行后续分析(光耦重新焊接后进行功能
性能测试以确保失效现象依然存在)。
85.确定光耦无异常后，接着可通过在光耦输入级电阻上并联可调电阻或更换电阻的方式改变光耦输入级大小，以改变其输出电流大小，若模块功能恢复则表明确为反馈环路系统出现了异常导致电源模块的输出异常，且可将范围缩小至误差放大器和pwm比较器上。
86.若误差放大器异常，电源模块的带载和空载状态下输出电压异常现象都应当存在，因此只有空载输出电压异常的原因不可能是误差放大器异常。因此，在确定光耦无异常后，空载输出电压异常的电源模块的失效位置应为pwm比较器异常导致了模块异常。pwm比较器异常导致其内部基准发生了参数退化，进而使得在空载状态下其内部基准波信号幅值改变使其最低电压小于光耦输出的信号最小值(即pwm比较器的误差输入信号)，使得pwm信号占空比无法为0，造成空载时输出能量过剩，进而导致电源模块的空载输出电压升高。
87.3.对于不带光耦的反馈环路系统，可采取相同的方法在误差放大器输出端与pwm比较器输入端之间通过并联可调电阻或更换电阻的方式改变pwm比较器输入端的信号大小，若电源模块功能恢复则可以采用相同的分析方法对其进行失效分析。
88.4.对pwm比较器进行解焊，对其进行后续失效分析。
89.本技术提供的空载输出电压升高的dc-dc电源模块失效的分析方法，通过在反馈环路系统中并联可调电阻、更换电阻的方式实现对仅有一只失效件且无对比件条件下的空载输出电压升高的dc-dc电源模块失效的分析方法，即使在无多个失效件并且无对比件的情况下，也可以对dc-dc电源模块进行失效分析，并且可以对模块内部的失效位置进行精确定位，针对性强，操作简单，失效定位准确。
90.需要说明的是，上述对本公开的一些实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于上述实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
91.所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本公开的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本公开实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。
92.本公开实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本公开实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。